1、ICS 33100L 06 圆亘中华人民共和国国家标准GBT 1 76266-2008IEC 6 1 000-46：2006代替GBT 1762661998电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度2008-05-20发布Electromagnetic compatibility-Testing andmeasurement techniques-Immunity to conducteddisturbances，induced by radio-frequency fields(IEC 6100046：2006，IDT)2009-0101实施宰瞀徽鬻瓣警矬瞥篓发布中国国家标准化管理委员
2、会厘11GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006目 次前言1范围-2规范性引用文件-3术语和定义-4概j盎5试验等级6测量设备7用于台式和落地式设备的试验配置8试验程序9测试结果的评估10测试报告附录A(规范性附录) 关于钳注入法的补充资料A1电流注入钳一A2电磁(EM)钳A3试验配置附录B(资料性附录)选择适用频率范围的准则附录C(资料性附录)选择试验等级的指南附录D(资料性附录)关于耦合和去耦网络的资料D1耦合和去耦网络的基本特性D2耦合和去耦网络的举例附录E(资料性附录) 试验信号发生器的规范附录F(资料性附录) 大尺寸被测设备的测试布置F1介绍-F2大尺寸被测
3、设备的测试布置参考文献-I-1-1-12-33-7-10111l2020-21一23-一24-26272727-一3132-3232-34GBT 176261GBT 176262GBT 176263GBT 176264GBT 176265GBT 176266GBT 176267测量仪器导则刖 置GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006电磁兼容试验和测量技术目前包括以下部分2006 电磁兼容2006 电磁兼容2006 电磁兼容2008 电磁兼容2008 电磁兼容2008 电磁兼容2008 电磁兼容GBT 1762682006GBT 1762691998GBT 17626
4、10 1998GBT 17626112008试验GBT 1762612 1 998GBT 17626132006低频抗扰度试验GBT 1762614 2005GBT 17626162007GBT 17626172005GBT 17626272006GBT 17626Z82006GBT 1762629 2006电压变化的抗扰度试验试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术电磁兼容试验和测量技术电磁兼容试验和测量技术电磁兼容试验和测量技术电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论静电放电抗扰度试验射频电磁场辐射抗扰度试验电快速瞬变脉冲群抗扰度试验浪
5、涌(冲击)抗扰度试验射频场感应的传导骚扰抗扰度供电系统及所连设备谐波、谐问波的测量和工频磁场抗扰度试验脉冲磁场抗扰度试验阻尼振荡磁场抗扰度试验电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度电磁兼容试验和测量技术振荡波抗扰度试验电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的电磁兼容电磁兼容电磁兼容电磁兼容电磁兼容电磁兼容试验和测量技术试验与测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术试验和测量技术电压波动抗扰度试验0 Hz150 kHz共模传导骚扰抗扰度试验直流电源输入端口纹波抗扰度试验三相电压不平衡抗扰度试验工频频率变化抗扰度试验直流电源输入端口电压暂降、短时中断和本部分是GBT 17
