1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5962 SJ 20160-92 半导体集成电路JT54S194和JT54S195型S-TTL移位寄存器详细规范Detail specification for types JT54S194 and JT54S195 SHIFT RFGISTERS of S唰TTLsemiconductor integrated circuits 1992什卜19发布1993叫05-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布目次l 范围1.1 主题内容.1.2 适用范罔.1.3 分类2 引用文件3 要求. 4 3.1 详细要求. 4 3.2 设计、结构和外形尺寸.4
2、3.3 引线材料和涂穰.。凡UAHV川、JF、旷分划求的要组性验路特试本电电电标微A崎P3fO呵/句、句、w句、JW饰、旷4 质量保证规定. . . .15 4.1 抽样和检验. . . . . . . . 15 4.2 筛选1. 1.15 4.3 鉴定检验. 17 4.4 质盘一致性检验. .17 A呻-A崎A且叮A丛吨，吁中句，阳qhH怯求方备要项验准怯议事检货包明交说，、uIA饨，、旷川、JVKU6.1 预定用途.24 6.2 订货资料.24 6.3 缩写、符号和定义.256.4 替代性.m中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路J丁548194和JT548195型8-TTL移位寄存
3、描详细规范SJ 20160-92 Detall specification for types JT54S194 and JT54S195 SHIFT RFGISTERS of S-TTL semiconductor integrated circuits 1 范隐1. 1 主题内容本规施规定了半睁体集成电路54S194和54S195型S-TTL移位寄存器(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用班回本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规也给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1.3. 1 器件编号器件编号应按GJB597 (微电路总规范第3.6.
4、2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号器件名称JT54S194 4位现向移位碍存棉(并行存取)JT54S195 4位移位寄存器(井行存取，J-K输入)1.3. 1.2 器件等级器件等级册为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式如1:中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准施町实lnU EU n nd nwu nv SJ 20160-92 字母封装形式(GB7092 (半导体集成电路外形尺寸) D D1683 (陶晓现列封装)F F16X2 (陶谶扁平封装)H H16X2 (陶器;悔封崩平封藩)J J1
5、683 (陶器熔封现列封装)1.3.2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:数值项目符号单位最小最大电源电!呈Vcc -0.5 7.0 V 输入电压V1 1.2 5.5 V 贮存温度汇tg叩65150 功耗1)Po 700 mW 引线耐焊接姑且度(10s) 凡300 结榻2)写175 段:1)器件应能级受测试输出短路电流(105)时所增加的功耗。2)除本规范4.3条老化试验外，结温不应越过175C。1.3.3 推荐工作条件推荐工作条件如下:数值项目符号单位最小最大电源电压Vcc 4.5 5.5 V 输入高电平电胀V1H 2.0 V 输入低电子电压V1L 0.8 V qiM 数值项目符号单位最小最
6、大输出l闻电平电流IOH 甲1000队A输出低也平电流IOL 一20 mA 工作环境漏度TA 一55125 。CCP Iw 10 脉冲宽度CR 12 一ns D 吨，Mt JT54S 194 tsu 11 一。输入5 建立时间SHILJTS4S195 11 ns CR无效态9 一保持时间tH 3 ns 一一一一一2 号|用文件GB 3431.1-82 半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431.2-86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3439 82 半导体集成电路L电路测试方法的慕本原现GB4590-84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728 .1 2-85 电气
