1、中华人民共和家标电子设备用石英晶体元件空白详细规范引言电阻英体元件评定水平E Quartz crystal units for use in electronic equipment Blank detail specification Resistance welded quartz crystal units Assessment level E GB/T 15020 94 本空白详细规范是对总规范的一种补充文件，并包含了详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范，不认为是符合有关认证体系的规范，也不应该按这些格式来编排。括号内数字标注位置上应填写下列相应内容。详细规范
2、的识别(1)授权起草详细规范的组织:IEC或国家标准机构。(2) IEC和(或)国家标准的详细规范编号，出版日期和国家体制需要的更多内容。(3) IEC和(或)国家标准的总规范的编号和版本号。(4) IEC和(或)国家标准的空白详细规范编号。(5)晶体元件类型的简略说明。(6)典型结构的简略说明(当适用时)。(7)标有对互换性有重要影响的主要尺寸的外形图和(或)引用国家或国际的外形图方面的文件，另一种方法是这种图形也可在详细规范的附录中给出。(8)用途或用途组别和(或)评定水平。(9)最重要特性的参考数据，以供不同类型晶体元件之间能进行比较。局1994-04-041994-12-01实GB/T
3、 1 5020 94 (1) (2) + 按GB12273评定质量的电子元件(3) GB/T 15020 94 (4) 外形图(见表1)(7) 电体元件率范围z kHz(MHz) (5) (6) (8) 评定水平:E(在此给定的尺寸范围内允许给出其他图形)性能等级:(9) 按规范鉴定的元件的有效数据在合格产品一览表中给出GB/T 1 5020 94 ,. , 推荐的安装方法规范应规定正常使用时和振动、碰撞或冲击试验时所采用的安装方法。晶体元件应按正常方式安装。晶体元件的设计可以按其用途要求专用安装夹具。在这种情况下，详细规范应绘制安装夹具图，并应在振动、碰撞或冲击试验应用中采用这种安装夹具。1
4、. 2 尺寸尺寸应符合IEC1223(频率控制和选择用石英晶体元件第3部分标准外形及插脚连接中规定的或详细规范中规定的尺寸，详见表1。外形尺寸标记1. 3 额定值和特性a. 标称频率、基表1L w 音、负载电容、谐振电阻和激励电平见表2;表2H 标基频或泛音负电容励电平振电阻或负谐振电阻kHz或MHzpF b. 差(25士20C); C. 幅度相差;d. 工作温度范围和可工作温度范围ze. 并电容;f. 寄生响应(适用时hg. 概率可调性(适用时hh. 挣A缘电阻Fi. 气候类别。.4 引用标准IEC 68 基本环境试验规程IEC 68一217 试验Q:密封IEC 68 2 20 试验T:锡焊
5、IEC 68 2 32 试验曰:自由跌落mW 。IEC 122 1 频率控制和选择用石英晶体元件第1部分标准值和试验条件IEC 122 3频率控制和选择石英晶体元件第3部分标准外形及插IEC 410 计数检查抽样方案和程序GB 191 包装储运图示标志GB 12273石英晶体元件总规范1.5 标志GB/T 1 5020 94 ,. 5. 1 除非另有规定，每个石英晶体元件上的标志应从下列项目中选取，每项的相对重要性由它在项目中的位置来表示:8. 型号zb. 标仲颇丰Fc. 制造厂名称或商标，d. 制造臼期;e. 特殊特性。注:1. 5. 1条d款和c款中的内容可以接制造厂或国家的型号或形式命名
6、以代码形式给出。1.5.2 晶体元件应清晰地标有1.5. 1条a款内容，并且应尽可能地标上认为必需的其余项目。1.5.3 装有元件的包装应清晰地标有列在1.5. 1条中的全部内节。.5.4 使用任何附加标志应以不引起混淆为原则。1.6 订货资料本规范所包含晶体元件的订单应用明文或代码形式至少给出下述内容:8. b. 调整频左Fc. 温度频左Fd. 激励电平fe. 负载电容zf. 谐振电阻或负载谐振电阻;g. 并电容;h. 工作温度范围(可工i. 尺寸Fj. 标志;h. 放行批证明记录(有要求时); J. 其他。.7 放行批证明记录围)(有要求时h当详细规范中有规定且当订货方有要求时，应按GB1
7、2273的3.5. 1条所要求的内容进行。在耐久性(或恒定湿热)试验以后，要求变化的参数是:谐振频率或负载谐振频率、谐振电阻和绝缘电阻。.8 附加内容(不作检验用).9 对总规范的规定而言，增加或提高的严酷度和要求。注z仅当必要时，才增加或提高要求。1. 10 特殊特性2 2. 1 初始制造阶段按GB12273初始制造阶段确定为腐蚀或抛光工序。2.2 鉴定批准鉴定批准试验的程序按GB12273第3.4条规定。以逐批检验和周期检验为基础的鉴定批准试验一览表程序在本规范2.3条中规定。采用固定样本大小一览表的程序在下述2.2. 1 (见表3)和2.2.2条中规定。G8/T 5020 94 2.2.
