1、ICS 35.240.15 L 64 道B中华人民共和国国家标准GB/T 28177.32012 识别卡柔性薄卡第3部分:测试方法Identification cards-Thin flexible cards 一Part 3: Test methods (ISO/IEC 15457-3: 2008 , MOD) 2012-12-31发布2013-06国01实施. 码吨以fV/飞马. ;，( 队少呵咆晴4翠ZF副津层萤II伪中华人民共和国国家质量监督检验检渡总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 28177.3-2012 目次前言皿引言.町1 范围2 规范性引用文件.3 术语和定义24 物理
2、特性测试方法.3 4.1 概述.3 4.2 尺寸.4 4.3 厚度.44.4 分离力.5 4.5 卷绕.64.6 耐破度.6 4. 7 挺度.6 4.8 耐折度.7 4.9 灰分.7 4.10 平滑度.7 4.11 不透明度(纸背衬)和阻光度(700nml 000 nm) . 7 4.12 摩擦系数和堆垛力.8 4.13 反射因数.8 4.14 透气度.8 4.15 施胶皮84.四耐撕裂强度.9 4.17 抗分层力.9 4.18 冷裂温度(脆度).135 磁条物理特性的试验方法.14 5.1 样品准备和保存. 14 5.2 条件和测试环境. 14 5.3 凸起.14 5.4 轮廓偏差.15 5
3、.5 粗糙度Ra和Rz. 15 5.6翘曲.16 5.7 粘合. 16 5.8 磨损试验.16 GB/T 28177.3-2012 5.9 磁条尺寸测量.17 6 静磁特性的测试方法.17 6.1 原理.176.2 仪器.176.3 样品的准备和保存.18 6.4 规程.18 6.5 结果表述.19 6.6 矫顽力HcM. 20 6.7 矩形比SQ.20 6.8 开关场分布(SF.20 6.9 测试报告.20 7 动态磁特性测试方法.21 7.1 原理.21 7.2 基准卡.21 7.3 仪器.217.4 准备和样品保存.217.5 测试方法.22 7.6 结果表述.22 7.7 测试报告.2
4、2 8 带非接触式芯片和天线的卡片测试.23 8.1 相连卡的芯片/天线连接的可靠性.23 8.2 单张卡的芯片/天线连接的可靠性.24 8.3 耐划痕测试后的芯片/天线连接性测试.25 8.4 卡的耐折皱或折叠测试.26 参考文献mE GB/T 28177.3-2012 前言GB/T 28177 transmittance factor T GB/T 28177.3-2012 测量样品透射的(光学)通量与样品移出测量装置后采样孔所测(光学通量之比。3.9 式中zT一一透射率;也-透射(光学通量;采样孔(光学)通量。注:改写GB/T11500-2008，定义3.1.阻光度opacity DT
5、透射率的倒数再取10为底的对数。T=/现DT = loglo 1fT = logloJj 注z改写GB/T11500-2008，定义3.2.4 物理特性测试方法4. 1 概述4. 1. 1 引用GBfT 28177.1-2011。4. 1.2 仪器为了获得一致的和具有重复性的结果，在适用的情况下，用于测试的仪器和测试设备应符合ISO 4094的要求。4. 1. 3 取样、样晶的准备和保存4. 1. 3. 1 取样取样应符合表10在某些情况下，只要能证明样品的测试特性在后续的处理过程中不会产生大的变化，样品可以在制作卡的基材中抽取。3 GB/T 28177.3-2012 4. 1.3.2 准备测
6、试样品应是成品卡或者是进行过处理的成品卡，其条件应符合4.1.4的要求。如果需要，试样应按照测试仪器使用的特定样品形式准备。4. 1.3.3 保存所有测试样品或保留待用的试样保存应符合GB/T28177. 1-2011中4.7.2规定的环境条件z应避免潮湿、光照、物理扭曲、塑化和其他污染引起试样性能的退化。所有样品都应与测试报告和任何有关的补充文件清楚地相互对应。4. 1. 4 条件和测试环境除另有规定外，本部分规定的样品条件和测试环境应符合表1的要求。表1取样，条件和测试环撞参数卡材料取样条件和测试环填标准条件和测试环挠的大气环绕a纸GB/T 450 GB/T 10739 23 c / 50
7、 c一般公差复合材料GB/T 450 GB/T 10739 23 c /50 c一般公差塑料GB/T 450 GB/T 2918 标准大气压23c /50 c 一般公差和标准大气压在引用标准中明确规定。4.1.5 报告测试报告应精确和清晰，并确保全面的追溯性。4.2 尺寸4.2. 1 引用GB/T 28177. 1-2011中第5章:GB/T 28177.1-2011中第7章。4.2.2 原理采用直接的线性测量方法，尺寸测量的准确度应满足GB/T28177. 1-2011中特性的相应误差。4.2.3 规程测量TFC尺寸使用的方法和仪器应确保总测量不确定度应等于或者小于待测尺寸的误差绝对值的25
8、%。示例g值=dmm士0.2mm;总不确定度0.05mmo 在测量操作时，确保在测量期间作用于卡边界的任何机械力不超过6N/10 mm. 注2可以使用光学方法，4.3 厚度4.3. 1 引用GB/T 28177. 1-2011中附录A或附录B。4 GB/T 28177.3-2012 4.3.2 仪器厚度仪。4.3.3 规程按照GB/T45 1. 3的规定，使用100kPa的压力在数据记录区域外测定纸或者合成TFC的厚度，在同一卡片上3个不同的位置进行三次测量，厚度值应是三次不同测量的平均值。4.4 分离力4.4. 1 51用GB/T 28177.1-2011中6.2.40GB/T 28177.