7、图用图形符号二进制逻辑单元GB 7092 半导体集成电路外形尺寸GJB 548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597-88 微电路总规范GJB/Z 105 电子产品防静电放电控制手册句、-wSJ 20160-92 3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸胆战GJB597和本规施的规定。3.2.1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑剧和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视阁。a. JT54S194 逻辑符号外引线排列SRG4 苦衷Vcc DSL Mo 4 SJ 20160-92 逻辑罔b. JT54
8、S195 逻辑符号( 2 lDSR白白( 3 )DO嗣同时Qo( IS ) ( 9 lMO ( )01 Q1( 14 1 : 1 )CR ( 5 )02-: 11 lCP- 外引线排列SRG4 R MlSHIFiJ M2(LOADJ C3/1 . , ,., DDPM 。Vcc Qo QI Q2 俨、J逻辑罔( t )J ( 3 )K ( . iDO (10 lC P ( 5 1D1 ( 1沟R( 6 )D2 SJ 20160-92 圈1逻辑符号、逻辑图和引出端排列3.2.2 功能表和时序阁功能表和时序阁如下ta. JT54S194 功能表输CR Mo M1 CP DSL L X X X X
9、H X X L X 日日H X 民L 日X 日L 日X 日H L H 日L L L L X X 6 入DSR Do D( D2 D3 X X X X X X X X X X X dO d. d2 d) H X X X X L X X X X X X X X X X X X X X X X X X X 3(11，必输出QO QI Q2 Q3 L L L L Q QIO Q20 Q30 dO dl 也d) 日Q伽Qln Q2n L Q创Qln Q2n Q(n Q2n Q3n 日Qln Q2n L Q QIO Qzo Q30 SJ 20160-92 时序图CP .: 侃nEREmw cnw DSL
10、。0Dl D2 D3 0.,3 清毁中右移呻!忡ti移.:中禁止咿清除敝峪拂b. JT54S195 功能表输入输出CR SH/ LD CP J E Do D1 D2 D3 QO Ql Q2 Q3 Q3 L X X X X X X X X L L L L H 日L X X do d1 也d3 do d1 d2 d3 d3 日H L X X X X X X Q QlO Qzo Q30 Q30 日日L 日X X X X Q Q Qln Q2n Q3n H 日L L X X X X L Q阳Qln Q2n Q2n H H H 日X X X X H Qan Qln Q2n Q2n 日H H L X X
11、X X Qan Q伽Qln Q Q2n 7 时序图C: P CR J K m况BDO D1 D? D; Qo: Q. l : q2 : Q3 : 清除SJ 20160-一92垃:日为高电平;L为低电平:为低到高电平跳变;X为任意态;do、dl、d2、d3为矶、DI、D2、。3端的稳态输入电子;Qoo QIO Q20、Q30为规定的稳态输入条件建立前Qo、QI、Q2、Q3的电平;QOn Qln Q2n、Q3n为时钟最近的1前Qo、Ql、Q2、Q3的电平;d3为d3的补问:比。为Q30的补码:马、马20为QOnQ切的补码。3.2.3 电原理图制造厂在鉴定之前应将电原理即提交给鉴定机构。电原理回服由
12、鉴定机构存档备置。3.2.4封装形式封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4 电特性电特性应符合本规范表1的规定。-8叩SJ 20160-92 表1-1JT54S194的电特性条件1)规范值特性符号单位(若无其他规定，-55 CTA125 C) 最小最大输出高电平电压VO剖V=4.5 V, 削=2.0V, 10H=-1 000A 2.5 V 输出低电平电压VOL V=4.5 V, VIH出2.0V，VIL=0.8 V, IOL=20 mA 0.5 V 输入相位电阻V1K V出4.5V, lli(.嚣明18mA一-
