1、ICS 3318010M 33 囝园中华人民共和国国家标准GBT 742422008代替GBT 74242 2002光缆总规范第2部分：光缆基本试验方法2008-03-3 1发布Optical fibre cable generic specification-Part 2：Basic optical cable test procedures(IEC 6079412：2003，Optical fibre cablePart 1-2：Generic specification-Basic optical cable test procedures，MOD)2008-l 1-01实施宰瞀鹘紫瓣譬
2、糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会仪19CBT 742422008目 次前言-“I1范围-12规范性引用文件13总-14光缆试验35方法El：拉伸性能-46方法E2：磨损67方法E3：压扁u 8B方法E4：冲击-，99方法E5：已成缆光纤的剥离力稳定性。1l10方法E6：反复弯曲-1211方法E7：扭转1412方法E8：曲挠1613方法E10：弯折-2714方法E11：弯曲1815方法E12：抗切穿一1816方法E13：枪击1917方法E17：刚性-2318方法E18：张力下弯曲(过滑轮试验)-”2619方法E19：风振2820方法E20：成圈性能-一3021方法F1：温度循环3122方法F3
3、：护套完整性3323方法F5：渗水3324方法F6：复合物滴流-3425方法F7：核辐照3626方法F8：气阻-3627方法F9：老化3728方法F10：耐静水压3729方法G1：光缆元件的弯曲。3730方法G2：光纤带几何尺寸的观测法-“3831方法G3：光纤带尺寸的孔规法-3932方法G4：光纤带尺寸的千分表法3933方法G5：光纤带撕裂(可分性)4034方法G6：光纤带扭转4l35方法G7：套管弯折4236方法H1：短路电流试验4337方法H2：沿电力线路的架空光缆的雷电试验46GBT 7424光缆总规范分为以下部分一第1部分：总则；一第2部分：光缆基本试验方法。前 言GBT 74242
4、2008本部分为GBT 7424(光缆总规范的第2部分。本部分修改采用IEC 6079412：2003(光缆第12部分：光缆基本性能试验方法，其主要差异如下：第3章“总则”中，量的数值按GBT 8170规定修约；监测和检查的方法和抽样，按国内现行情况规定；将IEC中的“33定义”与“36 图形符号和术语”合并为本条“33术语和定义”，并将IEC文本列于第29章中的光纤带定义移至本条中；“34标准大气条件”的标题改为“试验环境条件和预处理条件”，增加的具体规定摘录于“GBT 2421 1999 电工电子产品环境试验第1部分：总则”规定的标准试验大气条件；一IEC中方法E14“复合物滴流”应是环境
5、性能试验，本部分中改为方法F6。IEC中方法E15“析油和蒸发”是材料试验，本部分不列入；一方法E1和方法E3中，补充了部分细节和具体数据；一方法E4中，建议落高为1 m；一方法E7中，扭转角度增加了按有关规范规定的角度；t一方法E10中，将光缆是否弯折的判定改为“使圆环的直径减小到有关规范规定的最小值”后再观察；一方法Ell中，方法EllA加上名称“卷绕”，为方法E11B加上名称“u型弯曲”；方法F1中，增加了“试样应在20土5下处理24 h”的一般性规定。本部分代替GBT 742422002光缆总规范第2部分：光缆基本试验方法。本部分与GBT 74242-2002的主要差异如下：34标题由
6、“标准大气条件”改为“试验环境条件和预处理条件”，并直接引用GBT 242l“1999的具体规定；取消“36图形符号与术语”，以下条目编号顺减；38改为37，增加了具体内容；增加了第4章“光缆试验”，以便与IEC 60794一l一2：2003相同。本章说明本部分中的方法编号情况，以后的各章的编号顺延一方法E7中的扭转角增加了建议值“士180”；一一方法E13又分为两个方法E13A和E13B。E13A与原来内容基本相同，但去掉了对弹着点数量的限制。E13B为新增加的方法；方法E18分成了E18A和E18B两个方法，程序由2个增加为4个。增加了单一局部弯曲和多个局部弯曲的程序；方法E19“风振”制