9、1-2011中6.1.4。4.4.2 原理测量沿样品宽度的方向，将一张卡片的两个部分或者两张卡之间的穿孔线连接处分开的力。4.4.3 仪器可伸缩测试仪。包含一个能在100mm/min的速度下施加至少500N力的测力计。图1显示仪器中试样的布局。4.4.4 规程测试样品的中心线垂直于夹紧线，有10以内误差:Jt.掠夺命i旨占美张力平行于测试样品的中心线，有1。以内误差图1分离力测试布局/Q.#. 94Fd警准备足够的样品从中取用10个含有穿孔线的待测试样，并确保测量在展直的卡片上实施。小心地打开折叠的试样，保持5个试样未折叠，其他5个试样以180。角折叠5次例如，从充分打开到充分折叠的状态)。用
10、100mm/min的速度测试每一个试样的分离力。4.4.5 结果表述针对每次测试，折叠前或者折叠后，取每次的平均值作为结果。5 GB/T 28177.3-2012 4.5 卷绕4.5. 1 51用GB/T 28177.1-2011中6.3.4.5.2 仪器仪器应具有以下特性za) 一个平坦的水平表面Fb) 两个有色金属的条具，尺寸如下z二一宽9mm士1mm; 一一高15mm土0.1mm; 一一长至少150mm; c) 合适的工具，比如直尺，校准的量规或者千分尺，它们的精度要高于0.2mm。4.5.3 规程放置一卷完整纸轴的卡(最大直径300mm)在两个条具上，如图2。两条具宽度9mm，相互平行
11、放置F条具底端与平面接触，彼此分离以使纸轴的边与条具的外边缘对齐吻合。只针对该目的测试，确保纸铀的外端紧贴其余部分，但当纸轴移开时，保证所使用的方式不破坏卡片材料;不要使用松紧带、收缩包装或者类似的方式绑定纸轴。注2如果卷筒太紧这可能导致材料扭曲或条纹凹陷。在放置24h之后，测量纸轴下表面和水平表面间的距离(D)，则偏移距离为(15-D)mm(见图2)。4.6 耐破度4.6. 1 引用条具GB/T 28177.1-2011中附录A。4.6.2 规程卷轴圄2卷绕的紧度按照GB/T454规定，测定纸质TFC卡的耐破度。4. 7 挺度4.7. 1 引用GB/T 28177. 1-2011中附录A和附
12、录B或者附录C.6 一/GB/T 28177.3-2012 4.7.2规程满足TFC对应样式的平整度要求，从样品中切割出试样。按照GB/T22364中规定，朝着卡的宽度方向，测定弯曲挺度。4.8 耐折度4.8. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录Ao4.8.2 仪器肖伯尔仪器或者能够施加8.68N力的洛玛吉仪器。注=按照GB/T457，当用8.68N的力使用格玛吉设备，结果可以达到肖伯尔设备的效果.4.8.3 规程从同一批基材或者TFC卡中抽取试样。按照GB/T457规定，沿纵向和横向，在数据记录区外测定耐折度。结果表示为以底数为10取N的对数，N是两倍折叠数。4.9 灰分4.9
13、. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录Ao4.9.2 规程从数据记录区外和未印刷区域取试样，按照GB/T742中规定，测定TFC纸的灰分。4. 10 平滑度4. 10. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录A和附录B或者附录c.4. 10.2 规程在数据记录区外，按照GB/T456规定，使用别克法，测定样品的两面平滑度。试样的尺寸要求大于数据记录区域外可供使用的区域，可以在加工成卡或者卷筒前从TFC材料抽样。如果它能满足相当于或者比GB/T456规定更好的精度，可以使用电子别克式平滑度测试仪。4. 11 不透明度(纸背衬)和阻光度(700nm-1 000 nm) 4.