13、1.2 V 最大输入电压时输入月V=5 .5 V, 川口5.5V mA 也流输入高电平电流IIH V=5.5 V, V(=2.7V 一50 A 输入低电平电流I(L V=5.5 V，叶0.5V一叫2mA 输出短路电流2)los V=5.5 V -40 叩100mA 电据电流l V=5.5 V 一135 mA 最大时钟频率从70 MHz V=5.0 V, tpHL RL=280 Q , 一25 CL=15 pF 2开呻任一Q传输延迟时间tpLH 一19 ns tpHL CP叶任一Q一28 注:1)完整的测试条件列于表3.2)每次只能短路个输出端。由9卢SJ 20160-92 表1-2JT5481
14、95的电特性条件1)规范债特性符号单位(若无其他规定，-55C延TA二125C) 最小最大输出高电平电压V恤V=4.5 V, VIH2.0 V, 10H=叩1000A2.5 -V 输出低电平电压VOL V=4.5 V, V1H=2.0 V, V IL =0.8 V, 10L =20 mA 0.5 V 输入钳位电胀VK V=4.刊，IK=-18 mA -1.2 V 最大输入电服时输4 V=5.5 V，作5.5V mA 入电流输入高电平电流I削V出5.5V，叶2.7V50 IlA 输入低电平电流IL V=5.5 V，叶0.5V 一咱2mA 输出姐路电流2)I V=5.5 V -40 时100mA
15、电摞咆流l Vc=5.5 V 99 mA 最大时钟频率从Vc=5.0 V, 70 MHz tpHL RL=280 Q , 25 传输延迟时间吼叫5pF CR任-QIpLH 19 ns tpHL CP呻任一Q28 注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只能短路一个输出端。3.5 电试验要求各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分姐，各分组的电测试披本规范表3的规定。10 SJ 20160-92 表2电试验要求分组(见表3)项目8级器件B1级糟件中间(老化前)电测试A1 Al 中间(老化后)电测试Al l) Al l) 最终也测试A2 , A3 , A7, A9 A2 , A3 , A7
16、, A9 A组试验要求Al , A2 , A3 , A7, A9 , AIO , A11 AL A2. A3 , A7 , A9 C组终点电测试(方法5005)A1. A2 , A3 A1. A2 , A3 C组检验增加的分组不要求AI0. Al1 。组终点电剧试(方法5005)A1. A2 , A3 Al , A2 , A3 注:1)该分姐要求PDA计算(见4.2条)。表31JT54S194电测试分组符号引用标准条件规?在值单位GB 3439 (若无其他规定，几=25C) 最小最大A1 VOH 2.2 Vcc=4.5 V, Cp端接单脉冲，其余输入Vm=2.0V. 2.5 一V 被测输出IO
17、H-1 mA VOL 2.5 Vcc=4.5 V，。输入凡辑O.8V，其余输入ViH黯2.0V.一0.5 V Cp端接岛生脉冲，被测输出IOL=20mAVK 2.1 Vcc=4.5 V，被测输入依次IK=-18时 -1.2 V 11 2.11 Y=5.5 V，被测输入依次Vl=5.5V mA 1m 2.12 Vcc=5.5 V，被测输入依次Vl=2.7V一50 A I悦2.13 Vcc=5.5 V，被测输入依次VFO.5V -2 mA I 2.21 Vcc=5.5 V. Cp接脉冲，其余输入VIH=5.5V.被时40叩1mA 测输出接地Icc 2.25 Vcc=5.5 V, Cp端接单蹄冲，币
18、，DSR DSL矶， 135 mA M，接Vm=5.5V，其余接地A2 几拙125C，除V1K不测试外，参数、条件、规部值均问Al分组叩11叩SJ 20160-92 续表31引用标准条件规施值分组符号(若无其他规定，TA=25 C) 单位GB 3439 最小最大A3 几辑.55C，除y抵不测试外，丢在数、条件、规部值均间Al分组A7 功能Vcc=5.0 V，技功能表测试测试A9 儿皿3.10 Vcc=5.0 V, Mo端V，=5.0V，CR瞬时接地后接5.070 MHz V, Cp端按期2接一脉冲，DSR端接单脉冲，颇率为1/2fcp，其余输入端接地tpHL 3.5 16.5 ns 2元任-Q
19、IpLH 3.4 Vcc=5.0 V，见本规?在图212 IpHL 3.5 Cp叶任一Q18.5 AI0 儿踹3.10 TA=125 C，其他条件向A9分组56 MHz tpHL 3.5 几辅125C , Vcc踹5.0V，丽叶任Q25 ns 见本规市图2IpLH 3.4 一19 tpHL 3.5 Cp任-Q28 AI1 除1LZ叩55C外，参数、条件、规范值均间AIO分组表3JT54S195电测试引用标准条件规甜值分组符号单位GB 3439 (若无其他规定，TA=25 C) 最小最大AI VOH 2.2 Vcc=4.5 V, Cp接单脉冲，SHILD端作0.8V，其2.5 V 余输入町=2.
