1、中FL 5962 SJ 20283 93 、l、刊I , 出T口口、坦、，Detail specification for types JT54LS 125、JT54LS126of quadruple bus buffer gates with three-state outputs LS-TTL semiconductor integrated circuits 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS125，JT54LS126型LS TTL四缓冲器(3S)详细规范1 范围Detail specifi
2、cation for types JT54LS 125、JT54LS126of quadruple bus buffer gates with three-state outputs LS-TTL semiconductor integrated circuits 1. 1 主题内容臼2028393 本规范规定了硅单片JT54LS125、JT54LS126型四总线缓冲器(3S)(以下简称器件)的详要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路
3、总规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号T54LS125 T54LS126 1. 3. 1. 2 器件等级器件名四总线缓冲器(3S)四总线缓冲器(3S.EN高电平有效)称件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式如下:中华人民共和国电子工业部1993-05-11发布1993-07-01实一1一字母C D F H J SJ 20283 93 封装形式1)口OP3(陶瓷无引线片式载体封装)D14臼(陶瓷双列封装)F14X2(陶瓷扁平封装)H14X2(陶瓷熔封扁平封装)J14臼(陶瓷熔封双列封装)注:
4、1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸。1. 3. 2 绝对最大额定值定值如下:JT54LS125 JT54LS126 项目符号最最大最电电压Vcc - O. 5 7.0 入电压V , - 1. 5 7.0 度Tstg 一65150 功耗1)Pn 110 引线耐焊接温度Th 300 (10s) 结TJ 175 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios)时所增加的功耗。1.3.3 推荐工作条件推荐工作条件如下:最- O. 5 - 1. 5 - 65 7.0 7.0 150 121 300 175 JT54LS125 JT54LS126 项自符电源电压Vcc 入高电平电压VIH 输入低电平
5、电压VL 输出!电平电流IOH 出低电平电流IOL 工作TA 2 51用文件GB 3431.1 82 半导GB 3431. 2 86 半导GB 3439 82 半导2一号最最大最4.5 5.5 4.5 2.0 2.0 0.7 -1 12 -55 125 - 55 成电路文字符号电参数文字符号成电路文字符号引出端功能符号成电路TTL电路测试方法的基本原理最5.5 0.7 12 125 单位大V V mW 单位大V V V mA mA 臼20283-93GB 4590 84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728.12 85电气图用图形符号二进制逻辑单元GB 7092 半导体集成电路外形尺
6、寸GJB 548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597 88 微电路总规范GJB X X X 电子产品防静电放电控制大纲3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。JT54LS125 逻辑符号引出端排列D、F，H，J型C型0( l 2EN A同44 -187-654 nuz-AA4A4A 唱且一却一u A-i nu 句，嚼，anuJ 均4567SFEE-wuum一Z凶啡、1EN
7、 1Y VEg lEN 1 14 2Y 1A 2 13 4EN 1Y口312 4A 3EN 主Y3A飞2EN 4 11 4Y - -4EN 4Y 2A 5 10 3EN 一一4A E 2yn6 _3A 9 GNDq7 8 3Y 逻辑图3EN 出2kg。二，-1A -tlt Vr1Y EN LEN 2A 1 t 飞71-2YEN 2EN 3A二1l飞71-3Y3EN 4.1毛4 1 v 4Y 3一SJ 20283一93JT54LS126 号引出D、F、H，J型C型,飞71Y lEN 1 14 vcc lA 1A ,4 EN 3212019 2Y 2 2EN( 4. - - 18 4A 1Y 4A
8、 - - 2A 3 5 17 节号. 16 -t 1J 3EN 3Y 2EN 4 lY 6 3A 5 7 2A 4Y .).4_3 EN 4Ell 2A8 2Y .6 4A 白咽01112GND Q7 8口3)!m LA3 TA = - 55t: , V1K不测试外，参数、条件、规范值要求同Al分组A7 Vcc =5V，按功能表进行试A9 PLH 3.4条EN接5VAY 15 丁PHL3.5条Vcc =5V, CL = 45pF , EN接5VA-Y 18 RL = 667 fJ PZH 3.6条A接5VEN .y 25 见本范图2115 tpZL 3.7条A接GNDEN Y 35 rpHZ
