1、中华人民共和国国家标准Blank detall speclflcatlon for mlcroprocessor semlconductor lntegrated clrcuits (可供认证用). UDC 62 1. 38 .049.774 GB 7509 87 本规范规定了编制半导体集成电路微处理器以下简称器件详细规范的基本原则。本规范是与GB 4589. 1 84 (半导体集成电路总规范有关的一系列空白详细规范之一。求的资料下列项要求的内容与首页表中各栏资料相对应，编制详细规范时应填写在相应的栏中。详细规范的识别发布详细规范的国家标准化机构名称。IECQ详细规范的编号。总规范号和年代号。
2、详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系需要的资料。件的识别器件类型。典型结构和应用资料。如果设计的器件是多用途的，应在详细规范中说明。这些用圣11Y紫阻止.Jlr70 如果器件属静电敏感型，应在详细规范中注明。外形图和(或与外形高关的参考文件。质量评定类别。能在各类器件之间进行比较的最重要的性能参考数据。件所豆LA求的特性和检验都应得本规范中，中括号所列内容仅供指导编制详细规范用，不必在详细规范中列出。本规范中，表示当特性或额定值适用时应在详细规范中填写的值。( x) :表示适用处要给出的数值。家标准局1987- 03 -25批准1987一11_-01试行GB 7509 87 发布详细规范
3、的国家标准化机构名称(IECQ详细规范的编号、发布号和(或日期评定器件质量的依据s f详细规范的国家编号 G B 4589.1 84 (半导体集成电路总规范器件型号详细规范订货资料:见本规范第8章1 机械说明 外形依据:GB 7092 86 (半导体集成电路外形尺寸I C可在本规范第11章列出详细资料。引出端识别I(画出引线排列，包括图示符号。标志z按GB4589.1 84第2.5条和本规范第7章可在本规范第7章列出器件上标志的标法示例。若国家编号与IECQ编号J致，本栏可以不填2 s 明MOS或双极型集成微处理器半导体材料:(Si) 封装:(空封或非空封品种z形式注意z静电敏感器件评定类别f
4、按GB4589.1 84第2.6条按本规范鉴定合格的器件，其制造单位的有关资料，可在合格产品目录中查到。4极限值(绝对最大额定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。编制详细规范时，任何增加的值可在适当处给出。对各器件特有的注意事项应加以说明。如z电源、电压的施加顺序。应给出下列使用的极限条件值以及极限条件值的相互关系。如果极限值大于瞬态过载值，应规定允许的过量极限和持续时间。 GB 15佣-81值条款号参数符号单位大4. 1 工作环境度TA x X 4.2 贮存温度T 01, X x 4.3 电源电压V cc X V 00 V EE V BB 4.4 人电压 V. X x 4.5 出电压 V
5、o 4.6 人电流1. ( x) (x) 4. 7 出电流10 (x) (x) 4.8 功起PD 注2如手可必要，应指出该电!至是相对于哪一个引出端。5 电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第9章。编制详细规范时，任何增加的值可在适当处给出。5. 1 电工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围。数值条款号s垂，哇数符可r=I 单位大5. 1. 1 电电压V cc V DD V EE V BB 5.1.2 输入品电平电压VIH x GB 75-87 续表数值条款号参数符亏仨3位大5. 1. a 人低电平电压V IL X 5.2 电特性若无其它规定，适用于全工作温度酒围。如果不能给出电路性
6、能在整个工作环境温度范围的变化肘，应给出25C和工作温度范围极限值下的输人和输出电压及其相应的电流值。应给出输入和/或输出不同功能类型的电流和电压值。5.2. 1 静态特性规范值条款号特性符号条件单位试验大5.2. 1. 1 电电流I cc V cc= ( 大 A3 , A4a , I o V 00= A4b I EE V EE= I BB V BB = 5.2.1.2 输入局电平电压VIH v cc= (最大 A3 , A4 a , A4 b 5.2. 1. 3 人低电平电压V IL V cc= 大X A3 , A4 a , A4 b 5.2. 1. 4 人箱位电压V IK V cc= 大(