20、0V，被测输出端IOH俨f产$且乱.斗Q3) Y=4.5 V, CP端接单脉冲，CR端问=2.0V，其余输入端仲0.8V，被测输出端10H=.1mA(泪也)VOL 2.5 Vcc=4.5 V, Cp端接单脉冲，81灯而端叫啡.8V. 一0.5 V 其余输入只=2.0V，被削输出IOL=20mA (测(h)由12叩SJ 2016非问92续表32分组符号引用标准条件规施值单位GB 3439 (若无其他规定.TA=25.C) 最小最大人lVOL 2.5 Vcc=4.5 V. CP接单脉冲，而端只=2.0V.其余一0.5 V 输入端问=0.8V.被削输iliIOL =20 mA(测QO-Q3)VIK
21、2.1 Vcc出4.5V.被测输入依次IIK=-18mA一-1.2 V 人2.11 Vcc=5.5 V，被测输入依次问=5.5V 一mA IIH 2.12 Vcc=5.5 V，被测输入依次叶2.7V一50 A 111 2.1 3 Vcc=5.5 V，被测输入依次问，=0.5V 一叩2mA Ios 2.21 Vcc=5.5 V, CP端接单脉冲，SH/LD端川剧0.8V, 时40100 mA 其余非被测输入端擦咛5.5V (测Q3时CR端接地)，被圳输出端接地Icc 2.25 几c=5.5V, CP接单脉冲，CR端V=5.5V，其余99 mA 接地A2 凡=125C，除y恨不测试外，参数、条件、
22、规施值要求同人1分组A3 TA= -55 .c，除VIK不测试外，寥数、条件、规施债要求问Al分组功能Y=5.0V，按功能表测试A7 测试A9 儿皿3. 10 几c=5.0V，K输入端叶。V，CR瞬时接地后接5.070 一MHz V. CP端接输入脉冲，其余输入叫=5.0VtPHL 3.5 16.5 2开吨任一Qns tpLH 3.4 几c=5.0V，见本规范图212 tlHL 3.5 CR叶任一Q18.5 AI0 儿拙3. 10 几=125.c，其余条件同A9分组56 一MHz tpHL 3.5 一25 ns TA=125 c，几c出5.0V，百吨任QtpLH 3.4 见本规班图219 tp
23、HL 3.5 CR任一Q一28 All 除TA=-55c外，参数、条件、规ro.僚均问AI0分组句、w. 负载线路滤形图按器件被捕输出端a. JT54S194 。输入输出一14-Vcc OV 3V -叫-OVSJ 2016(一92b. JT54S195 输出3V i ov CP输.D输入v DSl输入v VOH 。L注:RL=280Q士5%，CL据15pF士10%(包括探头和央具电容)，二极管为2CK76或其等放型号。矶，M(输入:St产11ns; CR输入:Iw担12ns, f 1 MHz, Isu=9 ns; D输入:Iw咔肘，tsu=5 ns, tH叶ns，fl MHz; CP输入:tw
24、叫Ons，!这;2MHz (剧;如呻任-QtPHL时，f二1MHz) ; DSL输入:tw叶肘，tsu=ll ns , f2 MHz. 剧2负载线路和波形阁3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3. 7 微电路组的划分本规?也所涉及的器件为第12微电路组(见GJB597附录E)。4 质最保证规定4.1 抽样和l检验除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法55的规定。4. 2 筛选，飞wEa SJ 20160-92 在鉴定检验和质锺致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。表4筛选程序若无其他规定，表中采用的方法系指GJ
25、B548的试验方法。条件和要求项目8级器件B1银器件说明方怯条件1.法条件内部目检2010 试验条件82010 试验条件日(封帽前)稳定性烘焰1008 试瞌条件C1008 试验条件C(不要求终(150 C , 24 h) (150 C. 24 h) 点电测试)掘度循环1010 试验条件C1010 试验条件C可用方法1011试验条件A替代。恒定加速度2001 试验条件E.2001 试验条件D.Y1方向。y1方向。目榆PJ:tE 商封筛选后进行。引钱断落、外壳破辑、封盖脱落为失效。中间(老化本规范A1分组本规部Al分组由制i在厂决定是否进行本前)电测试筛选。老化1015 试验条件。1015 试验条
