1、ICS 19. 100 J 04 道B国家标准和国11: ./、中华人民无损检测G/T 25758.4-2010 工业X射线系统焦点特性部分:边缘方法第4Non-destructive testing-Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing-Part 4: Edge method 2010-12-23发布数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检夜总局中国国家标准化管理委员会2011-10-01实施发布剧吕GB/T 25758(无损检测工业X射线系统
2、焦点特性分为五个部分:一一第1部分:扫描方法;一一第2部分:针孔照相机射线照相方法;一一第3部分:狭缝照相机射线照相方法;一一第4部分:边缘方法;第5部分:小焦点和微焦点X射线管的有效焦点尺寸的测量方法。本部分为GB/T25758的第4部分。GB/T 25758.4-2010 本部分等同采用EN12543-4: 1999(元损检测工业X射线系统焦点特性第4部分:边缘方法(英文版)。本部分等同翻译EN12543-4:1999 0 为便于使用，本部分作了下列编辑性修改:一一本欧洲标准一词改为本部分;一一删除EN标准的前言;一一用小数点代替作为小数点的逗号，;一一用GB/T1.1一2000规定的引导
3、语代替EN标准中的引导语。本部分的附录A为资料性附录。本部分由全国无损检测标准化技术委员会CSAC/TC56)提出并归口。本部分起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海英华元损检测技术有限公司、上海材料研究所、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、通用电气传感检测科技(上海有限公司、丹东奥龙射线仪器有限公司、山东轻工业学院。本部分主要起草人:孔凡琴、李博、章怡明、金字飞、赵成、丁鸣华、李义彬、孙宝江。I GB/T 25758.4-2010 sl 为了满足焦点尺寸测量的不同需求，在GB/T25758. 125758. 5中，描述了五种不同的方法。扫描方法CGB/T25758. 1)
4、适用于强度分布和焦点尺寸恒定的场合，例如用于校准及图像处理过程。射线照相方法CGB/T25758.2与GB/T25758.3)是传统的技术，以验证为主要目的，适用于最高至200kV的场合。当针孔和狭缝照相机元法使用时，边缘方法CGB/T25758.的或许是有效的，这种方法适用于简易的场合。为了兼顾到微焦点系统，GB/T25758.5提出了一种特殊的方法。E 1 范围无损检测工业X射线系统焦点特性第4部分:边缘方法GB/T 25758.4-2010 GB/T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500kV的工业X射线系统的大于0.5mm焦点尺寸的方法。X射线图像
5、的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。边缘方法对于在现场条件下校验焦点是特别有效，以发现焦点的变化。本方法不能用于焦点尺寸的绝对测量。焦点尺寸的绝对测量方法见附录A。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T25758的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 19348.1 无损检测工业射线照相胶片第1部分:工业射线照相胶片系统的分类1)(GB/
6、T 19348.1-2003 ,ISO 11699-1:1998 ,IDT) GB/T 19802元损检测工业射线照相观片灯最低要求(GB/T19802-2005 , ISO 5580: 1985 , IDT) GB/T 25758. 1元损检测工业X射线系统焦点特性第1部分:扫描方法(GB/T25758. 1一2010 ,EN 12543-1:1999 ,IDT) 3 术语和定义3. 1 下列术语和定义适用于GB/T25758的本部分。焦点focal spot 从测量装置中看到的X射线管阳极上的X射线发射区域。GB/T 25758. 1J 4 测试方法4. 1 原理和设备本方法是通过测量几何