7、定了详细的内容，它等同采用IEC 6079412：2003中的方法E1 9；增加并制定了方法E20“成圈性能”的详细内容，它等同采用1EC 6079412：2003中的方法E20；1GBT 742422008一方法F6的预处理限值由“光缆试样总质量的05或05 g”改为两者的较小者；一增加并制定了方法F10“耐静水压”及其具体内容，它等同采用IEC 6079412：2003中的方法F10；一增加并制定了方法H1“短路电流试验”及其具体内容，它等同采用IEC 6079412：2003中的方法H1；一一增加并制定了方法H2“沿电力线路的架空光缆的雷电试验”及其具体内容，它等同采用IEC 60794
8、1一z：2003中的方法H2。本部分由中华人民共和信息产业部提出。本部分由中国通信标准化协会归口。本部分由四川汇源光通信股份有限公司、成都大唐线缆有限公司、信息产业部有线通信产品质量监督检验中心，电信科学技术第五研究所起草。本部分主要起草人：王则民、赵秋香、陈方春、薛梦驰、虞春、宋志佗、时彬。本部分所代替标准的历次版本发布情况：a)GBT 7425(所有部分)1987、GBT 8405(所有部分)987；b)GBT 742411998的第3章和第6章；c)GBT 742422002。光缆总规范第2部分：光缆基本试验方法GBIT 7424220081范围GBT 7424的本部分规定了光缆的机械性
9、能、环境性能和元件的各试验方法的目的、试样、设备、程序和要求等。本部分适用于GBT 74241规定的光缆。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 7424的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 242322-2002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化(IEC 60068214：1984，IDT)GB 502321997额定电压450750 V及以下聚氯乙烯绝缘电缆
10、 第2部分：试验方法(idtIEC 60227-2：1979)GBT 74241一z003光缆总规范第1部分：总则(IEC 6079411：2001，MOD)GBT 8170数值修约规则GBT 1597222-2008光纤试验方法规范第z2部分：尺寸参数的测量方法和试验程序长度(IEC 60793122：200l，MOD)GBT 1597232光纤试验方法规范 第32部分：机械性能的测量方法和试验程序 涂覆层可剥性(GBT 1597232 2008，IEC 60793一】一32：200l，MOD)GBT 1597246 2008光纤试验方法规范第46部分；传输特性和光学特性的测量方法和试验程序
11、 透光率变化(1EC 60793-146：2001，MOD)GBT 1597254光纤试验方法规范第54部分：环境性能的测量方法和试验程序 伽玛辐照(GBT 15972542008，IEC 60793一l一54：2003，MoD)YDT 629(所有部分) 光纤传输衰减变化的监测方法IEC 60544(所有部分) 电气绝缘材料离子辐照影响的确定3总则31 引言除非详细规范中另有规定，本章的各条规定应适用于本部分规定的各试验方法。32试验方法格式各试验方法格式应按如下标准顺序编制。在保持这个总体顺序的同时，可插入附加条款。目的试样设备程序】GBT 742422008要求待规定细节33术语和定义下