6、626的第6部分。本部分等同采用IEC 6100046：2006(第22版本)电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度。本部分代替GBT 1762661998电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度。本部分与GBT 1762661998主要差异在于：1)修改了耦合和去耦装置的受试设备端口上共模阻抗的校验；2)修改了耦合装置的受试设备端口上输出电平的设置；3)修改了用于台式和落地式设备的试验配置；4) 增加了采用耦合和去耦网络注入的程序5)增加了当满足共模阻抗要求时的钳注入的程序；6)增加了直接注入的程序；7)修改了测试结果的评估；8)修改了测试报告的要求；IGBT 1762
7、66-2008IEC 6100046：20069)修改了图2b)、图5和图lO；10)增加了附录F。本部分的附录A为规范性附录，附录B至附录F为资料性附录。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SACTC 246)提出并归口。本部分负责起草单位：中国电子科技集团公司第三研究所。本部分主要起草人：朱琳、林京平、曲林、徐嵬、鲁博。本部分所代替标准历次版本的发布情况为：GBT 176266 1998。GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度1范围GBT 17626的本部分是关于电气和电子设备对来自9 kHz80 MHz频率范围
8、内射频发射机电磁骚扰的传导抗扰度要求。设备至少通过一条连接电缆(如电源线、信号线、地线等)与射频场相耦合。注：本部分规定的测量方法，用于测量传导骚扰信号的影响。该信号是由与设备有关的电磁辐射感应的，这些传导骚扰的模拟和测量对于定量地确定影响不是十分精确。而制定本方法的主要目的是对各类设备建立充分的重现性的结果，以便定性地分析影响。本部分的目的是当电气和电子电器设备受到由射频场感应的传导骚扰时，建立一个评估抗扰度性能的公用参考。在GBT 17626的本部分中所规定的测试方法为评估设备或系统对定义的电磁现象的抗扰度表述了一致的方法。注：正如IEC导则i07中所述的，这是为IEC产品委员会所用的EM
9、C基础出版物。也正如导则107声明的，IEC产品委员会负责确定是否采用本抗扰度标准，如果采用，他们负责确定适当的测试等级和性能判据。TC 77和其分委员会准备与产品委员会合作，以便于他们产品的特定抗扰度试验价值的评估。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 17626的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 4365电工术语电磁兼容(GBT 4365-2003，IEC 60050(161)：1990，IDT)G
10、BT 61131无线电骚扰和抗扰度测量设备规范(GBT 611311995，eqv CISPR 161：1993)3术语和定义GBT 4365确立的以及下列术语和定义适用于GBT 17626的本部分。31人工手artificial hand模拟正常工作条件下，手持式电气设备和地之间的人体阻抗的电网络(参见GBT 4365中的427)。注：其结构应符合GBT 61131。32辅助设备auxiliary equipment；AE为受试设备正常运行提供所需信号的设备和检验受试设备性能的设备。33钳注入clamp injection是用电缆上的钳合式“电流”注人装置获得的钳注入。34电流钳curren
11、t clamp由被注入信号的电缆构成的二次绕组实现的电流变换器。】GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：200635电磁钳electromagnetic clampEM-钳由电容和电感耦合相组合的注入装置。36共模阻抗common-mode impedance在某一端口上共模电压和共模电流之比。注；共模阻抗可由该端口的端子或屏蔽层和参考平面(点)之间施加单位共模电压来确定。而测量产生的共模电流视为流经这些端子或屏蔽层的全部电流的矢量和，见图8a)和图8b)。37耦台系数coupling factor在耦合装置的受试设备端口所获得的开路电压(电动势)与信号发生器输出端上的开路