14、 11. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录A和附录B或者附录c.4. 11.2 规程按照GB/T1543中规定测定不透明度(纸背衬)和(或)按照GB/T17554. 1的规定测定阻光度(700 nm 1 000 nm)。确保卡的全部区域满足基础标准的不透明度(阻光度的要求。7 GB/T 28177.3-2012 注1:从具有如磷光或者荧光发光性能的区域处测试会得到反常的结果。注2:对于通过光源和传感器间传导光的衰减来检测卡存在的应用来说，才要求阻光度(700nml 000 nm)的测试.4. 12 摩擦系数和堆垛力4. 12. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录A
15、和附录B或者附录C。4. 12.2 规程按照GB/T10006的规定测定动态摩擦系数基挝/不赞钢)和(或堆垛力z按照ISO1681中规定，纵向使用下面的参数za) 摩擦滑板的尺寸:TFC.0=25mmX25 mm ,TFC.1=50 mroX50 mm.TFC.5=63 mmX63 mm; b) 样品尺寸:TR工Q=30mruX200 mm，TF巳1=54mmX200 mm,TFC.5=BO mmX200 mm; c) 摩擦滑板重力:T肥。=0.308N士0.003N;咒1=1.23 N士0.01N江咒5-=，1.96 N土0.02N; d) 进给速率=100 mm/min士10%;e) 滑行
16、距离-100 mm; 。不锈钢特性:镜面。横向摩擦系数，只能从即将成卡的基材中抽样测量确定。只能在未加工的基材中测量，而不能在成品卡中测量，测试参数应使用上面所列出的那些适用于TFC.5规格的参数。4. 13 反射因数4. 13. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录八和附录B或者附录C.4. 13.2 规程分别在印刷标记上和周围基材区域依据IS01831使用B900光谱测定反射系数几和Rw。从下面的公式计算印刷对比度(PCS): pa- R一二EWW一-R一QU C P 4. 14 遭气度4.14.151用GB/T 28177. 1-2011中附录A.4. 14.2 规程应按照G
17、B/T458中规定，使用本特生法，用1.47 kPa的压力，测定透气度。4. 15 施胶度4. 15. 1 51用GB/T 28177.1-2011中附录A、附录B或者附录C。8 GB/T 28177.3-2012 4.15.2 规程按照GB/T460-2008中第4章规定测定TFC的施胶度，用于确定卡的抗水性能。4. 16 耐撕裂强度4. 16. 1 引用GB/T 28177.1-2011中附录B或者附录C。4.16.2 规程按照GB/T16578.2中规定，使用埃莱门多夫法，尽可能在数据记录区域外，测定耐撕裂强度。在纵向和横向两个方向上，采用16为摆锤因子校准。由于试样的尺寸规定为63mm
18、X75 mm，并且在两个方向上都进行测试，应在加工成卡或卷筒前从基料中取样。4. 17 抗分层力4. 17. 1 引用GB/T 28177. 12011中附录B.4. 17.2 原理该测试用来测量受到垂直于其平面张力的材料板的抗分层力或解理应力。此方法是基于一种测量纸的耐破度的仪器，胶膜，穿过固定在下方夹盘面上的一个环型盘上的中央孔。一个环形试样被胶带绑定在夹盘面上。胶膜向上拉伸连接于一个实心圆盘，该试样的另一面绑定在实心圆盘上，试样因此受到渐渐增加的解理应力z到破裂时，压力计就记录下来了抗分层力。4. 17.3 仪器4.17.3.1 冲头33 mm士0.1mm和50mm士0.1mm直径的两个
