1、ICS 35.240.15 L 64 量B中华人民共和国国家标准GB/1l 15120.2-2012 代替GB/T15120. 2-1994,GB/T 15120. 4-1994 ,GB/T 15120.5-1994 识别卡记录技术第2部分:磁条低矫顽力IdentificatD.on cards-Recording tec.hnique-一Part 2 : Magnetic stripe-Low coercivity (ISO/IEC 7811-2 :2001 ,MOD) 2012-12-31发布2013-06-01实施艳阳/拦Y中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局串舍中国国家标准化管理委员
2、会乱叩GB/T 15120.2-2012 目次前言.1 1 范围.2 符合性.3 规范性引用文件4 术语和定义.5 识别卡的物理特性.3 5. 1 磁条区域翘曲.3 5.2 表面变形.3 6 磁条的物理特性.4 6.1 磁条区域的高度和表面轮廓.4 6.2 表面粗糙度.6 6.3 磁条与卡的粘合.6 6.4 读/写磁头对磁条的磨损.6 6.5 耐化学性.67 磁性材料的性能特性.6 7.1 总则.6 7.2 测试和操作环境.6 7.3 对磁介质信号幅度的要求.7 8 编码技术.8 9 编码规范总则.9 9.1 记录角.9 9.2 标称位密度.10 9.3 第1、第2和第3磁道的信号幅度要求.
3、10 9.4 位构成. 10 9.5 记录方向.10 9.6 前导零和后导零四川编码规范.1110. 1字母数字磁道第1磁道.10.2 数字磁道一一第2磁道. 13 10.3 数字磁道一一第3磁道.15 11 差错检测.15 11. 1 奇偶校验. 15 11. 2 纵向冗余校验(LRC).15 12 编码磁道的位置.16 附录A(资料性附录磁条的读兼容性(GB/T15120.2和GB/T15120.的. 17 附录B(资料性附录磁条的研磨性.18 GB/T 15120.2-2012 前言GB/T 15120(识别卡记录技术分为以下几个部分z一一第1部分z凸印p第2部分:磁条低矫顽力z-一第3
4、部分:ID-1型卡上凸印字符的位置E一一第6部分2磁条高矫顽力。本部分为GB/T15120的第2部分。本部分按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T15120.2-1994(识别卡记录技术第2部分z磁条、GB/T15120. 4-1994 识别卡记录技术第4部分z只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置和GB/T15120. 5-1994(识别卡记录技术第5部分z读写磁道的第3磁道的位置。鼓励使用者回顾整个标准的修订和更新。本次修订的主要变化如下za) 在GB/T15120.4一1994和GB/T15120. 5-1994中给出的要求已经包含在GB/T15120.2 的本版本
5、中sb) 将术语主标准修改为源标准气。增加了部分术语和定义zd) 增加了部分要求。本部分修改采用ISO/IEC7811-2: 2001(识别卡记录技术第2部分z磁条低矫顽力。本部分与ISO/IEC7811-2 :2001相比，存在如下少量差异za) 删除了国际标准前言;b) 删除了文本中大部分的英制单位，对于工业界的习惯用法，某些部分的英制单位仍保留;c) 根据目前源标准和二极标准的迁移情况，将源标准定义为一套由德国物理技术研究院(PTB)建立，并且目前在美国Q-Card保存的基准卡，代表RM7811亿指定的UR和IR的数值气将二级标准中的注改为二级标准目前可以从美国Q-Card订购，地址为:
6、301 Reagan Street, Sunbury,PA17801 , USA.二极标准源将至少保存到2012年气d) 根据ISO/IEC10373-2的最新版本，删除了ISO/IEC7811-2: 2001的附录B信号幅度测量。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究所、云南南天电子信息产业股份有限公司、中国乐凯胶片集团公司。本部分主要起草人z冯敬、段霞、金倩、高林、耿力、袁理、王文峰、乔申杰。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z一一-GB/T15120. 2-1994; 一一-GB/T15
7、120.4-1994; GB/T 15120.5-1994. I GB/T 15120.2-2012 识别卡记录技术第2部分:磁条低矫顽力1 范围GB/T 15120的本部分是描述在第4章中定义的识别卡的特性和国际交换中使用识别卡的系列标准之一。本部分规定了识别卡上低矫顽力磁条(包括任何保护涂层的特性、编码技术、编码磁道的位置和字符集。根据人、机两者因素规定了最低要求。矫顽力影响到本部分中许多量值的规定，但本身未作规定。把卡暴露于磁场之中很可能使已记录的数据被破坏。本部分适用于提供卡应遵循的准则。在这些标准中没有考虑使用次数，如果需要，则根据以前卡测试的经验。如果卡不符合规定准则，应在涉及到的