12、电压的比值。38耦合网络coupling network以规定的阻抗从一电路到另一电路传输毹量的电路。注：耦合和去耦装置可组合到一个盒子中(耦合和去耦网络缩写为(cDN)或是分立的网络(通常的钳注入)。39耦舍去耦网络couplingdeeoupling network；CDN包含耦合网络和去耦网络两种功能于一体的电路。310去耦网络decoupling network防止施加给受试设备的测量信号影响不被测量的其他装置、设备或系统的电路。311测量结果measurement resultU趾测量设备的读数电压。312电压驻波比 voltage standing wave ratio；VSWR沿
13、线最大电压和邻近最小电压幅度之比。4概述本部分所涉及的骚扰源，通常是指来自射频发射机的电磁场。该电磁场可能作用于连接安装设备的整个电缆上。虽然被骚扰设备(多数是较大系统的一部分)的尺寸，比骚扰频率的波长小，但输入和输出线，例如电源线、通信线、接口电缆等，由于其长度可能是几个波长，剜可能成为无源的接收天线网络。假定连接设备的电缆网络是处于谐振的方式(Z4和2开路或折合偶极子)，电缆系统问的敏感设备易受到流经设备的骚扰电流的影响。由相对于接地参考平面(板)具有150 n共模阻抗的耦合和去耦网络代表这种电缆系统。被溅设备可能要被测试的地方两端连接两个150 Q的共模阻抗：一端提供射频信号源，另一端提
14、供电流回路。该测量方法是使受试设备在骚扰源作用下形成的电场和磁场来模拟来自实际发射机的电场和磁场，由图2a)所示。这些骚扰场(电场和磁场)是由试验装置所产生的电压或电流所形成的近区电场和磁场来近似表示的。如图2b)所示，用耦合和去耦装置提供骚扰信号给某一电缆，同时保持其他电缆不2GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006受影响，只近似于骚扰源以不同的幅度和相位范围同时作用于全部电缆的实际情况。耦合和去耦装置是根据62中给出的特性所定义的。任何满足这些特性的耦合和去耦装置都可以使用。附录A中的耦合和去耦网络仅仅是实际使用网络的例子。5试验等级在9 kHz150 kHz频率
15、范围内，对来自射频发射机的电磁场所引起的感应骚扰不要求测量。表1试验等级频率范围150 kHz80 MHz电压(eIn)试验等级UodBPV U。V1 120 l2 130 33 140 10X 特定注：x是一个开放等级。如表1所示，以有效值(rIns)表示未调制骚扰信号的开路试验电平(emf)。在耦合和去耦装置的受试设备端口上设置试验电平(见641)，测量设备时，该信号是用1 kHz正弦渡调幅(80调制度)来模拟实际骚扰影响。实际的幅度调制如图4所示。附录c中给出选择试验等级的指南。注1：G13T 176263也规定了用于确定电气和电子设备对辐射电磁能的抗扰度测量方法覆盖了80 MHz以上的
16、频率范围。有关专业标准化技术委员会可决定选择比80MHz低的或高的界限频率(见附录B)。注2：有关专业标准化技术委员会可选择替代的调制方式。6测量设备61试验信号发生器试验信号发生器包括在所要求点上以规定的信号电平将骚扰信号施加给每个耦合装置输入端口的全部设备和部件。以下部件的典型组装可以是分立的，也可以组合为一个或多个测量设备(见图3)。射频信号发生器G1：其能覆盖所规定的频段，用1 kHz正弦波调幅，调制度为80。它应有手动控制能力(比如，频率，幅度和调制度)，或在射频合成器的情况下，将频率一步长和驻留时间编程。衰减器T1(典型0 dB40 dB)：为控制骚扰测量信号源的输出电平，应有合适
