1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20074-92 半导体集成电路JJj8255A型可编程外设接口详细规范199211一19发布1993-0501实施中华人民共和国机械电子工业部发布自次-at-111吁南句，守自?A呻A崎A呻A叶A崎5吨旷qd瓦udUAV-ti-111且17M吨，1itiItA11吨，句JMqIHq由句，hqh句，hqu句，由此H寸川川川HHHH规义尺般定形HH和外覆分H验的号席UHH划川HH检uHHH最符川川构和求的陡验性欠如什罔川iH求结料um妇组如检H验致去求、试料明13也什哭、材性验路、诚和检一方各要尊测资说性题旧类文细计线特试志也保样选定量险准枝罪于货能代
2、作用中上边分川求详戊引-U山札攻擂抽筛鉴质检货包明关订功替操引要-11质ld交说117M1w11句JM句JA吨，3正V寸，-7咱Jd叶qd111i叮品句JAUTqMtit-1117M句3句31d句3句3、31旷句JA呻A呻A崎A崎ATA吨，、dzJJArourorO/O中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路SJ 20074-92 JJ.l8255A型可编程外设接口详细规范1 范阁1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路J8255A型可编程外设接口(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范嗣本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规?在对微电路按器件型号、器件等级、封装形式
3、、额定值和推荐工作条件来分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 (微电路总规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号器件名称J8255A I 可编程外设接口1. 3. 1. 2 器件等级器件等级为GJB597第3.4条规定的日级和本规范规定的日l级。本规范中未对Bl级另加说明的条款应理解为与日级相同。1. 3. 1. 3 封装形式时装形式如F:字母D 封装形式1)D40L3 (40号|线陶器双列封装)C C44P3 (陶资无号|线片式载体封装)注:1)按GB7092 半导体集成电路外形尺寸。1.3.2 绝对最大额定值绝对最大额定值如-f:中华
4、人民共和国机械电子工业部1992什卜19批准1993阳05响。1实施SJ 20074-92 数值参数符号单位最小最大任一引出端相对于Vss端的电压VPG 叫0.57.0 V 贮存温度范罔Tstg -65 150 。c功耗Po w 引钱耐焊接温度(5s) 凡一270 。c结温(Tc=1250C)巧一150 。c1.3.3 推荐工作条件推挥工作条件如下:数值我且数符号最小最大单位电湘电压Voo 4.5 5.5 V 输入高电平电压VIH 2.0 Voo V 输入低电平电压V1L 甲0.50.8 V 外壳工作制度部隅Tc 55 125 。c2 引用文件GB 343 1.1 82 半导体集成电路文字符号
5、电参数文字符号GB 3431.2-86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB459卜84半导体集成电路机械和气候试验方法GB 7092-93 半导体集成电路外形尺寸GJB 548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597 88 微电路总规范。JB/Z105 电子产品防静电放电控制手册3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3. 2. 1 引出端排列引出端排列应符合囱l的规定。引出端排列为俯视图。呵-4SJ 20074-92 PA4 PA5 PA6 阳mRESET 。VDD PB7
6、 PB6 PB5 PB4 PB3 D2 D4 D6 D7 40 39 38 37 36 35 D3 D5 24 23 22 21 19 20 。134 32 30 29 27 26 28 25 17 18 PA3 PA2 PAl 时-mM一5 6 33 31 7 10 11 12 14 15 16 13 8 9 Vss Al AO PC7 PC6 PC4 PCO PCl PC2 PC5 NC 阻SET00 01 02 03 04 D5 D6 01 NC e吨-、晴-句回队俗民叫仇。叫屈目昆;235:2问问。咱南Ci，配，-654012川MHAnAn户h川队圳俨U俨UFUFU俨btvpapaPA