12、列术语和定义适用于图1所示的光纤带横截而。331宽度和厚度width and thickness光纤带的宽度”和厚度t是包围光纤带横截面的最小矩形的长边和短边的尺寸。332基线 basis line基线是在光纤带横截而中通过第一根光纤(光纤1)中心和最后一根光纤(光纤n)中一15,的直线。333光纤排列3331光纤水平间距horizontal fibre separation光纤水平间距是在纤带横截面中两光纤中心在基线上的垂直投影距离。可区别为两个水平问距参数：a)相邻光纤中心间的距离d；b)两侧光纤中心间的距离b。3332平整度planarity光纤带的平蹩度P是这些光纤中心到基线的垂直间距
13、最大正值和最大负值的绝对值之和。光纤中心在基线“之上”时，垂直间距为正，光纤中心在基线“之下”时，垂直问距为负。基蛙tO 光纤带宽度；t 光纤带厚度；d 光纤带中相邻光纤中心间的距离；6光纤带中两侧光纤中心间的距离；P一光纤带平整度。图1 光纤带横截面几何结构示意图34试验环境条件和预处理条件341 除非另有规定，本部分规定的试验环境条件应是标准试验大气条件，即应符合如下规定温度为(1535)；一相对湿度为2575；气压为(86106)kPa。2GBT 742422008342除非另有规定，本部分规定的试验样品应在上述试验环境条件下预处理24 h。35量的数值本部分规定的量的数值应有明确的有效
14、位数，测量值应按GBT 81 70规定修约到与规定值同样的有效位数后，再与规定值比较。36安全待定。37定标371定标定标程序可规定为这一套操作：在指定的条件下，建立测量系统指出的值和基准材料的已知值之间的相互关系。一旦建立起来，这个关系可用于调节测量系统，以纠正统计显著偏差。只要知道确定性的关系存在，系统调节可以采取例如硬件或软件调节的形式。保证设备在使用前按制造商的说明书定标和调节，以便使测量不确定性最小。记录定标过程的有关资料，例如基准材料或所用试验设备的定标值和不确定性。37，2评估不确定度”测量不确定度可被定义为估计被测量(被测物理量)的真值落在处于给定可信度(或置信水平)以内的范围
15、。测量不确定度通常包含几个成分，其中有些可用统计技术估算(所谓的A型不确定度)，而另一些可在实验或其他资料的基础上估算(所谓的B型不确定度)。不确定度的成分或变化是加成的，置信间隔可针对基于变化成分的总和的测量来计算。不确定度的典型构成可包括如下来源的不确定度： 基准材料或所用设备的定标不确定度 通常在标准的定标证书上陈述； 转换不确定度一基准材料或设备的认证值因其被定标而产生的估算变化； 操作不确定度 环境条件(例如温度和湿度)的估算影响； 试样和定标标准的测量的统计(随机)不确定度起因于诸如电气噪音、振动、数据量化等。38监测和检查381 光纤传输衰减变化(即透光度变化)的监测在本部分方法
16、F1中应按GBT 1597246-2008中方法B或YDT 6292规定进行，在本部分其他方法中应按GBT 1597246-2008中方法A或YDT 6291规定进行。在受试光缆芯数不多于12芯时应监测全部光纤，在多于12芯时应监测至少12根光纤，抽样时应考虑到光纤结构位置和色谱等方面的代表性。382光纤的光学连续性和断裂的检测可采用通可见光目视检测方法或按GBT 1 597246 2008中方法B或YDT 6292规定方法进行检测，应检测受试光缆中的全部光纤。383光缆护层检查护套开裂检查，应以正常视力进行目视检查。384适时检测应按有关规定，在试验之前、之中和(或)之后进行适时监测和检查。
17、4光缆试验下面的测量程序叙述光缆的机械性能试验(编号E系列)和环境性能试验(编号F系列)、光缆元件的几何尺寸和机械性能试验(编号G系列)以及沿电力线路的架空光缆的电性能试验(编号H系列)。其中某些试验还在考虑中。注：由于本部分中的试验编号尽可能与IEC 6079412中相同，较早1EC版本中的某些试验巳被其他试验取代或已确定是不适用的，因此在试验编号顺序中缺少E9、E16、F2和F4等号码1)见ISO1EC关于表达测量不确定度的导则GBT 7424220085方法E1：拉伸性能51 目的本方法适用于测量光缆在规定拉伸负载(通常是安装期间允许的负载)范围内的拉伸性能，即测定光缆中光纤的衰减变化、
