1、lCS 19.100 J 04 中华人民无损检测观察条件B 共和国国家标准GB/T 19938-2005/ISO 2504: 1973 焊缝射线照相和底片像质计推荐型式的使用Non-destluctive testing-Radiography of welds and viewing conditions for films-Utilization of recommended patterns of image quality indicators (lSO 2504 :1 973 , Radiography of welds and viewing conditions for film
2、s-Utilization of recommended patterns of image quality indicators( 1. Q. 1. ) ,IDT) 2005-09-19发布中华人民共和国国家质量监督检验检瘟总局中国国家标准化管理委员会2006-04-01实施发布GB/T 19938-2005/ISO 2504: 1973 目次前言 E I 范围，2 规范性引用文件3 像质计的位暨4 像质计灵敏度(像质值)的确定5 可接受的钢的像质值. 2 5.1 要求值. 2 5.2 容限6 射线照相底片观察条件.6.1 引言.忖川川川.川山川.36.2 观片灯亮度6.3 光的颜色.令。.
3、4 6.4 光的漫散射.4 6.5 亮度的均匀性.4 6.6 观察时的环境光.川川.川. 4 6. 7 暗适应川.4 6.8 观察距离46.9 观察者的视力.4 附录A(规范性附录)阶梯孔型像质计的可见度指数.5 图l视力表4表1X射线检测B级(GB/T19943) 2 表2钱192伽玛射线检测.2 表3钻60伽玛射线检l!I!tl. . 3 表A.l可见度指数N和灵敏度%之间的关系.5 GB/T 19938-2005/1502504: 1973 前言卒标准是首次制定。本标准等同采用JSO2504: 1973(焊缝射线照相和底片观察条件推荐使用的像质汁(JQ!)型式(英文版)。本标准等同翻译J
4、SO2504 ,1 973 , 为便于使用，本标准做了下列编辅性修改a) .本国际标准一词改为本标准气b) 删除国际标准的前育，c) 将国际标准第2章中的JSO/R947、JSO/R1106和JSO2405等引用文件改为世|用GB/T19943。同际标准引用文件中的JSO/R947: 1969、ISO/R1106: 1969和ISO2405，1972等标准己被ISO1106-1，1984、lSO1106-2，1985和JSO1106-3，1984所替代s而ISO1106-1: 1984、JSO 1106-2，1985和lSO1106-3，1984等标准又已被ISO17636:2003所替代，I
5、SO17636:2003 在制定时参考并大量转抄了ISO5579，1998的基本内容，因此JSO17636: 2003与ISO5579 , 1998在基本技术方面是等效的，本标准中所引用lSO/R947、lSO/R1106和ISO2405的技术内容体现在表I初页下注2)中，而这些内容在ISO17636，2003和lSO5579，1998两标准中是完全等同的，故本标准将引用JSO/R947、lSO/R1106和JSO2405改为引用GB/T19943，在技术上可以认为是完全等同的;d) 按GB/T1. 1-2000规定加了图和表的编号和标题;的使用GB/T1. 1-2000规定的引导语。本标准的
6、附录A为规范性附录囚本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国无损检测标准化技术委员会CSAC/TC56)归口。本标准起草单位上海材料研究所。本标准主要起草人，$中玉、华云波、金宇飞。皿1 范围GB/T 19938-2005/ISO 2504: 1973 无损检测焊罐射结照相和底片观察条件像质计推荐型式的使用本标准规定了焊缝射线照相像质汁(!QD推荐型式的使用和底片观察条件。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版
7、本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 19803元损检测射线照相像质计原则与标识(GB/T19803-2005. ISO 1027: 1983 Ra diographic rnage quality indicators for non-destructivtesting-Principles and identification.IDTl GB/T 19943元损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则(GB/T19943-2005. ISO 5579:1998.IDTl 3 像质计的位置符合GB/T19803两种型式之一的像质计，应放置在射线摞侧的焊缝表面上，使得像