17、的频率特性，Tl可包含在射频信号发生器中或可选择。射频开关s1：当测量受试设备的抗扰度时，可以接通和断开骚扰信号的射频开关。s1可以包含在射频信号发生器中，或者是附加的。宽带功率放大器PA：当射频信号发生器的输出功率不足时，需要加功率放大器。低通滤渡器LPF和或高通滤波器HPF：为避免干扰某些类型的受试设备，例如，(次)谐波可能对射频接收机产生干扰，需要时，应将它们插在宽带功率放大器PA和衰减器T2之间。衰减器T2：具有足够额定功率的衰减器(固定6 dB。20=50 n)。提供衰减是为了减小从功率放大器到网络的失配。注：T2可包含在耦合和去耦网络中，如果宽带功率放大器的输出阻抗在任何条件下可保
18、持在规范内，可省略它。未调制时信号发生器的特性由表2给出：62耦合和去耦装置耦合和去耦装置被用于将骚扰信号合适地耦合到连接受试设备的各种电缆上(覆盖全部频率，在受3GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006试设备端1：3上具有规定的共模阻抗)，并防止测试信号影响非被测装置、设备和系统。耦合和去耦装置可组成一个盒子(称作：耦合去耦网络(cDN)，或由几部分组成。耦合和去耦装置的主要参数，在受试设备端口看进去的共模阻抗应符合表3规定。表2试验信号发生器的特性输出阻抗 50 n谐波和失真 任何杂散谱线应至少比载波电平低15 dB幅度调制 内调制或外调制，调制度80土51 kH
19、z土10的正弦波输出电平 足够高，能覆盖试验电平(见附录E)表3耦合和去耦装置的主要参数I 频 段参 数o15MHz26MHz 26 MHz80 MHzzc。I 150 n土20n 150 n：注1：既不规定耦合阻抗五。的幅角，也不规定受试设备端El和辅助设备端口之间的去耦系数，由辅助设备端口对接地参考平面开路或短路时应满足l乙I窖差的要求来体现这些参数。注2：当用钳注人法时，如果辅助设备不符合共模阻抗的要求，也可能不满足Zc。的要求。当按下述74进行时，钳注入法可提供合适的试验结果。出于对测试的重现性和对辅助设备的保护方面考虑，首选的耦合和去耦装置是耦合去耦网络(CDN)。然而，如果它们不适
20、用或无法利用，可以使用其他的注入方法。下述内容和71给出了选择合适的注入方法的规则。621耦合和去耦网络(CDNs)这些网络包含的耦合和去耦舍电路是在一个盒子中，并且可用于特定的非屏蔽电缆，例如CDNM1，CDN M2，CDNM3，CDNT2，CDN-T4和CDNAF2，见附录D。耦合和去耦网络的典型原理由图5c)和图5d)给出。网络不应过分地影响功能信号。在产品标准中可规定对这种影响的限制。6，211 用于电源线的耦合和去耦网络CDN全部电源连接推荐使用耦合和去耦网络。而对于高功率(电流16 A)和或复杂电源系统(多相或各种并联电源电压)可选择其他注入法。用CDNM1(单线)，CDNM2(双
21、线)，CDNM3(三线)或等效网络(见附录D)，使骚扰信号耦合到电源线。对三相电源系统可规定类似网络。耦合电路如图5c)中给出。不应由被测设备的工作电流导致磁性材料的饱和而引起耦合去耦网络的性能过度降低。无论如何，网络的结构应该确保正向电流的磁效应可以被返回电流的磁效应相抵消。如果实际安装中，电源线可各自分开走线，应用分立的耦合和去耦网络CDNMl。全部输入口应分开处理。如果受试设备提供有其他地端子(例如，为了射频的目的或者大的漏电流)，这些地端子应连接到接地参考平面上；当受试设备的特性或规范允许通过CDN-M1时，在这种情况下，供电电源应通过CDN-M3提供；由于射频或其他原因，当受试设备的
22、特性和规范不允许有一CDN-M1网络串联于地端子上，地端子应直接连接到接地参考平面上。在该情况下，CDN-M3网络应由CDNM2网络取代，以防止由保护地导体形成射频短路电路。当设备已经通过CDN-M1或CDN-M2供电，运行中应保留它们。4GBT 176266-20081IEC 61000-4-6：2006警告：由于电容器跨接在CDN的带电部分之间，结果可能产生较高漏电流，必须有CDN到接地参考平面的安全连接(在某些情况下，这些连接可由CDN的结构提供)。6212用于非屏蔽的平衡线的藕合和去耦网络为了耦合和去耦骚扰信号，对有平衡线的非屏蔽电缆可由CDNT2、CDNT4或CDNT8作为耦合和去耦
