1、ICS 3704020G 80 a亘中华人民共和国国家标准GBT 9582-2008IS0 7004：2002代替GBT 9582-。1 998摄影 工业射线胶片 ISO感光度 ，ISO平均斜率和ISO斜率G2和G4的测定(用X和Y射线曝光)Photography-Industrial radiographic films-Determination of ISO speed，ISO average gradient and ISO gradients G2 and G4 when exposed to X-andGammaradiation20080924发布(IS0 7004：2002，I
2、DT)2009-05-0 1实施丰瞀嬲紫瓣警矬瞥星发布中国国家标准化管理委员会况1”GBT 9582-20081S0 7004：2002目 次前言引言 -1范围2规范性引用文件-3术语和定义4抽样和贮存5试验方法51原理52安全灯-。53曝光54冲洗加工55密度测量56评价6产品分类61感光度计算62平均斜率计算63点斜率测定64不确定度7标记和标签71 IS0感光度72 ISO平均斜率73 IS0斜率G2和G4-74总则附录A(资料性附录)能量测量单位附录B(资料性附录)散射辐射的测量附录C(资料性附录) 电离室的校正-附录D(资料性附录)X射线测量再现性的改进-附录E(资料性附录)测定G2
3、和G4关系式的推导附录F(资料性附录) 射线质量编码参考文献11l12222244444677777778901234刖 舌GBT 9582-2008ISO 7004：2002本标准等同采用国际标准ISO 7004：2002工业射线胶片一Is0感光度，1so平均斜率和ISO斜率G：和G。的测定(用X祁7射线曝光)(英文版)，技术内容和编写格式与ISO 7004：2002保持一致，只是根据我国国家标准的编写要求，作了编辑性修改，删除了1SO标准的前言，改为我国国家标准的前言。本标准修订并代替GBT 9582 1998工业射线胶片ISO感光度和平均斜率的测定(用X和7射线曝光)。本标准在内容上与G
4、BT 9582 1998相比，主要变化如下：-一修订了前言；一“术语和定义”中部分进行了扩充；一本标准533中增加丁5331总则(本版第5章，1998年版第5章)；一本标准535调制中增加了“曝光12个数据点，得到从10至50的片基加灰雾密度的系列密度”；本标准55密度测量中删除了“使用不小于7 tortl2面积的小孔测量”；一将原标准中551中的图1调整到本标准中611；本标准81由原标准“Is()感光度”改为“感光度计算”；一本标准611由原标准“ISO感光度标度”改为“总则”；一本标准612由原标准“产品的ISO感光度”改为“ISO感光度”；本标准增加_：r“613系统型Is()感光度”
5、；本标准62由原标准“ISO平均斜率”改为“平均斜率计算”；一本标准621由原标准“ISO平均斜率标度”改为“总则”；一本标准622由原标准“产品的ISO平均斜率”改为“ISO平均斜率”；本标准增加丁“623系统型ISO平均斜率”；本标准83由原标准“准确度”改为“点斜率测定”；本标准增加了“631斜率G2点和G点的测定”和“632 1s()斜率G。和G”；一本标准73由原标准“总则”改为“ISO斜率G：和G4”；一本标准74为“总则”；本标准附录A为原标准附录E、附录B为原标准附录D、附录c为原标准附录A、附录D为原标准附录c、附录E为新增加的附录、附录F为原标准附录B；一本标准增加了参考文
6、献。本标准的附录A、附录B、附录c、附录D、附录E、附录F为资料性附录。本标准由中国石油和化学工业协会提出。本标准由全国感光材料标准化技术委员会(sAcTc 108)归口。本标准起草单位：中国乐凯胶片集团公司。本标准主要起草人：王丽丽、邵颖。本标准所代替标准历次版本发布情况为：一GBT 9582 1988、GBT 9582 1998。GBT 9582-2008IS0 7004：2002引 言本标准规定了用x和7射线曝光测定工业射线胶片系统1SO感光度、ISO平均斜率和ISO斜率Gz和G。的方法。许多国家多年前已有了关于这个题目的国家标准，并且提供的数值可能与本标准规定的程序所得到的那些数值不同