9、3.8条Vcc =5V, CL =5pF, A接5VEN-y 25 tpu 3.9条RL = 667 fJ 见围2A接GNDEN-Y 25 A10 才PLH3.4条T A = 125t: ，条件同A9分组AY 20 寸PHL3.5条Awy 24 丁PZH3.6条EN-Y 33 115 tpZL 3.7条EN , y 46 门面3.8条EN .y 39 tpu 3.9条EN .y 39 All TA = - 55t: ，参数、条件、规市值同A10分组负载线路试点Vcc RL st 被测输出端CL SkO 10一SJ 20283-93 电压波形3V 入1. 3V 1. 3V 。tpLH tpLH
10、输出1. 3V 1. 3V V佣VOL 传输延迟时间的电压波形EN输入(高电平允许)1.3V 1. 3V 3V vv av-3 入(低电平允许)1.3V 一一一出允许和禁止的电压波形注:5，闭合.52开启时测量tpzL; 5，开启.52闭合时测量tpZH; 5，闭合.52闭合时测量tp陋、tpLZ、tpLH和tPHl. 0 由t 町t均P阳阳吵LH、，tp仲P电容)。( RL = 667fl土5%。 所有二极管为2DK76或等效型号。 脉冲发生器:f = lMHz. Zo = 50.0. V m = 3V. t，豆豆15ns.tf 6ns。图2开关测试负载线路和电压波形图3.6 标志标志应按G
11、JB597第3.6条的规定。3.7 微电路的划分本规范所涉及的器件为第9微电路组(见GJB597附录E)o4 质量保证规定4. 1 抽样和检验除本规范另有规定外，抽样和程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选一11一SJ 20283 93 在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。若无其它规定，表4中采用的方法系指GJB548的试验方法。表4筛选程序条件和要求项目B级器件Bl级件说明方法条件方法条件内部目检2010 试验条件B2010 条件B(封帽(不要求终点电测1008 试件C1008 试验条件C(150t: 2
12、4h) (150t: .24 h ) 1010 试验条件C1010 试验条件C可用方法1011试验条件A替代f亘定加速度2001 试验条件E.2001 试条件D.11方向11方向自检可在密封筛选后进行。引断落、外壳破裂、封盖脱落为失效中间(老化前)电测本规范A1分组本规市A1分组由制造厂决定是试否进行本筛选老化1015 试验条件D或E1015 条件D或E采用本规范图3(125t: 160h) (125t: . 160h) 线路中间(老化后)电测本规范A1分组本规范A1分组试#存t比蒜老化部呆五百面不百军阳王茹于A1分组，当不合10% .本规范A1分组，当不合进行中间电测试，则(PDA)计算格品
13、率不超过20%时可重新提格品率不超过20%时可重新提老化后中间电测试交老化，但只允许次交老化，但只允许一次(老化后)A1分组的失效也应计入密封1014 1014 I P1JA 细检粗检漏最电测试规范A2、A3、本规范A2，A3、i选后，弓A7、A9分组A7、A9分组涂覆改变或返工.则应再进行A1分组测试外部目检2009 2009 一12一SJ 20283-93 续表4条件和要求项目B级件Bl级器件方法条件方法条件鉴定质量致性5005 第3.5条5005 第3.5条检验的试祥晶抽取a. JTS4 LS12S 4A b. JTS4LS126 Rz 1EN 1t EN .Jl._ G2 Rz lA
14、R 2ENI 2A I .J1_| R2 E 。t坠R2 3A R2 4EN E R2 4A 注:输入信号:I1 = 100kHz, 12 = 50kHz, q = 50 %方波V1L =0.5-0.7V, V1H =2-5.5V; (RI = 4700土5%，R2 =270土5%;V R3 R3和V选择应保证加在器件的实际电压至少为5V。4Y V R3 甲1Y I 2Y I 3Y I 4y 图3老化和稳态寿命试验线路说明R, R, RI 一13一SJ 20283 93 4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本
15、规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548的方法5005和本范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检验A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。合格判定数(C)2。表5A组检验LTPD 试骏B级器件B1 件Al分组(25(;下静态测试)2 2 A2分组(125(;下试)3 3 A3分组(-55(;下静态测试)5 5 A7分组(25(;下的功2 2
16、 A9分组(25(;下开关测试)2 2 AI0分组(125(;下开关测试)3 不要求All分组(-55(;下开关测试)5 不要求4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。B1-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其它规定，表6中引用的试验方法系指GJB548的。表6B组检验条件和要求样品数/项目B级器件B1级器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDB1分组2/(0) 尺寸2016 2016 B2分组4/(0) 抗溶性2015 2015 一14一臼2028393 续表6条件和要求样品数/项目B 器件Bl级器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDB3分组15 可