19、环形冲头分别在样品上冲切出面棋11.08cmz 的环形试样。为了避免当裁剪试样时造成分裂，33mm冲头刀刃的外表面和50mm冲头刀刃的内表面应是圆柱形的。采用两个冲头组装在一起的一次性操作来完成切割，这样可获得恒定宽度的圆环，使用不受扭力影响而冲切出试样的冲头。4.17.3.2 冲切压力机杠杆压力机，或者气动压力机，或者任何使之有可能冲切出试样而不破坏冲头的等效仪器。压力机的冲头在整个操作期间应垂直于切片平面。例如，可以用一个大约2cm厚的聚四氟乙烯盘作为切割保护。9 GB/T 28177.3-2012 4. 17.3.3 粘接压力机压力机或带有压力指示的压料装置，用于在试样的整个表面施加至少
20、2000N和至多2400N的力(考虑到试样的区域，即2000kPa士200kPa的压力)，以使胶带粘贴在试样表面。4. 17.3.4 耐破度测试仪按照GBjT454中规定，测量纸耐破度的仪器，附加薄的胶膜和适用于该测试的压力表。4. 17.3.5 其他装置需求如下z一一一把刀或任何切割样本咱样品和胶带的设备z一一一个剖分用的弯曲针;一一一个精确的计时器;一一按照图3的一个合适的固定试样的装置;一一双面胶带，覆盖元波纹释层，制成至少55mm宽度的卷筒团在样品简单施压后胶带应对试样有足够的粘合力。4. 17.4 测试准备4. 17.4. 1 测试样晶准备每一个样本应切成至少10块70mm或者更大的
21、正方形试样。将胶带粘脑在每个试样的两面，两面的肢带应尽可能完好地放置在相互对立的位置&通过在每一个试样上的肢带作标记，可以对板材和参比物的前面和后面进行识别便于追踪。4. 17.4.2 试样的准备使用冲头和下面引述的一种压力机，从每种测试样品中切冲出的每种试样的同心度小于或等于0.2 mm，持续冲切直至从材料的每一面中冲出等量试样。中心对准置环形试样于实心圆盘B上(见图3)，这样可以观察从表面开始的冲孔;然后，为了避免破坏胶带和试样，使用弯曲的剖分针，在该面的保护释层上距边最少3mm处切开一个口，以近乎180。角移去保护层，动作要缓慢和细心不要在试样上施加明显的力。试样在与B中心对准后，将它粘
22、合到圆盘B外部的圆环上s和前面的操作一样移去余下的保护释层。将圆盘A的外部圆环放置在试样暴露的胶粘层上面。为了在胶带和连接表面获得很好的粘合，在组装盘和试样上施加的压力要达到2000 kPa士200 kPa持续20s士5S. 4. 17.5 规程为避免试样在粘合胶带后由于粘合作用特性发生变化，在胶带粘贴到试样后2h内进行解理试验GB/T 28177.3-2012 测试。将圆盘、试样和胶带组装到环形C，见图3.盘B的平整表面朝向圆环C的内部。先观察哪一侧是上夹紧面，再将组装部件放置在耐破度测试仪上，环形的盘A使用下夹紧面进行接触。使用部件D将组装部件中心对准，见图3，上夹紧面锁定部件C.开启仪器
23、，胶膜开始变形，穿过A的中间孔，推动B并最终导致试样分裂成两部分。注z建议监控测试样品的破裂z如有必要，在样品破裂后重置测试仪.对3个重要的场景，以千帕(kPa)记录样品破坏时的压力。从耐破度测试仪上移除用来固定试样的各部件。确认胶带没有从盘A和B或试样的任何边缘的点上分离。把试样从两个盘卸下。如果有胶带从圆盘或者试样中分离，忽略这样的测试结果。记录试样失败的位置z一一前面/内部z一内部/内部z二内部/背面。测试其他试样。继续测试，直到完成10次有效的测量(每一方向取冲切五次)。4. 17.6 结果表述根据破坏点的压力计算解理应力p，公式如下zp = 0.772 P 式中zp一一从压力计读出的
24、压力，单位为千帕(kPa)，取3个重要的数值zP一一试样的解理应力破裂点的压力)，单位为千帕(kPa) 从压力计读出的压力，计算有效测量的算术平均值，用千帕(kPa)和标准偏差表达，注z对于相同的纸，在同样的实验室中，由同一操作员和仪器测试，十种测量方法的变化系数为2%的阶数.4. 17.7 测试报告除结果和标准的引用之外，测试报告中要附下列的详细资料:一一测试的日期和位置z一一试验材料的确认和备也一一每一试样的数量z一一每个样品的测量数目s一一解理应力，以kPa为单位，标准偏差z一-4.17.5列出的所有特性F一一一对结果可能有影响的任何因素和方法上的细节。11 GB/T 28177.3-2