23、网络。在附录D中图D4、图D5和图D6给出这些电路简图。cDNT2用于有1个对称对(2线)的电缆。cDNT4用于有2个对称对(4线)的电缆。cDNT8用于有3个对称对(8线)的电缆。注：如果其他CDN-Tx网络对指定的频率范围是合适的并满足62的要求，也可以用这些网络。例如，从的差模到共模CDNs的变换损耗比被安装的电缆或连接安装电缆的设备规定的变换比的值大。如果对电缆和设备规定不同变换比，则应采用较小的值。通常，钳注入需要应用于多对平衡电缆，因为，没有适当的耦合去耦网络可以利用。对平衡的多对电缆，采用钳注入法更合适。6213对非屏蔽的不平衡线的耦合和去耦为了耦合和去耦骚扰信号，对非屏蔽的不平
24、衡线，可采用图D3所述的耦合和去耦网络。cDNAF2用于两线的电缆。对非屏蔽多芯电缆，用钳注入法更合适。622钳注入装置对钳注入装置，耦合和去耦功能是分开的。由钳合式装置提供耦合，而共模阻抗和去耦功能是建立在辅助设备上的。就此而言，辅助设备是耦合和去耦装置的一部分(见图6)，73给出正确的使用说明。当用电磁钳或电流钳不满足73所给定的要求时，应采用74所规定的程序。在该程序中，感应电压用641所述的同样方法设置。另外应监视并修正产生的电流。在这个过程中，可能会使用一个更低的共模阻抗，但是共模电流限制在流经150 0信号源的电流的值。62，2。1电流钳该装置对连接到设备的电缆建立一感性耦合，例如
25、用5：1匝变换比的共模串联阻抗，相对于由辅助设备建立的150 0电阻可忽略不计。在这种情况下，信号发生器的输出阻抗(50 n)转换成2 n。其他的线匝比也可以使用，见附录A。注1：当用电流钳时，应注意在耦合装置的EUT端口上呈现的功率放大器(PA)所产生的高次谐波电平不应高于基波电平。注2：通常必须使电缆通过钳的中心位置，以使电容耦合最小。6222电磁钳电磁钳的作用是对连接受试设备的电缆建立感性和容性耦合。在附录A中描述了电磁钳的结构和性能。623直接注入装置来自试验信号发生器的骚扰信号通过100 n电阻被注入到同轴电缆的屏蔽层上(即使屏蔽层未接地或仅仅只有一个接地点)。在辅助设备和注入点之间
26、(见图5b)，应尽可能靠近注入点插入一个去耦电路(见624)。为了提高去耦和稳定电路，应将直接注入装置输入端口的地与接地参考平面连接。这个连接应在注入装置的连接辅助设备的一端进行。注：当直接连接到金属膜屏蔽层时，要注意确保良好的地连接，以得到可靠的测试结果。对某些结构简单的屏蔽电缆，去耦电路与i00 Q电阻可装在一个盒子中(见附录D，图D1)。624去耦网络通常，去耦网络由各种电感组成，以便在整个频率范围内产生高阻抗。这由所用铁氧体材料确定，并要求在150 kHz频率上至少是280 pH的电感量。电抗应足够高，在26 MHz以下频率电抗应大于GBT 176266-2008IEC 61000-4
27、-6：2006等于260 n，在26 MHz以上频率电抗应大于等于150 n。电感量或由绕在铁氧体环上给定数目的线圈获得(见图5d)，或由套在电缆上的一些铁氧体环获得(通常是钳合式管)。除非本部分中特别声明，否则，附录D中规定的耦合和去耦网络作为去耦网络使用时，射频输入端口无需端接负载。当耦合和去耦网络这样使用时，它们要满足本章节的要求。此外，去耦网络应用在不被测量但连接到受试设备和或辅助设备的全部电缆上。对于例外情况，见77。63耦合和去耦装置的受试设备端口上共模阻抗的验证耦合和去耦装置是由受试设备端口上看进去的共模阻抗lz。I来表征的。其正确值保证测量结果的重现性。耦合和去耦装置的共模阻抗
28、的校验使用如图7所示的配置。耦合和去耦装置和阻抗参考平面(图7a)应放在接地参考平面上，接地参考平面的尺寸应超过装置所有边的几何投影尺寸至少02 m。阻抗参考平面应通过如图7a)所示小于或等于30 mm的距离被连接到耦合和去耦网络的被测设备端口。阻抗平面连接器上共模阻抗的幅值应被测量。如图7b)所示，当输入端口接50 n负载且辅助设备端口以共模方式用短路和开路条件依次加载时，耦合和去耦网络应满足62中表3的阻抗要求。该要求保证足够的衰减和使辅助设备(例如：开路或短路)的输入无意义。如果用钳注入或直接注入，则验证连接到受试设备的每个辅助设备配置的共模阻抗是不现实的，通常按73所给程序即满足要求。