8、 , 以固定样本大小为基础的鉴定批准程序在GB12273第3.4.2条b款规定了固定样本大小鉴定批准程序，样本应足以代表申请批准的晶体元件的范围。样本应在同一详细规范所包含的产品中选取。样本应有基频的最低、最高和中间频率及各次泛音的最低和最高频率的样品组成，并且具有最宽的工作温度范围，最严的调整频差和温度频差。每种值见GB12273的3.3. 1条)的样本大小为32只。表3规定了鉴定批准试验的每组所需的样品数及允许不合格品数。2.2.2 本规范包含的石英晶体元件鉴定批准时必须通过表3所规定的一系列试验，每组的各项试验应按序进行。全部样品均应通过0组试验，然后再分成3组，其中第I组样品分成两部分
9、，分别进行1， 2和3r5项，全组进行6-10项。在0组试验中发现的不合格品不得用于其他各组。当一个晶体元件不能满足某一组的全部或部分要求时，计为一个不合格品。当不合格品数不超过每组规定的允许不合格品数，且不超过规定的允许不合格品总数时，给予鉴定批准。2.3 质量一致性检验2. 3. 检验批的构成2. 3. ,., A组和B组检验这些试验应在逐批试验基础上进行，逐批试验样本大小按表4规定。制造厂可以按下列条款将现行生产的产品集合成一个检验批。8. 检验批应由结构类似的晶体元件组成(见GB12273的3.3条)。b. 对A组的试验样品应由检验批中所包含的每种尺寸和每种值(见GB12273的3.3
10、. 1条)组成。样本大小;任何一种值至少5只。对B1分组的样品应包括该批中每种温度频差的晶体元件的代表者。2.3. ,. 2 c组检验这些试验应在周期试验基础上进行。周期试验应按表4的规定进行。样品产品中抽取，在进行C组检验前，样品应进行A组检验，若发现不合格品可以用合格的产品替换，此时该不合格品不作为判定C组检验合格与否的依据，但应记入试验记录。样本应能代表规定周期内现行生产的产品。2.4 延期交货按GB12273第3.5. 2条的程序进行复验时，应按A组和B组检验进行复验，符合要求后方能放行，否则应对该批产品的非破坏性试验项目进行百分之百检验，将其中不合格品剔除后方能交货。3栓3. , 程
11、序3. ,. , 鉴定批准程序应按本规范第2.2条。3. ,. 2 质量一致性检验的试验览表(表4)包括抽样，周期，严酷度和性能、要求等。GB/T 1 5020 94 表3鉴定批准试验一览表组别|序号0组1A组1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 l 2 目尺寸标志和重量密A 电阻并电容B 电阻寄生响应(适用时频率可调性(适用时备份样品自由D或NDND D 4. 1 4. 1 4.2 4. 3. 1 4.4 4.5 4.8 4. 3. 2 4. 6 4.7 4. 9 4. 10 样品数和允许不合格品数户dn I pd 32 2 2 81 一一一一-一一一一一一一一一一一一一一一一一-一+一
12、一一一一一一-1 D I I 8 I 1 2 1B组3 一下一- 1 1组2 可焊性引出端强度耐焊接热干热循环(交变湿热(第一循环4.11 4. 12 4. 13 一了一丁一16 。ND 4. 14 D 4.15 性能要求按外形图和表1标志清晰牢固，并按范1.5条，最大重量按详细规范完整，无凹，凸起，腐蚀及污垢，引出端平行且垂直绝缘电阻500Mn按详细规范按详细按详细规范按详细规范范|调整频差和谐振|电阻按详细|引线浸润良好，|积为被试总I 95%以上。的|无可见损伤和引线电|阻按范一一GB/T 1 5020 94 续表3组别|序号项目D或NDI试验条款样品数和允许不合格品数pd性能要求n 户