26、件。采用本规艳阳3绒路.(125 C , 160 h) (125 C. 160 h) 中间(老化本规施A1分组本规拖Al分组后)电测试允许的不合明，本规也Al分姐，当不10%.本规范Al分姐，当不所有批。若老化前未进行格品率(PDA)合格品率不超过10%时可熏合格品且在不起过20%时可重中间电测试，则老化后中计算新提交老化，但只允许一新提交者化，但只允许一问(老化后)电糊试A1次。次。分组的失放也庶计入PDA , 一16-SJ 2016仕-92续表4条件和要求项目B银器件BI银器件说明方法条件方法条件最终也测试本规施A2、A3、A9本规市A2、A3、A9本筛选后，若引线涂覆改分组分组变戚返工，
27、则向再进行A1分组测试。黯封1014 1014 细检漏粗检漏外部日检2009 2009 鉴定或质;最5005 第3.5条5005 第3.5条一致性检验的试验样品抽取4. 3 鉴定检验鉴定检验应按GJ597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规泪4.4. 1 4. 4. 4条)的规定。4. 4 质量一致性检验质量一致性检验应按GJ597的规定。所进行的检验应符合GJ548的方法5005和本规范A，B、C和D组检验(见本规范4.4. 1 4. 4. 4条)的规定。4.4.1 A组检验A细检验应披本规范表5的规定。电试验要求按本规?在农2的规定，各分组
28、的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用个样本进行。当所要求的样本大小跑过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(C)最大为2.寸，EE-MM一验一四川一AS甲表LTPD 试验B级辙件B1级器件Al分组(25C下静测试)2 2 A2分组(125C下静态制试)3 3 A3分组(一55C下静态测试)5 5 A7分组(25C下功能跚试)2 2 A9分组(25C下开关测试)2 2 AI0分组(125C下开关测试)3 不要求All分组卜55C下开关测试)5 不要求a. JT54S194 6110 巾18SJ 20160-92 b. T54S195 Vcc 注:输入倍号:GA Ga 非100MHz，
29、命50kHz , q =50%。.7 V 2 V O. 7 V 码=2200土5%;R3=27 0士饵，叫值的选择应使器件比c端至少为5V。罔3老化和寿命试验线路4.4.2 B组检验日组检验应按本规范表6的规定。B1 -B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。19叩SJ 2016仕-92表6B组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项自B级器件Bj级器件(接收数)成LTPD方法条件方法条件B1分组2/ (0) 尺寸2016 2016 B2分组4/ (0) 抗梅性2015 2015 B3分组15 商I焊性2022戚焊接温度2022或焊接温度20
30、03 245 C 2003 245 C 日4分组1/ (0) 内部目检和2014 2014 机械性能B5分组7 键仓强度2011 试验条件试验条件(1)热压烨C戚D2011 C或D(2)相声焊B8分组15/ (0) (8)电参数不要求(b)静电放电灵GJB/Z A1分组敏度等级105 (c)电参数A1分组4.4.3 C组检辙C组检验应按本规?也表7的规定。叫20叩说明LTPD系对引钱数而，被试器件数服多于3个。盯在封装工序前的内部自枪后随机抽取样品进行本试验。仅在初始鉴定成产品3重新设计时进行。SJ 2016(卜-92表7C组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJ548的试验方法。条件和要求
31、项目8级器件BI级器件方法条件1J法条件C1分组稳态寿命1005 试验条件。或1005 试验条件D戚E (125 C. E (125 C. 1 000 h) 1 000 h) 终点电测试A1.川.A3分A1. A2. A3分组(见本规范组(见本规表2和表3)表2和袤的C2分组温度循环1010 试验条件C。1010 试验条件C。假定加速度2001 试验条件E.y1 2001 试跪条件D.Yl 方向方向密封1014 1014 细检漏粗检漏目检按1010的目检按1010的目判据检判据终点电测试Al.阳.A3分A1. A2. A3分组(见本规施组(见本规部表2和表3)表2和表3)C3分组不要求A10分
