1、。J中华人民共和国航天工业部部标准QJ 1707-89 金属及其制品的脉冲反射式起声波测厚方法1989-02-22发布1989-10-01实施中华人民共和国航天工业部发布中华人民共和国航天工业部部标准金属及其制品的脉冲反射式超声波测厚方法1 主题内容与适用范围QJ 1707-89 本标准规定了直接接触脉冲反射式超声波测厚的仪器要求、试块要求、测试程序和结果汁算。本标准适用于超声波能以恒定速度传播、在底面反射，且反射法可被分辨的金属及其制品的厚度测量.非金属及其制品的厚度测量亦可参照使用.2 引用标准ZBY 230 A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件3原理根据超声波在均匀介质中传播的时间与其所
2、通过的距离成正比的原理，当用脉冲反射式超声波测量厚度时，被测处的厚皮T由下式确定T=号x10 . .(1) 式中T一厚度，mm;V一被测材料的声速，m/5; t一超声波在厚度为T的被测材料中一次往返的传播时间，s 0 4 仪器、试块及辅助材料4.1 仪器4. 1. 1 脉冲反射式超声波测厚仪有以下类型8.通用A型超声波探伤仪，b.带有厚度数字报示的A型超声波探伤仪;c. Jl读式超声波测厚仪，航天工业部1989-02-22批准1989-10-01实施Q.J 1707 89 4. 1. 2 通用A组蓝蓝知淡饭伤仪性能应符合ZBY230巾的主!lJ.4.2 试缺4.2.1 衍I佳试块(义称校JE式
3、块)JIl f校准越南挂在测惨仪的测筋混日司和精!lt.1t材料Y:具有制定的商i盘和两亵减.4.2.2 X才比试块(又称参考试块)用于校搬走盘前iJIi:擦伤仪戏测原仪的特jJ:!测续范网和精度.A材料的声i寞和声亵减EY:与被测材料相同，13.司提前1椒粉底RaI!i.小于6.3j.lm，式块原度应级汁震部门核定。4.2.3 标樵试块和对比试块不成有分层或其它缺陷.4.2.4 用通用A副超声波探伤仪测民革时，可不制作标准试块.其它两类仪器tlJJ时均应附有标准试块。4.3 榈合剂销合知IJJ选用机油、bl油、水玻璃和硅船等。5 测前准备5.1 仪榻选用测缀精!主要求不再寄肘，逃用i道用A骂
4、边走自向1Ii.探伤仪，5.2 逃捺对比试块根据被测原皮的节il;1i被4.2.2-4.2.3条哥哥求制作两个对比i式挟，只巾个的原1ft接近被测原!茸的最小庭(称下限对比试块)，另个接近最大侃(称J二限对，1;试块)。5.3 选择桐合剂被测牛表两粗糙度R，大于6.3m时，选用粘度较大的精合剂，如甘油、水玻璃等;表国粗糙度R.小于6.3j.lm时，选用粘度较小的精l剂，n机油等。5.4 选择探头被测厚度较小时，选用带延迟块的单品f梳头，被测厚lt较大时，选用接触式单晶探头豆n且品:e:探头。5.5 逃揣测量E点问距根据被测仲廖庭的均匀j豆豆E腐蚀情况确定测经点|可阻廖i主;不均匀成腐蚀严?贯时
5、j阜辛辛较小的测f置1，;(问炬，沓贝IJ逃用较大的测量进点问自臣。ftni是中由单位有特殊要耳求，贝IJ饺婴求JE点e5.6 仪器的调睡刺校J佳5.6.1 通用A四!l.Ji波擦伤仪的调在和校准5.6、1.1根据被测原皮被周边:r罪于1捕深底，并将各旅:H放到IJ坦t!Lj景。5.6. 1. 2 采用接触式且在品窥探头时，拔下列步骤诩身慧和较准仪器守仅上、下限对比i式块上2 QJ 1707-89 涂适当剿合剂，先将梳头放在上限宜于比试块上，调节仪器使其统一次成反射泼脑皮达荧光盾丰满榈庶的80%，并位于与其蹲监相应的水平刻)#.:上.然后离用下限对比i式块进行网桦的调节，反革Z调节2-3次，直