8、质计的图像出现在每张射线照相底片的近端头处。使用线型像质计，所有的线应与焊缝相交垂直放置。线型像质计也可放置在焊缝以外的部位，但此时应在像质计的下面放置垫片，使得射线透过该部佳的金属厚度与穿透焊缝的最大厚度相当。使用阶梯孔型像质汁，应放置在垫片上并靠近焊缝，其最薄的阶梯指向射线照相底片的端头，使得射线透过像质计下的金属厚度与穿透焊缝的最大厚度相当.不论使用何种像质汁，选择线或孔的直径，应使像质计中的一个线或孔正好代表可识别的图像。注1:着使用整靠的长胶片(胶卷来环绕焊缝(或类似方法)时，应至少使用三个像质计，并应等距般置，间距不大于1 In. 注2:若对管环焊缝使用双璧/双像技术，像质计应放置
9、离源最近的工件表面t:.且靠近被检焊缝部位的端头。注3:如果源一侧焊缝表面上像质计的放置部位不能接近，则不能直接使用像质计。此射线照相技术的灵敏度应通过与被检工件相似、并且其表面是可接近的试件进行射线照相来另外测定。该测定中，应在每个面上放置像质计.通过比较两个像质计上的像质计灵敏度读数，便能求得实际灵敏度，特别注意的是，应采用相同的射线照相技术和条件。注4:如果像质计中全部线或孔，在射线照相底片上均可见，则不能得到灵敏度的E确测量值.4 像质计灵敏度(像质值)的确定应在专用的底片观察屏上观察射线照相底片。观察射线照相底片的条件(包括操作者的资格l.另作详细推荐(见第6章)。通常，应在像质计图
10、像的任何部分未被遮板遮挡的情况下观察全部图像，但为防止来自射线照相底片其他部位的眩光，使用遮板是必要的和可取的。对于相交垂直于焊缝放量的线型像质计，应测定焊缝部位像质计图像的可识别度。通过观察射线照相底片上的像质计图像，能确定可识别的最小的线或孔的直径。对于阶梯孔型像质计，若有两个相同直径的孔都可识别时，则该阶梯应被认为是可见的。 GB/T 19938-2005/180 2504 ,1973 所得的像质应在射线照相检测报告中表述。表述的方式可以不同，但要以所用像质计本身所示的标识来明确表述。拳例:像质计GB/T19803，11线(1，25mm) , 像质计GB/T19803 , 5LC3.2
11、mm)o在像质计标识符后面以下列方式之给出所得像质值可见线或阶梯的数量;可识别的最小线径或阶梯厚度p以%表示的灵敏度;阶梯孔型像质计的可见度指数(见附录)。所得的像质值仅对所用的特定型式像质计有效。线型像质计所得的像质值，不同于阶梯孔咽像质汁的值。所得的像质值可与下述的不同射线照相技术和金属厚度时的可接受值进行比较。5 可接受的钢的像质值5.1 要求值如果正确应用相关标准规定的技术，表l表3给出的像质值是可获得的并可进一步改善。这些数据仅作为正确应用各种射线照相技术的指南。用400kV的X射线允许透照厚度上限为85mm的钢工件。厚度若大于60mm，通过用低原子序数的特定高密度材料(直日NLCl
12、l、Zn及其合金)的前屏取代铅前屏，以及放置铅后屏，能改善像质值。5.2容限5.2.1 所有射线照相底片上，线径或阶梯厚度应小于等于表13所列的要求值。5.2.2 相同射线照相所得的一系列射线照相底片或一系列读数，至少有70%的线径或阶梯厚度的读数小于等于表1表3的值，其余的读数不能超过表中所列的一个阶梯值。表1X射线检测B级(GB/T19943) 单位为毫耻钢的厚度要求的识别度大于小于等于孔径钱径10 16 。白50.2 16 25 0.63 0.25 25 .12 0.8 。.3232 40 1. 0 0.4 40 50 1. 25 0.5 50 80 1. 25 。白6.1亵2掠192伽
13、玛射线检il!单位身毫辈钢的厚度要求的识别度066 112 孔径线径大于880 0VUti0.32 0.4 0.5 1)这里不需要等效值。2)用更高的X射线能量在GB/T19943中详述。 GB/T 19938-2005/1802504: 1973 表2(续)单位为毫米钢的厚度要求的识别皮大于小于等于孔径线径32 40 1. 0 0.5 40 60 1. 25 0.63 60 80 1. 25 0.8 80 100 1. 6 1.0 表3钻60伽玛射线槛测单位为毫未钢的厚度要求的识别度大于小于等于于L径线径25 32 1. 25 0.8 32 40 1. 25 1. 0 40 50 1. 6
14、1. 0 50 80 1.6 1. 25 80 100 2.0 1. 25 6 射线照相底片观察条件6.1 引吉为达到最高灵敏度，选定适度的底片密度和适宜的观察条件是重要的，且在开始时就予以强调底片密度和观察屏亮度是相互关联的参数e最小可识别对比度，即底片放在照明屏上时可识别的最小密度差，既取决于透过底片抵达观察者眼睛的光亮度，也取决于观察者暗适应的程度。所以有必要采取合理的措施，以便在同一观察场所随亮度而变的那些低对比度线之类的微细差别(如到纹图像等l，能被观察者肉眼视觉识别。考虑到射线照相底片放在亮度不当的照明屏上不能观察到底片上的所有信息，但通过调节(通常是增大)屏的亮度便有可能观察到更
