1、中华人民共和国国家标准一细7c HTL双4Detail specification for electronic component S emi conductor i ntegrated circui t -C H 21 HTL Dual 4 input NAND gate (可供认证用)UDC 521.3.049 .4 GB 7079 86 本规范规定了半导体集成电路CH2001型HTL双4输入与非门鉴定和质量评定的全部内容。木棍尼是按昭GB号96586 (半导体集成电路双极型门电路空白详细规范制订的，并符合GB 4589.1 84 (半导体集成电路总规范的要求。中国电子jL器件质量认证委
2、员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。国家标准局1986-12-14发布1987-10-01试行GB 7079一一4 若无其于金围。盟国咀KKE.明且唔q!Y咽气且F 数条款号符号单泣大4.1 工TA 一4085 C 4.2 Ts 一65150 C 4.3 电电压Vcc 一0.518 飞J一4.4 人电压V1 18 V 一-4.5 电11 一10mA 甲、-4.6 出电流10 30 mA -圄_d_._ ，_ J 一5 电工作条件和电特性的幢幢要求监冻规需第8且属。5.1 电工作条件若无其他规定，适用于全工作掘度范围。精-咽hm数值条款号符号单泣最大一5.1. 1 眠E五Vcc 13.5 1
3、6.5 V 一5.1. 2 人高电平电压V1 H 9 V 5. 1. 3 输入低电jt.电压Vr L 6.5 V 5. 1. 4 出高电半电流10H - 60 mA ._-町叩5. 1. 5 出低电乎电梳10L 14 mA 喝位著=刑1t回vd噩噩世击e报报哇也- 5.2 若尤其他规定，适用于全工范围。3 GB 7079一若受器件尺寸限制时，允许将检验批识别代码、质7 订货资料若无其他规定，订a. 准确的型号，b. 详细规范的国家编号，C. 质量评定类别。8 试验条件和检验要求要下列资料:别标在抽样要求z根据采用的，按GB4589.1 84 3.6.2款表6和表7A 求AQL 分组E 类检查水
4、平(JL)AQL Al II 0.65 A2 H 0.1 A3 E 0.15 A 4a S 4 1. 0 A 4b S 4 1. 0 A5 S 4 1. 0 B组、C组和D组检验的LTPD 分组E类A B C D B 1 15 15 15 15 C 1 30 30 30 30 C3 15 15 15 15 B 4 , C 4 15 15 15 15 B 5 20 20 20 20 C 6 20 20 20 20 C 7 20 20 20 20 B 8 , C 8 5 7 10 10 C 9 5 7 15 15 Cll 20 20 20 20 D8 5 7 10 10 面。E 15 。15 15 20 20 20 10 15 20 10 5