17、焊性2022 焊度2022 焊度LTPD系对引线或245t 或245t 数而言，件2003 2003 数应多于3个B4分组1/(0) 内部目检2014 2014 在封和打印后和机械性的任意工序抽取试验祥品B5分组7 键合强度2011 条件2011 试验条件可在封装工序(1)热压焊C或DC或D的内部目检后(2)超户焊机抽取祥品进行本试验B8分组15/(0) (a) 试本规范不要求仅在初始鉴定或(b)静电放电灵GJBX X X Al分组产品重新设计时敏度等级进行( c)电测试A1分组4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。若无其它规定，表7中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。表7
18、C组检验条件和要求样品数/项目B级器件Bl级器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDC1分组5 稳态寿命1005 试条件D1005 试条件D采用本规范图3或E或E的试验线路终点电测试A1. A2. A3 Al. A2. A3 分组分组(见本规范表(见本规范表2和表3)2和表3)C2分组15 温度循环1010 试验条件C1010 试验条件C15一SJ 20283-93 续表7条件和要求样品数/项目B级件B1级器件(接收数)说方法条件方法条件或LTPD恒定加2001 试条件E.2001 |试条件D.Y1方向Y1方向密封1014 1014 细目检按1010的目按1010的目检判据检判据终点电测试
19、A1. A2. A3 A1. A2. A3 分组分组(见本规范表(见本规m:表2和表3)2和表3)C3分组3 125C下开关不要求A10分组(见测试本规范表2和表3)c4分组5 -55C下开不要求All分组(见试本规范表2和表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。D1、D2，D5、D6、D7和四分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其它规定，表8中采用的试验方法系指GJB548的试验方法。表8D组检验条件和要求样品数/项目B级器件B1级器件(接收数)说方法条件方法条件或L丁PDD1分组15 尺寸2016 2016 D2分组15 引线牢性2004 试验条件B2200
20、4 试验条件B2(片状体采(片状载体采用试验条件用试条件D) D) 一16一明明SJ 20283-93 续表8条件和要求项目B级器件81级器件知如m口m唱U冉哦或说明方法|条件|方法|条件密封细检粗1014 1014 D3分组15 热冲击1011 试验条件8.1011 试验条件A.15次循环15次循环1010 |试验条件C.1010 试验条件C.100次环10次循环抗潮湿1004 片状体不1004 81级件可按要求引弯G8 4590第3.6 曲应力的预条，严格度:D处理密封1014 1014 细目|按1010和按1010和81级器件可按1004目检判1004日检判G8 4590第3.6 据据条
21、的目检判据终点电测试Al, A2. A3 Al, A2. A3 可在抗潮后分组分组和密封试验前(见本规范表(见本规范表进行终点电试2和表3)2和表3)D4分组15 机械冲击22 件B2002 试验条件A用于D3分组的样品可用于D4分组变频2007 试验条件A2007 试验条件A恒定加速度2001 试验条件E.2001 试验条件D.Y1方向Y1方向密封1014 1014 粗目检按2002和按2002和2007日检判2007日检判据据终点电测试Al, A2. A3 A l, A2. A3 分组分组(见本规范表(见本规施表2和表3)2和表3)17一SJ 20283 93 项目续表8条件和要求B级器件
22、B1级器件方法|条件|方法|条件如数m口明mu也嗨或说明D5分组15 人不弯预件体线的条载引力验状求应理试片要曲处huz 对Bl级器件用户要求时进行该分组密封I 1014 细粗目检按1009J目检判据时分组3/(0)或5/(1 ) 内部水汽含1018 1100t:时最大水汽含量为5000ppm 不要求当试验试3个器件出现1个失效时，可加试2个器件并且不失效。若第一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验。若试验通过，则该批被接收量D7分组引线涂覆粘附15 2025 I不适用于片I2025不适用于片状载体I状载体LTPO系对引线数而言08分组封盖扭矩5/(0) 2024 I仅适用
23、于熔I2024 I仅适用于熔封陶瓷外壳I封陶瓷外壳4.5 检验方法规定如下:4.5. 1 电压和电流所有给出的电压均以器件GND端为基准，给定的电流以流入引出端为正。5 交货准备一18一臼20283-935. 1 包装要求求应按GJB597第5.1条的规定。6说明6. 1 订货资料订货合同应规定下列内容:a. 完整的器件编号(见1.3.1条)。b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相对应的检验批质量一致性数据的要求。C. 需要时，对合格证书的要求。d. 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。e. 市安时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。f. 对产品保证选择的要求。g. 南要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。h. 对认证标志的要求。i. 需要时，其他要求。6.2 缩写、符号和定义本规范所采用的缩写、符号和定义按GB3431.1、GB3431.2和GJB597的规定。6.3 本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所起草。本规范主要起草人:李燕荣、孙人杰。计划项目代号:B01040。一19一
