1、ICS 33.180.10 11 33 在也一斗A2 G/T 7424.2 2002 部分代替GB/T7424.11998 Optical fibre cable generic specification Part 2: asic optical cable test procedures (IEC 60794-1-2:1999 , Optical fibre cable Part 1-2: Generic specification -Basic optical cable test procedures ,MOD) 2002- 08-09发布2003- 04 -01实施中华人民共和国国家
2、质量监督检验检疫总局发布目飞舟，t. GB/T 7424.2 2002 前言. . . E I 范国. . . . . . . . . . . . . . . 1 2 3 4 5 6 7 规范性引用文件. . . . . . 总则. . . . . . . . 方法E13拉伸性能方法E2:磨损. . . . . . . 方法E3:压扁 . . . . . . 方法E4:冲击. . . . l 1 3 5 7 9 8 方法E5:已成缆光纤的剥离力稳定性. . . . . . . 10 9 方法E6:反复弯曲. . . . ., . . . 11 10方法曰:扭转. . . . . . . . .
3、 . . 13 11 方法E8:曲挠. . . . 15 12 方法E103弯折. . . . . 16 13 方法E11:弯曲. . 17 14 方法E12:抗切穿. 17 15 方法E13:枪击. . . 18 16 方法E17.刚性. 19 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 方法E182张力下弯曲(动态试验).方法E192风振和舞动. . . . 方法F1:温度循环方法F33护套完整性方法F5:渗水 . . . . . . . . 方法F6:复合物滴流方法F7:核辐射. . . . . 方法F8:气阻. . . . . . .
4、 方法F9:老化. . . . 方法Glz光缆元件的弯曲. . . . . 方法GZz光纤带几何结构尺寸的观测法方法GL光纤带尺寸的孔规法. . . . 方法G42光纤带尺寸的千分表法. . . 方法G5:光纤带撕裂(可分性. . . 方法G6=光纤带扭转. . . . 方法G72套管弯折. . . 22 24 24 26 26 27 29 29 30 30 31 31 32 33 34 35 目UGB/T 7424(光缆总规范包括以下两部分二一第1部分z总则g第2部分2光缆基本试验方法。G/T 7424.2-2002 本部分为GB!T7424的第2部分，对应于IEC60794-1-2，199
5、9(光缆第1-2部分.总规范光缆基本试验方法)(英文版)oIEC60794-1-2叙述光缆机械性能及环挠性能的和光缆元件的各试验程序，其中某些试验待定。在IEC60794-1-2中，因原有的某些试验已被其他试验取代或己确定是不适用的，故在试验编号次序中缺少几个号码，它们是E9、E16、F2、F4和F6。本部分与IEC60794-1-2的一致性程度为修改采用，其主要差异如下=1)第3章总则中，部分条款参照过去的有关标准和我国的实际情况作了具体规定。例如，试验环境条件采用GB/T2421规定的标准大气条件，并且通常是GB/T2421规定的正常试验大气条件;量的数值按GB/T8170规定修约;监测和