7、DAPADAP-PC3 PBO e吨咽口，叫咱e吨哩跑酬._. 坦居纪应纪EE量3崔PBl PB2 现列封装号|出端排列片式载体封装引出端排列句d引出端排列罔13.2.2 功能框图功能抵图应符合罔2的规定。氏。一厂WR Al AO 民巴SETSJ 20074-92 IF习1O PAOPA7 1/0 PC4PC7 110 CS 斗寸丑hVO 国2功能概因3. 2. 3 功能说明、符号和l定义功能说明、符号和|定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4 封装形式封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和除覆引线材料和1涂覆，应按GJB597第3.5.6的规定。3.4 山忡性山
8、特性问符合农l的规定，若无其它规定，远合于全1:作泪皮范隅。3.5 山试验要求各级摇件的电试验要求，应为农2所规定的有关分剑，各分细的l!测试按表3的规定。3.6 际点怀忐向按GJB597第3.6条的规定。3. 7 址盼到的划分4 SJ 20074-92 本规泪所陆及的器件为第107做电路组(见GJB597附录E)。表1电特性序号1)特性符号条件2)规?也值单位时序最小最大阁输入低电平电压Vn 甲0.50.8 V 2 输入商电平电JI叫2.0 VDD V 3 输出低电平电1liVOL(DB) IOL = 2.5 mA 0.45 V (数据总线)4 输出低电平电压VOL(PBR) IOL = 1
9、.7 mA 0.45 V (外设端口)5 输出商也平电庇VOH(DB) IOH需币400A2.4 V (数据总统)6 输出离i电5jl电压VOH(PER) 10日出叩200J.lA 2.4 V (外设端口)7 达林顿!MR功电流IOAR 时1.04.0 mA (B和C端口)电源电流100 120 mA 9 输入负载电流II VI口VOO到ov-10 10 J.lA 10 高朋$泄漏电流IOZ VO = Voo到0.45V -10 10 A 11 输入电容C, Tc=250C, VDD =0 V, 10 pF 产1MHz 12 输入/输出电容CIIO Tc=250C, VDD =0 V, 20
10、pF 产1MHz，未测端接地13 读信号前地扯建Isu(AV-RL) 。ns 7, 13 立时间14 读信号结束后th(RH-AX) 。ns 7, 13 地址保持时间15 读脉冲宽度tw(RL) 300 ns 7, 13 16 数据有效延迟时td(RL悦。X)CL柑100pF 250 ns 7, 13 问(从READ开始)17 读信号结束到数td(RH-OZ) 10 150 ns 7, 13 据总钱?手出时间18 两次读戚写之间tW(R) 850 ns 的时间间隔tW(W) 19 写信号前地址建Isu(AV叩WL)。ns 8, 12 业时间，、d序号1)特性符号20 写信号结束后地tb(WH明
11、AX)址保持时间21 写脉冲宽度tW(WL) 22 数据有放到写信tsu(DV-WH) 号结束的时间23 写信号结束后的th(WH-DV) 数据保证时间24 WR=l到输出时td(WH-OV) |啕25 RD前外部数据tsu(IV-RL) 输入时间26 RD后外部数据th(RH可IX)保持时间27 ACK脉宽tWfACKL) 28 STB脉宽tWfACKLl 29 STB结束前外部tsu(PERV叩STRH)数据建立时间30 STB结束后外部tb(STBH-PERZ) 数据的保持时间31 从ACK=O到输td(ACKL唰PERV)出有效延迟时间32 从ACK=l到输td(ACKH-PERZ)
12、出得出延i息时间33 从WR=1JiU td(WH-OBFL) OBF嚣。延迟时间34 从ACK=O到td(ACKL-OBFH) OBF=I延迟时间35 从STB=O到td(STBL-IBFH) IBF=1延迟时间36 从RD=I到td(RH-IBFL) IBF齿。延迟时间37 从RD=O到td(RL-INTRL) INTR=O延迟时问6 SJ 20074-92 续表1条件2)吼叫OOpFCL嚣100pFCC=100 pF 规范值最小最大20 400 100 30 350 。一。一300 500 一。一180 300 20 250 650 350 300 300 400 单位波形图ns 8,
13、12 ns 8, 12 ns 8, 12 ns 8, 12 ns 8, 12 ns 7 ns 7 ns 10, 11 ns 11. 9 ns 11 , 9 ns 9. 11 ns 11 ns 11 ns 10. 11 ns 10. 11 ns 9. 11 ns 9. 11 ns 9 SJ 20074-92 续农l序与1)特性符号条件2)规范值单位波形最小最大图38 从ST8=1到td(STBHINTRH) C(=IOO pF 300 ns 9 INT只注1延迟时时39 从ACK叫到td(ACKH-INTRH) 350 ns 10 INTR=l延JlS时问40 从WR=I到td(WLINTRL)