7、。由于胶片的照相性能取决于波谱的能量分布，故本标准规定了测定感光性能时的四个有代表性的射线源。为了减少国家标准之问的差异，对x射线管和x射线发生器的最低要求给出强制规定，并且在条款(533)中清楚规定射线质量。本标准规定了与胶片结合的金属屏的厚度。胶片的照相结果也取决于显影时的化学加工过程，本标准不规定加工方法，因此，提供一种胶片的ISO感光度或ISO斜率数值时，既要规定所用射线质量，也要规定冲洗加工方式，这将便于胶片和胶片加工组成的不同系统之问的对比。GBT 9582-2008ISO 7004：2002摄影工业射线胶片ISO感光度，ISO平均斜率和ISO斜率G：和G4的测定(用X和丫射线曝光
8、)1范围本标准规定了直接使用x和7射线曝光的工业射线胶片和胶片加工体的感光曲线形状、ISO感光度、Is()平均斜率和ISO斜率G。和G。的测定方法。本标准不规定带荧光增感屏的工业射线胶片的测定。注：能量测量单位在附录A中给出。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引脂文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究足否可使用这些文件的最新版本。凡是不注H期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GWT 11 500摄影密度测量 第2部分：透视密度的几何条件(GBT 11500 2008，ISO 5
9、 2：200l，IDT)GBT 11 501摄影密度测量第3部分：光谱条件(GBT 11 501 2008，ISO 5-3：1995，IDT)1SO 40371 校准辐射剂量仪和辐射强度仪及测定其作为光能参数灵敏度的x和7参考射线ISO 5579 非破坏性测试一按基本原则用x和7射线照相检测金属材料3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。31射线胶片radiographic film单面或双面涂布照相感光层的透明塑料散页胶片。32胶片系统film system射线胶片、胶片加工和所使用的铅箔和胶片暗盒组成的系统。33系统型号system type用相同的方法和规范制造的所有胶片系统，不考虑规格
10、。注：可按胶片型号和加工型号以及使用的铅箔和暗盒型号规定特殊系统型号。34屏片组合filmscreen combination用x射线和7射线曝光的直接与金属屏接触的射线胶片。注：本标准中，屏都是铅箔。35辐射质量radiation quality电离辐射特性，按照光谱能量分布测定。1GBT 9582-20081S0 7004：200236曝光技术exposure technique为了在胶片或屏片组合的面对射线源一边获得规定的射线质量使用的射线源和射线束滤线技术。37最小密度minimum densityJp胶片未曝光而加工测试的ISO标准视觉漫射透射密度(D，)。38净密度 net den
11、sityDN胶片经曝光而加工后的ISO标准视觉漫射透射密度(D。)减去最小密度(D)。39感光度speed感光材料在规定的曝光、冲洗加工、影像测量条件下对辐射能响应的一种定量测量。310平均斜率average gradientG特性曲线上的特定两点之间连线的斜率。311斜率gradientGx感光特性曲线在规定的净密度Dw=x处的正切值，dDdlgK。注：胶片系统中所获得反差的测量。312戈瑞grayGy空气动能单位柯玛和吸收剂量单位的名称。注：l Gy一1 Jkg(空气)，相当于1 145 R，相当于0 029 5 Ckg。4抽样和贮存在测定胶片系统的特性曲线、ISO感光度、ISO平均斜率和
12、ISO G。和G。斜率时，重要的是从被测样品测出用户获得的平均结果。这就要求在本标准规定的条件下定期地对几批不同批号的产品进行测定。测定之前，样品应按生产厂家推荐的时间贮存，目的是模拟产品正常使用的平均放置时间。为校准设备和冲洗加工的精确，应进行几个独立的测定。按照上述抽样和贮存样品确保胶片的性能代表用户使用时得到的性能。5试验方法51原理样品应按53和54的规定曝光和加工。从所得影像测量密度，绘出特性曲线，由特性曲线求出ISO感光度，ISO平均斜率和ISO斜率G：和G。52安全灯为消除安全灯影响照相性能结果的可能性，胶片曝光和加工应在全黑下操作。2GBT 9582-2008IS0 7004：