7、 x ) A3 , A4 a , I.K;: A4 b 5.2.1.5 出局电乎电压V OH v cc;: j、 A3 , A4a , 10H = A4 b 5.2. 1. 6 出低电平电)正V OL V cc= ( 小 A3 , A4 a , I OL = A4b 5.2. 1. 7 人向电平电流IIH V cc= (最大 A3 , A4 a , A4b -L GB 一町续表规范值条亏E写特性符号条件单位试验大5.2. 1. 8 输人低电乎电流IIL V cc= ( 大x A3 , A4 a , A4 b 5.2. 1. 9 输出高电平电流10H V cc= ( 大 A3 , A4 a ,
8、V OH = A4 b 5.2. 1. 10 输出低电平电流10L V cc= ( 大x A3 , A4 a V OL = A4 b 5.2. 1. 11 出高电平10HX V cc= 大( x) A3 , A4 a , )电流V OH= A4b 5.2. 1. 12 输出低电半10LX V cc= ( 大(x ) A3 , A4 a , (漏电流V OL A4b 5.2. 1. 13 出短路电流los V cc= 大(x) (x) A3 , A4 a Vo=OV A4 b 5.2. 1. 14 输出高阻态时10HZ V cc= ( 大(x) A3 , A4 a , 品电平电流V OH= A4
9、 b 5.2. 1. 15 输出简阻态时10LZ V cc二大(x) A3 , A4 a , 低电乎电流V OL A4 b 5.2. 1. 16 输出负载电阻R , . (x) 5.2. 1. 17 输出电容C L (x) (x) 5.2. 1. 18 人电容包Cj (x) 括时钟)5.2. 1. 19 出电(包Co (x) 括时钟5.2.2 动态特性条款号特性5.2.2.1 传延迟时间5.2.2.2 转换时间5.2.2.3 立时间5.2.2.4 保持时间5.2.2.5 输出止时间5.2.2.6 出允许时间e 型号说明6. 1 框圄及逻辑符号6. 1. 1 框图符号tpHL tPLlI tTH
10、L tTLH t.回tH tPHZ tPLZ tpZH tpZL GB 75 规范值条件单位试验大 A5 ( x) A5 ( x ) (x) A5 ( x) A5 (x) A5 ( x) ( x) A5 (x) 应给出器件的功能框图井给州简单的说明，包括用户可编程序的任何功能块:各功能单元间的主要数据通路以及外部连接。6.1.2 逻辑符号应按GB4728.12 85 (电气图用图形符号二进制逻辑单元给出器件的逻辑符号。6. 1. 3 I出端符号应给出器件引出端符号的说明。符号入/输出6.2 功能6.2.1 时序固时序图和(或)表。应给出器6.2.2 输入应说明每出功能人和出信号的功能。信号一般
11、分为z据信号，地址信号，控制信号(包括状态)0 J 名称GB 75佣-876.Z.3寄(应给出内部程序寻址寄存器或直接影响器件操作的其它寄存器的数量、类型和位数。用图表方法表示:) n位0位. . . . . 寄存器名称通用寄存. . . . . . 变址和堆战指示寄存器._ ._ - ._- . 程序计数器和标志位寄存器专用寄存器 _. -._ ._ . . . .- . ._- . -6.2.4 寻址方式应详细说明各种高效的寻址方式如s立即、直接、相对、变址、间接、自动递增/递包括寻址方式的构成图表。对较复杂的方式必需用图表表示。另外，应给出有效数据类型表。6.2.5指令系统, 应给出器件
12、可执行的全部指令一览表，作，指令助记符以及执行指令所产生的操作结果。应指出指令的类型，指令类型包括z传送指令，不f百J逻辑指令F移位和循环指令s转移指令，字操作指令自控制指令。对每一类型的指令应加以具体说明，包括指令格式(如操作码、操作数和每条指令的执行过程。适用时，给出构成指令的字数、寄存器的状态以及与每条指令相关的寻址方式。6.2.6 外部事件6.2.6.1 中断处理应给出中断类型、数目，中断处理的优先顺序。6.2.6.2 输人/输出处理应规定数据输人和输出、地址输出的处理方法。如z串行、并行或多路组合。6.2.6.3定时器/计数器适当处。6.2.6.4 微程序(适当处。6.3 瞬态能量保
13、护应说明器件抗高静电压和静电场的能力。6.4 外部元件应说明器件正常操作所需外部元件的特征(如E时钟电路)0 ) GB 7 标志除首页表栏见本规范第1章)给出的资料外，其它特殊的标志资料应在本章给出。8 订货资若无其它规定，订购器件至少需要下列资料z8. 准确的型号Fb. 详细规范的国家编号，C. 质量评定类别，d. 当高关时，有发布号和/或日期的IECQ详细规范，e. 其它详细资料(如任何特殊的包装要求等)0 ) 试验条件和检验要求编制详细在下列表中给出。时，应按器件型号及有关标准的何关试验要求，将采用的数据和适用件抽样要求z根若无其它采用的质量评定类别，参考GB4589.1 84第3.6.