18、光纤应变和(或)光缆的应变与拉伸负载的函数关系。本方法的意图是非破环性的，即施加的拉伸负载应在允许的最大拉力以内。本方法依所监测的项目不同，分为：a)方法E1A，是确定光纤衰减变化的方法；b)方法E1B，是确定光纤伸长应变和光缆伸长应变的方法。它能提供光缆安装时的最大允许拉力和光缆应变限量的资料。应按照详细规范或用户和制造厂问的协议，可单独使用方法E1A或方法E1B，或者联合使用这两个方法来分别测量光缆的不同拉伸性能。52试样从盘装或成圈的光缆上取出一段受试光缆，其长度足以取得希望的精度。当采用图2设备时，除非另有规定，光缆受试段长度近似为两卡盘入口切点间的光缆长度与一个卡盘周长之和，它应不小
19、于50 m。当采用图3设备时，除非另有规定，光缆受试段长度为两夹头问的光缆长度，它应不小于25 Ill。受监测的光纤两端应制备成平整、清洁并垂直于光纤轴的端面。53设备试验设备示例见图2和图3。试验设备的拉力量程不得超过被试光缆最大允许拉力的510倍。试验设备应包括：a)机械装置1)一套夹持装置，用于抓住光缆各元构件，使它们相互间无实质性滑移，且不会影响试验结果。例如图2中的卡盘和图3中的夹头，其卡盘直径应不小于试样外径30倍。注：对于白承式架空光缆，当详细规范有要求时，应借助与其光缆吊挂型式相笑的装置来进行光缆固定。对于某些重型铠装光缆，其夹持装置可以采用用套夹或类似锚桩装置。2)一套可选用
20、的传递装置，可用于图2设备中使较短的设备长度能容许较艮的受试段长度，其滑轮直径应不小于试样外径30倍。3)一台拉力装置，用于以规定拉伸速率在规定的拉力范围内提供平稳的拉伸负载。b)监测设备1) 一套测力装置(含拉力传感器)，用于测量试样所受拉伸负载，其传感器最大误差应足它的最大测量范围的士3。2)一台光纤衰减变化测量设备，用于方法E1A，它应符合GBT 1 597246 2008中方法A或YDT 6291规定。3)一台光纤应变测量设备，用于方法E1B，它应符合GBT 1 597222 2008中方法C规定。4)一套可选用的光缆伸长测量装置，用于方法E1B，它可基于机械方法，也可基于电气方法，其
21、精度应确保光缆应变测量结果的误差不大于001。5) 一只可选用的多路光开关，用于多路光纤箍测的转换。54程序a)试验环境条件应符合34规定。b)把光缆装在拉伸设备上，在两端用央持装置把光缆均匀地固紧，防止光缆的各元构件相互滑移。对于大多数光缆结构，例如层绞式光缆，实际是夹持住除光纤以外的各元构件，这足以用于测量拉伸性能，例如衰减变化、光纤应变、光缆应变和最人允许拉力。但是，对于某些光缆4GRT 742422008结构，例如中心管式光缆，可能需要注意防止光纤纵向滑移，以便得到正确的光纤应变。c) 把受试光缆中的受监测光纤连接到监测设备。在拉伸试样时，应注意受监测的基准长度不得变化。d)拉伸力应连
22、续地增加到详细规范中规定的(各)要求值，例如长期允许拉伸力和最大拉伸力(通常为短暂允许拉伸力)，除非另有规定，保持时间至少为1 rain，拉伸速率应为5 mmmin10 mmmin。然后，逐渐卸去负载。这样一个加载和卸载的过程。构成一个循环。e) 在加载过程中，应作为光缆拉伸负载的函数来记录规定波长下的衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变。除非另有规定，对于12芯以下光缆，应监测全部光纤，对于12芯及以上光缆，应赔测至少12根光纤。f)除非另有规定，试验循环次数应为1次。g)当有要求时，在最终卸载5 rain后，测量衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变的残余值。55要求试样的衰减变化、光纤应变和(