6、检查的方法和抽样，按国内现行情况规定。同时，IEC文本列于第29章中的光纤带定义移至本章3.3定义中。2) IEC文本中方法E14复合物滴流在本文本中改为方法F60IEC文本中方法E1S析油和蒸发是材料试验，在本文本中不列入。3)本部分中，方法El、方法E3，方法E4、方法E7、方法EI0、方法Ell、方法G2，方法G7为修改采用IEC60794-1-2中的对应方法，其余方法则是等同采用。4)方法El和方法E3中，作为推荐性的内容，补充了国内多年实施有效的细节和具体数据。5)方法E4中，建议了通常采用的落高为1mo 6)方法E7中，扭转角度改为由有关标准中规定因7)方法EI0中，仍采用过去版本
7、的写法，即把光缆环缩小到规定的最小允许直径止。8)方法El1中，按过去版本的习惯，为方法EllA加上名称卷统气为方法EllB加上名称U型弯曲气9)方法Fl中，增加了试样应在20C:l:5C下处理24h的一般性规定.10)方法G2中，要求改为符合有关光纤带的规范规定。11)方法G7中，试验参数改为在有关规范中规定。本部分代替GB/T7424.1-1998(光缆第1部分=总规范的第3章和第6章。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由信息产业部电信研究院归口。本部分由大店电信科技股份有限公司光通信分公司起草。本部分主要起草人2王则民，薛梦驰，李然山，鹿中晖，梅健，何节。E GB(T 7424
8、.2-2002 光缆总规范2部分:光缆基本试验方法范围GB(T 7424的本部分规定了光缆的机械性能、环境性能和元件的各试验方法的目的、试祥、设备、程序、要求和待规定细节等。本部分适用于各种类型光缆的型式试验、例行试验和出厂检验、交收试验。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB(T 2421 电工电子产品环境试验第1部分2总则(GB(T2421-1999.id
9、t IEC 60068-1,1988) GB(T 8170 数值修约规则GB(T 15972(所有部分)光纤总规范(GB(T15972. 1 15972. 5-1998. eqv IEC 60793-1-1 60793-1-5: 1995) 3 YD/T 629(所有部分)光纤传输衰减变化的监测方法IEC 60068-2-14:1984环绕试验第2部分z试验试验N:温度变化IEC 60227-2: 1997 额定电压450(750V及以下的聚氯乙烯绝缘也缆第2部分试验方法IEC 60544(所有部分):电气绝缘材料离子辐射影响的确定IEC 61931(TR3:1998纤维光学术语总则3. 1
10、引言除非详细规范中另有规定，本章的各条规定应适用于本部分规定的各试验方法.3. 2 试验方法格式各试验方法格式应按如下标准顺序编制。在保持这个总体顺序的同时，可插入附加条款。目的试样设备程序要求待规定细节3. 3 术语和定义3. 3. 1 光纤带几何结构尺寸的定义下列定义适用于图1所示光纤带横戳面。3.3.1.1 宽度和厚度width and thickness 光纤带的宽度回和厚度t是包围光纤带横戳面的最小矩形的长边和短边的尺寸。1 GB/T 7424. 2-2002 3. 3- 1.2 基线basis line 基线是在光纤带横截面中通过第一根光纤(光纤1)中心和最后根光纤(光纤n)中心的
11、直线。3. 3- 1.3 光纤排列3.3- 1. 3. 1 光纤水平间距horizontal fibre separation 光纤水平间距是在纤带极截面中两光纤中心在基线上的垂直投影距离。可区别为两个水平间距参数2a) 相邻光纤中心间的距离出b) 两侧光纤中心间的距离b，3. 3. 1. 3. 2 平整度planrity 光纤带的平整度户是这些光纤中心到基线的垂直问距最大正值和最大负值的绝对值之和。光纤巾心在基线之上时，垂直间距为正，光纤中心在基线之下时，垂直间距为负。母线光纤1光纤n-1光纤n、d b w 图1光纤带横截面几何结构示意图3. 4 标准大气条件本部分采用的标准大气条件应符合G
