1、中华人民共和准总规范Generic specification for image-converter tubes 内容和适用范围and image intensifier tubes (可供认证用)GB/T 1 41 82 93 本规范规定了变像管和像增强管(以下简称电子管)的质量评定程序，并给出了光电参数、机械、环境和耐久性的试验及测试方法。本规范由变像管和像增强管空白详细规范进一步补充。本规范适用于变像管(包括X射线像增强管)和像增强管及其组件的质量认证。2总2. 1 优先顺序无论什么理由引起矛盾时，各级规范(或文件)应按下列顺序执行。a. 详细规范;b. 总规范;c. 基础规范pd.
2、中国电子元器件质量认证委员会和国家有关文件pe. 其他引用的文件(如IEC文件)。2.2 有关文件GB 191 包装储运图示标志GB 2421 r - 2424 电工电子产品基本环境试验规程GB 2987 电子管参数符号GB 3100 国际单位制及其应用GB 4597 电子管名词术语GB 4728.5 电气图用图形符号半导体管和电子管GB 4857 运输包装件基本试验GB 5839 电子管和半导体器件额定值制GB /T 14184 变像管和像增强管测试方法IEC 410(SJ/Z 9007)计数位查抽样方案和程序IEC QC 001002 IEC 电子元器件质量评定体系程序规则ZZR/01一0
3、01中国电子元器件质量认证章程2.3 单位、符号和术语电子管所用的单位、图形符号、文字符号和名词术语应从2.2条有关文件所列的标准中选取。下列内容为适用于电子管的补充名词术语:国家技术监督局1993-02-20批准1993-10-01实施GB/T 1 41 82 93 a. 酬色:显示的颜色按图l所示的色度图来确定。b. 显示余辉:按表l规定。c. 正弦波图案:透射比按正弦变化组成的图案。.900nu n 震后到画飞、505 、0.600 570 、0.400 C 。、, , 蓝配0.600 z坐标输国i表1衰减到起始峰值10%的时间等级小于1阳大于18极短短中短中长极长110s 1 O 10
4、00f-ls llOOms 100msls GB/T 1 4 1 82 93 2.4 标志2.4. 1 电子管上应有如下标志:a. 制造厂商标Fb. 型号pC. 制造编号或出厂年、月;d. 合格标志或认证合格标志pe. 其他。2.4.2 包装箱上应注有符合GB191中有关要求的标志，对于认证合格产品应有认证合格标志。2.4.3 电子管采用了可能造成危害的材料时，应按国家有关安全要求注明。3 质量评3. 1 初始制造阶段初始制造阶段为真空管壳的组装，从初始制造阶段开始，应在被批准的制造厂监控之下，但不要求在同一地点完响。止把这些工序转包给其他制造单位(见IECQC 001002中第11.1.2条
5、)。3.2 结构相似的电子管当具有共同性能的几种被批准的管型同时或连续生产时，其共同性能的检验可以从其中一种管型中抽样进行，其结果可以代替其他管型的检验。可采纳的共同性能和有关的检验项目如下:3.2. 1 管壳和引出a. 尺寸;b. 引出端强度;C. 可焊性;d. 恒定温热。3.2.2 包括安装和定位在内的电极结构a. b. 冲击。3. 2. 3 荧光a. b. 亮度。3. 3 鉴定批准程序制造厂应:a. 精足IECQC 001002鉴定批准的总要求Fb. 满足本规范3.1条初始制造阶段的要求;C. 接详细规范的要求提供三个连续批的逐批检验和一批周期检验的质量一致性检验资料。样本按IEC410
6、的规定抽取，采用正常检查抽样方案，但当样本大小将导致合格判定数为零时，应增加样本，以满足合格判定数为1的条件。3.4 鉴定批准补充程序生产的批量在280只以内时，抽样方案用表2代替。样本可以从一个生产批中抽取。当不合格品数超过合格判定数而低于不合格判定数时，应采用表2所示的第二次样本数。GB/T 14182 93 表2t口格不合格次样本合格不合格组别批量大小样本大小判定数判定数样本数总数判定数判定数A 17 100%* 。1 8280 5 。2 3 8 1 2 B 17 100%* 。1 8280 5 。2 3 8 1 2 C1 15 100%* 。l 6280 5 1 2 C2 同C1组。C
