1、中华人民共和国国家标准绝缘子试验方法第1部分z一般试验方法Test method for Insulators Part 1 : General test methods 本标准适用于绝缘子的一般通用性试验。I 名词术语本标准的名词术语应符合下列标准的有关名词术语za. GB 200.8-83电工名词术语绝缘子） b. GB 1183-80 形状和位置公差术语及定义oz外观与尺寸检查2. 1 外观检查UDC 621. 315. 62 001.4 GB 775-1-87 外观检查以自力观察方法进行，必要时使用量具，如绝缘件表面有细小气泡或颜色不均而不能判断绝缘体是否良仔肘，应选出具有上述缺陷的代
2、表性产品进行剖面检查或作孔隙性试验，如剖面检查发现瓷质不致密有大量气孔）或有渗透现象时，则具有这种缺陷的产品为不符合标准。2.2 尺寸检查检查时应采用游标卡尺、直尺等标准量具或特制量具进行测量。量具的精确度一般应不低于0. 5 mm，对于尺寸偏差要求比较精确的产品，应采用精度相适应的量具。检查爬电距离时，应采用不会伸长的胶布带或金属丝），在试品两电极间，沿绝缘件表面（包括弩件表面的半导体袖层部分，但不包括导电性胶合剂，如水泥胶合剂量得的最短距离。由多个绝缘件组成的产品，则为其各绝缘件最短距离的总和。S形状和位置偏差检查3. 1 端面平行度检查测量时，将试品直立安装在旋转干台中心，平台表面与旋转
3、轴线应垂直（见图1) ，对于支柱绝缘F用圆锥形螺钉见图2）固定，顶端端面上用圆锥形螺钉将一块厚度不小于15mm）均匀的圆板同心地回寇在安装孔上。旋转、p:台一周，用千分表测量困板上直径为250mm（户内支柱为lOOmm)处表面至支架横梁阅的距离（即图l中A的距离），计算其最大值与最小值之差即为端面平行度。IE：如产品标准未注明测量部位尺寸时，在产品上的实际测量值应换算为250（户内支柱为世100)mm处的数白。对于未装配附件的绝缘件（包括瓷套或瓷板类），贝lj置于平台中心，直接测量绝缘件上：端表面至支架横梁间的距离。国家标准局1987-01-23批准1987-10 01实施22 GBT75.1
4、-87 吃B , . 图1图23.2 平面度锥董测量时，用刀口尺或直尺与被测试品表面直接接触，并使两者之阅的最大间隙为最小时，用厚薄规（塞尺）测量最大！同隙，在表面上各点测量中的最大间隙。）为试品表面的平面度，如图3所示。直尺试品图33.3孔中心回轴线闽最大偏移检查测量时，试品按本标准第3.1条规定装置好。旋转平台一周，用千分表测量圆板圆柱表面至支架闹的23 GB775.1-87 距离（即图1中B的距离），计算其最大值与最小值之差的一半即为主端的孔中心圆轴线间最大偏移。测完上端后，将试品倒装，以同样的方法视f导下端的孔中心圆轴线间最大偏移，试品的孔中心圆轴线间最大偏移为上下两端测得的数值的平均
5、值。3.4 轴线直线度检查测量时，将试品安装在特制的量具中（阁4），或安装在平行于基准平面的两顶尖或卡头）连线之间，I员尖顶在试品端面中心（图5），然后将绝缘子转动一周，在沿塞直于轴线的截面圆周上测量与基准平面间的距离与b，并沿轴线方向进行多点测量，取所测两间距之差的一半（乓立中的最大值即为轴线直线度。持制量具活功尺b a 图4。剑。革准中面图53.5 伞缘变形度检查检在针式、盘形悬式绝缘于的伞缘变形度时，将试品自由地放在一中空平台上（图6平台作为基准平面），用厚薄规（塞尺）测量伞缘与平台之间的最大l词隙（t），此闯隙即为伞缘变形度。. 图624 GB 775-1-87 3.6 圆度检查检任时
6、，用游中l、长尺（或内非规、外卡规）测量垂直于轴线的同一截面k任意两个宦径方向的最大直径与最小直径，其差值的.t-即为圆度。以同样方法测量右l二个截面，取其中所测的最大值，即为该试i1111的国度。3.7位置度（安装孔中心位移）检查a. 绝缘了I二咐件与下附件轴线位置度检在检查时，将F附件置于划线、V台上刊仁台作为基准面），然后用划线针找出上、下附件的巾心位置，测量00两点的距离，.（国7),/J.值即为位置度。b. 绝缘fI二附件安装孔连心线与下附件安装孔连心线位置度检查。检查时，将下附件置于划线、三台J:.（丰台作为基准面），在上附件二安装孔连心线的方向，取OB =R so 80 25 轩径so 100 35 或绝缘f) 100-120 45 120 60 45 60 25 壁厚so 70 35 （或绝缘f-)10 80. 45 so 60 5.8结果判定试验完成后，检查试品有无损坏，然后，披产品标准规定对B型绝箴件【或绝缘于）进行1min 工频火花电压试验或1min工频耐受电压试验，对A型绝缘件进行10s的额定机械破坏负荷的60%的机械试验检验绝缘体是否损坏。附加说明：本标准由中华人民共和国机械五业部提出，由西安电瓷研究所归口。本标准由西安电瓷研究所起草。本标准主要起草人刘树横。本标准于1965年首次公布，第一次修订于1979年。28