14、 450 ns 10 INTR=O延j时|可陀:1) ，中;表中参数的序号与时序阁中参数的编号是一致的;2) tr元Jt它规定，Tc如叩55125吧，VDD=知0.5V, Vss=O V. 表2电试验要求试验史;求分组(见表3)8级器件81级器件中|问(在化前)ft!，测试(方怯Al. A7 Al , A7 5004) 最终也测试1)AI, A2 , A3 , A7 , A8 , A9 , AIO , Al , A2，人3，A7 , A9 (方法5004)All A细试验要求2)AL A2 , A3 , A4 , A7 , A8 , A9 , Al , A2 , A3 , A4, A7 , A
15、9 (方法5005)AIQ , All B组VZAP试验见本规范4.5.3条见本规地4，5.3条C细终点Il!测试A2 , A3 , A8 A2 , A8 (仅1250C)(方沾5005)C组枪验增加的分组不要求AIQ , All D组终点也测试A2 , A8 (仅1250C)A2，人8(仅1250C)(方法5005) 注:1) Al、A7分组要求PDA计算(见本舰也4.2条)。2) A4分组CCj、Cl/O)仅用于鉴定(见本规泪4.4.1条)。呵，吨队nL叩dHenHv旧刷川一由M2日.iumb土mA EU叫句Jnb叩表分组序号符号条件规?在值单位时序最小最大因A1 V!L 币。.50.8
16、V 2 川日2.0 VOO V QL(OB) IOL =2.0mA 0.45 V 4 VOL(PERl IOL =1.7 mA 0.45 V 5 VQH(OB) IOH =-400A 2.4 一V 6 VOH(FER) IOH=叩200A2.4 V 7 IOAR 由1.04.0 mA 8 IDD 120 mA 9 Iz 川口VDDJ0 V 斗。10 A 10 Iz VO= VDO到0.45V 10 10 A A2 除Tc叶250C外，参数、条件、圳市值均问A1分细。A3 除Tc=-550C外，参数、条件、规?也值均向人1分姐。A4 11 C1 VOO=O V，产1MHz 10 pF 12 CI
17、IO VOO=o V, 1=1 MHz米测试一20 pF 端接地A7 TC=250C, t在6.2条规定，在VOD叫.5V和VOD=5.5 V下分别进行功能测试。A8 除TC=1250C和-550C外，均问A7分组。A9 13 tsu(AV-RLl 。ns 7, 13 14 th(阳AX)。ns 7, 13 15 tW(RLl 300 ns 7, 13 16 tg(_RL-DXl CL拮100pF 250 ns 7, 13 17 td(RH-DZ) 10 150 ns 7, 13 18 tW(民)850 ns 19 tsu(AV-WLl 。ns 8, 12 20 Ih(WH-AX) 20 一n
18、s 8, 12 21 tWIWLl 400 ns 8, 12 22 !Uy气WH)100 ns 8, 12 23 th(WH-DXl 30 ns 8, 12 24 tdlWHOV) CL=100 pF 350 ns 8, 10 25 tsu(!VRL) 。一ns 7 26 thlRHIX) 。ns 7 27 IWIACKLl 300 ns 10, 11 28 tWISTBLl 500 ns 9, 11 29 tsu(PERVSTBHl 。ns 9, 11 30 th (STBH-PERZl 180 ns 9, 11 nxu 分组AIO AI1 序号符号31 td(ACKL-PERVl 32 t
19、d(ACKH-PERZl 33 IdfWH-OBFLl 34 tdfACKL-OBFHl 35 td(STBL-IBFHl 36 tdfRH-IBFLl 37 tdfRL由INTRLl38 tdfSTBH-INTRHl 39 td(ACKH.丽斗帽帽帽.INTRH)40 fd(WL-INTRLl SJ 20074-92 续表3条件吼叫OOpFCL出100pF 除Tc=1250C外，参数、条件、规范值均同A9分组。除Tc=-550C外，参数、条件、规?在债均同A9分组。规范值最小最大300 20 250 650 一350 300 一300 400 300 350 450 1.5 kn C工于一刊
20、队。一叫:工扣一一单位ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns l 电掘|Rl 中CI接被测器件注:Rl取合适的限流电阻: Cl=100pF士20%; VZAP =400 V，在棒件输入端上fJ!得:脉冲转换时间(tTLH)50 ns (10%-90%)。罔3高电压(几AP)试验电路披形韶11 11 10, 11 10, 11 9, 11 9, 11 9 9 10 10 9 -SJ 20074-92 注:引出端PAOPA7力n频率为1kHz的方被:引出端DO-D7接150pF电容:引出端RESET开始时置1，然后接地。因4老化和寿命试验线路阁2.4 :测叫:0.45 剧5交流