15、多细微之处。因此适宜的底片密度仅在假定所用观片灯亮度适当时才有意义，即所采用的观察条件与底片密度相一致。大量的射线照相检测实践表明张可接受的底片密度，与优良商品化的X射线胶片的密度-对比度特性有关。可接受底片的密度，若用金属增感屏时通常约为2.0，但有时也推荐高至3.0的密度。对于使用盐类增感屏，可规定较低的底片密度。所推荐的观片灯亮度，分别用于1.0、2.0和3.0三种底片密度。曹度在两者之间的采用内插法能得到相应的屏亮度值。密度大于4，通常不用。除了屏亮度，还需考虑减弱眩光。细颗粒胶片增加了对比度以至达到很高密度(可达到6)，由于高密度而带来了最高灵敏度，又可作为高分辨力来使用。虽然为了很
16、高密度而配置了适当的高强度观片灯，然而由于在更换底片或遮板损坏时存在诸如眩光等各种问题，则高密度的固有优势将会有定程度的丧失。6.2 观片灯亮度透过射线照相底片的照度(或亮度)不应小于30cd/m ，一般近似取100cd/m或更大回要求现片灯亮度的最小值如下2底片密度为1.0时:300cd/m; 底片密度为2.0时，3000cd/m2; 底片密度为3.。时，30000cd/m 0 观察屏上的亮度，如果没有适合的光亮计，则能用普通的照相曝光计测定。应将爆光计的感应元件紧贴于屏，胶片速度应设定为100ASA。在f10处曝光0.01s时的表上读数相当于1000 cd/m的 CB/T 19938-20
17、05/180 2504 , 1973 屏亮度。6.3 光的颜色观片灯光的颜色通常应为白色，但橙色至浅绿色之间的光也可接受p丘4光的漫散射光应是漫散射的，但不需要全部漫散射，例如，乳色玻璃薄片通常是合适的。(厚度越大，吸收光越多，屏亮度越小。)6.5 亮度的均匀性被照明区域应被遮挡至观察射线照相底片图像的最低要求。射线照相底片的边缘应始终被遮挡，如果射线照相底片上某些区域的雷度明显低于被检区域的密度，则此区域也应被遮挡。6.6 观察时的环境先用于观察射线照相底片的晴室或场所，应精心设置遮挡设施，要尽可能减少从底片表面直接反射至观察者的光线囚实际上，穿过屏上射线照相底片的光线，提供了用于书写等足够
18、照明环境，若有需要提高环境照明水平，则可设置光源，但由其发出的光，不得在射线照相底片表面产生任何镜面反射。由于环境光的影响，放在射线照相底片位置上的自色不透光卡片的照度，不应超过被检区域内被照明底片照度的10%.(可用照相曝光计校验)6.7 晴适应观察者在开始工作之前的暗适应，视光线条件不同而各不相同，没有统一的规定。作为指导，观察者从充满阳光的场所进入弱光线的观察场所，在开始观察前宜至少适应10mn;从平常的人工光照的室中进入的，需适应约3050暗适应时间应是一个连续的时间。若因更换射线照相底片而使眼睛受到观片灯满亮度的照射，则需有不小于30s的重新适应。8 观禀距离底片观察距离应根据观察者
19、按6.9规定进行视力检验结果而定，但最大距离应规定为40cmo 为便于观察，极力推荐使用太小适宜的低倍放大镜(X3-X的。6.9 观察者的视力所有底片评片人员，应每年检查他们在正常底片观察距离上观看小细节的能力。可能需要戴眼镜或使用放大镜。所有评片人员，应能在正常底片观察距离上读出图l所示的视力表中第二行的字母和数字。视力表说明，所附视力表影印件仅仅是指导尺寸，事母不如原件清楚。为此目的而制作的视力表，应采用Unvers类的清秀字体的字符，字符高0.5mm，行距。5mm。圄1视为襄GB/T 19938-2005/ISO 2504: 1973 附录A(规范性附亵)阶梯孔型像质计的可见度指敏根据可
20、识别的最小孔确定阶梯数b，而此最小孔的直径，按惯例是精确的被检厚度的k%。在以后估算时，数的第一个孔的孔径就等于计算值，或者其相邻的较大孔直径为计算值。对于ISO阶梯孔型像质汁，k=503)确定射线照相底片上可见的阶梯数a。可见度指数用N表示，其值可为正、负或零:N=a b N值越大像质越好。在涉及a和b的计算中，如果需要，可以通过假想使像质计的阶梯按需要延伸。于是对11个阶梯3.2 mm的ISO像质计而论，若厚度为85mm钢的射线照相底片上有两个阶梯/孔能识别时，则可见度指数N=+3，可见度指数N和灵敏度%之间的关系，见表A.L表A.1可见度指量!IN和灵敏度%之间的关系N I50阶梯孔型像
21、质计的灵敏度/%16.3-8 表A.l所列为采用各种技术检测不同厚度的钢时通常会遇到的各种可见度指数。检验大厚度钢时，只要使用技术适当，非常可能得到高的N值。随着厚度的减薄，这就会变得越来越困难。如果使用常规技术，要获得表A.l所列的这些值并不是不可能的，因而，最小的值也许对应着的是小厚度的检测。表A_l所示的灵敏度5%与可见度指数N的关系可曲式A.l表示=式中.SEKLHUH-.( A.l) r r 考虑到像质计阶梯厚度所采纳的优选数的比例ph一一上述给出的值。表A.l中，对每一个N值，最低灵敏度所对应的是所标称的N值，对于个给定N值而言，灵敏度的可能变化是由于阶梯分级的不连续本性和计算b值时采用的固定规则所致。3)适用于X射线。