32、组125 C下开关测试(见本规范表2和表3)C4分组不要求All分组-55 C下开关棚试(见本规施表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规施表8的规定。样品数/(接收数)说明成LTPD5 采用本规范国3的试验线路。15 3 5 川、四、町、D6、肝、四分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。】21忡SJ 20160-卢92表8D组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目8级器件B，银器件(接收数)说明成LTPD1i法条件方法条件D1分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引钱牢固性2004 试验条件B2(片2004 试验条件归(
33、片状载体采用试验状载体采用试密封条件的验条件的细检漏1014 1014 粗检漏D3分组15 热冲击1011 试脸条件B，1011 试验条件A，15次循环15次循环描i度循环1010 试验条件C，1010 试验条件C，100次循环10次循环抗潮温1004 片状载体不要求1004 片状载体不要B1级器件允许按GB引钱弯曲应力的求引线弯曲应4590第3.6条严格预处理。力的预处理。度。进行试验。密封1014 1014 细检漏粗检漏目检按1010和1004按1010和1004B1银器件允许按GB因检判据目检判据4590第3.6条的自检判据终点电测试A1、A2和A3分A1、A2和A3分可在抗潮混后和雷封
34、组(见本规施表组(见本规施前进行2和表3)表2和表3)qh 叩iMSJ 20160-92 续表8若无其他规定，表中采用的方法系指GJ8548的试验方法。条件和要求样品数/项目B级器件B1级器件(接收数)说明戚LTPO方出条件方法条件15 04分组2002 试验条件B2002 试验条件A用于03分组的样品PJ机械冲击2007 试验条件A2007 试验条件A用于04分组变频振动2001 试验条件E，2001 试验条件0，恒JE加速度Yl方向Y1方向!封1014 1014 细检漏粗检漏自检指2002，2007 战2002，2007 目检判据自检判据终点也测试Al，阳，A3分Al , A2 , A3分
35、组(见本规范组(见本规施表2和表3)表2和表3)05分组15 盐婆1009 试验条件A，1009 试验条件A，对Bl级器件用户不要片状载体不要片状载体不要求时，可以不进行。求号|线弯曲应求引线弯曲应力的预处理力的预处理密封1014 1014 细检漏相检漏目检按1009的自检按1009的目检判据州据06分组3/ (0)戚内部水汽含;最1018 100 C时最大不要求5/ (1) 当试验3个器件出现l水汽含最为个失放时，可加试两个5 000 ppm 器件并且不失效。若第一次试验米通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验。若试验通过，则该批被接收。句、J吨，SJ 20160-92 续表8若无
36、其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。条件和要求样品数/项目日组器件B1级器件(接收数)或LTPD方法条件方忧条件D75姐15 说明创线涂覆粘附2025 不适用于片状2025 不适用于片状LTPD系对引钱数而强度载体载体E骂。D8分组5/ (0) 封最扭知2024 仅适用于熔封2024 仅边用于烙封陶器外先陶晓外先4. 5 检验方法检验方法规定如F:4.5.1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为基准。给定的电流以流入引出端为正。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB697第6.1条的规定。6 说明事项6. 1 预定用法符合本规洒的器件供新设备设计使用和供现有设备
37、的后勤保障用。6.2 订货资料采购合向服规定下列内容:a.完整的器件编号(见1.3. 1条)。b. 需要时，对器件制造广提供与所交付器件相应的检验批质量致性数据的要求。C.需要时，对合格证书的要求。d.需要时，对产品成工艺的更改通知采购单位的要求。e.需要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f.对产品保证选择的要求。g.需要时，对特殊载体、引线长度成引线形状的要求。币24时SJ 20160-92 h.对认证标志的要求。i.需摆时，其他要求。6嗣3缩写、符号和定义本规范所采用的缩写、符号和定义在GB3431.1 , GB 3431.2和GJB597中规定。6.4 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用襟件。但不允许用普通工业用器件瞥代军用器件。附加说日月:本标准由中国电子工业总公司提出。本标准由机械电子工业部第四研究所负责起草。本标准主要起草人:胡藕、童本敏、孙人杰。计划项目代号:901020 ，、J吨，和