7、3 15 2 。1 6280 2 。2 2 4 1 2 C4 15 2 。1 6280 2 。1 C5 14 100% 。1 5280 3 。2 2 5 1 2 D 280 2 。l 注:铃号表示鉴定批准样本大小应不小于2只。3- 5 质量一致性检验(见IECQC 001002中第12章)空白详细规范应规定适用于每一详细规范在内的最低限度的检验规范表。此规范表也可按逐批检验和周期检验的目的分组规定。为适用于不同的评定水平，空白详细规范可以列成多个规范表。3.6 小批量或昂贵电子管的抽样要求当批量表明，在规定的合格质量水平(AQL)和检查水平(lL)下，采用合格判定数为零的抽样方案时，则根据总检
8、查员的意见并经国家监督检查机构批准，可选用下述任一方法代替。3.6.1 100%检验。3.6.2 在规定的AQL下，取合格判定数为1的较大样本数的抽样方案。3.6.3 在给定的批量和检查水平下，取合格判定数为1时邻近较大的AQL抽样方案。3- 6.4 合格判定数为零的抽样方案。如果出现一个不合格品，则应选用下述程序之一:a. 按3.6.2条给定的第1和第2样本数总和的数量抽取(即是相同的AQL合格判定数为1的抽样方案的样本)，应检查第2样本，如果第2样本中没有出现不合格品，则该批接收。b. 在原有的检查条件下，如果前面的连续四批已被接收，则此批必须保持到下一批的检查结束为止，若对下一批样本的检
9、查可以接收，则这两批都应接收，若对下一批样本的检查不能接收，则这两批应拒收。在b的情况下，如果两批都被接收，而且随后的四批全部顺利接收之前的某一批中又出现一个不合格品(按零个不合格品接收时)，则此批应立即拒收(不必等下一批的检查结果)。示例:用一例说明3.6. 4条的方案。一批为400只的电子管，在AQL为1.0和检查水平为S4下进行抽样检查，查看抽样表，对于批400只和检查水平S4要采用28150。这一行，并给出样本数13，此样本数13和AQL为1.0指出了一GB/T 1 4 1 82 93 个按零个不合格品的接收判据。因此，若无不合格品，则400只全部接收。如果出现了一个不合格品，则在AQ
10、L为1.。这一栏沿箭头向下找出合格判定数为1处，此时所对应的样本数为50，因此，再检验追加的37只(50减13)样本。如果没有出现不合格，则400只电子管全部接收，尽管第1次不合格，从数量为400只的批中只检验了50只样本。3. 7 不合格批的再次当样本不能满足逐批检验的要求时，应按IECQC 001002中12.4条处理。3.8 放行批证明记录 当在有关的空白详细规范中，给出了合格试验记录，且订货方也有要求时，最低限度应给出下列信a. 周期检验各分组中所包含的特征信息(通过或不通过)，不包括已造成拒收的参数;b. 可变的信息;c. 否则放行批证明记录的内容应遵循IECQC 001002中第1
11、4章的要求。3.9 延期交货电子管经检验合格后，在制造厂贮存超过了12个月时，应按详细规范中规定的A组检验或其他检验重新提交。3.10非在详细规范中未规定的工作条件下的性能是不能保证的，也不应作为检验项目。如果要求在这样条件下工作时，必须制订单独的详细规范，应完整地说明所采用的任何补充试验方法。同时规定出相应的极限值、AQL和检查水平。3. 11 周期检验当样品不能满足周期检验的要求时，应按IECQC 001002中第12.6条;人也。3. 12 B组检验结束之前的发货当全部B组检验已满足IEC410放宽检查的条件时，允许制造厂在结束这些试验之前放行连续批的电子管。4 目和测试方法4. 1 替
12、代法本规范所列的试验和测试项目，应采用相应的国家标准或国际标准所规定的方法，但也允许详细规范给出与规定方法相等效的替代法。凡详细规范中己指明引证规定的方法，就不能采用替代法。4.2 标准试验条件除非另有规定，所有的试验都应在GB2421规定的正常的试验大气条件(温度15350C，相对温度45%75%和气压86106kPa)下进行。每一试验都应按规定的程序进行。4.3 直观检验电子管应在工厂的正常照明条件下，不需要借助专用的观察工具进行检验，检验项目包括:a. 一般外形和加工胆亘Fb. 电子管的形状和外壳zc. 标志的位置，正确性和清晰度pd. 表面光洁度。4.4 尺寸详细规范应给出标注尺寸的外
