1、中华人民共和国国家标准电工电子产品环境试验设备慕本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备1 ns pection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and el ectronic prod uct s Combined sequential cold low air pressure and damp heat testing equi pments UDC 621.3.2.679 GB 5170.17-87 本标准规定了按GB2423.27-81 (电工电子产品基
2、本环境试验规程试验Z/AMD低温/低气压/握热连续综合试输方法进行试验时所用试验设备(以下简称设备)慕本参数的检定方法。本标准与GB5170.1-85 (电工电子产品环境时验设备基本参数检定方法总则一也使用。1 栓定项目1. 1 降温速率与漏度误差1.2降Ifi襄率与气压误差1.1升温时间、升压时间和加耀速率1.4温度与相对温度1.5风速2 检定用:!:要仪锵检定仪器的误差应不大于被测参数允许误萃的三分之o2.1 温度测试仪器采用铀电阻戒其它类似的传感器，真时间常数不大于20So2.2气压测试仪器采用标准水银压力表或真它樊似的气压表(计)02.3相对温度测试仪器采用干温球磁度计或其它类似的仪器
3、。2.4 风速测试仪器来用各种风速仪，其感应量不低于O.05m/ So a 检定方法连续综合检定程序曲线见图1。3. 1 降植速率与温度误差检定方法3. 1.1 本测试应在GB5170.1规定的负载(或按布关标准的其它规定)条件下进行03. 1. 2 温度测试点及布放位置测试降温速率与温度误差时，般将设备的工作空间分为k、中、下(戒前、ri1、后)三层，并国家标准局198708-18批准1888-05-01实施GB 5170.17 87 按规定的优置布放一定数量的传感器。相对11度温度(飞;)T俭2远低温值)气E五正常大气原(kPa) P检fl旺气值树问(min) 峻:程序i主革初始的浪温度值
4、和气压住主温度稳定度釜试榈恻误测降速率测试降温速率测试与误试度压测温气袭庄农气稳升激升加摄测试温度和相对温度测试图1低温/低气压/根热综合II顺序试验设备检定相序阁3. 1. 2. 1 设备容积小于戒等于1m3时，油度测试点为9个，测试点位置与1作宫内峨的距离为工作窒各边长(阔形设备为作室直径)的1/10，但最小距离不得小j二50mm0设备带有样品架时，下层测试点可布放在底层样品架以上10mm处，测试点布放如l到20 方形设备:上层中占主F层.Q .R A .8 ，。.D c 门n 回形设备(以阅筒形卧式设备为例): 前层中层图2, u v f1 后Ji!GB 5170.17-87 3. 1.
5、 2.2 设备容积大于1m3、小子或等f10m3时，温度测试点为13个，测试点位置与巨作室内峨的距离为工作室各边长(圆形设备为工作窒直径)的1!10 (遇有风遇时，是指与送风口、回风口的距离)由设备椭样品架时p下层测试点可布放在底层辄架以上10mm处，测试点布放如图30方形设备:上层中居下展，日tR K ，。 L .D .cl I :rJ IV n l门f1 圆形设备(以回筒形卧式设备为例): 前展中层后层，图33.1.2.3设备容积大于10m3时，温度测试点为21个，测试fi位置与J作室内峭的距离均r作室各边长(圆形设备为工作室直径)的1! 10 (遇布风遇时，是指与送风口，回风口的距离)但
6、最大距离不得超过500m叽设备带有样品车时，下层测试点可布放在底以制车以UOmm处，测试怖灿图40GB 5170. 17- 87 方形设备z上层中层.A .8 .G .H 1 E F .K ，。.L .n C .M .N .p n n 嗣形设备(以朋筒形卧式设备为例): 前11中层因43.1.2.4 为了保证植槌度要求，允许在街效空间内增加测试点。3.1.3检步辘F层Q .R .5 .T .u tV 门后层在设备温度町调范围内，检定温皮一般选取极限标称温度或按GB2423.1 81 (电工电子产品基本环埔试验规程试验A:低温试验方法中规定的具街代表性的栋称温度点。在设备降描过程中，每5min己
7、录一次指示点的掘度筒。测试记录表参照附录A(参考件表Alo指示点温度降到低掘设定值时稳定1h，然后测i式设备工作空间的温度误差。测i式时每2min己录一次所街点的温度值，在切min内共测试15次，测试记录表参照附录A(参考件)表A203.1.4数据整理句结果分析8. 1. 4. 1 降温速率按下式计算降温时每5min内的半均降温速率z式中:VT一一乎均降温速率，C/min; I:lT每5min的描菜，C 0 3.1.4.2温度误蒙TT I I:l TI 1f T = -5 将各测试点的温度值按测试仪表的修正值加以修正，分析修正盾的测试数据，战中与林称温度的最大正负偏差，为设备在该标称温度时的温