12、/T2421规定。除非另有规定，本部分规定的试验环境条件应是GB/T2421规定的正常试验大气条件。3- 5 量的数值本部分规定的量的数值应有明确的有效位数，测量值应按G/T8170规定修约到与规定值同样的有效位数后，再与规定值比较。3-6 图形符号和术语参见IEC61931/TR3。3-7 安全待定。3. 8 定标待定。3- 9 监测和检查除非另有规定，本部分规定的试验方法中的监测和检查，应符合本条规定。3- 9. 1 光纤传输衰减变化(即透光度变化)的监测在本部分方法FI中应按G/T15972方法CIO或YD/T629.2规定进行，在本部分其他方法中应按GB/T15972方法CIOA或YD
13、/T629.1规定进行。在受试光缆芯数不多于12芯时应监测全部光GB/T 7424.2-2002 纤，在多于12芯时应监测至少12根光纤，抽样时应考虑到光纤结构位置和色i苦等方面的代表性。3. 9. 2 光纤的光学连续性和断裂的检测可采用通可见光目视检测方法或按GB/T15972方法C10B或YD/T629.2规定方法进行检测，应检测受试光缆中的全部光纤。J 9. 3 光缆护层检查例如护套开裂检查，应以正常视力进行日视检查。3. 9. 4 适时检测应按有关规定，在试验之前、之中和(或)之后进行适时监测和检查。4 方法E1，拉伸性能4. 1 目的本方法适用于测量光缆在规定拉仲负载范围内的拉伸性能
14、，即测定光缆中光纤的衰减变化、光纤应变和(或)光缆的应变与拉伸负载的函数关系。本方法的意图是非破坏性的，即施加的拉伸负载应在允许的最大拉力以内。飞本方法依所监测的项目不同，分为-a) 方法EIA，是确定光纤衰减变化的方法zb) 方法E1B.是确定光纤伸长应变和光缆伸长应变的方法。应按照详细规范或用户和制造厂间的协议，可单独使用方法EIA或方法EIB，或者联合使用这两个方法来分别测量光缆的不同拉伸性能。4.2试样从盘装或成固的光缆上取出一段受试光缆，其长度足以取得希望的精度。当采用图2设备时，除非另有规定，光缆受试段长度近似为两卡盘入口切点问的光缆长度与一个卡盘周长之和，它应不小于50mo 卡盘
15、拉力革置卡盘和传递桂置里试光缆段性递装置fA载传感器盘上光缆光纤测E革置图2使用传递装置和卡盘的拉伸性能测量设备示例传递装置3 -G/T 7424.2-2002 当采用图3设备时，除非另有规定，光缆受试段长度为两夹头问的光缆长度，它应不小于25m. 受监测的光纤两端应制备成平整、?占洁并垂直于光纤轴的端面。夹持基置壁试血缆段央持辑置拉力装置jh量转睛嚣光纤测量装置图3拉伸性能测量设备4. 3 设备试验设备示例见图2和图3。当采用图2设备时，试验结果除了反映光缆拉伸性能外，还包含光缆弯曲的影响。试验设备的拉力量程不得超过被试光缆层大允许拉力的5-10倍。试验设备应包括:a) 机械装置1) 一套夹
16、持装置，用于抓住光缆各元构件，使它们相互间无实质性滑移，且不会影响试验结果。例如图2中的卡盘和图3中的夹头，其卡盘直径应不小于试样外径30倍。注z对于自承式架空光缆，当详细规范有要求时，应借助与其光缆吊挂型式相关的装置来进行光缆固定。对于某些重型铠装光缆.其夹持装置可以采用网套夹或类似锚桩装置。2) 一套可选用的传递装置，可用于图2设备中使较短的设备长度能容许较长的受试段长度，其滑轮直径应不小于试样外径30倍。3) 一台拉力装置，用于以规J.:拉伸速率在规定的拉力范围内提供平稳的拉伸负载。b) 监测设备1 ) 套测力装置(含拉力传感器)，用于测量试样所受拉伸负载，其传感器最大误差应是它的Jrt