13、200253曝光531胶片瞎盒屏片组合应在暗盒内曝光，暗盒对规定射线的吸收小于2(不包括铅屏)。532样品条件曝光期间，样品应保持在温度235，相对湿度5020的环境中。533辐射质量5331总则本标准认可了四个特定曝光光源(两种x射线和两种7射线)，其目的是概括实际使用的曝光条件范围。选择四种的哪个用于测定ISO感光度、ISO平均斜率和ISO斜率G。和G4取决于胶片系统如何使用。当使用x射线管时，为了提高曝光的重复性，x射线发生器将满足下述要求(见1S04037 1)：a)由一个稳压的x射线源产生x射线；b)在照射期间，高压均值应稳定在土1之内，它显示的高压均值的公差为1；c)x射线管靶是由
14、钨组成的，为反射型，靶角应是约22。5332低能x射线源用钨靶射线管的x射线曝光测试中的屏片组合。射线管固有的滤线作用加上紧挨着钨靶安放附加的铜滤线器，应起到相当于(2o01)mm的铜滤线器的作用。本标准中规定所有的铜滤线器应为999的纯铜。调节x射线管的电压，直至加(10土o1)ram的铜得到半值吸收(即相当于30 mm滤线器作月j的x射线束的强度应是相当于20 mm铜的总滤线器作用的一半)。大约120 kV的电压般能满足这一要求，而不使用铅屏。指定这种射线源为射线源(1)。5333高能x射线源用钨靶射线管的x射线曝光测试中的屏片组合。射线管固有的滤线作用加上紧挨着钨靶安放附加的铜滤线器，应
15、起到相当于(800005)1Tim的铜滤线器的作用，调节x射线管的电压，直至加(35o2)ram的铜得到半值吸收。大约220 kV的电压一般能满足这一要求。胶片屏结合体在两个铅箔屏之间应不带衬纸曝光。试验曝光应确保铅箔屏不会产生条纹或其他明显的弊病。前铅箔屏和后铅箔屏厚度应在0020 mm0150 mm之间。应注意屏厚的变化会导致感光性能的变化。因此，当提供1S0感光度时，也应标明屏厚。单而涂布胶片的乳剂层应面对x射线管曝光。为了充分接触，应H压或使用真空盒。指定这种射线源为射线源(2)。5334铱一192(”2lr)Y射线在射线源附近加一个80 1TIm的铜滤线器，胶片的厚度应在铅箔屏的厚度
16、002 mmo2 mm之问。试验曝光应确保铅箔屏不会产生条纹或其他明显的弊病。应注意屏厚的变化会导致感光性能的变化。因此，当提供Is()感光度时，也应标明屏厚。指定这种射线源为射线源(3)。5335钴一60(60Co)7射线铅箔屏厚应在010 mmo50 mm之间。试验曝光应确保铅箔屏不会产生条纹或其他明显的弊病。应注意屏厚的变化会导致感光性能的变化。因此，当提供ISO感光度时，也应标明屏厚。指定这种射线源为射线源(4)。534散射源在对被测屏片组合曝光时，为减少散射线，应加光栏减小x射线和7射线束的面积，只要胶片均匀曝光即可(如包括测定仪器)。照射在胶片上和测定仪器上的散射线量应不大于原来射
17、线的6。使用低原子量材料制作胶片、滤线器和电离室的支架，使这些构件尽可能轻些，这样就可使散射线减至最少(见附录B)。3GBT 9582-2008ISO 7004：2002535调制为了测定感光度和斜率值，有必要曝光12个数据点，得到从1o50的片基加灰雾密度的系列密度。逐级改变曝光时间，射线剂量的调整就可获得梯级曝光。有效曝光范围内的各级曝光应均匀，在3之内。对于每一次曝光，用曝光胶片所用的射线能质量和强度校准的电离窒测量，单位为戈瑞(见附录C和附录D)，单独留一些样片不曝光，用来测定最小密度。54冲洗加工541样品调节样品曝光后，冲洗加工前应保持在温度(235)，相对湿度5020的条件下。曝
18、光后冲洗加工前的间隔应不少于30 rain，不超过8 h。542冲洗加工规范由于用在冲洗加工方面的化学药品和使用仪器设备范围较广，故本标准对冲洗加工不做规定。胶片生产厂一家所提供的ISO感光度和ISO斜率，一般适用按生产厂家推荐的冲洗加工工艺冲洗得出规定的照相性能胶片。冲洗加工资料可从胶片生产厂家或提出ISO感光度和ISO斜率的其他单位得到。冲洗加工资料应规定每一冲洗加工步骤所用药液、时间、温度、搅拌、设备和程序，以及为了获得所述感光测定结果的附加说明。不同冲洗加工程序所得感光度和平均斜率值会有较大差异。虽然对种胶片改变冲洗加工可以得到不同的感光度，但用户应明白其他感光性能和物理性能也会随感光
19、度和平均斜率的改变而改变。55密度测量冲洗加工过的影像其1SO标准视觉漫透射密度应采用GBT 11500规定的几何条件和GBT 11501规定的光谱条件的密度计进行测量。应在离曝光边缘至少要1 FElm的影像均匀处读取。56评价561感光特定曲线将ISO标准漫透射密度值对相应的曝光量K的以lo为底的对数值作图，得到与图1相似的感光特性曲线。曝光量以戈瑞为单位，见图1。562最小密度(D)将未曝光的样品和同样曝过光的待测感光测定曲线的样品一起测定最小密度。6产品分类61感光度计算611 总则原始感光度值由式(1)导出：S一1K。 -(1)式中：K。空气科玛，产生净密度20时所需的曝光量，单位戈瑞