21、测试输入/输出波形剧一10一SJ 20074 92 VEXT 性:1)在测试时。VEXT可根据规部值设景不阔的电压。回6交流测试负载电路盹均气自.圳、N)07-嗨甲一-一一一因7方式。基本输入时序阁I 07制 囚.Al俯输出阁8方式。基本输出时序图 11 -引百IBF lNTR m 来自外设-阳SJ 20074-92 -阳剧由町-白白白-的如_/一原即ltrR 啕. m飞r输出一12因9方式l选通输入时序图因10方式l选通输出时序因SJ 20074-92 m OBF INTR ACR 如El eF 外罔总统时-叩响忡叩叩-m 从外设7f:8225A的数据;M阳外烛的数第从8255A至8080A
22、的数据沌:ACK前WR出现和RD前百BtH现处的任何时序都是容许的。(INTR口IBF.MASK-STB.RD.tOBF.MASKACK.WR)。图11方式2地通双向总线输入/输出时序图二QR 因12写周期时序阁竹、JW1i SJ 20074-92 AQ唰-111.cs 图13读周期时序图关于方式。、方式1、方式2的定义如下表所示:们111端方式。输出输入输入PAO IN OUT IN PAl IN OUT IN PA2 IN OUT IN PA3 IN OUT IN PA4 IN OUT IN PA5 IN OUT IN PA6 IN OUT IN PA7 IN OUT IN PBO IN
23、OUT IN PBl IN OUT IN PB2 IN OUT IN PB3 IN OUT IN PB4 IN OUT IN PB5 IN OUT IN PB6 IN OUT IN PB7 IN OUT IN PCO IN OUT INTR PCl IN OUT IBF PC2 IN OUT STB PC3 IN OUT INTR PC4 IN OUT STB PC5 IN OUT IBF PC6 IN OUT I10 PC7 IN OUT 1/0 14 方式l方式2输出仅用于A组OUT 110 OUT 1/0 OUT 1/0 OUT 1/0 OUT 1/0 OUT 1/0 OUT 1/0 O
24、UT 1/0 OUT OUT OUT OUT OUT 一OUT OUT OUT 一INTR 110 OBF 1/0 ACK 110 INTR INTR 一1/0 STB I/O IBF 一ACK ACK OBF OBF SJ 20074-92 4 质量保证规定4.1 抽样和检验若无其它规定，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和表5的规定进行筛选。表5筛选程序若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。项目方法和条件说明8级器件Bl级器件内部自检方法2010，试验条件B方法2010
25、，试验条件日稳定性烘陆(不方法10邸，试验条件方法1008，试验条件要求终点测量)C: 24 h, 1500C C: 24 h, 1500C 温股循环方法1010，试验条件C方法1010，试验条件C可用方法1011试验条件A替代。假定加速度方法21，试验条件方陆2001，试验条件日，仅Yl方向D，仅Yl方向目检盯在密封筛选后进行。号|钱脱嚣，外壳破裂、封蔬脱部为失效。中间(者化前)Al , A7分组A1. A7分组由制造广选择是否进行。电测试老化方法1015，试验条件。方法1015，试验条件P采用本规范阁4所示的线路戚E，125吧，160 h 戚E，125吧，160 h 成与其等效的线路。中间
26、(者化后)Al , A7分组Al , A7分组电测试PDA计算5% 10% 按Al、A7分组，着老化前未进行中间电测试，那么老化后Al，A7分组输出的所手了失效数都应计入PDA.者老化前进行中间电测试，那么老化筛选前引起的失效数不计入PDA。最终rt!，测试A2 , A3、A8、A9、AI0、A2、A3、A9本项试验后，带改变器件的AlI 引线涂覆政者返工，则应再进行Al和A7分组试验。、ME-帽SJ 20074-92 续表5若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。项目方法和条件8级器件Bl级器件留封方法1014方法1014细检漏粗检漏外部自检方法2009方法2009鉴定就质量
27、一致方法5005方法5005性检验的试验样3.5条3.5条品抽取4.3 鉴定检验说明鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB548方洁5005和本规范A、B、C、D组检脆(见本规?在4.4.14.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验质最一致性检验应按GJB597第4.5条罪日本规范的规定。所进行的检验应符合GJB548 方法5005和本规范A、日、C、口组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按表6的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分姐的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一组样本进行，当所要求的样本大小超过批