17、大测量范围的士3%。2) 一台光纤衰减变化测量设备，用于方法E1A，它应符合GB/T15972方法C10A或YD/T629. 1规定。3) 一台光纤应变测量设备，用于方法ElB，它应符合GB/T15972方法A7规定。4) 一套可选用的光缆伸长测量装置，用于方法，E1日，它可基于机械方法，也可基于电气方法，其精度应确保光缆应变测量结果的误差不超过士0.01%。5) 只可选用的多路光开关，用于多路光纤监测的转换。4.4 程序4 a) 试验环境条件应符合3.4规定。b) 把光缆装在拉伸设备上，在两端用夹持装置把光缆均匀地回紧，防止光缆的各元构件相互滑移B对于大多数光缆结构，例如层绞式光缆，实际是夹
18、持住除光纤以外的各元构件，这足以用于测量拉仰性能，例如衰减变化、光纤应变、光缆应变初最大允许拉力。但是，对于某些光缆结构，例如中心管式光缆，可能需要注意防止光纤纵向滑移，以便得到正确的光纤应变。c) 把受试光缆中的受监测光纤连接到监视tl设备。在拉伸试样时，应注意受监视1)的基准长度不得变化。d) 拉伸力应连续地增加到详细规范中规定的(各)值.例如长期允许拉伸力和最大拉伸力(通常为短暂允许拉仰力)，除非另有规定，保持时间至少为1min，拉伸速率应为5mm/min-10 mm/min。然后，逐渐卸去负载。这样一个加载和卸载的过程，构成一个循环。e) 在加载过程中，应作为光缆拉伸负载的函数来记录规
19、定波长下的衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变。除非另有规定，对于12芯以下光缆，应监测全部光纤，对于12芯及以上光缆，应监测至少12根光纤。GB/T 7424.2-2002 f) 除非另有规定，试验循环次数应为1次。g) 当有要求时，在最终卸载5min后，测量衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变的残余值。4.5要求试样的衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变，以及去除拉力后它们的残余值，应符合详细规范中规定。当详细规范有要求时，应提供和评价光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系，如图4所示。当有要求时，应确定光纤应变始发点的拉伸负载数值，即光纤应变与拉申负载的函数曲线图上，曲线的线性部分与拉伸
20、负载铀的交点处的拉伸负载。必要时，随试验结果提交的全套数据应包括有关光纤实测相移或脉冲时延对光纤伸长的定标曲线或系数。市*事/%1拉伸性能T, 负载一-光缆伸长率g口一一光纤伸J(o率g。一-T01 X一-TmX.注:To相应于光纤开始受应变的负载gTm相应于规定的最大拉力负载。图4光纤和光缆的伸长与负载的函数关系实例4.6 待规定细节详细规范应包括如下内容.a) 光缆长度和受拉伸长度gb) 负载传感器;c) 注入条件和衰减测量装置(当必要日t); d) 光纤应变测量装置(当必要时); e) 是否要求在规定波长下衰减变化、光纤应变和(或)光缆应变与拉伸负载的函数关系$f) 拉伸增加的速率，当另
21、有规定时，g) 光缆长度测量的最小精确度(当另有规定时hh) 环境温度(当不同于3.4规定时)。5 方法E2:磨损光缆耐磨损性包括两个方面:a) 护套耐磨损的能力;b) 光缆标志耐磨损的能力。5. 1 方法E2A:光缆护套耐磨损5. 1. 1 目的本试验的目的是确定光缆护套耐磨损的能力。5 GB/T 7424.2-2002 5.1.2试样试样应是一段足以实施规定试验的光缆，其长度通常为750mm。5.1.3 设备磨损试验装备应能在(10士1)mm的长度上，以(55土5)循环/min的频率，fE平行于光缆纵轴的方向来回擦磨光缆表面。擦磨刃口来回各移动一次，构成一个循环。擦磨刃口应是一根钢针，其直