13、d 寒冷ND 整频差和振4.16 (其余循环电阻按详细规范，且绝缘电阻二三500Mn1组(交变)热整频差和谐电4 D 4.17 阻按详规范，且绝电阻二月OOMn5 频差ND 4. 18 |按详细规范1 稳态(恒定湿热D 4. 19 8 。整频差和谐振电阻按详细规范，且绝电阻500Mn2组3组1 表批一ND I 4.20 8 。按范性检览表试验项目A组检验Al分组尺寸标志和重量D或ND款IL AQL 性要求ND E 1.0 4. 2 按外形图和表1标志清晰牢固，并按本规范1.5条，最大重量按详细规范覆层完整，无凹陷，凸起，腐蚀及污垢，引出端平行且与基座垂直4. 1 4. 1 密封试验A整频差和谐
14、振电阻绝缘电阻寄生响应(适用时)频率可调性(适用时)A2分组并电容B组检验(逐批Bl分组频差B2分组可焊性4. 3. 1 绝缘电阻500Mn(OCI00V士15V)4.4 4.5 4. 6 4. 7 按详细按详细规范按详细规范ND E 2. 5 4. 8 按详细规范ND E 1. 0 4. 18 按详细D S-1 2.5 4.11 引线浸润良好，面积为被试总95%以上GB/T 1 5020 94 续表4试验项目D或ND条款IP n C 性能要求C组C1分组期)3 16 1 B mDDD 4. 3. 2 4. 9 自由跌落范范4.10 引出端强度D 4. 12 4. 13 规范干热(高温(交变湿
15、热第一循环寒冷(低温(交变ND 4. 14 电阻按详细规范D 4. 15 ND ND 4. 16 4.17 电阻按详细规范电阻按详细规范电阻500MO(其C2分组态(恒定湿热D 24 8 。4.19 电电阻500MO规范C3分组老化ND 12 8 。4.20 按详细规范注z检查水平(lL)和合格质量水平(AQL)从IEC410中选取。在本表中g乡一一周期(月)I n 样品数sC-合格判定数(允许不合格晶数)I D一一一假圳、7主lfJ; ND 非破坏性的。4 4. 1 尺寸、标志和重量晶体元件尺寸应用能保证产品图纸精度要求的任标志先用目检检查内容是否完整、正确、清晰，然后用重量应用精度为o.1
16、9的衡, YJ旦。4.2 外观质用目检法，应符合本规范的要求。4.3 密封4.3. 1 密封试验A按IEC68 2 17试验QL和下列规定。无水乙醇一次后仍清晰。z GB/T 1 5020 94 压力:400kPa;加压时间:10min;浸横用液体z酒精;恢复时间z室温下吹干5min。4. 3. 2 密封试验B按IEC122 1第13.9条和下列规定进行试验:压力:kpa，充氮气，降低容器内压强到kPa，浸横时间min。样品取出，在试验用标准大气条件下吹风一-min左右，测量应在从加压容器内取出后30min内完成。注z应注明样品内腔体积。4.4 调整频差和谐振电阻按IEC122 1第12.1条
17、和下列规也Z吁JIOP.扭2除非另有规定，调整频差和谐振电阻按表5的条件测量。表5标称频率激电平阻抗计设定电阻电流kHz 。mA mW 4.5 电阻按IEC122 1第12.10条规定进行试验。4.6 寄生响应(适用时)按IEC122 1第12.12. 1条规定，在标称频率士20%(基频)或土200kHz(泛音)频率范围内4. 7 频率可调性(适用时)按IEC122 1第12.1 4.8 并电容测量两个规定负载电容的负载谐振按IEC122 1第12.6条进行测且。4.9 自由跌按IEC68 2 32试验Ed和下列规定进行试验:从cm高处跌落到30mm厚硬木板上，跌落次数次，样品开始4.10 振