23、或)光缆应变，以及去除拉力后它们的残余值，应符合详细规范中规定。当详细规范有要求时，应提供和评价光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系，如图4所示。当有要求时，应确定光纤应变始发点的拉伸负载数值，即光纤应变与拉伸负载的函数曲线图上，曲线的线性部分与拉伸负载轴的交点处的拉伸负载。56待规定细节详细规范应包括如下内容：a) 光缆长度和受拉伸长度；b)负载传感器；c) 注入条件和衰减测量装置(当必要时)；d) 光纤应变测量装置(当必要时)；e) 是否要求在规定波长下衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系；f)拉伸增加的速率(当另有规定时)；g)光缆跃度测量的最小精确度(当另有规
24、定时)；h)环境温度(当不同于34规定时)。图2使用传递装置和卡盘的拉伸性能测量设备示例GBT 742422008图3拉伸性能测量设备光缆伸长率； 口光纤伸长率； o To； 丁k注：T。相应于光纤开始受应变的负载；T二相应于规定的最大拉力负载圈4光纤和光缆的伸长与负载的函数关系实例6方法E2：磨损光缆耐磨损性包括两个方面：a)护套耐磨损的能力；b)光缆标志耐磨损的能力。61方法E2A：光缆护套耐磨损611 目的本试验的目的是确定光缆护套耐磨损的能力。612试样试样应是一段足以实施规定试验的光缆，其长度通常为750 Inm。613设备磨损试验装备应能在(io1)1TilTl的长度上，以(55士
25、5)循环分的频率，沿平行于光缆纵轴的方向来回擦磨光缆表面。擦磨刃口来回各移动一次，构成一个循环。擦磨刃口应是一根钢针，其直径应符合详细规范中的规定。典型设备示例见图5。6T4程序a)试验环境条件应符合34规定。b)用光缆夹把长度大约750 Inm的试样紧固在支撑板上。然后，应以重物对擦磨刃口加载，在光缆上产生详细规范中陈述的力，同时要避免冲撞光缆。c)除非详细规范中另有规定，在每个试样上进行4次试验，在后一次试验前把试样向前移动100 mm并总是沿相同方向旋转90。角。6GBT 742422008615要求在完成规定的循环次数之后，护套应无穿孔，光纤应保持光学连续性。616待规定细节详细规范应
26、包括如下内容：a)循环次数；b)针棒直径；c)施加的力。62方法E2B：光缆标志耐磨损621 目的本试验的目的是确定光缆标志耐磨损的能力。依据标志的种类和详细规范中的规定，应使用如下两种方法之一：方法1，适用于坚硬的标志类型，例如压凸纹、压门纹和熔结的标志；方法2，适用于上述类型之外的标志。622试样试样应是足以实施规定试验的一段光缆，其长度通常为750 mm。623设备6231方法I典型设备示例见图5。该装置应能在40 rNrn的长度上，以(55士5)循环分的频率，擦磨平行于光缆纵轴的光缆标志。擦磨刃口来回各移动一次，构成一个循环。擦磨刃口应是一根钢针，其直径为I mm或按详细规范中的规定。
27、6232方法2该设备包括：a) 一台试验装置，用于把力通过羊毛毡施加到受试光缆上。典型示例见图6；b)两块白色羊毛毡；c)对试样施加力的重物。624程序试验环境条件应符合34规定。624I方法1用光缆夹把长度约750mm的试样紧固在支撑板上，使试样标志直接处于擦磨刃口下施行试验。然后，应以重物对擦磨刃口加载，在光缆上产生详细规范中规定的力，同时要避免冲撞光缆。然后，施行详细规范中规定的循环次数的擦磨。6242方法2应把带标志的光缆试样放在用水浸透的两块羊毛毡之间。然后，应把详细规范中规定的标称力(F)施加到在100 IIIITI上前后移动的试样标志上，施行详细规范中规定的擦磨循环次数。625要
28、求在完成详细规范中规定的循环次数之后，标志应字迹清晰可辨。626待规定细节详细规范应包括如下内容：a)循环次数；b)所用方法c)针棒直径(方法1)；d)施加的力。7GBT 742422008图5用于试验E2A和E2B方法1的典型试验装置详圈xl钢针聱 t叮 7谢 锄弋。 门行程图6用于试验E2B方法2的典型试验装置7方法E3：压扁71 目的本试验的目的是确定光缆承受压扁的能力。72试样试样应是一段足以实施规定试验的光缆。73设备该设备的可移动钢板应能在光缆试样的100 mm长度上均匀地施加压扁力，使试样在平的钢板基座和可移动钢板之问受到压扁。可移动钢板的边缘应以约5 Ft=ltTl半径倒角，倒
