1、ICS 31.200 L 56 每昌中华人民共和国国家标准GB/T 9424-1998 idt IEC 748-2-5: 1992 QC790131 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第五篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five-Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits , se
2、ries 4 OOOB and 4 OOOUB 1998 -11-17发布1999- 06-01实施国家质量技术监督局发布中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分z数字集成电路第五篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范GB/T 9424-1998 中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:68522112 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印峰开本880X12301/16 印张3/4字数18千字1999年5月第一版1999年5月第一次印刷印数1-1000 书号:155066.1-15
3、762 定价8.00元峰标目373-26GB/T 9424-1998 前本标准等同采用国际电工委员会(lEC)标准IEC748-2-5: 1992(半导体器件集成电路第2部分数字集成电路第五篇一CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范。本标准代替1988年发布的GB9424(CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范。本标准与(CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范一起，可作为编制CMOS数字集成电路4000系列电路详细规范的依据。本标准引用的国家标准GB/T4937-1995和GB/T17572-1998分别等同采用IEC749: 1984及修改单1
4、(1991)、修改单2(1993)和IEC748-2-4:1992 0 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位z电子工业部标准化研究所、西安微电子技术研究所。本标准主要起草人:陈裕烟、陈学礼。GB/T 9424-1998 IEC前言1) IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2)这些决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3)为了促进国际上的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可
5、的情况下，采用IEC标准的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。E 本标准是由SC47A(集成电路)和IECTC47(半导体器件)制定的。本标准系CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范。本标准文本以下列文件为依据:六个月法47A(CO)175 47(CO)1051 表决报告47(CO)195 一个月程序47A(CO)210 本标准表决批准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。表决报告47A(CO)242 本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)规范号。本标准引用下列IEC标准:68-2-17:1978环境试
6、验第2部分试验试验Q密封617-12:1991 图示符号第12部分二进制逻辑单元747-10:1991 半导体器件分立器件第10部分分立器件和集成电路总规范748-2-4:1991半导体器件集成电路第2部分数字集成电路第四篇-CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范748-11:1990半导体器件集成电路第11部分半导体集成电路(不包括海合电路)分规范749:1984 半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991) QC 001 002: 1986 IEC电子元器件质量评定体系IECQ)程序规则引言中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第五篇CMOS数字
