1、中华人民共和工行业标准磁带用薄膜表面粗糙度HG/T 2348-92 的测量触针法本标准参照采用国际标准IS04288-1985 (触针式仪器测量表面粗糙度的规则和方法以1 本标准规定了采用轮廓顺序转换的触针式仪器和带有计算机测量系统的触针式仪器，测量磁带用聚醋薄膜表面粗糙度Ra.Rz和Ry(Rt)的方法.本标准适用于录像带、录音带和软盘用聚醋薄膜表面粗糙度测量-Z引用标准GB 1031 表面粗糙度参数及其数值GB 3505表面粗糙度术语表面及其参数GB 6061 轮廓法测量表面粗糙度的仪器术语GB 6062轮廓法触针式表面粗糙度测量仪轮廓记录仪及中线制轮廓计GB 7220表面粗糙度术语参数测量
2、GB 10610触针式仪器测量表面租糙度的规则和方法3术语及定义本标准采用上述引用标准中所给定的有关术语和定义.4测量原理当触针沿被测薄膜表面进行扫描时，由子薄膜表面存在微观不平，触针将作垂直子被测面的机械运动.这种机械运动信号，被仪器遂行信息转换.放大、滤波和自动计算后，就成为结果，显示在仪器上，或打印、描绘在记录纸上厦5测量仪器与装置立1触针式仪器本标准采用符合上述引用标准的轮廓顺序转换触针式仪器和带有电子计算机的触针式仪器-5.2截止波长(cutofI) c 截止波长c应等于根据表1、表2而选用的取样长度筐-5.3触针针尖幽率半径优先选用2m.可以选用小于或等于5田，当选用小于或等于5m
3、时，应加以注明-5.4试样支撑菠璃或金属支撑被测试样的玻璃或金属表面粗糙度负Ra应小于或等于0.003m.中华人民共和国化学工业部1992-06-01批准4 1993-03-01实施HG / T 2348 .,-92 测量条件6 6. 1 评定长度和取样长度评定被测表面的粗糙度，必须采用某个粗糙度参数的一组测量值，其中每一个测量值是在构成一个评定长度的若干个取样长度上确定的.利用这些测量值，按式(1)求出表面粗糙度参数的平均值R:) I ( =-1/1飞R=: 1: 1 - 1: Rili i-l飞nj-l -/ 量式中:k一一评定长度的个数.BD沿被测表面的测量次数;R-一1个取样长度内确定
4、的表面粗糙度参数值;n 一一l个评定长度内取样长度的个数.由同一被测表面所获得的测量结果的可靠性和表面粗糙度参数平均值的精度，将取决于评定长度内取样长度的个数n和评定长度的个数k.为了确保可靠性和精度，必须使n二月k7 n= 5. RD由5个连续取样长度构成的评定长度为标准评定长度.取样长度1:应优先选用表1、表2中给出的I值探测量Ra，Rz和Ry(Rt)参数.表1测量Ra值的取样长度Ra 取样长度I评定长度lnm nrn mm 0.008-0.020 10.08 : 0.40 0.020-0. 100 |U5 1. 25 J 测量Rz和Ry (R t)值的取样长度表2RzRy 取样长度I评定
5、长度ln皿mm mm 0.025-0. 100 0.08 0.40 0. 100-0.500 0.25 1. 25 如果用0.08mm截止波长测量Ra时.Ra小于0.020m而用0.25mm截止波长测量时.Ra 大于0.020阻，那么，在这种情况下，应选用0.08m四截止波长进行测量Rz、Ry依此类推.在同时测量Ra，Rz, Ry (Rt)三个参数时，按表1绘出的I直进行测量.为了确定第一次测量所用的截止波长值，可先进行目测比较，亦可根据试样条件进行分析-6.2测量方向沿膜卷的横向(1)进行测量.在特殊情况下，可沿其它方向进行测量.此时，应在技术文件中注明.在有争议时，应沿产生表面粗糙度参数最
6、大值的方向进行测量.6.3 试样状态调节和测量的标准环境试样在温度23:t2t，相对湿度50%士5%的洁净环接下进行状态调节，调节时间不少于4h.一一5 一一一)平-，o_ 二-:=-_-,_ 岳、)毛主._- .-_，i=一二-，._.一-一HG/T 2348-92 同的环境下进行.7 试样7.1 样片尺寸和数量从每一被测试样的不同部位随机裁取2个尺寸为120mmx60mm的样片，使其长边平行于膜卷的纵向(MD).在两个样片的不同部位上进行测量，使测量总次数k不少于7.7.2被测表面样片的被测表面应无尘、无折皱、元划伤、不起毛，不允许有任何可能改变测量结果的外来杂质存在.必要时，可用不捧毛的
7、纤维团、织物或擦镜纸沽分析纯无水乙醇或丙阁轻轻擦洗被测表面，去尘土等异物，但切忌擦伤表面.8 8. 1 校正试验以除用单刻线标准块或多费j线标准块和粗糙度标准块校E仪器.两次校正试验l可商时间应不大子3个月.8. 2 固定样片固定样片前，用无水乙蹲或丙翻清洗支撑试样的玻璃或金属表面.将被测样片固定在薄膜固定装置上，样片与支撑玻璃或金属表面丰间J!I4元气泡、无空隙-8.3输入或设定测量条件8. 4 测量启9 结果计算与判定9.1 均值按式(1)求出Ra，Rz, Ry (Rt)的算术平均值Ra，Rz和Ry(Rt). 9.2标准偏差按式(2)分别求出相应参数的标准偏差Ls=写KLdfpLt(ifp
8、i) 式中:Ri-一-第i次测量值(i=1、2、3);k一一沿表面测量次数.9.3结果判定. (2 ) 如果表面粗糙度参数Ra，Rz的所有测量值中，超过标准规定值的个数少于总数的16%，则该表面是合格的.(即7次测量值中只允许有一次超差) 尹j不合格前，应另取双倍数量的样片进行不少于13次测量，如果超过标准规定值的个数仍不少于总数的16%，则判该表面不合格.当给定表面粗糙度参数Ry(Rt)最大值的要求时，在表所有粗糙度参数测量值均不应超过标准规定值.6 ，整个被测表面吨一一一一_0 ,-oc_一一一, 飞l、飞10 HG/T 2348-92 测量报告测量报告包括下列内容:a. b. C. d. 试样名称、批(编)号、品种规格、来源;测量仪器;测量方法(标准号); 测量条件(标准要求说明的条件);e. 测量结果:Ra, Rz, Ry (Rt)的算术平均值、标准偏差、最大值、测量次数和超过标准规定值的测量次数以及所用的截止波长值，f. 结果判定:根据9.3条与标准规定值判定合格或不合格;2. 日期、测量者及审核者.附加说明:本标准由中华人民共和国化学工业部科技司提出.本标准由化学工业部第一胶片厂归口.本标准由杭州磁带厂、化学工业部第一胶片厂、佛山聚醋薄膜公司共同起草.本标准主要起辈人霍琼宗、王颖、韩方、李董事庄.本标准参照采用西德标准DIN4768一1990.7