25、012 A:放置材料的环形圆盘一黄锅LO 且且. 62 51 C:定心和压力环一黄铜94.6 l02 B:放置材料的实心圆盘黄铜D:耐破度印度仪的中心对准环低碳钢E一一试样材料面积约11.08cm2; 所有尺寸用毫米F一一耐破度测试仪的基盘.各处Ra1.6mm 注:D的尺寸允许该部分固定在耐破度测试仪上.圈3抗分层力测试仪(耐破度测试仪法12 4. 18 冷裂温度(脆度)4. 18. 1 51用GB/T 28177.1-2011中附录C.4. 18.2 规程G/T 28177.3-2012 在数据记录区域外部取测试点，按照ISO8570中规定，在纵向和横向两个方向，使用下面的参数测试塑料TFC
26、卡的冷裂温度(脆度): 击打重力=1.96 N士0.01N; 一一在一个新的温度(稳定化)条件下的最小样品处理步进=20min; 一一对于每次温度步进，以10个试样为一组测试。按照图4所示的百分比值的损坏程度，评估观察到的破损程度z对于每个温度，从每一组试样的个别损坏计算出一个平均值N(用%)。0% 25% 50% O.c:=量c:.15% 100% 圄4损坏评估4. 18.3 结果表述评估的测试结果N(用%)用图形来表述，并计算出一条线性回归线z见图5，N=50%的线与回归线的交点(对应的温度就是常规冷裂温度。13 GB/T 28177.3-2012 y=N/% B +10 +6 0 -6
27、-10 -16 -20 -26 -30 -36 x=T/C 注z回归线经过点A(0，12)和B(5，0)，所以它的方程式y=-2.5x+12，对于50%损坏，To句-15C. 圄5冷裂温度To评估的图例5 磁条物理特性的试验方法5.1 样晶准备和保存除非个别方法中另有说明，测试磁条物理特性的样品的准备和存储应符合4.1.3的要求。5.2 条件和测试环境除非个别方法中另有说明，否则根据卡的材料，磁条物理特性的条件和测试环境应符合表1的要求。5.3 凸起5.3.1 51用GB/T 28177.2-2011中5.1.1。5.3.2 原理凸起指的是临近卡表面上被磁条覆盖的区域，对卡片厚度的有效增加。5
28、.3.3 仪器一个有直径10mm士1mm方板探头的机械或者电子千分尺，一个直径等于或者大于探头直径的耐块。探头施加的力应等于或者小于1N，垂直作用于卡的平面。分辨率和精度应等于或者小于1mo 5.3.4 规程临近磁条的边界，以10mm为间隔测量卡片的平均厚度。在沿着磁条中心的3个点上，测量带磁条的卡片平均厚度。计算带和不带磁条区域的厚度平均值之差，得出凸起厚度。 GB/T 28177.3-2012 5.4 轮廓偏差5.4. 1 引用GB/T 28177. 2-2011中5.1.2。限制z不适用厚度1.6mm的磁条。5.4.2 原理轮廓偏差通过沿着磁条的高度绘制表面轮廓线来计算。它是指在任意一个
29、方向上，从基线L1到磁性材料的轮廓线，所能测量的最大法线距离。基线L1依据图6和下列的描述来构建z点A和B.在磁条表面和邻近的基材表面的交点，可以在轮廓线上观察确定z一一垂直探针的运动方向，画穿过A和B的过夜线1一一在轮廓线的最近末端的方向上间距1mm.画一条平行过踱线的辅助线z一一辅助线和轮庸线的交点确定为点C和D，一一线L1就是点C和D的连线。5.4.3 规程按照GB/T6062规定的测量仪器和ISO/IEC10373-2: 1998中5.2规定的方法，使用下面的仪器参数，用接触式轮廓测试仪来测定表面轮廓的偏差。一一位波器z具有截止披长二0.8mm的滤挠器或者机械滤波器，探针半径=1mm;
30、 一一施加的力1mN; 一一总测量不确定度5%。基线b=1 mm 注2最大轮廓偏差(的可以是在基线以上或者以下.固6测量轮廓偏差的构建圄5.5 粗糙度Ra和R:t5.5. 1 引用GB/T 28177.2-2011中5.1. 3 0 15 GB/T 28177.3-2012 5.5.2 原理按照GB/T3505中规定。5.5.3 规程按照GB/T6062的规定和下列的测量仪器参数，使用接触式轮廓测试仪，按照ISO/IEC10373-2: 1998中5.3的规定测定Ra和Rz:一一截止波长0.8mm; 触针半径王三5m;一一垂直力运1mN; 总测量不确定度5%。5.6翘曲5.6. 1 51用GB