8、各方中进行协商。ISO/IEC 10373-2规定了检查卡符合本部分规定参数的测试步骤。注=在本部分中用到的公制和/或英制测量体系中的数值可能已经被换算，但相互间并不完全相等。两种制式都被使用，但两者不宜被混杂或被再转换。最初的设计是使用英制测量体系.2 符合性符合本部分的前提条件是符合GB/T14916。当识别卡符合此处规定的所有强制性要求时才能声称符合本部分。如果其他方面未作规定，则使用默认值。3 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本造用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单适用于本文件。GB/T 3505 产品几
9、何技术规范(GPS)表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数(GB/T 3505-2009, ISO 4287 :1 997 ,IDT) GB/T 14916识别卡物理特性(GB/T14916-2006, ISO/IEC 7810:2003 ,IDT) GB/T 17554. 1识别卡测试方法第1部分z一般特性测试(GB/T17554.1-2006, ISO/ IEC 10373-1:1998,MOm ISO/IEC 10373-2识别卡测试方法第2部分z带磁条的卡(ldentificationcards-Test meth ods-Part 2 :Cards with magnetic str
10、ipes) 4 术语和定义GB/T 14916界定的以及下列术语和定义适用于本文件。4. 1 源标准primary standard 一套由德国物理技术研究院(PTB)建立，并且目前在美国Q-Card保存的基准卡，代表RM7811亿GB/T 15120.2-2012 指定的UR和IR的数值。4.2 二级标准second町standardRM7811-2指定的基准卡，它和源标准的关系在与每张卡一起提供的校准证书中说明。4.3 注2二级标准目前可以从美国Q-Card订购，地址为:301Reagan Street, Sunbury, PA17801 , USA.二级标准源将至少保存到2020年。未编
11、码未使用的卡unused un-encoded card 具有预期用途所要求的全部组件，未进行过任何个人化或测试操作，并且被保存在清洁的环境中，在5.C30.C的温度和10%90%的湿度条件F并且暴露在自光下的时间不超过48h，也未遭受过热力冲击的卡。 飞4.4 己编码未使用的根据4.3，为了返回的卡4Jd乓的一，只是进行了数据编码例如磁条编码、四、6酌4l?如严放捕时为吵叫又被返回的卡4. 10 磁通翻转fltransitioI) 磁化距离变化事最大的位置.test recording currents Imin=对应于3.5倍FR的记录电流zlmax=对应于5.0倍FR的记录电流。单个信号
12、幅度individual signal amplitude U j 单个读出电压信号的基-峰值幅度。4. 11 2 平均信号幅度average si伊aIamplitude UA 一/ GB/T 15120.2-2012 一个磁道上，覆盖整个磁条区域的每个信号峰值(Ui)的绝对值相加后的总和，再除以信号峰值的总个数后得到的数值。4. 12 4. 13 4. 14 4. 15 4. 16 基准信号幅度reference signal amplitude UR 基准卡校正到源标准后得到的平均信号幅度的最大值。物理记录密度physical recording density 记录在一个磁道上的每单位
13、长度内的磁通翻转数量。位密度bit density 单位长度内存储的数据位的数量(单位为bits/mm或bpi)。位单元bit cell 两个时钟磁通翻转间的距离，见图10。子间距subinterval 两个时钟磁通翻转间的距离的一半，见图10。5 识!lJ卡的物理特性识别卡应符合GB/T14916中给出的规定。警告z发卡者应注意保存在磁条上的信息可能会因为与不洁物质或化学物品接触后受污染而失效。还应注意任何披置在磁条表面的印刷或遮盖物不得使磁条功能有所减弱。5. 1 磁条区域翘曲在与磁条相对的卡的正面均匀施加2.2N的力，引起的整个磁条在刚性平面上的偏离应不超过0.08 mm。5.2 表面变
