1、ICS 25.220.20 H 21 GB 中华人民共春日国国家标准G/T 8753.3-2005 代替GB/T11110-1989 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第3部分飞导纳法Anodizing of aluminium and aluminium alloys -Assessment of quality of sealed anodic oxide coatings 一Part3: AdmiUance test (ISO 2931: 1983 , Anodizing of aluminium and its alloys-Assessment of quality of s
2、ealed anodic oxide coatings by measurement of Admittance and impedance, MOD) 2005-07-04发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2005-12-01实施发布中华人民共和国国家标准铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第3部分:导纳法GB/T 8753. 3-2005 唔中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销9峰开本880X12301/16 印张0.5字数9千
3、字2005年11月第一版2005年11月第一次印刷9峰书号:155066 1-26556 定价8.00元如有fp装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 8753.3-2005 目。吕GB/T 8753(铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法分为如下4个部分:-GB/T 8753. 1-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第1部分无硝酸预浸的磷锚酸法一GB/T8753.2-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第2部分硝酸预浸的磷锚酸法一一-GB/T8753. 3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第3
4、部分导纳法GB/T 8753. 4-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第4部分酸处理后的染色斑点法本部分为GB/T8753的第3部分。本部分修改采用ISO2931: 1983(铝及其合金阳极氧化导纳或阻抗法测定氧化膜的封孔质量(英文版)，并根据ISO2931: 1983重新起草。为了方便比较，在资料性附录A中列出了本部分章条和对应的国际标准章条的对照一览表。本部分在采用国际标准时进行了修改，这些技术差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。主要差异如下:一本部分只采用ISO293 1: 1983中的导纳法。阻抗法与导纳法测定氧化膜封孔质量的原理和方法相同，但仪器有别。我
5、国实际生产中未曾使用阻抗法，欧盟标准EN12373. 112373. 19: 1999(铝及铝合金阳极氧化也只采用了导纳法。本部分增加了试验报告的内容。本部分代替GB/T111101989(铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜的封孔质量的测定方法导纳法。本部分与GB/T11110-1989相比，主要变化如下:-第一章中适用于铝及铝合金在水溶液或水蒸汽中封孔的阳极氧化膜封孔质量的测定修改为适用于铝及铝合金阳极氧化膜封孔质量的快速无损测定。第7.1. 1节中的封孔后24h72 h内测试修改为封孔后24h以上测试。本部分从阳极氧化膜的电绝缘性间接判断封孔质量，属无损检验方法，可作为生产控制检验。本部分的附录
6、A为资料性附录。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分负责起草单位:北京有色金属研究总院。本部分参加起草单位:广东竖美铝型材厂有限公司、深圳华加日铝业有限公司。本部分主要起草人:朱祖芳、李永丰、戴悦星、关业武、谭群燕、姚立群、章吉林。本部分由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本部分所代替的历次版本标准发布情况为:G/T 11110-19890 GB/T 8753.3-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第3部分:导纳法1 范围本部分规定了导纳法测定铝及铝合金阳极氧化膜封孔质量的方法。本部分适用于在水溶被中封孔的，膜厚大于3mm的铝
7、及铝合金阳极氧化膜封孔质量的快速无损|测定。本部分规定的方法既适用于热封孔的阳极氧化膜，也适用于冷封孔的阳极氧化膜。本部分可作为产品质量控制方法，也可作为供需双方商定的验收方法。2 方法原理用导纳法测定铝及铝合金阳极氧化膜经封孔后的表面导纳值，可知氧化膜的电绝缘性(即阻抗)，从而判断氧化膜封孔质量。铝及铝合金的阳极氧化膜可以等效为由若干电阻和电容在交流电路中经串联和并联组成的电路。导纳值决定于以下变量:铝合金材质、封孔工艺、阳极氧化膜的厚度和密度、着色方法、封孔与测试之间的间隔时间和存放条件。3 术语下列术语适用于本部分。导纳admittance 导纳为阻抗的倒数，按式(1)计算:叫1 ( 1
8、 ) 式中:Y一导纳，单位为微西门子(S);R一一电阻，单位为欧姆(0); f一一交流电频率，单位为赫兹(Hz); C一一电容，单位为法拉(F)。4 试荆4.1 无水乙醇(GZH50H)或丙酣(CH3COCHJ)。4.2 氧化镜(MgO)。4.3 电解液:硫酸饵溶液(35gjU或氯化饷溶液(35gjU。5 仪器5. 1 导纳仪:量程3S300S，精度士5%，工作频率为1000 Hz士10Hz。5.2 电解池:由内径13mm、厚度5mm的自粘橡胶圈构成。电解池内表面积为133mm2。GB/ T 8753.3-2005 6 试样6. 1 试样尺寸形状不限，但检测部位面积应大于电解池内表面积，检测部
9、位的膜厚应大于3m。6. 2 试样的测试部位用无水乙醇或丙酣进行脱脂预处理。如试样在封孔后表面已涂覆石蜡、硅油或清攘，则先用无水乙醇或丙酣脱脂，然后用氧化接或浮石粉和水擦洗，直至无水溃。7 测试步骤7. 1 测试条件7. 1. 1 水蒸汽或热水封孔的试样，应在盯L矿的试样应在封孔后24h以上测试。wfp，.;远后1h4 h内测试，不得超过48h。冷封孔7. 1.2 测试温度范围为lOOC且拚二。- _. 7.2 测试步骤.1 ,-7. 2.1 将导纳仪的一个7. 2. 2 将电解池粘到、新测定)。7. 2. 3 将电解液c4.L中)。每次测量应7.2.5 7. 2.6 测定测、8 结果表示式中
10、:Ym一一导纳实际测量吨A二一电解池实际测量b) 计算电解池面积为133式中:Y2 电解池面积为133mm2、测试温度为250C时的导纳修正值，单位为微西门子(S); Yj 电解池面积为133mm2时的导纳修正值，单位为微西门子(S); !，-实际测试温度下的温度系数，温度系数和温度的关系见表1.表1温度系数和温度的关系温度rc温度系数2 . C 3 ) GB/T 8753.3-2005 c) 计算电解池面积为133rnrn2、测试温度为250C、氧化膜厚度为20m时的导纳修正值式中:Y, = Y2 X主- 20 . ( 4 ) Y3一一电解池面积为133rnrn2、测试温度为250C、氧化膜
11、厚度为20f1.rn时的导纳修正值;单位为微西门子(S); Yz 电解池面积为133rnrn2、测量温度为250C时的导纳修正值，单位为微西门子(S);e一一氧化膜实际测量厚度，单位为微米(rn)。9 试验报告试验报告包括以下内容:a) 本部分编号;b) 仪器型号，生产厂名;c) 生产批号;d) 电解池面积;e) 测试温度(电解液温度); f) 被测试部位氧化膜厚度;g) 氧化膜测量导纳值;h) 氧化膜导纳值修正值;i) 试验日期;j) 测试人员。OON-的.mumhH阁。GB/T 8753.3-2005 附录(资料性附录)本部分章条编号与ISO2931 : 1983章条编号对照A 本部分章条编号与ISO2931: 1983章条编号对照本部分章条编号对应的国际标准章条编号l、23 3 4 2 5 5. 1 6.1 5.2 6.2. 1 6.2.2 4. 14. 3 4.4 6. 3 6. 1 7 6.2、78 8 9 9 表A.1侵权必究书号:155066. 1-26556 定价:JL 8.00 关版权专有GB/T 8753.3-2005