29、角边缘不包括在钢板的100 mm平整部分之内。设备示意图见图7。74程序试验环境条件应符合34规定。应把试样安放在两块钢板之间，防止横向移动，然后，逐渐地而无任何突然变化地施加力。如果以步级方式增加力，其增长比率应不超过15：l。除非详细规范中另有规定，施加的压扁力应增加到详细规范中规定的(各)值，例如长期允许压扁力和最大压扁力(通常为短暂允许压扁力)，并在保持时间至少1 rain后进行监测，然后逐渐卸去压扁力，过5 min后再进行最终监测和检查。8GBT 742422008除非另有规定，试验应施行三次，把力加在试样上间距不小于500 mm且不转动光缆的3个不同地方。当详细规范中有要求模拟特殊
30、的工作条件时，可垂直于试样插入一根或多根钢棒来实施一个附加试验或替代试验(除非详细规范中另有规定，钢棒直径为25 ram)。75要求试验的合格判据应在详细规范中规定。通常的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。76待规定细节详细规范应包括如下内容：a)施加的(各)压扁力；b)施加力的持续时间(当另有规定时)；c)试验次数；d)试验点之间的间距；c)钢棒排列方式(当采用时)。力8方法E4：冲击图7压扁试验81 目的本试验的目的是确定光缆承受冲击的能力。82试样821试样长度试样长度应足以施行规定的试验。当只是评定物理损伤时，长度范围可从1 m(例如小直径的软跳线
31、或双芯光缆)到5 m(例如较大直径光缆)。当要求j|：【测衰减变化时，则试样应是足够长度的光缆端部的一段。822终端试样可在两端以连接器或者以把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起的适当方式进行终端。冲击设备上的夹子可能适用，或者试样足够长而不再需要作终端约束。9GBT 74242200883设备该设备应能把冲击施加到固定在坚实的平钢座上的光缆试样上。当要求一次或仅仅几次冲击时，可采用图8a)所示的设备，它使一个重物垂直跌落在一个钢块上，钢块再把冲击传递到光缆试样。当要求反复冲击时(例如大于5次)，可采用图8b)所示的设备，它用一个跌落的重锤进行多次冲击。在这两种情况中，也可采用其他等效的设备
32、。接触试样的撞击表面应是详细规范中规定的表面半径为R的圆弧形，或者象一个半球(图8c)的A)，或者是一个圆柱面(图8c)的B)。当详细规范中规定监测光纤衰减变化等时，试验设备应包括38规定的设备。84程序试验环境条件应符合34规定。当必要时，试样应在标准大气条件下预处理24 h。应调整重物或跌落重锤的质量和iEX：t试样下落的高度来产生详细规范巾规定的冲击能量值。除非另有规定，下落高度通常为1 m。然后，按详细规范中规定的速率和冲击次数，在详细规范中规定的试样位置上进行冲击。试验期问，按详细规范的要求进行监测和检查。85要求试验的合格判据应在详细规范中规定。通常的合格判据是光纤不断裂、衰减变化
33、不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。86待规定细节详细规范应包括如下内容：a)冲击次数；b)冲击能量；c)试验温度；d)撞击表而的芈径R；e) 多次冲击的频率(当需要时)；f)在试样E的冲击位置；g) 光纤衰减变化(当要求时)。支架导杆重锤r问铜块撞击而铜皋旌a)用于几次冲击的设备图8冲击试验自由转动滑轮导杆重健撞击面GBT 742422008钢基座_E三二二b)用于多次冲击的设备0 0日可。c)撞击面详图圈8(续)杆9方法E5：已成缆光纤的剥离力稳定性91 目的本试验通过测量已成缆光纤暴露到各种环境条件后可剥性的变化来确定已成缆光纤剥离力的稳定性。92试样921试样长度光缆或光纤试样的