22、径应符合详细规范中的规定。典型设备示例见图5。罩行程直生器行程F、已正;x、主革t制缸图5用于试验E2A和E2B方法1的典型试验装置5. 1. 4 步骤a) 试验环境条件应符合3.4规定。详罔Xb) 用光缆夹把长度大约750mm的试样紧团在支撑板上。然后，应以重物对擦磨刃口加载，在光缆上产生详细规范中陈述的力，同时要避免冲撞光缆。然后，施行详细规范中规定的磨损循环次数。c) 在每个试样上进行4次试验，在后一次试验前把试样向前移动100mm并总是沿相同方向旋转900角。5. 1. 5 要求在完成规定的循环次数之后，护套应无穿孔，光纤应保持光学连续性。5.1.6 待规定细节详细规范应包括如下内容z
23、a) 循环次数:b) 针棒直径gc) 施加的力。5.2 方法E2B，光缆标志耐磨损5. 2. 1 目的本试验的目的是确定光缆标志耐磨损的能力。依据标志的种类和详细规范中的规定，应使用如下两种方法之:a) 方法1，适用于坚硬的标志类型，如压凸纹、压凹纹和熔结的标志;b) 方法2，适用于上述类型之外的标志。5.2.2试样试样应是足以实施规定试验的一段光缆，其长度通常为750mm , 5. 2. 3设备5.2.3.1 方法1典型设备示例见图506 G/T 7424.2-2002 该装置应能在40mm的长度上，以(55士5)循环/min的频率，擦磨平行于光缆纵铀的光缆标志。擦磨刃口来回各移动次，构成一
24、个循环，擦磨刃口应是-根钢针，其直径为1mm或按详细规范中的规定。5.2.3.2 方法2该设备包括Ea) 一台试验装置，用于把力施加到羊毛毡上。典型示例见图hu 一块白色羊毛毡gc) 对试样施加力的重物。重物。5.2.4 步骤力(F)羊毛毡/ II!III 111111 衍程因6用于试验E2B方法2的典型试验装置试验环境条件应符合3.4规定。5.2.4.1 方法1平苗重物用光缆夹把长度约750mm的试样紧固在支撑板上，使试样标志直接处于擦磨刃口下施行试验。然后，应以重物对擦磨刃口加载，在光缆上产生详细规范中规定的力，同时要避免冲撞光缆。然后，施行详细规范中规定的循环次数的擦磨。5.2.4.2
25、方法2应把带标志的光缆试样放在用水浸透的两块羊毛毡之间，然后，应把详细规范中规定的标称力(F)施加到在100mm上前后移动的试样标志上，施行详细规范中规定的擦磨循环次数。5.2.5 要求在完成详细规范中规定的循环次数之后，标志应字迹清楚可辨。5.2.6 待规定细节详细规范应包括如下内容2a) 循环次数;b) 所用方法，c) 针棒直径(方法1); d) 施加的力。6 方法E3，压扁6. 1 目的本试验的目的是确定光缆承受压扁的能力。7 GB(T 7424.2-2002 6.2 试样试样应是一段足以实施规定试验的光缆。6.3 设备该设备的可移动钢板应能在光缆试样的100mm长度上均匀地施加压扁力，
26、使试样在平的钢板基座和可移动钢板之间受到压扁。可移动钢板的边缘应以约5mm半径倒角，在l角边缘不包括在钢板的100mm平整部分之内。设备示意图见图7.力边缘倒角半径=5mm)图7压扁试验6. 4 程序试验环境条件应符合3.4规寇。应把试样安放在网块铜板之间，防止横向移动，然后，逐渐地而无任何突然变化地施加力。如果以步级方式增加力，其增长比率应不超过.5 , L 除非详细规范中另有规定，施加的压扁力应增加到详细规范中规定的(各)值.例如长期允许压扁力和最大压扁力(通常为短暂允许压扁力).并在保持时间至少1min后进行监测，然后逐渐卸去压扁力，过5min后再进行最终监测和检查。除非另有规定，试验应