8、度误差。检定结果应符合GB2423.27的有关规定。3.2 降压速率与气压误差检定方法8.2. 1 本测试应在GB5170.1规定的负载(戒t安街关标准的其它规定)条件下进行08.2.2 测试点为设备的取压点3.2.3 检定步嚷GB 5 1 70 1 7 - 87 撤掉本标准第3.1.3所规定的检定低温条件，在i是备低气压可调施围内，选取极限标称气压戒按GB 2423.21一81(电工电子产品基本环境试脸规程试验M:低气压试验方沽中规定的具有代表性的标称气压作为检定值。在设备降压过程中。记录设备从正常大气压降至检定低气压的时间tpo指示点的气压降到低压设定值时，稳定30min，然后测试设备工作
9、空间的气压，测试时每2min日录一次气压值，在30min内共测试15次，测试记录表参照附录A(参考件)表A303.2.4 数据理些理与结果分析3.2.4.1 降ffj惠率按下武计算降压时的平均变化速率zVp 式中:巧一一降压的平均变化速率，kPa/mi向Po常!_f，kP a, P一一检定气压，kPa, tp一一降压时间，mino 3.2.2气ff误差t p 将指示点的气压值分别按测i式仪表、描度和蘸力修正值加以修正、分析修正盾的测试数据、其中与析称气庄的最大负偏差，定为设备在该标称吨压时的气压误差。险J结果应符合GB2423.27的有关规定。3.3升温时间、升压时间和加温速率的检定方法3.8
10、.1 本测试应在GB5170.1规定的负载(或按有关标准的其它规定)条件下进行。8.和2温度测试点为2个，一个烟度传感器嚣于设备的几何中心点，另一个表面槌度传感器置于负韩表面。气压测试点为设备取压点。8.8.8检定步骤勾结果分析维持本帐准第3.2.3所规定的低气压条件，使设备工作盘问温度均匀上升，上升到30C或室内温度(以高者为准时，记录指示点温度从检定低温上升到设定描度的时间，作为设备的升温时间。在指示点温度上升的同时加湿，观壤负载表面结霜情况。注意记录负载表面的温度，当负载表面温度达到0- 5 C之间，表面开始融霜时j使设备工作空间的气压以大致均匀的速度上升至正常大气压，记录指示点气压从检
11、定低气压上升到正常大气压的时间岛，作为设备的升压时间。检定结果应符合GB2423.27的有关规定。3.4捕度与相对撮度检定方法3.4.1 本测试应在GB5170.1规定的负载(或按i有关标准的其它规定)条件下进行03.4.2温、根度测试点均为设备几何中心点。. 8.4.3 检工在步骤与结果分析当指示点气压升到正常大气压，指示点植度升到30C或室内温度(以高者为准)后，保持1h，其间每5min记录一次指示点的温、温度值，同时观辖负载上的凝露情况。检定结果应符合GB2423.27的商关规定。3.5 风速检定方法3.5.1 本测试在空载和室植条件下进行。3.5.2 测试点数最及布放位置根据设备容积的
12、大小，风速恻试点数量去及布放位置与描度测试点相间。3.5.3检定步骤将风i衷计置于测试点，沿任意方向测试每点的风速，取其最大值作为各测试点的J5(趣，测试记录aa- EE- 翩翩嘈EE-四四.， Eaz- 回国RURHEF 肉rhuvI川iA(圳)AI I,U iU嘛*HltnUil 州1V-IUI刷刷刷，m/!I Vi-制I， m/ I1 n-舰*G m.l献脏。被检设备型号名称z检定仪器型号名称z检定环境条件E温度检定温度s测试时间枪定日期E检定人员z被检设备型号名称z检定仪器型号名称z检定环墙条件z温度检定温度z._、测由、测试飞飞ZT度、时l同测试点飞、._检定结果z枪定日期E检定人员
13、zGB 51 70. 1 7 - 87 附录A测试记录表示例参考件)表Al降温速率测试记录表精度相对温度气压测试温度5 min 内温度变化 C 表A2温度误蒙测试记录表精度相对温度气压 主jL均降温速率C/min 一被舱设备型号名称:检定仪器型号名称:检定环境条件:温度检定气压值:测试时间气压表读数检定结果:检定日期:检定人员:被检设备型号名称r检定仪器型号名称:检定环境条件:温度测试点风速检定结果:检定日期:检定人员:附加说明:GB 5 1 70 . 17 - 87 表A3气压误差测试记录表精度相对温度气压表A4风速测试记录表精度相对温度气压本标准由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会提出。本标准曲综合环境试验设备基本参数检定方法工作组负责起草。本标准主要起草人付文茹。kPa m/s