34、长度应足以施行规定的试验。922试样制备抽取光纤的光缆，在抽出光纤之前应按详细规范中的规定作预处理。试验应在取自分成两段(最小2 m)的光缆试样中的光纤上执行。一段用于试验，另一段用于参考测量。应提供足够的光纤试样，可用于测量的试验用试样和参考测量用试样各10个。光纤抽出之后，应小心地去掉粘在光纤上的所有填充复合物，例如用柔软的薄纸擦净。】1GBT 742422008光缆的环境处理要求宜在详细规范中规定，也可由用户和制造厂之问商定。93设备设备包括处理设备(当需要时)和光纤可剥性设备(见GBT 1 597232)。94程序光纤可剥性应在环境处理过的试样上，在按详细规范中规定的恢复时间和修整之后
35、，按GBT 1 597232规定测量。应采用同样的方法测量取自参考光缆段的光纤试样的可剥性，并且应通过比较试验结果来确定剥离力的变化。95要求剥离力的变化应满足详细规范中规定的要求。96待规定细节详细规范应包括如下内容：a)光缆预处理；b)光纤处理；c)恢复时间和修整；d)剥离力的允许变化。10方法E6：反复弯曲101 目的本试验的目的是测定光缆承受反复弯曲的能力。102试样1021试样长度试样长度应足以施行规定的试验。当只是评定物理损伤时，长度范围可从1 m(例如小直径的软跳线或双芯光缆)到5 m(例如较大直径光缆)当要求监测衰减变化时，则试样应是大长度光缆端部的一段。1022终端试样可在两
36、端以连接器或者以把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起的适当方式进行终端。弯曲设备上的夹子可能适用，或者试样足够长而不再需要终端约束。103设备该设备应能使试样承受拉伸负载的同时，允许向铅垂线左右两边各弯曲90。角。适用光缆试验的设备示例见图9，适用于光缆连接器组件试验的设备示例见图lo。可使用其他等效的设备。弯曲臂应有一个可调节的夹具或定位器，用于在整个试验期间有效地固定光缆，同时还不会挤压光纤和增加光纤损耗。对于带连接器的光缆，可通过连接器在弯曲臂上固定住光缆。该设备应能循环运转。试样从铅垂位置摆动到右极限位置，然后摆动到左极限位置，再返回到起始的铅垂位置，构成1个循环。除非详细规范中另有
37、规定，弯曲的速率应约为2 S 1个循环。当详细规范中规定监测光纤衰减变化等时，试验设备应包括38规定的设备。104程序a)试验环境条件应符合34规定。b)本程序可规定为6步：一一第1步：在标准大气条件下预处理试样24 h；第2步；应把试样固定到如图9或图10所示的设备上；一第3步：按详细规范中规定，加上重物；一 第4步：测量合格判据参数，建立原始值；GBT 742422008第5步：按详细规范中规定的循环次数施行反复弯曲；一第6步：进行合格判据参数测量。当要求时，可把试样从设备取出来作目视检查。10，5要求试验的合格判据应在详细规范中规定。通常的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规
38、定的值和光缆护套不开裂。106待规定细节详细规范应包括如下内容：a)循环次数b)重物质量；c)弯曲半径R。图9光缆的反复弯曲试验轴圈10光缆连接器组件的反复弯曲试验GBT 74242200811方法E7：扭转111 目的本试验的目的是测定光缆承受机械扭转的能力，首先是测量光缆外护套经受到外部扭转力时光纤的传输衰减变化，第二是评价由于扭应力产生物理损伤的可能性。112试样试样长度应足以施行规定的试验，并能足以进行详细规范中要求的衰减变化监测。113设备扭转设备实质上由两个夹持装置或夹头组成，一个周定，一个旋转，它们的问距可调。其中，旋转夹头由转动装置驱动，各夹头支座、夹持装置和旋转设备应便于安装