7、集成电路IEC电子一程序，以这种国同样接受。3J总规范、分规4J详细规范的国器件的识别5J主要功能和型号。6J典型结构(材料、主要工如果器件具有若干种派生产品，则如果器件属静电敏感型，在详细规范中应附加预防说明。7J外形图、引出端识别、标志和/或与外形有关的参考文件。8J按总规范2.6的质量评定类别。9J参考数据。GB/ T 9424 - 1998 idt IEC 748-2-5: 1992 QC 790131 代替GB/T9424- 1988 为其他所有参加起使用。中。本规范下面方括号给出的条款构成了详细规范的首页，那些条款仅供指导详细规范的编写，而不应纳入详细规范中当一个条款指导编写可能引
8、起混淆时，应于括号内指明国家质量技术监督局1998- 11 -17批准1999 - 06 -01实施GB/T 9424 -1998 国家代表机构(NAl)(和可以提供规范的团lECQ详细规范编号、版本号和/或日期2J 体)的名称(地址)JlJ QC 790131 评定电子元器件质量的依据3J 详细规范的国家编号4J 总规范:IEC 747-10/QC 700000 若国家编号与IECQ编号相同，本栏可不填分规范zIEC 748-11/QC 790100 族规范:GB/T 17572 编号不同时的国家标准号CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范5J 有关器件的型号订货资料:
9、见本规范1.2机械说明7J 简要说明6J 外形依据:应给出标准封装资料，IEC编号(如有，则需遵应用:见本规范第6章循)和/或国家编号功能:见本规范第3章外形图:典型结构:SiJ 可以移入本规范第8章或在那里给出更详细封装:空封或非空封的资料派生产品的特性对照表引出端识别:注意z静电敏感器件画出引出端排列图，包括图示符号标志:字母和图形，或色码质量评定类别8J 若有时，详细规范应规定标志在器件上的内按总规范2.6J容见总规范2.5和/或本规范1.1J 参考数据9J 能在各型号间比较的最重要性能的参考数据指明器件为SSI、MSI还是LSI按本规范鉴定合格的器件，其有关的制造厂资料，可在现行合格产
10、品目录中查到。2 1 标志和订货资料1. , 标志GB/T 9424 -1998 除第7J栏和/或总规范2.5给出的资料外，任何特殊资料应在本条给出。.2 订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料:一一准确的型号(必要时，标称电压值h一一当适用时，详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期;一一总规范2.6和分规范第9章规定的质量评定类别，以及如果需要时，分规范第8章规定的筛选程序;一一任何其他特殊的资料。2 应用说明见本规范6J规定的内容。3 功能的详细说明3- 1 详细框图应给出器件的详细框图。应给出功能的图示符号。图示符号可从标准图示符号的目录中得到，或按IEC标准617-12的规则
11、编制。3.2 引出端的识别及功能所有引出端应在框图中注明(电源端、输入端或输出端、输入/输出端)。引出端功能应在下表中标明J引出端编号|引出端符号|引出端名称|功能3.3 功能说明应在这里给出功能表4 极限值(绝对最大额定值体系)除另有规定外，这些极限值适用于整个工作温度范围。最好在本规范第9章画出曲线所有电压以V岱为基准。条款号参数4. 14. 5 见族规范4.6 每个输出和每个封装的功耗4. 7 流入任一输出端的连续电流4.8 瞬态能量额定值5 工作条件(在规定的工作温度范围内)见族规范第5章。电源电压范围:VDD=3V15 V 所有电压以Vss为基准。符号PD 引出端功能输入/输出识别输
12、出电路的类别数值最小最大 3 G/ T 9424 - 1998 6 电特性检验要求见本规范第13章。推荐电源电压范围:VuD=5V、10V和15V (见，族规范第5章。)若无其他规定，电特性适用于整个工作白皮范围。所有电压以V55为基准。6.1 静态特性见族规范5.2.1(除5.2. 1. 9外)。6. 2 功态特性条款6. 2. 1. 1 6.2. 1叫转换时|屯，也1)见详细规范。2) 3 其中:对IpZI和tpLlV X = V DD ; Vss 输出Vss 0 工L11 I 50 pF J k.n Vx 。 、/飞, 单位ns ns ns ns l1 S ns ns ns 6. 2.
13、2 时序要求条款特性6.2.2. 1 建立时间(适用时)6.2.2.2 保持时间L (适用时)6. 3 时序图不适用。6. 4 电容见族规范5.2.1. 9。7 编程不适用。8 9 附加资料10 见族规范。仅当规范和一一涉及到极一一测试电路口一一详细的外环境温度;电惊电压;.频率;电路图和条件。11 质量评定程序11. 1 鉴定批准程序见总规范第3章和分规范5.1。11- 2 能力批准程序在考虑中。12 结构相似性程序见分规范第6章。G / T 9424 - 1998 Vnn T anlbmin 25 C Tan 单符号V 盯llnlax 盯llnmax 盯llnDt:l X 位tsu 、x、
