1、中华人民共和国国家标准电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则8aslc envlromental testing procedur，回forelectrlc and electronlc products Guide for combined temperature/low air pressare tests GB/T 2424. 1 5 92 代替GB2424. 15- 81 本标准等效采用国际电工委员会IEC68-3-2(1976)1kPa)范围内，空气密度和传热的变化并不对空气的一些基本特性产生决定性影响，这些基本特性如3.1-3.3条所述。这些规律也适用于温度/低气压综
2、合试验。3.1 空气的导热性、粘度和流动特性在本标准规定的空气密度范围内，空气分子的平均自由程始终为零点儿毫米，因而空气的寻热性和粘度均与气压元关。空气流一般属于滞流型或精流型，它服从正常气压下的各种规律。3. 2 空气的对流特性在本标准规定的空气密度范圈内，自由空气对流和强迫空气对流这二种传热基本规律与正常大气国.技术监督局1992-07-01批准1993-03-01实施GB/T 2424. 1 5 - 92 压力时相同。因此，GB2423. 1中的有关对流方面的指导也适用于温度/低气压综合试验。空气密度p减小时，能太大降低空气的对流传热系数吨。无论是自由对流还是强迫对流，对流系数与空气密度
3、的关系如下式所示。Qo = !(p )n = o. 5 0.7 尽管。在低气压下已下降，但空气的对流传热效应仍需考虑。3. 3 辐射传热低气压条件下，应更重视辐射传热的作用。应注意控制箱壁的辐射系数和箱壁的温度。由于穹气的对流和热传导效应下降，辐射传热作用不变，辐射传热的影响加大。3.4 散热试验样品的试验3.4. 1 空气条件散热试验样品般规定采用没有强迫空气循环的自由空气条件或采用较低的空气速度。空气速度要尽量低，以便可不考虑空气流动带来的附加冷却作用。本标准规定的气压范围内，强迫空气流条件下试验样品表面的温度会比自由空气条件下大大降低，在空气温度和散热条件不变的情况下，试验样品表面平均温
4、度随空气流速度和气压的变化曲线如图1所示。该图可用于查找使用强迫空气流时产品的表面温度回3.4. 2 试验样品数低气压条件下，散热试验样品之间相互热辐射作用力日大，会影响试验的重现性。一般试验箱内次只装一个试验样品进行综合试验。如果已知散热样品之间热辐射影响不大，不会影响试验的重现性时，允许多个试验样品同时在同一箱内进行试验。自白空气Im/s 。5 20 10 15 -5 川w二甸回回制二句2m/s -10 箱内气庄.kPa 因l气压和空气速度对试验样品表面温度的综合影响注:试验箱空气温度为4b;试验样品散热量为43W，箱壁辐射率为1;试验梓品表面辐射率为o.7，试验样晶表面积为0.12m飞5
5、)队100 10 GB/T 2424. 15-92 4 温度和低气压的影响4. 1 综合影响4. 1. 1 提高散热样品表面温度和改变温度梯度由于低气压下对流传热系数 ( , GB/T 2424.15-92 R. 采用的泵的工作流体的蒸气和来自试验箱附件(阀、绝热物等)的蒸汽对空气的污染;b. 恢复气压过程中引入空气中灰尘或水对空气的污染。6 温度和气压的测量在低气压和高、低温综合的条件下，由于空气热交换效率下降和材料热胀冷缩作用的影响，温度和气压参数的测量误差会加大，制订有关综合试验标准和进行综合试验时，应考虑到这些因素。6. 1 温度测量误差加大低气压下，由于箱内空气密度降低，使传感器和箱
6、内空气之间的热交换率下降，导致温度计对强度变化的响应时间加长，而且由温度计与箱外之间热传导所引起的误差加大。在散热样品试验时，。减小也引起测量误差。这种误差在低气压F比常压时要大。散热样品试验时，温度t应有屏蔽章，以减少散热样品热辐射对测量的干扰。6.2 气压测量使用气压t测量气压时，用管子将气压计与箱内空间连通。一般情况下，即使是气压计温度和箱内温度相差较大，这种管子不会造成很大的测量误差。如果气压计温度与其标定时的温度相差很大，就有可能因传感器元件受到试验箱内气体的加热或冷却产生弹性变化而引入误差。因此，应注意不用短而祖的管子，尽量使用细长的连接管，但同时要考虑细长管f对气压变化反应慢，使指示时间延迟的缺点。附加说明:本标准由全同电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会提出并归口。本标准由航空航天部第二0一研究所、第六。一研究所、机械电子部广州电器科学研究所负责起草。本标准主要起草人祝耀昌、徐国在在、张乐山。