14、2，A组采用AQL抽样方案。A组-一边批所高试验均为非破坏性的见GB4589.1 84第3.6.6款。检验或试验Al分组外部目检A2分功能验证Aa分25 -C下的静态特性引用文件GB 4589.1-84中的第5.1.1条条件若无其它规定，T A = 25 -C (见GB4589.1 84第4章按标准功能测试图形。(VCC (或V.、Vn、VDD、1 cc、188、lee、1DD)为标称值。输入信号的电压.电流顺序和组合以及微处理器功能操作所必须的最终输出波形按规定。负载值钱，由瓜。基本时序条件按m。引出端的使用条件按规定按本规范第5.2.1.1至第5.2.1.15项。检验要求规范值按标准功能测
15、试图形。【允许接经国家标准机构认可的制造单位的功i正程序。本规范第5.2.1.1至第5. 2. 1. 15项GB 续表条件检验要求检验或试验51 用文件若无其它, T A = 25C (见GB4589.1 84第4章)规范值A 48分最高工作温度下T A按本规范4. 1条，的静态特性按A3分组同A3分组A 4b分组最低工作温度下TA按本规范第4.1条，的静态特性按A3分组同A3分组A5分组25 c下的动态特按本范2. 2. 1项至第5.2.2.6同本规范第5.2.2.1项性项至第5.2.2.6项B组-一逐批标有(D)的试验为破坏性的见GB4589.1 84第3.6.6款)。条件检要求检验或试验
16、51 用文件若无其它规定，T A = 25 c 见GB4589.1 84第4章)规范值B 1分尺寸GB 4589.1 84 同本规范第1章5.2条及附录CB8分引线强度(D)GB 4590 84(半导外u力=按规定无损伤适当处，弯曲体集成电路机械和气候试验方法第2.2条84分可焊f哇GB 4590 84第按方法b(槽法浸润良仔2.5条一一检验或试验+ 85分温度快速变化:两槽法(非空封器件或两箱法(雪封器件)后进行g加速潮热D) (非空封器件试验后测量:同A2和A3分组或密封空封器件88分组电耐久性(l68h) 试验后测量g(同A2和A3 分组)CRRL分组引用文件GB 4590-84 第3.
17、2条第3.1条第3.5条GB 459084第3.12条和第3.13条GB 4590-84第4.7条GB 75佣-87续表条件若无其它规定T A = 25C 见GB 4589. 1 -84第4市)温度TA = (拨规定J, 时间1，= (按规定J, 时间12= c技规寇J, 温度校本规范第4.1条按规定illA2和A3分组I按规定(T A均以细规范允许的最大的，平均功枉为诈细规疤允许的最大伯，电源电!至为出细规范允许的最大值同A2和A3分组.96 h内J!IJ完就83.84.85和88提供计数检查纺呆C组-一-周期标高(D)的试验为破坏性的见GB4589.1 84第3.6.6款)条件检验和试验i
18、J l 用文件若无其它规定，T A = 25C (见G8 4589. 1 -84第44?)C 1分组尺寸GB 4589.1 84第5.2条及附录CC 28分最高和最低工作dA2 ;组温度F的功能验证T A按本规范第4.1条检验复求规范的Irij A 2和A3J m 同A2和A3分组检验要求规范1 fri .在规范第1市frj A2 51组检验和试验C 2b分最高和最低工作温度F的动态特悴C3分组引线强度拉力D) C4分耐焊接热(D)试验后测量g同A2和A3 分组)C6分恒定加速度空封器件)试验后测量2同A2和A3分组)C7分稳态潮热(D)非空封器件)试验后测量:(!司A2和A3分组)C8分组电
19、耐久饨(1000 h ) 试验后测量:(同A2和A3分组C9分组高温贮存(D)试验后测量z同A2和A3分组引用文件GB 4590 84第2. 1条GB 4590 84第2.6条GL 4590 84第2. 10条GB 4590 84第3.7条GB 459084第4. 7条GB 4590 84第3.3条GB商条件若无其它规定，T A = 25 c (见GB4589.1 84第4章同A5分组T A按本规范第4.1条按L按规定同A2和A3分组撼规定同A和A3分组接严格度A(温度851:2C，相对温度80%-90%) 试验时间，21天同2和A3分组同B8分组同A2和A3分组，96h内测完1000 h ，
20、温度按本第4.2条同A2和A3分组检验要求规范值同A5分组无损伤同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组GB 75倒-87续表条件检验和试验11 用文件若无其它, T A 25C (见GB4589.1 84第4) Cll分标志耐久性GB 4590 84第按在4.3条CRRL分组就C3、C4、C6、C7、C8、C9和Cll提供计数检查结果10 D组批准鉴定批准后立即进行，以后每年进行一次。条件院验和试验11 用文件若无具包规定，T A = 25 C (见GB4589.1 84第4草)D8分组电耐久性GB 4590-84 在同B8分组III类:2000 h、4.7条、皿类:3000h) GB 4589.1-84第3.6.1.5款11 附加资科仅当器件规范和使用需要时才提供，例如za. i号捕时间或其它临界时间随温度及输出负载(适当处)的变化zb. 表明对个别有影响的外接元件作用的曲线和数据自C. 热阻，d. 老化条件(适当处)，应规定下列条件:环境温度，最高工作温度，电源电压:额定值3频率z规定值z电路图和条件z按规定se. 抗手扰度输人端，电源端等)I r. 详细外形固g. 真他。附加说明:本标准由中华人民共和国电f工业部提出。本标准由集成电路标准化技术委员会微机工作组起草。不标准主要起草人胡燕，童本敏。要求规范值检验雯求规范值