28、的大小时，允许100%检验。合格判定数(C)最大为20表6A组检验LTPD 试验8级器件BI级器件Al分组2 2 250C下静态棚试A2分组3 3 1250C下静态测试A3分组5 5 白550C下静态测试A4分组2 2 250C下的动态测试A7分组2 2 250C下的功能测试A8分组最高和最低工作温度下的功能测5 不要求试币16时试验A9分组250C下的开关测试A10分组1250C下开关测试All分组时550C下开关测试SJ 20074-92 续表6B级器件2 3 注tA4分组仅在初始接定时和工艺戚设计更改后进行。LTPD Bl级器件2 不要求不要求 A9、AI0、All分细的验证参数仅在初始
29、擦定时和工艺戚设计;在改后进行。4.4.2 B组检验B组检验应按表7的规定。不要求终点电栅试的分组可用间一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表7B组检验若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验方法和条件样品数/(接收数)说明8级和Bl级器件成LTPDB1分组2/(0) 尺寸方法2016B2分组4/(0) 抗榕性方法2015B3分组15 LTPD系对引线数而可焊性方法2022成2003.焊言，假被试糟件数不接温度245土50C应少于3个。B4分组11(0) 内部目检和机械检查方法2014B5分组? LTPD系对键合数而键合强度方法2011，试验条件C，但被测器件数窒1 )
30、热压焊就D少4个。2) 起声焊B8分组15/(0) 仅在初始鉴定成产品1 ) 电测试A1分组(见本规施表2重新设计时进行。和表3)2) 静电放电灵敏应GJB/Z 105 3) 电棚试A1分组(见本规范表2和表3)B9分组15 附加分组。VZAP试验拗才C圳1古生在4.5.3条由17呻SJ 20074-92 4.4.3 C细检验C组检验网技表8的规定。表8C细检验若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。试验方法和条件样品数/(接收数)说明8级器件Bl级器件成LTPDCl分组5 确态却命方法1005，试验条方法1005，试验条件。，1250C, 1000 h 牛。，125 oC ,
31、 1000 h 终点屯测试A2 , A3莉1A8分组A2 , A3 (仅1250C)C2分组15 撤股循环方法1010，试验条方i去1010，试验条件C件C假定加速度方沽2001，试验条方法2001，试验条件D，Y1方向件D，Yl方向密封方法1014方法1014细检漏粗检漏目检技方法1010成1011技方法1010或1011的自柑判据的目检判据终点咆测试A2 , A3和A8分组A2 , A8 (仪1250C)C3分组3 125 oC下开关测不要求A10分组试C4分组5 -55 oC下开关测不要求All分组试4.4.4 D组检验。组检验应按表9的规定。不要求终点也测试的分细可用问检验批中电性能不
32、合格的器件作为样本。一18SJ 20074 92 表9D细检验若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。方法和条件ff品数/试验8级器件(接收数)Bl级器件鸟LTPO 01分组15 尺寸方法2016方法201602分组15 iJI钱牢|市|性方法2004，试验条方法2004，试验条件B2件B2衔封方法1014方法1014到11忡漏rll柿i届03分组15 热冲市方法1011，试验条方法1011，试验条件日，15次循环件A，15次循环温度循环方法1010.试验条方法1010，试验条件C，100次循环件C，10次循环抗潮泪方rt.1004 方法1004密封方法1014方法1014制精
33、漏相i检漏H枪战方;去1004和1010技方法1004和1010的口检判据的目检判据终点11:1测试A2、A8(仅1250C)A2 , A8 (仅1250C)C4分组15 机1喊冲汁f方法2002，试脆条方出2002，试验条件B件A变颇民功方法2007，试验条方法2007，试验条件A件A恒定加速度方陆2001，试验条方法2001，试验条件E，Y1方向件0，Yl方向密封方法1014方法1014俐阶漏半1I价漏口价技方法2002Bx; 2007 J究方法2002成2007的口价判据的口价判掘终点也测试A2 , A8 (仪1250C)A2、A8(1又1250C)说明片式载体采用试验条件。做抗潮温试验
34、时，对片式载体不要求引线弯曲应力的预处醒。Bl级器件可用GB4590第3.6条替代。时间:56 d 可在抗潮、温试验后和密封试验前进行。用于D3分姐的样品可用04分姐。19 SJ 20074-92 续表9若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验万法。方法和条件付日!数/验8级器件BI级器件(接收数)成LTPDD5分组15 !iJ;荔方法1009，试验条方法1009，试验条件A件A密封方法1014方法1014自11价漏相l1市漏口价fj，(方法1009的时检技方法1009的目价判掘判据D6分组3/(0)土&内部水汽-;i方法10凹，100 oc 不要求5/( 1) 占M区时最大水汽含量