27、施行三次.把力加在试样上间距不小于500mm的3个不同地方。当详细规范中有要求模拟特殊的工作条件时，可垂直于试样插入-根或多根钢棒来实施-个附加试验或替代试验(除非详细规范中另有规定，心栋直径为25mm)。6.5 要求除非详细规范中另有规定。本试验的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。6. 6 待规定细节详细规范应包括如下内容:a) 施加的(各)压扁力;b) 施加力的持续时间(当另有规定时); c) 试验次数(当另有规定时); d) 试验点之间的问距(当另有规定01); e) 心棒排列方式(当采用时。B 7 方法E4，冲击7. 1 目的本试验的目的是确定光缆
28、承受冲击的能力。7.2试样7.2.1 试样长度G/T 7424.2-2002 试样长度应足以施行规定的试验。当只是评定物理损伤H仁长度范围可从1m(例如小直径的软跳线或双芯光缆)到5m(例如较大直径光缆。当要求监衰减变化时，则试样应是足够长度光缆端部的一段。7.2.2 终端试样可在两端以连接器或者以把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起的适当方式进行终端。冲击设备上的夹子可能适用，或者试样足够长而不再需要终端约束。7.3设备该设备应能把冲击施加到固定在坚实的平钢座上的光缆试样上。当要求一次或仅仅几次冲击时，可采用图8a)所示的设备，它使一个重物垂直跌落在一个钢块上，钢块再把冲击传递到光缆试样。
29、当要求反复冲击时(例如大于5次)，可采用图8b)所示的设备，它用一个跌落的重锤进行多次冲击。在这两种情况中，也可采用其他等效的设备。接触试样的撞击表面应是详细规范中规定的表面半径为I己的因弧形，或者像一个半球(图8c)的A)，或者是一个因柱面(囹8c)的盼。当详细规范中规定监视j光纤衰减变化等时，试验设备应包括3.9规定的设备。7.4 程序试验环境条件应符合3.4规定。当必要时，试样应在标准大气条件下预处理24h. 应调整重物或跌落重锤的质量和下落高度来产生详细规范中规定的冲击能量值。除非另有规定，下落高度通常为1m。然后，按详细规范中规定的速率和冲击次数，在详细规范中规定的试样位置上进行冲击
30、。试验期间，按详细规范的要求进行监测和检查。7.5 要求除非详细规范中另有规定。本试验的合格要IJ据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。7.6 待规定细节详细规范应包指如下内容za) 冲击次数;b) 冲击能量gc) 试验温度pd) 撞击表面的半径ftge) 多次冲击的频率(当需要时hf) 在试样上的冲击位置;g) 光纤衰减变化(当要求时)。9 I GB/T 7424.2-2002 主型导杆重锤中问制主是榄叶飞面钢基座自由转动滑轮导杆重睡撞击而制基座A 1性任R8 方法E5:已成缆光纤的剥离力稳定性8. 1 目的时用于几次冲击的设备试佯。bJ用于多次冲击的设岳c)撞击
31、面详图图B冲击试验试样11但回国俨于，, 、户品沪、图15弯折试验(1) (2) GB/T 7424.2-2002 12.5要求在详细规范中规定的最小环直径下，应不发生图15中(3)所示的弯折。12.6 待规定细节详细规范应包括如下内容za) 不发生弯折的最小环直径gb) 温度。13方法E11:弯曲13. 1 目的本试验的目的是测定光缆或光缆元件承受环绕在心轴上弯曲的能力。13.2 试祥试样应在两端以)种适当方式把所有的光纤、护套和张力构件夹持在一起进行终端。试样长度应足以进行规定的试验。13. 3 设备-个单心轴设备，它应能使试样环绕试验心轴切向地密绕成螺旋线。13. 4 程序按详细规范中规
