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SJ T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性（DLD）的测量.pdf

上传人：刘芸 文档编号：19391 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：16 大小：368.09KB
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资源描述

本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 91541-1987的型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

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