13、形图或有关图形，并标明应检验的尺寸。4.5 光电参数测试和测试方法凡在详细规范中规定检验下列有关的光电参数和特性时，应按GB/T14184给出的相应方法进行GB/T 14182 93 测试，必要时亦可按4.1条。光电阴极灵敏度(含光照灵敏度和辐照灵敏度); 等效背景照度p亮度增益或辐射增益;反向工作电压;出亮度均匀性;极限工作电压;入电流;调制传递函数:准;位移;移F分辨率;荧光屏最大亮度;残余气体;出寄生信号;光电阴极和荧光屏缺陷;放大率;畸变;光电阴极有效直径;转PS形畸变;转换因数;对比率;固定图案噪声;信噪比。4.6 机械试验和试验方法如有要求，应在详细规范中规定。4. 7 环境试验和
14、试验方法除非另有规定，下述的环境试验应符合GB2423的规定。电子管细规范确定。在环境试验后，应按详细规范的规定检验下述有关参数za. 等效背景照度;b. 亮度增益或辐射增益;C. 分辨学pd. 残余气体;e. 光电阴极和荧光屏缺陷;f. 转换因数;g. 对比率。4. 7. 1 低温(非破坏性)电子管应经受GB2423.1中试验A列出的某一温度试验。4.7.2 高温(非破坏性电子管应经受GB2423.2中试验B列出的某一温度试验。的环境试验项目由其详GB/T 1 41 82 93 4. 7. 3 恒定湿热(非破坏性)电子管应经受GB2423.3中试验Ca的4. ? 4 冲击(非破坏性)。电子管
15、应经受从GB2423.5中试验Ea所选定的波形以及加速度和持续时间组合值的试验。4. ? 5 碰撞(非破坏性)电子管应经受GB2423. 6中试验Eb的试验。在规定的加速度下，推荐的碰撞次数为1000士10次。4. 7. 6 振动电子管应经受GB2423.10中试验Fc的试验。频率范围、加速度或振幅以及持续时间应从其中所列的值中选取。4. 7. 7 温度变化(非破坏性)电子管应经受GB2423.22中试验Na两箱法的试验。一般低温和的规范值。在每一温度下的暴露持续时间推荐为30min。4. ? 8 恒加速度值应符合4.7.1和4.7. 2 电子管应经受GB2423.15中4. ? 9 低气压G
16、a的试验。应规定每一轴向的严酷程度。电子管应经受GB2423.21中试验M的试验。气压和持续时间应从其中所列的值中选取。4. 7. 10 长霉电子管应经受GB2423.16中试验J的试验，暴露28天后，直观检验电子管，此试验可用光电参数不合格的电子管。4. 7. 11 盐雾电子管应经受GB2423. 17中4. ? 12 可焊性Ka的试验。此试验可用光电参数不合格的电子管。电子管应经受GB2423.28中试验T的试验。用烙铁或焊槽的方法。4. 7. 13 引出端强度电子管应经受GB2423.29中试验U的一种或多种方法(Ua，Ub、Uc和Ud)试验。4.8 耐久性试验和试验方法4.8. 1 非
17、工作耐久性(存放期)规范中未规定存放期时，即认为是不需要的。当详细规范中规定存放期时，此试验应在完成光电阴极制作并检验后开始，存放期间，电子管不应工作。4.8.2 老化如有规定，此试验应按详细规范的规定进行。注:直观检验和尺寸检验均可在本试验之前进行。4.8.3 工作耐久性电子管工作耐久性试验应按详细规范规定进行，除非另有规定，试验时间应为1000h。每种管型(考虑结构的相似性)被试管的数量应符合表3的规定:年产量(只)小于120121-300 300-600 大于600表3年样本大小(只)1 2 3 每200只抽1只(对于中间数量，则往下一个整数靠拢)G/T 14182 93 可用某些性能不合格的电子管，但是这些性能必须是耐久性试验中不考核的。失效数超过样本大小的26%时，则判定试验失效。如果失效，则制造厂必须抽取与原来相等的样本大小进行第二次试验，该试验应在一个月内进行。如果第二次试验合格，则仍继续放行，若失败，则必须按照IECQC 001002 理。: 本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由机械电子工业部南京第五十五研究所负本标准主要起草人朱生良、谭芷琼、胡振清、马千里。12.6条规定的程序处