29、在所有其他情况下，应采用74规定的程序。631 150n至50Q适配器的插入损耗在测试前，测试信号源设置时，测试电平必须在一个共模阻抗150 n的环境中校验。如图7c)所示，通过150 n至50 Q适配器将50 Q的测量设备连接到适当的共模点来实现。适配器的结构如图7d)和图7e)所示。适配器应放置在接地参考平面上，接地参考平面的尺寸应超出测试配置的所有边界几何投影至少02 m。根据图7c)的原理测量的插入损耗值应在95士05的范围内(理论值95 dB是由附加的串联阻抗在50 n系统中测量得到的)。如果有必要，测试布置的电缆损耗应补偿在内。建议在接收机和信号源的输入输出端口上使用合适电压驻波比
30、(12)的衰减器。64试验信号发生器的设置应采用641中的程序正确调整未调制的试验电平，应保证试验信号发生器，耦合和去耦装置以及150 n至50 Q适配器满足61、62和631的要求。警告：试验信号发生器调整过程中，对耦合和去耦装置的受试设备端口和辅助设备端口的全部连接，除了要求的外(见图8)，为避免短路或为避免测量设备的损坏均不应连接。应用无调制载波设定试验信号发生器的输出电平(见641)，然后加调制进行正确调整并用射频示波器检验调制波形。测试信号源的输出电平可以通过测量放大器输出功率或射频信号发生器的输出来确定，只要保证测试设备的稳定性即可。施加在被测设备上所有的测试频率的电平都必须确定已
31、经过修正。641耦合装置的受试设备端口上输出电平的设置试验信号发生器应该连接到耦合装置的射频输入端口，耦合装置的受试设备端口以共模方式通过150 n至50 0适配器连接到输入阻抗为50 n的测量仪上，辅助设备端口应用150 n至50 n适配器以共模方式加载并端接50 n电阻。全部耦合和去耦装置的配置如图8所示。注：对于直接注人，如果屏蔽层被连接到辅助设备端13一侧的接地参考平面时，不需要在辅助设备端口接150 o负载。用上述配置，试验信号发生器应调到使测量仪获得以下读数：GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006U。一睾(1士25)线性值表示。或 U。一U。一156 d
32、B土2 dB对数值表示必须对每个独立的耦合和去耦装置进行调整。应记录试验信号发生器调整和用于试验的控制参数(软件参数、衰减器设定等)。注：1 U0是表1中规定的试验电压；u。，是4 11和图8中所确定的测量电压。为减小测量误差，应用150 n负载来设置u，而不用通过设定U0来调整试验信号发生器的输出电平。2系数6(156 dB)源于试验等级所规定的电动势值(emf)。匹配的负载电平是电动势的一半。由端接50 0测量仪的150 n至50 n适配器产生3：1的分压比。当用50 n试验环境进行电流钳的电平调整时(见附录A)，横跨50 n上的电压u。，比要求的试验电平少6 dB。在这种情况下，50 n
33、试验夹具上的测量电压或产生的电流等于：r ru。一睾(1土25)以线性值表示或 U。，一U。一6 dB土2 dB以对数值表示7用于台式和落地式设备的试验配置受试设备应放在接地参考平面上面01 m高的绝缘支架上。所有与被测设备连接的电缆应放置于接地参考平面上方至少30 mm的高度上。如果设备被设计为安装在一个面板、支架和机柜上，那么它应该在这种配置下进行测试。当需要用一种方式支撑测试样品时，这种支撑应由非金属、非导电材料构成。设备的接地应与生产商的安装说明一致。在需要使用耦合和去耦装置的地方，它们与被测设备之间的距离应在01 m到03 m之间。这个距离是从被测设备对接地参考平面的投影到耦合和去耦