31、/T 28177.2-2011中5.1.405.6.2 规程按照ISO/IEC10373-2: 1998中5.1规定的仪器和方法来测定翘曲度。对于TFC.O卡，测量仪器应经过改装。5. 7 粘合5.7. 1 引用GB/T 28177. 2-2011中5.205.7.2 仪器仪器应具有以下特性z一一符合GB/T9286规定的强度为0.4mN/m士0.04mN/m的胶带，按照IEC60454-2的规定进行测量z一一一个具有25mmX50 mm口径的刚性金属盘的卡座。5.7.3 规程卡片置于平面上，上面放置卡座。将胶带穿过卡座的孔粘牢磁条，长度超过40mm并且以手指尖压紧。应确保卡座稳固，避免剥离期
32、间卡片发生移动。用450角和100mm/s的速度剥离胶带。应符合GB/T28177. 2-2011规定的要求。测试应按纵向和横向两个方向进行。5.8 磨损试验5.8. 1 51用GB/T 28177.1-2011中4.60GB/T 28177. 2-2011中5.3016 G/T 28177.3-2012 5.8.2 原理该原理基于一张卡能够承受适合其使用类别的磨损程度的能力。根据磁条磨损造成读取信号的平均电平下降程度来定义。5.8.3 规程按照ISO/IEC10373-2: 1998中5.4规定的方法和仪器进行磨损测试。测量结果是信号振幅UA1, 读出任何磨损发生前后的振幅z轻度磨损是50个
33、周期;一一中度磨损是500个周期g重度磨损是2500个周期。5.9 磁条尺寸测量5.9. 1 原理该原理基于直线测量。应使用适合GB/T28177. 2-2011规定公差的精度来测量尺寸。5.9.2 规程测量每个尺寸使用的测量工具给出总的测量不确定度(精度+测量误差+随机误差+刻度误差)小于或者等于被检参量公差绝对值的1/4。应使用光学的方法。6 静磁特性的测试方法6. 1 原理对GBjT28177.2-2011要求的磁特性，应从样品磁条的静态饱和磁滞回线M=f(H)或者J=f(H)和曲线的导数中得到。注z因为没有测量参量需要绝对磁化值，可以调整铀的缩放比例达到最好的分辨率.更为理想的是，依据
34、惯例，纵轴刻度可以用厚度磁化权(t.M或者t.)或者每单位磁抽样高度町的的磁通量表示.然而，在本测试方法遵循的规范中，此轴仅作为磁化(M)轴的参考，并且绘制曲线如下zM=f(H)和dM/dH=g(H)6.2 仪器用于获得磁滞回线M=f(H)的测量设备应能静，对应于不同等级的材料(见表2)产生高达Hm皿值的外加磁场.适合的设备例如z-一一磁力计比如振荡探针磁力计(VSM)。一一磁滞计(HM)。测量精度和获得磁滞曲线值的表达要求应如下所示z一一磁场(H)轴数值的绝对精度要好于高达120kA/m的磁场的1%, 1 200 kA/m磁场的2%;磁化轴(M)的线性值好于1%。仪器本身，或者某些辅助处理应
35、能够微分磁滞回线，得到曲线幽tl/dH=g(H)。测量精度，获得微分磁滞回线的值的计算和表达要求应如下所示t一一内磁场(H)轴数值的绝对精度要好于高达120kA/m的1%, 1 200 kA/m磁场的2%;一一一微分磁化(幽tl/dH)轴的线性值好于5%。注，:微分处理的使用易受到较小的高频干扰，因此应注意保证不要让这些因素降低测量的准确性。特别注意交替的励磁电流源.注2:可以归一化微分曲线如g.(H)= 1.以有利于计算简化.17 GB/T 28177.3-2012 测量精度应满足:HcM士2%，SFn土4%，SFs土4%，SQ士2%。6.3 样晶的准备和保存除非个别方法中另有说明，否则下面的测试静磁特性样品准备和保存要求应作为4.1.3中规定的补充。6.3. 1 准备测试样品应从TFC材料中切取一个或者几个矩形条，切取时应使磁场方向与磁条长度方向平行。样品平行于应用磁场方向的尺寸应比其厚度大得多。当需要多个磁条用于灵敏性测试时，所有磁条应大小相同并堆叠一起组成试样。在测试前，试样应在测试房间适应至少24h。注z按照GB/T2817