39、试样。扭转设备示例见图11、图12和图13。光缆夹持装置应能：a)沿光缆四周夹持光缆，足以防止在夹具内滑移b)使牢固夹持的光缆成一直线；c)既不产生由于夹具内口引起的光缆局部扭伤，也不在光缆上产生过分的局部压力集中；d) 使夹持过程不得在试样上产生任何显著的附加衰减。如果详细规范有要求和(或)为了使试样接近直线形状，应使用重物或适当的加载机械，把张力负载加到光缆夹具架上(见图12和图13)。当详细规范中规定监测光纤衰减变化时，试验设备应包括38规定的设备。114程序把试样装人试验设备中，使试验长度L(见图ll、图12和图13)符合详细规范中要求，并使试样上无起始扭转应力。除了必需的扭转操作之外
40、，在整个试验中不要移动或扰动试样端。尽可能使试样的垂度(图1l或图12)或对铅垂直线的偏离(图13)最小。当详细规范中规定监测光纤衰减变化时，则应测量试样夹持前后的输出光功率变化，要求达到无显著劣化。只要详细规范不禁止，可采用支撑受试段的方法或对受试段试样施加张力的方法，使试样的垂度或弯曲减至最小。详细规范要求施加张力时，除非详细规范另有规定，所施加的张力应符合表1规定。裹1施加的张力光缆标称直径范围 最小负载mm N25 15264o 25416o 40619o 459113o 5013118o 5518124o 6524130o 70301 75当详细规范中规定监测光纤衰减变化时，则应测量
41、夹持和施加张力负载之后试样的输出光功率。按如下旋转可转动夹头：GBT 742422008a) 顺时针旋转180。或有关规范规定的角度b)返回起始位置；c)逆时针旋转180。或有关规范规定的角度；d)返回起始位置。这四步转动构成1个循环。除非详细规范中另有规定，每个循环在1 rain内完成，总计lo个循环。第10个循环完成后，在最后的第lo个循环期间的顺时针旋转的极限位置上和反时针旋转的极限位置上，以及在第10个循环完成后，确定通光光纤数。让试样静置5 min后，进行合格判据参数的测量。当有要求时，试样可从设备中移出来，用正常视力作目视检查。115要求试验的合格判据应在详细规范中规定。通常的合格
42、判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套与(或)缆芯元构件不损坏。116待规定细节详细规范应包括如下内容：a)受试长度L；b)施加的张力；c)监测衰减变化的光纤数；d) 允许的最大衰减变化。图11光缆扭转设备图12施加张力的光缆扭转设备GBT 742422008图13施加张力的代用光缆扭转设备12方法E8：曲挠121 目的本试验的目的是测定光缆(例如升降机光缆)承受运行中反复曲挠的能力。122试样试样可在两端以连接器或者以把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起的适当方式进行终端。试样长度应足以施行规定的试验。123设备本试验设备示例见图14。对于圆形光缆各滑轮应具有半圆形槽
43、，对于扁形光缆应具有平底槽。应把限位夹头D固定，使拉力总是由小车正在移离的那个重物施加。可使用其他等效的设备，例如GB 50232中指出的设备。124程序试验环境条件应符合34规定。试样应在这些滑轮上拉紧，各端用一个重物加上负载。这些重物的质量及滑轮A和B的直径应符合详细规范中规定。小车从它的起始位置移动到横梁一端，随后在反方向移动到另一端，然后再返回到起始位置，构成1个循环。试样应曲挠详细规范中规定的循环次数。125要求试验的合格判据应在详细规范中规定。通常的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套与(或)缆芯元构件不损坏。126待规定细节详细规范应包括如下内容：a)滑轮A和B的直径；b)重物的质量；c)循环次数。】6GBT 742422008图14曲挠设备13方法E10：弯折131 目的本试验的目的是确定光缆成环直径缩小到规定值时是否引起光缆弯折。132试样试样长度应足以施行规定的试验。133设备不需要特殊的设备。134程序试验环境条件应符合34规定。应构成一个环(见图15中(1)，在圆环的底部的两端(见图15中(2)