34、装置的水平测量距离。参见图6、图9和图10。7177提供更细节的信息。71选择注入法和试验点的原则对提供给耦合和去耦装置的电缆所选择的类型和数目，以及典型安装条件的实际布置应当加以考虑，例如，最长电缆的大概长度。对于所有的测试，被测设备与辅助设备之间电缆的总长度(包括任何所使用的耦合去耦网络的内部电缆)不应超过被测设备制造商所规定的最大长度。711注入法图1给出选择注入法的规则。在这里没有规定的是，包含测试所选择的电缆的被测设备应在与典型应用一致的方式配置、安装、布置和操作。未列在本部分中的耦合和去耦网络，只要满足该标准的要求的也可以使用。从受试设备引出的各种电缆彼此互相靠近，并且其接近部分长
35、度大于10 m，或从受试设备到另一设备是用电缆盘或管道走线时，则它们应作为一条电缆处理。如果产品委员会决定某种耦合和去耦装置更适合于连接该系列产品的电缆，那么应优先选择这种装置(技术根据证明合适)。在产品标准中应阐明这些装置，在附录D中叙述了耦合和去耦网络的例子。712试验端口在任何一个测试中，只需要两个150 Q的网络。用于将测试信号注入的网络可以在不同的被测端口之间转换。当一个耦合去耦网络从一个端口上移除，可以用一个去耦网络来替代。如果被测设备有多个相同的端口(相同的输入或输出电子电路，负载，连接设备，等等)，至少要选择7GBT 176266-2008IEC 61000-46：2006图1
36、选择注入法的规则这些端口中的一个进行测试，确保所有不同类型的端口被涵盖。7，2采用耦合和去耦网络注入的程序当使用耦合和去耦网络注入时，需要采取以下测量措施：如果辅助设备位于接地参考平面之上，那么它要放在高于接地参考平面01 m处。一个耦合和去耦网络应接在要被测试的端口上，而一个接有50 n负载的耦合和去耦网络连接在另一个端口。去耦网络应安装在所有其他连接电缆的端口。在这种方法中，只有一个端接150 n负载的环路。被端接的耦合和去耦网络的选择应遵循以下的优先次序：1) CDNM1用于连接地终端；2)CDN-Sn(n一1，2，3，)最靠近注入点(到测试日最短的几何距离)；3)CDNM2，CDNM3
37、，CDNM4，或CDNM5，用于电源；4)其他耦合和去耦网络，最靠近注入点(到测试点最短的几何距离)。如果被测设备只有一个端口，这个端口连接到耦合和去耦网络上用作注入用途。如果至少有一个辅助设备连接到被测设备，且只有一个耦合和去耦网络可以连接到被测设备上，根据上述的优先次序，辅助设备的一个端口应连接到50 0终端负载的耦合和去耦网络，且8GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：2006辅助设备的其他连接要做去耦处理。73 当满足共模阻抗要求时的钳注入的程序当使用前注入法时，辅助设备的配置应呈现尽可能的接近62中要求的共模阻抗。每一个用于钳注入的辅助设备应尽可能的代表功能性安装
38、条件。为了满足近似所需的共模阻抗的要求，应采取以下措施：用于钳注入的每一个辅助设备应放置在距接地参考平面01 m高度的绝缘支撑上。去耦网络应安装在辅助设备与被测设备之间的每一条电缆上，被测电缆除外。连接到每一个辅助设备的所有电缆，除了被连接到被测设备上的电缆，应为其提供去耦网络，见624和图6。连接到每个辅助设备的去耦网络(除了在被测设备和辅助设备之间的电缆上的网络)距辅助设备的距离不应超过03 m。辅助设备与去耦网络之间的电缆或辅助设备与注入钳之间的电缆既不捆扎，也不盘绕，且应保持在高于接地参考平面30 mm至50 mm的高度(图6)。被测电缆一端是被测设备，另一端是辅助设备。可以连接多个耦
39、合和去耦网络到被测设备和辅助设备；然而，在每个被测设备和辅助设备上只有一个耦合和去耦网络因被端接50 n负载。耦合和去耦网络的端接的选择应遵循72中的优先次序。当使用多个注入钳时，每根电缆上的注人测试应一根接一根依次进行。被选择用注入钳测试的电缆在没有测试的情况下也应按照624要求进行去耦处理。在其他所有的情况下，应依照74中的程序进行。74 当不满足共模阻抗要求时的钳注入的程序当用钳注入且在辅助设备一侧不满足共模阻抗要求时，辅助设备的共模阻抗必须小于或等于受试设备的被测端口的共模阻抗，否则，在辅助设备端口应采取措施(例如，使用CDN-M1或从辅助设备到地之间加150 n电阻)，以满足这一条件