14、形卡上如图1所示区域内的正、反两面均不得有变形、不规则和突起的部分，否则会影响磁头和磁条的接触。3 GB/T 15120.2-2012 单位为毫米上基准边缘-Y峭田。.四同无变形区域卢二口1。 6 / / / 6. 1 磁条区域的高度和囊团轮廓磁条区域性刊日图2所示的卡背面。 、产/上基础父/ / / 最小磁条宽度/W磁条区域 飞82.55最小使用第1和第2磁道:a=11.89最小使用第1、第2和第3磁道:a=15.95最小注z对于使用第1、第2磁道的磁条区域，如图2所示的磁介质a的尺寸可小于图11所示的卡上第2磁道位置b的最大值.磁条区域超出编码磁道的边界是合理的.圄2ID-1型卡上磁性材料
15、的位置4 GB/T 15120.2-2012 6. 1. 1 磁条区域的表面轮廓磁条区域截面轮廓的最大垂直偏差(a)如图3、图4、图5所示。表面轮廓曲线的斜率应限定为z-4a/W_共14个字符用作硬件控制，不能作为信息(数据内容)使用。字符 共3个字符保留在需要附加国家字符时使用，它们不能在国际间使用。字符#保留为选择添加图形符号用。字符%?作用如下z% 起始符1 。1 。1 I 。1 。1 当坠1 。1 。1 。J 。1 。1 + 。1 。1 1 K 1 1 。1 , 1 。1 1 。L 。1 。1 12 22 21 20 。1 。1 。1 1 1 。1 。1 1 1 。1 1 。1 。1
16、。1 1 1 。表4(续GB/T 15120.2-2012 字符字符二进制P 25 2( 23 22 21 20 二进制P 000 1 101 M 1 1 o 1 1 。1 o 0 0 1 1 0 。1 N 1 1 。1 1 1 / 100 1 111 。o 0 1 0 000 。1 o 1 1 1 1 。1 1010 O-) 1 。1 。2 。引7A1 1 3 1 4 。5 。1 6 。,A 。乱中。P 1 1 1 0 0 过-I 0 1 1 0 SFK1 气寸过R 1 。T U 1 V 1、b人1 1 队。扎11111 。1 1 1 1 1 。1 1 。1/ 1 Vl 1、。1 1 1 1
17、， 1 0 1 1 1 011 |。一-一-一一-一一二?Y飞111 11一t1 注:1比编码畸集导惘/T15120.6的编码字符集(来自ASCII)相同。/0 1 1 ,1 1 1止i。Q 1 1 。1 1 1 。1 。1 1 1 1 、注J 10. 1. 4 ID-1型卡的最每字符数:三、.二/ 包括数据宇叫起制、结束符及纵向冗余位明等全部字符数量总和不能超过10.2 数字磁道一一第2磁道10.2. 1 平均位密度当沿着与卡的上基准边缘平行的纵向进行测量时，平均位密度应该为2.95 bits/ mm (75 bpi) 士5%。10.2.2 磁通翻转闰距变化已编码未使用的卡的磁通翻转间距变化
18、见表5，返回的卡的差异见表6，同时见图10。13 GB/T 15120.2-2012 表5己编码未使用的卡的磁通翻转间距变化一一第2磁道术语描述要求变化B. 时钟磁通翻转间的平均长度322m:S:;B.:S:;356m 土5%B . 时钟磁通翻转间的单个长度315m:S:;B.:三363m土7%B+I 相邻位与位间的变化o. 90B. :S:; B.+1:S:;1. 10B . 士10%S饵子间距的长度153m，二S.:S:;186m土10%S+1 相邻子间距的长度O. 88 B. /2:S:;S.札:S:;1.12 B./2 土12%B+1或S+1是紧邻B甸的下一个磁通翻转间的距离。表6返回
19、的卡的磁通翻转间距变化一一-第2磁道术语描述要求变化B. 时钟磁通翻转间的平均长度322m:S:;B.二356m士5%B . 时钟磁通翻转间的单个长度288m:S:;B.:S:;390m 土15%B+1 相邻位与位间的变化0.85 B.:S:;B臼+1骂王1.15且土15%S且子间距的长度136m:S:;S.:S:;203m 士20%S+1 相邻子间距的长度O. 70 B. /2:S:; S.+I :S:;1. 30 B. /2 士30%B+1或S+1是紧邻B.的下一个磁通翻转间的距离。注2本表只对具有正常功能的卡作出了限定，并不表示对已发行卡整个有效期内磁通翻转间距的任何保证。L一一一一一一
20、10.2.3 编码字符集第2磁道的编码字符集应是5位数字码，见表7.字符: 。1 7 。1 1 1 ? 1 1 注z此编码字符集与GB/T15120.6的编码字符集来自ASC!D相同.14 二进制22 21 。1 。1 1 。1 。1 1 1 1 20 。1 。1 。1 。1 GB/T 15120.2-2012 10.2.4 l川型卡的最多字符数包括数据字符、控制字符、起始符、结束符及纵向冗余校验字符等全部字符数量总和不能超过40个。10.3 敢字磁道一一第3磁道10.3. 1 平均位密度当沿着与卡的上基准边缘平行的纵向进行测量时，平均位密度应该为8.27bits/mm(210 bpi) 土8