32、定，应采用下列两种程序之。13. 4. 1 程序1一一方法E11A:卷绕应把试样环绕心轴，以均匀速率卷绕成密绕螺旋线。卷绕时，应施加一个足够的张力，以保证试样紧靠着心轴。然后，应把试样退绕展开。二次卷绕和次退绕展开构成1个循环。应卷绕详细规范中规定的循环次数。13. 4. 2 程序2一一试验方法El1B:U型弯曲应把试样回绕心轴弯过1800，并在弯曲期间保持拉紧。-次U形弯曲和紧接一次反向U形弯曲，然后返回到直线状态，构成1个循环。应弯曲详细规范中规定的循环次数。13. 5 要求除非详细规范中另有规定。本试验的合格判据是光纤不断裂、衰减变化不超过详细规范中规定的值和光缆护套不开裂。13. 6
33、待规定细节详细规范应包括如下内容za) 所采用的程序(程序1或程序2)。b) 试验心轴直径(或心轴直径与光缆直径的比率)。c) 循环次数。d) 螺旋线图数(当采用程序1日口。e) 最大允许附加哀减$1) 试验期间(当必要fft); 2) 试验之后(当必要时)。f) 试验温度。14 方法E12:抗切穿14. 1 目的本试验的目的是确定光缆(例如航空器光缆)护套抗切穿的能力。14.2 试样试样长度应足以施行规定的试验。17 G/T 7424.2-2002 14.3 设备试验设备应能以一个规定的速率施加一个规定的切人力。适用设备示例见图160针棒的半径应符合详细规范中的规定。负载 直座图16切穿设备
34、示例14.4 程序除非另有规寇，应以(50士10)N/mn的速采淫渐施加力，直至达到详细规范中规定的力值，并持续详细规范中规定的时间。试验后，应在5倍到10倍放大下用日视检查试样损坏情况，以及检测光纤是否保持光学连续性。14.5要求护套应无穿孔，光纤应保持光学连续性。14.6 待规定细节15 详细规范应包括如下内容za) 针棒的半径;b) 试验温度;施加的力;c) dl e) 施加力的速率(当另有规定时川施加力的保持时间。方法E13:枪击15. 1 目的本试验的日的是测定架空光缆承受霞弹猎枪枪击损坏的能力。15. 2 试样通常是一段3m长的光缆。15. 3 设备15.4 18 设备包指=a)
35、一支猎枪，应符合详细规范中的规定。b) 一个用于紧固光缆试样的支架，它应不妨碎试样自由摆动和射击的弹丸可能散射成椭圆形状。c) 枪弹21) 4号或7号，或者按详细规范巾的规定。注1:枪弹尺寸宜体现出对架空光缆的严重危害。2) 神丸的类型应符合详细规范中的规定。注2通常使用铅弹或钢摊，铅弹丸在冲击下会变形，其破坏性小于钢掉丸。3) 弹壳的类型J应符合详细规范巾的规定。程序GB/T 7424.2-2002 光缆试样应安放在架子上，在详细规范中规定的距离上射击。枪口和试样间的距离通常为20m。为了提供可再现的试验，有可见弹着点的弹丸数宜低，通常不多于3粒。如果多于3粒弹丸击中光缆，只要有任-要求未满
36、足，贝11可重作试验。15.5 要求试验后，光缆试样中的光纤应不断裂。试验报告应包括如下信息za) 试验布置的细节，包括光缆的方位$b) 遭受损坏的报告，包括光纤是否断裂gc) 为了取得最少可见弹着点而实施的试验次数a15.6待规定细节详细规范应包括如下内容za) 枪的类型:b) 枪弥尺寸;c) 拚丸的类型gd) 弹壳的类型;e) 枪口和试样间的距离(当另有规定时)。16方法E17:刚性16. 1 目的本试验的目的是测定光缆的刚性。16.2 概这刚性是用于评价(例如在管道、线槽、导管或地板下)采用常规牵引技术安装时以及采用吹送技术时的光缆性能参数。刚性还用于保证跳线和室内光缆足够结实而又柔软，
37、足以承受安装和正常使用。依光缆型式而定，有三种可选的适用方法。方法E17A和E17B适用于粗大的光缆。方法E17B也适用于较细小的光缆，包括轻铠装光缆和室内光缆。方法E17C适用于细小的光缆，例如加强型单芯光缆。16.3 方法E17A16. 3. 1 试样试样长度应足以施行规定的试验。16.3.2 设备三点弯曲试验装置示例见图17。试样放在两个支架上，例如用可转动的棒支持试样，试样能自由移动。应提供措施把力施加到两支架间的中点，并测量随之产生的位移。fA载传膊器光缆试梓IT 1 F Y X 图17方法E17A的试验装置19 GB/T 7424.2-2002 16. 3. 3 程序按详细规范中规