18、动按IEC122一113.3条和下列规定进行试验:。z引出端朝上。率:Hz，振幅mm或加速度m/s2，扫频循环次数z次。沿3个相互方向，试验程序4. 11 可焊性接IEC122 1 试验Ta，方法1。4.12 引出端强度Fc附录D中B4进行。试验步应按试验Fc第8.2.1条规定进行。13. 10条和下列规: :235士5C，浸清时间:2:!: o. 5s。13.5条、13.6条和下列规定进行试验:按IEC122 1 拉力g试验Ual，N z 弯曲z试验Ub方法1，N;弯曲90.，2次。直的GB/T 1 5020 94 4. 13 耐焊接热按IEC68 2 20条和试验Tb方法1b和下列规定进行
19、试验:焊槽温度:350士100C，浸愤时间:3. 5士O.5s。4. 14 高温按IEC122 1第13.12条和下列规定进行试扭Z: + 1000C土20C;持续时间:16h;恢复时间:在正常试验大气条件下恢复2h。4.15 交变湿热，第一循环按IEC122 1第13.13条和下列规定进行试验z上限温度:55 oC ，类型2。本试验后应立即进行低4. 16 低温按IEC122 1第13.14条和下列规定进行试验:一65士30C;持续时|曰:2h;恢复时间z在正常试4. 17 交变湿热，其余循环按IEC122 1第13.15条和下列规定进行试验:应进行其余的五，阳1。4. 18 温度频差非另有
20、规定，按IEC122 1第12.4条规定度误差:低温端为;，高温端为:。4. 19 恒定湿热按IEC122 1第13.16条和下列规定进行试验z。条件下恢复出。，测量条件按4.4条。温度间隔:5 oC ，极限温持续时问:56d;恢复时间:用棉球擦拭，在正常试验大气条件下恢复出。4.20 老化按IEC122 1第13.17条和下列规定进行试验:试验温度:85土20C;持续时间:30d;测量间隔:一周付。最初24h结束时，进行第一次测量，试验结束时，频率变化和谐振电阻变化分别按公式(1)和公式(2)量2次，2次测后一次，川且。的间隔不小于剖，不大于t:.1/lo (f max 1 min) /10
21、 . . . . . . . . . . . . (1 ) 式中:t:.1/ 1，。一一频率变化;Imax 30d内测得的最高 , Imin 30d内测得的最低频率;10-标仰惧于。t:.Rr Rrmax Rrmin(2) 式中:t:.R.一一谐振电阻变化pt:.Rrmax 30d内测得的电阻;t:.R.min 30d内测得的最小谐振电阻。4.21 包装检验应按5.1条规定检查一个包装箱及其中三个包装。5 包装、贮5. 1 包装除非另有规定，包装应按下列要求:5. 1. 1 包装分为内包装和外包装，包装盒、箱所用材料应无融、产品有腐蚀性的材料。GB/T 5020 94 5. ,. 2 内包装可
22、用塑料袋、纸盒式的包装，除非另有规定，内包装盒标签上应标明:a. 制造厂名称和商标Fb. 石英晶体元件型号FC. 相t再相率Fd. 石英晶体元11冤JtllI;e. 详细规范编号和生产许可证号gt 包装日期及包装人代号。5. ,. 3 外包装可用塑料、纸箱包装。箱内壁衬有防上应标明:a. 产品名称sb. 标耶顾竿FC. 合同号Fd. 产品冤JtllI;e. 制造厂名称pf. 装箱日期pg. 植扭员代号Ph. 质量检验部门印章。装有石英晶体元件的包装箱轻放等字样或图形。5.2 贮存不超过20悔，料膜。除非另有规定，箱内放有装箱单，其箱的表面应按GB191的规定标明防潮、石英晶体元件为一10CJ40C ，相对湿度不大于80%，周围环境无酸性、碱性及其他有害气体的库房中。5.3运装有石英晶体元件的包装箱可用任何伤。明z, 本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由机械电子工业部电子标准化研究所归口。本标准由机械电子工业部电子标准化研究所负本标准主要起草人邓鹤松、宋佩佳、章怡、边一林。免雨雪的直接淋袭、强烈的冲撞和机械损。