21、%。10.3.2 磁通翻转间距变化已编码未使用的时参见图10。10.3.3 编码字符11. 1 奇偶校验 .，、飞每个编码字符都应使用奇偶校验位。奇偶校验位的值定义为每个字符所记录的1的总数(包括奇偶校验位在内应为奇数。11. 2 纵向冗余校验(LRC)每个数据磁道都应有纵向冗余校验(LRC)字符.LRC字符应被编码，以便按起始符、数据和结束符的顺序方向读卡时，LRC字符紧跟在结束符的后面。LRC数据的位构成与数据字符的位构成相同。LRC字符应用下列步骤计算zLRC字符中每一位不包括奇偶校验位的值规定为z它使数据磁道上所有字符相应位位置上的编码为1的总数包括起始符、数据、结束符和LRC字符)为
22、偶数。LRC字符的奇偶校验位不是对相应数据磁道的各个校验位的那种校验位，而是仅按11.1中描述的对被编码的LRC字符使用的奇偶校验位。15 GB/T 15120.2-2012 12 编码磁道的位置每个编码磁道应位于图11所示的两条线之间。编码应开始于起始符第一个1数据位的中心线，结束于纵向冗余校验码的最后一位的中心线(最后一位是奇偶校验位。上基准边缘编码磁道单位为毫米符号第1磁道第2磁道第3磁道最小8.33最小11.63 a 最大5.79 最大9.09最大12.65b 最小8.33最小11.63 最小15.19最大9.09最大12.65最大15.82c 7.44土1.00 7.44土0.507
23、.44士1.00 d 最小6.93最小6.93注z所有磁道都有最小宽度2.540图门编码磁道的位置16 GB/T 15120.2-2012 附录A(资料性附录磁条的读兼容性(GB/T15120.2和GB/T15120.6) 本附录的目的是向使用者说明z在采用GB/T15120. 2和GB/T15120.6时，在本部分范围内提到的术语读兼容性的局限性。在理论上，高矫顽力磁条应该具有较高的抗擦除能力，但在读出信号特性方面又希望其与低矫顽力磁条(这些磁条符合GB/T15120.2的规定)相同。然而在实际上，高、低娇顽力磁条在磁特性方面的差别会产生读出信号幅度的差异，该差异在很大程度上取决于相关测量设
24、备。一般而言，期望读出子系统对较短的记录波长有较高的灵敏度，以产生相对于低矫顽力磁条读出信号幅度更高的高矫顽力磁条读出信号幅度。因此，GB/T15120.6的使用者应注意这样的事实，要获得与符合GB/T15120. 2的磁条可比较的读出信号幅度依赖于在ISO/IEC10373-2中给出的精确的测试环境的重建。17 GB/T 15120.2-2012 附录B(资料性附录磁条的研磨性本附录的目的是解释为什么磁条的研磨特性和与之有关的磁头寿命不在本部分的物理特性中规定。对研磨特性的省略反映了定义研磨参数和设计准确的、可重复的测量研磨特性的测试方法的困难。尽管没有可以重复的测试方法可用，但已知一些延长
25、磁头寿命的技术，如改良磁头材质、磁条配方添加剂或在磁条上加保护层。量化磁条研磨性似乎成为了尝试预测磁头寿命的先决条件。然而，正如不同的磁条其研磨性有很大的变化一样，这种情况同样存在于大量的磁条读写器环境中。即便指定了环境、机械和磁条的条件，由于影响研磨性的众多复杂因素的变化，预测磁头寿命仍然是极其困难的事情。当前，使用专门设备进行的相对比较基本的研磨性测试已经完成。它比较耗时，而且需要使用大量的卡，戚本较高。如此测试的结果也只能仅显示在规定的测试条件下某张卡比其他卡研磨程度多一点或少一点进行简单排序。在这方面没有一个准确的绝对数值，而且排序也可能因为条件的不同而改变。要进行一次成功的读出或写人
26、操作，要求磁条和磁头在整个操作过程中都要保持接触。磁条和磁头间的相对运动对两者都有磨损。开始的时候，磁条的研磨随磁头经过次数的增加下降很快，所以一个新的没有使用过的磁条的研磨性可能会比只写过一次的磁条高很多，但是随着磁头经过次数的增加，磁条研磨性的改变率就降低了。已知的影响磁条研磨性的因素包括温度、湿度、磁头材料(和它的磨损和耗尽的状态、磁头压力、卡速度、与磁头接触时磁条表面的特殊物理特性、表面粗糙度以及磁条的污染等。在开放环境中堆积在磁头/磁条表面的灰尘、污物和油脂经常会导致与在实验室环境下测量出的研磨磨损产生很大的差异，而这是实际存在的。所以可以看出，不仅在涉及研磨性测试如何达到一个可以接
27、受的测量水平上存在困难，而且对于在实验室环境下测试出的研磨性结果如何预测在其真实环境中的表现也存在很大的疑问。除非这些问题都得到解决，否则就没有可用的标准规范和测试。18 . , 4 NFON|N.ONEH阁。华人民共和国家标准识别卡记录技术第2部分z磁条低矫顽力GB/T 15120.2-2012 国中铃中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(100045)网址总编室:(010)64275323发行中心，(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张1.5字数40千字2013年4月第一次印刷开本880X 1230 1/16 2013年4月第一版 书号:155066. 1-46945定价24.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107GB/T 15120.2-2012 打印日期:2013年5月8日F002A