38、定的问R放置两支架。所用试样应长于支架问的距离，其总i:应确保光缆元构件的任何内部移动都不得影响试验结果。把试样放在文架上，可用固定在拉仰试验机上的叶片或用重物钩在试样上加力，测量产生的位移。当支架间距为x(单位为米Cm)、力F(单位为牛顿CN)引起的位移为yC单位为米Cm门时，!lIJ刚性B为(单位为牛顿平方米(N.m)，B一芒二E-48 y 由于某些光缆，例如铠装光缆，可能显示出由弹性到非弹性的性能变化，如图18所示，因此，力的增量应能适宜于识别所有变化点。规定的刚性是弹性刚性，它由下式给出的(单位为牛顿平方米CN m) , 式中:一弯曲角度。16.3.4 要求F u5) 在气候室内的温度
39、达到稳定之后，试样应暴露于该高温条件下适当时期句。6) 然后，应以适当的冷却速率把气候室内的温度降低到环境温度假。这个程序构成一个循环(见图23)。T，胁-_-t , t , 气候室温度时间rT品-1个街环、A一一第一循环的起点图23-个循环的温度循环图7) 除非在有关的详细规范中另有要求，试样应经受两个循环。8) 有关的规范应陈述:。在处理期间的衰减变化和检查要求;ii) 在哪个(些)时期之后进行这些检验。9) 在从气候室取出之前，受试试样应在环t温度下已达到温度稳定。10) 如果有关规范指出贮存和使用时的温度范围不同，则允许按图24用一个组合试验程序来代替两个不同温度的试验。11) TA.
40、TB和t，的数值和冷却(或加热的速率应在详细规范中规定。依光缆结构而定，光缆缆芯的温度可能不同于气候室的规定温度。c) 恢复1) 如果从气候室取出之后环境温度不是试验用标准大气条件，则试祥应在标准大气条件下达到温度稳定。2) 有关的详细规范可对给定型式的试样要求一个规定的恢复期。飞X JU、fli-Z5 G/T 7424.2-2002 19.5要求Tn2 -】-_ -T - -_-气候室温度TA飞-+-1 , TA2 _-t_ 1 , 1个循耳t、图24组合试验温度循环图1 , 时间r试验的合格判据应在详细规范中陈述。典型的失效模式包括失掉光纤的光学连续性、光纤衰减增加或损伤光缆。19.6 待
41、规定细节详细规范应包括如下内容-a) 光缆试样长度;b) 光纤数;c) 受试光纤长度;d) 光纤之问的连按类型(当窃要时he) 卷绕的型式1) 成阁、装盘、其他(在带缓冲垫的缆盘情况下，应陈述缓冲垫的类型和所用的材料); z) 卷绕的直径;3) 单层或多层$4) 卷绕张力和简易零张力装置(当需要时); f) 测量设备的类型，g) 注入条件;h) 温度循环图;i) 循环次数;j) 在每个温度极值下的湿度水平(当需要a1); k) 在规定波长下的衰减变化与温度循环的函数关系。20 方法F3，护套完整性1!f定。21 方法F5，渗水21.1 目的本试验适用于连续阻水的光缆，其目的在于确定光缆阻止水沿着规定长度迁移的能力回I在按详细规范中的规定，采用如下两个方法(F5A或F5)之在光缆试样上来检验合格性。方法F5A试验缆芯和护套之间的水迁移，而方法F5试验整个阻水裁面上的水迁移。21.2 试样21.2. 1 方法F5A应在距离光缆试样段一端3m处环状去除25m!U宽的护套和包带，应把一个水密闭套管施加在暴26 GB/T 7424.2-2002 露的缆芯上，如同桥接在护套间隙上，并容许施加1m高水头。21.2.2 方法F5B光缆样品的长度应大于受试长度(一般为3m)约1m。当有要求时，试样按13.4.2经受U型弯曲程序旬然后，应从样品的中央部分取-段3m的光缆试样，把一个水密闭套