35、为5000 ppm D7分削15 I统涂穰粘方法20252025 附强度4.5 检验方法检验方法按F列规定。4.5. 1 山尿不II电流说明Jt式载体不要求才|战rth 应力的预处理。对BI级器件，ili使用方习、求时，盐雾试验可小做。当试验3个器件出现l个失效时，可力r1试两个器件并且不失效。若第l次试验样品(3个成5个器件)失效，可在鉴定机构认可的另一实验室进行第二次试验。若试验通过，则i去批即被接收。LTPD系对号|钱数而奇不选用于片式载体。若无其它规定，所有给出的电压均以器件地端为基准。所有电流均以流入引出端的电流为正。4. 5. 2 右化和!寿命试验冷却程序被试器件(DUT)在完成老
36、化和寿命试验后，JIZ先冷却到35oc，然后再去掉偏置，最后在25oc t:进行也参数终点电测试。4. 5. 3 输入保护电路的高陀(几AP)试验被试器11:(DUT)的所有输入端(最多四个)，问:经受白光4:!到400V的100pF也容产生的山Jf脉冲。该破坏性试验问按下列规定进行:20 a. 在250Cr，按农3的规定测量选定输入端的llL丰IlllHb. 把试验也1I(VzAP=400 V)加到边作漏山流削撞的问一端子上。按如F的顺序如剧3的试验线路施加VZAPO1 )输入(一)至VSso2)输入(+)烹VssoSJ 20074-92 如果几AP试验后，被试器件CDU丁)的漏电流超过规定
37、的规范值，则该器件视为失效。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 关于测试欠聋的一般规定肘子:自流参数、交流参数和1功能测试的欠量表，由制造广白行规定。测试欠量表应保证检验归路的全部功能以及满足直流参数平fl交流参数测试的要求。为了便于使川和哺商测试效率，建议将矢锺表分为若干段，以适应各个分姐和各个类型测试对测试欠堪的要求。6. 2 订货资料采购文件应规定列内容:a. 完成的器件编号(见本规范1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器1相内的检验批质量一致性数据的要求。C. 需要时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品或工
38、艺更改时通知采购单位的要求。e. 需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证边择的要求。g 需要时，对特殊载体、引线长f变成引钱形式的要求。h. 对认证标志的要求。i. 需要时，其他要求。6. 3 功能说明、符合和定义本规范所用的功能说明、符合和定义按GB343 1. L GB 3431.2和GJB597的规定，并作fYU补充:21 SJ 20014 92 符号名称1/0鞋功能说明DO-D7 现向数据1/0 此8位观向数据总统和系统总线相连接，在CPU执总线行输入戚输出指令时，通过它们发送或接收数据，也通过它们传法控制字和状态
39、信息。CS 片选当它输入低rg51.时，允许J8255A和CPU交换信息。RD 读当它输入低电平时，允许J8255A把数据戚状倍息送到数据总线上，即允许CPU读J8255A.WR 写当它为低电平时，允许CPU将数据或控制字写入J8255A。AO , AI 端口选择。这两个输入信号和RD、W民一起，用于端口和控制和l字寄存器的选择。它们通常和地址总绒的最低两位(AO和Al)连接。RESET 复位当它为高电平时，控制寄存器清0飞所有端口置为输入模式。PAO-PA7 端口A1/0 8位现向端口。PBOPB7 端口B1/0 8位现向端口。PCOPC7 端口C1/0 8位现向端口。此端口在模式控制下可以
40、分为两组4位均端口A和端口日配合使用，作为控制倍号输出或者状态信号输入。VDD 5V电源Vss OV电源6.4 替代性本规?在规定的微电路，其功能可替代普通工业用器件，普通工业用器件不能替代本规范规定的器件。6.5 操作MOS微处理器件的操作必须采取一定的防护措施，以避免由于静电积累引起的损坏。虽然在芯片中己设计有输入保护电路，具有一定的抗静电能力，但还需推荐下列操作措施:a. 器件应在具有导电和接地表面的工作台上操作。b. 试验设备和器件应接地。C. 测试者要通过导线接地，并尽量不触摸器件引线。d. 器件应存放在导电泡沫材料或容器中。e. MOS器件避免使用塑料、橡胶、丝物。吨Mqh SJ 20074-92 附加说明:本规?自由中国电子工业总公词科技质量同提出。本规?自由机械电子工业部电子标准化研究所归口。本规范机械电子业部第四十七研究所负责起草。本规范主耍起草人:张继勇崔悔玲吴佑华古国凡。计划项日代号:BOI049o 句、-w吁，制