6、到阴个对比凶块的J且反射泼均处T-iE确佼景是e5.6. 1. 3 *用份路i且焕的原品及探头时，应将ll:i!:块的界itI反射技渊盖旺。事rl皮，再li:5.61.2条调理在和校溅。5.6.1.4 ，在用接触式双晶葳探头测最小于3mm的原庭时，E宝来少用三二个对比以块对仪器的。-3mm刻度区按5.6.1.2条调毅和校J仪5.6.2 带有原度蚊字显示的A烈超声波探伤仪的调盟和校准5.6.2.1 根据被测厚度范用选择打描深度和测量范围，并将各旋银放到适当位置。5.6.2. 2 在用两个标准i式块，其中一个的J草皮接近所选测盘池阔的最小债(称下限标准试块)，另一个接近最大值(称上限标准试块)。5
7、.6.2.3在选定的标准试块上按5.6.1.2和5.6.1.3条调整和校准仪器，5.6.2.4 将探头顺、i放在上述两个标准i式块上，分别调节数字控制且是钮，使显然的读数分别和试块的标称麟成值一致，反复进行2-3次，B:JiJt盘查t正确。5.6.3 宣读式起商波测事仪的调整和校准5.6.3.1 根据被测厚度炮手牵测缀满E圈，在中将各旅钮放到1Ij边边位置史。5.6.3.2 按5.6.2.2条要求浓梯标准i式放65.6.3.3 夜L、下限标1(1;试块上涂i革主组稿合剂.并li:5.6.2.4条调理盟和校准仪器6测蝇程序6.1 表丽处理清洗和(或)打磨被测件表丽有碍测量的覆盖层(如油污，氧化皮
8、、油漆等) 6.2 用对比试块核准仪器根据所选仪器的类型，按5.6条的望要求用对比试块校准仪器-6.3 平板厚度测量6.3.1 在被测牛上涂剿合剂，使探头与被测件接触良好。6.3.2 读出原l主值6.4 幽商朦朦测量6.4 1 f.l( 6. 3.1条i挂仔6.4.2 移动梳头，使其中心位于被测部位，燃割1探头，伐出她小测E盖住立即为该皇上的原皮。6.5粗糙褒丽的原度测.6.5.1 按6.3.1条进行。3 QJ 1707-89 65.2表西i稳糙度R，大于6.3m肘，每零度吉少取邻近部位前2-3个测量数据，并根据被泌件的使用要求取其最小值或算术平均佳作为该处去告厚隶。6.6 测量过程中仪器的校
9、准仪器每工作1h hY:复校次。如果误差超出饺定，JJ在辛苦校应仪器、并重新到量上次校准后泌量的所有数据在? 延吉才测量方法当仅有通用A型超声波探街仪哥?又雾罩j量厚友较大的被浏件对，另延时测量方法提高将量稽，变。7.1 仪器、探头和试绽7. 1. 1 仪器应符合4.1.2条捻规定，并具有延时功能。7. 1. 2 采对接触式主探头e7.1.3 选用厚度小于被若望j享度的对比试块，受被军军事度与该试块前厚度之比小于10亘不为整数。7.2 iJllJ试吉普骤7.2.1 将探头放在涂有辛茹合葬J被测伶上，选择适当约扫撞深度和延时，调节扫子的放苦苦，使始法和被刘件的第一次;或反主宁波;需对出现在荧光赛
10、上，然后调节精益绽毯，使被;把H寺第一次或反射泼相庭主主f.J荧光屏满串1M立的80;0，并渎tll该泛射泼的水平V主值A(格)。7.2.2 将主运头放在涂有溺合到古X;比i式块上，读过;最靠近A刻注目位于1i侧的灵毅i皮民次数n，然后调节扫古董深度i加毛主和延时(增大)，使对比试浅的第n忽n+1次反射波分别i位于荧光潺的Q和10J密度皇上，并将第n次1x射淡限道询歪荧光屏?是幅度的80% 7.2.3 将幸运头再放到百j被测1车上，该节士曾在主旋钮，便被奴件的一次成反射泛辐j之达药荧光荡漾幅度豹801o，并读过j其水平刻皮侄B(格)。7.3 测试结果的计算接下式计算被泥潭度号I=nD牛去D式中
11、:T-被测零度.1TIl妇，n一-H比i式块上最靠近4刻没且位了j主午恕的反射波约次敛，D-M比试块去5厚泣mm 4 (2 QJ 1707 89 B被测件一次底反射击走fE荧光踩上所处的水平刻应，il.(格)0 自试验报告试骏报f封JiY:t丑m下列内容.a被测牛称、数f慧、产品号;b被测件材料牌导人状态;C.被测音位、测景点的问J!l:i;d试验仪器的名称、型号和测景藏自丑，e探头类型、规格，f.标准i式块和对比试块的材料、厚度;g销合剂名称，h.试验结巢，j，以验丰uili核人员、日期e附加说明本书的战由航天工Jil:部七。八所iI!1:110 本标准向航天工般都t;oC所负责涵盖在，5