20、(Gy)，见图1。GBT 9582-2008ISO 7004：20021_ 一平均斜翠；2 感光度点；3 最小密度。图1 感光度和平均斜率的测定612 ISO感光度1SO感光度可直接用表1获得，按照ISO感光度数值范围有效地转化成一种设定的1SO感光度值。程序是首先在图1中测定出lgKs。lgK。适合的数值从表1中左面的两栏选择，然后从表1中右栏中对应出IsO感光度。表1 ISO感光度分度表IgKs一 一 IsO感光度从 至一305 2 96 1 000295 2 86 800、2 85 2 76 640275 、_266 5005GBT 9582-2008ISO 7004：2002表1(续)
21、lgKsIsO感光度从 至、2 65 2 56 d002 55 246 3202 45 236 2502 35 一Z26 200225 216 1602】5 206 125205 196 100195 186 80185 176 64-一】75 166 ,50165 156 40155 1 46 32145 l_36 25135 1 26 20125 1 1 6 16115 1 06 12105 096 10095 086 8一O85 076 6075 066 5065 O56 4613系统型ISO感光度系统型感光度不是某一特定样品的感光度，它是按本标准规定进行抽样、贮存和测试，从各批样品的曝
22、光量对数lgKs的算术平均值得到的。系统感光度用lgK。的平均值做适当的归整从表1中得到。由于感光度取决于曝光条件、显影条件和铅屏厚度，故在引用ISO感光度值时，应对三方面的条件加以说明。62平均斜率计算621 总则原始平均斜率值(G)可从式(2)中得出：D2lgKz式中：D，曲线上比密度点大150处的密度D： 曲线上比密度点大350处的密度K， 产生D，所需的曝光量；Kz 产生D。所需的曝光量。DllgK200lgKz lgK(2)GBT 9582-2008IS0 7004：2002622 ISo平均斜率ISO平均斜率见62原始平均斜率归整到小数点后一位。在一些实际应用中，射线片的密度范围很
23、有限(均匀的样品)，因此平均斜率测量更适宜接近使用中的密度水平。例如：比最小密度大152 5密度之间的平均斜率G最适于比最小密度大2oo左右的密度，然而，如果G没按本标准规定的方法测定，则不能记作ISO平均斜率。623系统型ISO平均斜率系统型ISO平均斜率不是某一样品的平均斜率，62原始平均斜率的算术平均值归整到小数点后一位，它将按本标准的规定进行抽样、贮存和测试，从各批样品中得到。63点斜率测定631斜率G：点和G点的测定G点和G。点斜率分别与净密度D。一200和D一4oo有关。涉及感光曲线，例如：漫透射密度igK。对应作图。G。和G。可从K D曲线上净密度D。一2Oo和D。一400处计算
24、，见式(3)。r dD K。，dK。一dlgKx面7面式中K。代表获得特定密度x的曝光量(见资料性附录E)。KD曲线由三级多项式近似得出式(4)和式(5)：KaD 3+bD 2+cd+d(3)(4)黑一3ad 2+2列+c (5)U“G：和G按照公式(4)计算2OO和400净密度比值得出即dKdD，然后从公式(2)中分别计算dKdD值，得出G。和G；的值。632 ISO斜率G2和G4ISO斜率Gz和G4将直接按述公式从原G：和G。值中得出，归整到小数点后一位。64不确定度测定感光度、平均斜率和斜率点G和G。的设备将充分地校准以保证感光度测定(19K。)的不确定度小于005，斜率小于5。注1：置
25、信水平将通过使用一个近似2的反射肉子K(见参考文献7)，注2：置信水平和如此组合取决于测量结果的分布概率。有关更详细的解释，见参考文献E73。7标记和标签71 1SO感光度用本标准所述方法测定的胶片感光度或系统感光度，按照表l中的范围表述形式为Iso(2)t00。括号中的数字表明所用的射线即(2)为5333中所述的射线源。72 ISO平均斜率用本标准所述方法测定的胶片平均斜率或系统平均斜率，表述形式为ISO(2)G43。73 1SO斜率G2和G-用本标准所述方法测定的胶片点斜率Gz和G。，表述形式为ISO(2)Oz 66。74总则由于ISO感光度、ISO平均斜率和ISO点斜率G。和G。不仅取决