40、并防止谐振。本程序中，仅给出与73有关的差别。用钳注入的每种辅助设备和受试设备应尽可能接近实际运行的安装条件。例如，将被测设备连接到接地参考平面上或者将其放在绝缘支架上(见图A6和图A7)。用附加的电流探头(具有低插入损耗)插入注入钳和受试设备之间，并监视由感应电压产生的电流(调整按照641)。如果电流超过下面给出的短路电流值I一，试验信号发生器电平应一直减小到测量电流等于J一值：J。一U。150n在试验报告中应记录施加的修正试验电压的电平值。为保证重现性，在试验报告中应充分地描述试验配置。75直接注入的程序当采用直接注入在电缆屏蔽层时，需要采取以下测量措施：受试设备应放置在距接地参考平面01
41、 m高度的绝缘支撑上。在被测电缆上，去耦网络应位于注入点和辅助设备之间，尽可能靠近注入点。第二个端口应用150 n的负载端接(耦合和去耦网络用50 n负载端接)。这个端口应按照72中的优先次序选择。在所有其他与被测设备连接的电缆上应安装去耦网络(当端口开路，耦合和去耦网络可以认为是去耦网络)。注入点应位于接地参考平面上方，从被测设备的几何投影到注入点之间的距离为01 m至03m。测试信号应通过100 n电阻直接注入到电缆屏蔽层上。注：当直接连接到金属屏蔽层上时，值得注意的是确保良好的连接以产生可靠的测试结果。9GBT 176266-2008IEC 61000-4-6：200676单个单元构成的
42、受试设备受试设备应放在接地参考平面上01 m高的绝缘之间上。对台式设备，接地参考平面可以放在一张桌子上(见图9)。在全部的被测电缆上，应插入耦合和去耦装置。耦合和去耦装置应放在接地参考平面上，在距受试设备约01 m03 m处并与接地参考平面直接接触。在耦合和去耦装置与受试设备之间的电缆应尽可能的短，不能盘也不能捆起来，它们在接地参考平面上方30 mm50 mm处。如果受试设备装有其他接地端子，当允许时，它们应通过耦合和去耦网络连接到接地参考平面上，见6221(即耦合网络CDNM1的辅助设备端口连接到接地参考平面上)。如果受试设备装有一个键盘或手提式附件，那么人工手应放在该键盘上或缠绕在附件上，
43、并且连接到接地参考平面上。根据产品委员会的规范规定受试设备工作所要求辅助设备，例如，通讯设备、调制解调器、打印机、传感器等，以及为保证任何数据传输和功能评价所必需的辅助设备，均应通过耦合和去耦装置连接到受试设备上。应根据代表性功能尽可能限制被测电缆的数目，然而，实际端口的所有类型都应被注入。77 多个单元构成的受试设备被相互连在一起的各单元组成的受试设备，应用下述方法之一进行测量(见图10)。优先法：每个分单元(附件)应作为一个受试设备分别测量，见74，其他所有单元被视为是辅助设备。耦合和去耦装置应置于被认为是受试设备的分单元的电缆上(按71)，应依次测量全部分单元。代替法：总是由短电缆(即1
44、 m)连在一起的并作为受试设备的一部分的分单元(附件)，被认为是一个设备。对这些互联的电缆不进行传导抗扰度测量，而作为系统内部电缆考虑。作为受试设备一部分的各分单元应尽可能相互靠近但不接触的放置，并全部放在接地参考平面上01 m高的绝缘支架上，这些单元的互联电缆也应放在绝缘支架上。未端接的耦合和去耦网络或去耦装置应接人受试设备所有的其他电缆上，例如，接到电源和辅助设备的电缆上(见71)。8试验程序被测设备应在预期的运行和气候条件下进行测试。温度和相对湿度应记录在测试报告中。对于来自测试布置的辐射应遵守当地有关的干扰法规。当辐射能量超过允许的电平时，应使用屏蔽室进行测试。注：通常，传导抗扰度试验可不在屏蔽室内进行。这是由于骚扰电平和试验配置的几何尺寸不可能辐射太高能量，尤其在低频段。依次将试验信号发生器连接到每个耦合装置上(耦合和去耦网络、电磁钳、电流注入探头)。其他所有非测试电缆或不连接(当功能允许)。或使用去耦网络或只使用非端接的耦合和去耦网络。在测试信号发生器的输出端可能会需要一个低通滤波器和或高通滤波器(例如，100 kHz截止频率)，以防止(高次或亚)谐波对被测设备的干扰。低通滤波器的带阻特性应该对谐波有足够的抑制，使得
