1、ICS 19. 100 J 04 中华人民圭t_，、和国国家标准G/ T 2390 1.3-2009/ 150 19232-3: 2004 无损检测射线照相底片像质第3部分:黑色金属像质分类Non-destructive testing-Image qoality of radiogJ呻hs一Part 3: Image quality classes for ferrous metaJs CISO 19232-3: 2004 , IDT) 2009-05-26发布2009-12-01实施, 、 芝由lV中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 2390 1.3
2、-2009/ISO 19232-3: 2004 前言GB/T 23901250 a当使用Ir192时，所得像质指敖比上述值偏低，现修正如下z10 mm400 AUFaFhw句86句daqFD民v7Euqu，HHHHHHHmmmmmmmmm a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，现修正如下:10 mm350 a当使用Ir192时，所得像质指数比上述值偏低，现修正如下$12 mm380W3 表6阶梯孔型像质计A级像质标称厚度w/像质指数mm W骂王1日31250W5 表8阶模孔型像质计B级像质标称厚度w/像质指敛mm l H2 1375 W4 表10阶梯孔型像质计A级像质标称Jt!皮w/
3、像质指数mm 四运2日32300W6 表12阶梯孔型像质计8级像质标称度w/像质指数mm 2.5 H2 Z. 55. 5 H3 5.59.5 H4 9. 515 H5 1524 H6 2440 H7 40u足二60H8 6080 H9 a当使用Ir192时，所得像质指敛比上述值偏低，现修正如下25.5 mm四运9.5mm:所得像质指数加2，9. 5 mm24 mm:所得像质指数加1.5 像质计的触置为了确定像质，当进行射线照相时，像质计应放在被检工件的源侧.如果以上方法不可行，则像质计可放在被检工件的胶片侧，为了表明已采用了这种放置方法，像质计附近的铅字P影像应可见.8 像质计应放置在被检工件
4、上厚度尽可能均匀的区域.特殊放置方法接应用标准规定. GB/1r 23901.3-2009/IISO 19232-3 :2004 6 像质指数的确定在确定像质指数时，现片条件应符合GBjT19802的要求.对于线型像质计，在底片上能识别的最细线的编号即为像质指数.在底片密度均匀部位能清晰地看到长度不小于10mm的连续金属线影像时，则认为是可接受的.对于阶梯孔型像质计，在底片上能识别的最小孔的编号即为像质指数.当同一阶梯上含有两孔时，则两孔都应在底片上可识别.一般来说，每次射线检测都应确定像质指数以验证其是否达到所要求的像质.如果能采取措施保证在透照相似的被检工件和区域时，用相同的曝光和暗室处理
5、技术并且所得的像质指数没有差别，则不需要对每张底片验证图像质量，图像质量的验证范围可由合同各方达成协议。9 goNHmtNRESMmCON-mJO白的NH筒。华人民共和国家标准无损捡刮射线照相底片像质第3部分z黑色金属像质分类G8/T 23901. 3-2009/ISO 19232-3 :2004 国中 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社察垒岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张1字数18千字2009年8月第一次印刷开本880X1230 1/16 2009年8月第一版定价18.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533* 书号:) 55066 -38429 GB/ T 23901 . 3-2009 打印日期:2009年9月7日