26、于胶片本身，而且取决于显影影像的冲洗加工、射线源和屏，所以引用数值时要给出加工规范。由本标准得到的数值不可与按照其他标准规定的方法得到的数值相对比。为此，建议引用本标准方法得到的数值要注明“工业”。GBT 9582-2008IS0 7004：2002附录A(资料性附录)能量测量单位x和7射线能量可用每单位物质内电子释放所产生的带电粒子的数量来表示。例如，每千克空气释放161010“个电子为l R，这个值相当于25810 4 C。射线能量也可用在单位质量空气中产生的全部带电粒子所释放的初始动能科玛来表示。在空气中释放1610X10“个电子需要873210 3 J。每千克空气释放的焦耳能量可用戈瑞
27、表示(1 Jkg一1Gy)。戈瑞也可表示为吸收的剂量。在本标准中，每单位质量的吸收剂量，或能量用戈瑞表示。以下列等式表示，1戈瑞相当于1145 R或0029 5 Ckg空气。同样地，1R相当于873210 Gy，如下式表示：lRO 0001 293 gcV1 R-873210 3 Gy；l C-624210”个电子；1 esu一2082109个电子；1 R在0001 293 kg空气中产生258101 eV=160210 12ergs160210。9J；鼍sx幽警esu鬻 kg j 电于873210 3 Oy(kg)4 c(或每千克空气161010”电子)3385 eV-015 cV为一个电子
28、在空气中产生一对离子所需的能量(ICRU31，见参考文献E3)。附录B(资料性附录)散射辐射的测量CBT 9582-2008150 7004：2002测定散射辐射对曝光量影响程度的方法取决于原始射线源。初始射线源的直径小于胶片到它距离的十分之一时，可按如下的反平方律法测量散射线对测试曝光量的影响。如果d为胶片到射线源的距离，那么用曝光率和d 2绘制曲线图。从曲线图上外推至零距离处，得到P值，它仅是从初始射线中产生的。为与本标准一致，正常测试距离的实际值(曝光率d2)不应比P值大6。9GBT 9582-2008IS0 7004：2002附录C(资料性附录)电离室的校正用533中规定的射线质量校准
29、的电离室可能得不到。在这种情况下，在需要的射线质量下的电离室响应可在校准曲线上，半值层范围内用插入法测得。对于5332和5333中规定的半值层的电离室响应，可在半值层对附录F中给出的射线电离室响应的曲线上通过插入法得到。与5334和5335中规定的7射线一起使用的仪器可用钻一60和铱192射线校准。在胶片感光度的测定中，可以用标准实验室校准的测定胶片曝光量的工作仪器。10附录D(资料性附录)x射线测量再现性的改进GBT 9582-20081S0 7004：2002为了改进x射线测量的再现性，使用的电离室应满足下述要求：a)在所谈及的能量范围内，当每单位曝光量的灵敏度变化很小，且视为光能参数时，
30、应使用电离室。b) 当测量电离电流时应注意。特别是，必需应用饱和条件，应对本底射线水平，电子干扰或测量仪器的漂移和大气条件的变化进行修正。c)为了允许校正曝光率的波动，应使用监控电离窒。GBT 9582-2008IS0 7004：200212附录E(资料性附录)测定G2和G4关系式的推导在631中表示的关系G一面diD瓦dD dDdlgKx lgedlgeKx导式由可兰旨曲兰詈国附录F(资料性附录)射线质量编码表F1GBT 9582-2008ISO 7004：2002固有滤线器附加滤线器厚度 半值层厚度NIST 恒定电压 的近似厚度代号 kV 铝 铅 锡 铜 铝 铜HFG 150 1 5 0
31、15 4 0 2 5 24HFl 200 15 07 40 06 25 4 18国家标准局(美国)。13GBT 9582-20081S0 7004：2002参考文献1 1SO 5 1：1984，摄影术密度测量第1部分，标记和符号2ISO 11 699 1，非破坏性试验工业x射线胶片 第1部分：工业x射线胶片系统的分类L3 国际委员会关于射线单位和测量，ICRU报告31，要求产生一对离子的平均能量，1 9794ICRU报告60，电离放射的基本数量和单位，19985NCRP报告82：射线防护和测量的sI单位，有关射线防护和测量的国际委员会的建议，1985年8月13日发表6HALMSHAW，R：工业射线：理论和实践，chapman and HAl。I，19957测量不确定度表述的指导，1 995，BIPM，IEC，IFCC，ISO，IUPAC，IUPAP，OI