14、ns t lS 、J13 试验条件和检验要求13.1 总则GB/T 9424 -1998 在编写详细规范时，下列表中的数值和确切的试验条件，应按器件型号要求以及有关标准中有关试验的要求确定。两者选一的试验或试验方法，在编写详细规范时应规定一种。当同一详细规范中包括几种器件时，相应的条件和/或数值应依次连续给出，尽可能避免重复相同的条件和/或数值。13.2 抽样要求见分规范第9章。13- 3 检验表若无其他规定，试验在25C下进行。标有(D)的试验是破坏性的。表IA组一一逐批检验分组检验或试验试验条件A1 外部目检IEC 747-10 , 4.2.1.1 A2 2SC下的功能验证(若无其他规定)
15、按本规拖第3章A2a (不适用于I类)最低和最高工作温度下的功能验证UA3 2SC下静态特性见本规范6.1最低和最高工作温度下的静态特性T amb = Tambmax和TambminA3a 条件同上述A3分组A4 2S.C下的动态特性(若无其他规定)见本规植6.2(不适用于I类)最低和最高工作温度下的动态特性4)T 8mb = T amhmax和TambminA4a 条件同上述A4分组极限值见本规范6.1 极限值可以与A3分组不同见本规范6.2极限值可以与A4分组不同4)如果制造厂能定期证明两个极限温度下的试验结果与2S.C下的试验结果相关，则可使用2SC下的试验结果。表EB组一一逐批检验(
16、1类器件见总规范2.6)分组检验或试验标准细则和条件极限值B1 尺寸IEC 747-10 见本规范第1章4.2.2和附录BB2c 电额定值验证不适用B4 可焊性(0) GB/T 4937，第E篇，2.1按规定浸润良好BS 温度快速变化a)空封温度快速变化GB/T 4937，第E篇，10次循环1. 1 随后电测试从A2和A3分组中选择同A2和A3分组同A2和A3分组密封g细检漏GBI丁4937，第E篇，按规定7.3或7.46 GB/T 9424 -1998 表n(完)分组检验或试验标准细则和条件极限值B5 密封g粗检漏IEC 68-2-17，Q，试验按规定b)非空封和环氧空封(D) GB/T 4
17、937，第E篇，10次循环温度快速变化1. 1 随后外部目检IEC 747-10 , 4.2.1.1 稳态湿热5)GB/T 4937，第E篇，5B严酷度1，24h 电测试同A2和A3分组同A2和A3分组B8 电耐久性见分规范12.3时问:168h。按分规见分规范12.3 范12.3和12.4(如适用)CRRL 就B4、B5和B8分组提供计数检查结果表EC组-一周期检验分组检验或试验标准细则和条件极限值C1 尺寸IEC 747-10 4.2.2和附录BC2c 瞬态能量额定值(0) GB/T 17572 .10.2 C3 引出端强度(0) GB/T 4937，第E篇，按相应封装规定第1章C4 耐焊
18、接热(0) GB/T 4937，第E篇，2.2按规定C5 温度快速变化a)空封温度快速变化GB/T 4937，第E篇，1.110次循环随产白电测试从A2和A3分组中选同A2和A3分组同A2和A3分组择密封g细检漏GB/T 4937，第E篇，按规定7.3或7.4密封2粗检漏IEC 68-2【17，Qc试验按规定b)非空封和环氧空封(D) GB/T 4937，第E篇，500次循环温度快速变化z1.1 随后外部目检IEC 747-10 , 4.2.1.1 稳态湿热5)GB/T 4937，第E篇，5B严酷度1，24h 电测试同A2和A3分组同A2和A3分组C6 稳态加速度(D) GB/T 4937，第
19、E篇，按规定(适用于空封器件)第5章C7 稳态温热GB/T 4937，第E篇，严酷度:n类和E类a)空封(D) 5A 为56d, 1类为21d, b)非空封和环氧空封(0) GB/T 4937，第E篇，严酷度15B 偏置z按详细规范规定时间:n类和E类为随后1 000 h , 1类为500h 电测试A2和A3分组同A2和A3分组旦旦2和A3哇望-ag GB/T 9424 -1998 回阁。表Bl(完)分组检验或试验标准细则和条件极限值C8 电耐久性见分规范12.3时间:1 000 h.条件见分规范12.3按分规范12.3及12.4(如适用)C9 离温贮存GB/T 4937.第E篇，第1000
20、h，T，咱max1-2章CJl 标志耐久性GB/T 4937，第W篇，第方法l2章C12 输入电容见本规范6.4 见本规范6.,1 见本规范6.4CRRL 就C3、C4，C5、C6、C7、C8、C9和Cl1分组提供计数检查结果5) B5 b)和C5b)将用强加速湿热替代。表ND组每年一次的试验分组检验或试验标准细则和条件极限值D8 电耐久性6)(0) 见分规范12.3I类:不适用见分规范12.3E类:2000h E类:3000h 条件g见分规范12.3及12.4(如适用)的D组试验应在鉴定批准后立即进行，其后一年进行-次。13. 4 延期交货见IEC标准747-10，3.6.70附加测量方法14 不适用。不得翻印书号:155066 1-15762 定价:8.00元晤标目37326 版权专有
