1、IC骂17.180. 01 N 05 华H工.、G/T 16864 1997 :ST曰t 1.IIIi. P日目1997-06-16发布国岛1ethodfor testing cryogenic transmissivity of crystals 技术监督局 1997-12-01实施发布一 GB/T 16864-1997 , 去口本标准根据GB/T1. 1标准化工作导则，表述了在低温下测试品体的透射率的试验方法。本方法的特点是在低温下采用分光光度计羽tl透过率的方法，获得晶体在300-20K温度范围、波长为紫外至近红外范围内的透射率.本标准由中国科学院提出。本标准由中国科学院物理研究所归口。
2、本标准起草单位g中国科学院物理研究所。本标准主要起草人g周棠、张道范、杨华光。 前Eli-L 范围中华人民共和国国家准低温下晶体透射率的试验方法Method Cor testing cryogenic transmissivity oC crystals GB/T 16864-1997 本标准规定了低温下(300K-20 K)，波长在紫外-近红外的晶体透射率的试验方法.本标准适用于晶体透射率的测试。2 试验方法2. 1 原理当一束单色平面波垂直入射到厚度为d的各向同性的晶体平面平行板上时，光束的能量一部分被反射，一部分被吸收，另一部分透射过去，在略去晶体对光散射时，有式(1)和式(2)关系z1
3、0 = 1R + 1A + 1T lR.1.I.,. T + , + T = R + A + T = 1 10 I 10 1 10 式中，10一一入射光强度，W/m , 1R一一反射光强度，W1m2; 1A一一吸收光强度，W1m2; Ir一一透射光强度，W1m2; R一一反射率，A 吸收率，T一一透射率。假设K;条件下，有式(3)关系gTG-R)2e-d 一，可，-亏古式中，K晶体的消光系数，.10，-真空中光的波长，nm;d一一晶体样品的厚度，cmJn一一晶体的折射率;一一晶体的吸收系数，cm-1。通过透射率的测量，可以推算出晶体的吸收系数.当Re-l时，式(3)简化为:T = (1-R)与
4、R(n-1)2 一二(n + 1) 透射率是波长的函数，通常测量透射率随波长变化的关系曲线。国家技术监督局1997-06-16批准. ( 1 ) ( 2 ) . ( 3 ) . . . ( 4 ) ( 5 ) 1997-12-01实施1 GB/T 16864一1997对于光学上各向异性晶体，其n和值随入射光相对于晶体的取向和偏振态而变。因此，根据实际需要和晶体的对称性，决定被视1)祥品的取向和个数，采用单色线偏振光入射，其偏振方向平行或垂直于位于晶体表面上的折射率主轴方向。3 仪器及其用具3.1 双光束全自动分光光度计。根据需要加偏光镜，使入射光为线偏振光。3.2 与分光光度计配套的光学低温恒
5、温器，控温精度为土O.5CO。通过控温仪可使被测晶体样品恒温在某一温度或以一定速率升、降温。4 样品制备4. 1 定向切割一定厚度和大小的晶体样品，样品的厚度根据其的大致数值作出估算，样品面积尺寸不小于仪器的通光孔径。同时要考虑低温恒温器的制冷能力。4.2 样品两个通光面的平行度用它们形成的根角表示时，应小于10。4.3 样品Jl!i光面光洁度为光学加工标准三级。5 试验步骤5. 1 孔上。将样品两JHi光面清洗干净，用少量低温胶将样品紧紧固定在专门设计的低温恒温器的样品架通光5.2 开启分光光度计，使仪器各项参数达到要求。5. 3 将低温恒温器的透光样品室置入分光光度计的光路中，恒温器的通光
6、窗口与样品表面成一小角度，约2。测量分为两次，先不放样品，扫一条基线，再放入样品，使光线垂直通过样品.5.4 开启低温恒温器，开始降温。5.5 当温度达到某一预定值后，用温度控制器使温度恒定在某一值，恒温约30mn后，然后操作分光光度计，测量所需波长范围的晶体的透射率T值。5.6 可固定某一波长，测透射率随温度的变化.6 试验结果及误差6. 1 绘出低温透射率曲线，曲线的横坐标为波长.，纵坐标为透射率T。6.2 样品两JHi光面平行度很高时，透射率按式(3)计算。当样品的吸收系数很大，或样品两面有一个模角时，贝I)OJ按式(4)汁n透射率。6.3 测量出透射率的系统误差为z土2%。2 中华人民共和国国家标准低温下晶体透射率的试验方法GB/T 16864一1997晤中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码，100045电话，68522112中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印* 开本880X12301/16 印张1/2字数5千字1997年11月第一版1997年11月第一次印刷印数1-500 书号，155066. 1-14259 j 峙标目32174