7、不清晰度来得到焦点尺寸的间接测量方法。为此，采用相对较高的几何放大倍率将清晰边缘映像到胶片上。测量中需要以下设备z一一最小长度24cm的无增感屏的胶片;一一由薄塑料或铝制成的胶片暗盒;一一铅字L和W;1) 该标准将在修订GB/T19348. 1-2003的基础上发布(等同采用ISO11699-1:2008，与EN584-1: 1994等效)。GB/T 25758.4-2010 一一射线管窗口前加装与胶片尺寸相匹配的准直光圈;一一直径50mm100 mm、长约100mm的钢制圆管或厚壁管;一一支撑钢制圆管的三角架;一一外形尺寸大约为200mmX 100 mm、厚1mm或略厚些的铅板;一一胶片处理
8、装置;一一符合GB/T19802的具有均匀恒定亮度的观片灯;一一可读取密度D二三3.0的光学密度计，密度计的测量误差应为t:.D=0.01，输入光圈di应为2mm或更小。圆柱形表面放置在射线束方向上形成边缘(图1)。使用直径50mm100 mm、长约100mm的常规钢制圆管或厚壁管，将厚度1mm或更厚的铅板围绕在圆管表面。尽量避免散射。在射线管窗口前加装尺寸与胶片配合的准直光圈。尽量不要使用额外的X射线预滤波。焦点尺寸应在两个互相垂直的方向上测量。两个方向的测量如下进行z1) 第一次测量s射线管轴线应垂直于圆管边缘，将铅字L放在胶片上;2) 第二次测量:射线管轴线应平行于圆管边缘，将铅字W放在
9、胶片上。铅字的图像应位于底片的黑色部分。胶片放置时应确保其长边始终垂直于圆管轴线，以便使边缘的不清晰图像在两种情况下都能横穿胶片。单位为毫米4 2 。甲NA3 f 1一一射线源/焦点;2一一边缘;3一-lmm铅板54一一胶片。图1测量焦点尺寸的布置4.2 距离和曝光时间的选择根据图1，距离f和5分别代表射线源到边缘和边缘到胶片的距离，dc代表包裹了铅板的钢制圆管的直径。f和s之间的关系可由给定的标称焦点尺寸推导。s/I的值应大于或等于密度计输入光圈直径di与焦点尺寸dn(由制造商提供)比值的10倍(见公式1):s/I注10X d;/dn 注:如果距离5过大，密度计输入光圈直径di宜降至1mm或
10、更小。比值I/dc应大于50例如，胶片到焦点距离(1十s)大约为2m时适于使用300kV /5 mA的X射线管。如果焦点尺寸的标称值未知，s和f之间的关系需要以实验的方法获得:可采用边缘方法预先求出. ( 1 ) 2 GB/T 25758.4-2010 焦点尺寸。完全曝光的底片光学密度应达到D=2.5土0.30曝光时间应超过30So 5 焦点尺寸的测量和确定5. 1 测量可通过评估已处理底片上的密度分布图(图2)来测量问。如果把底片分成不同密度的三个区域，分别为亮区、过渡区和暗区，则亮区和暗区的密度分布应尽可能均匀，也就是没有明显的波动。如果在任一区域沿长度方向(沿底片的长度方向)的密度变化超
11、过总对比度的2%，则有必要检查散射防护装置并进行重新曝光。几何不清晰度Ug可通过底片上最暗区域和最亮区域密度的对比来获得。如果使用手持密度计，则密度应在观片灯的固定点上测量，此固定点为密度计的调零点。此时，应滑动底片而不是移动密度计。在测量前后都应检查密度计的调零。防止出现偏移而需要重新测量。首先应测量暗区和明区的总对比度，然后将总对比度的5%和95%的两点标记在底片上。两点间的距离就是几何不清晰度问。为了说明冉的测量过程，图2显示了一个密度分布曲线，总对比度的5%和95%两点被标记在横坐标上。标记点对应的长度是UgJ还是Ugw取决于X射线管轴线的方向。焦点尺寸根据下式计算:式中:l 焦点长度
12、EW一一焦点宽度;f一一焦点和边缘的距离(见图1);5 边缘到胶片的距离。3.5 3.0 光。=l=ugd/s W =ugwf/s HJO% 学_.-t-一一一一l飞-一一一一-一一-一一一局弘一-密度2.01. 5 1. 0 0.5 OL O 50% 5% 0% 10 20 30 50 长度x一一一一-圄2底片密度分布及其评估示例60 mm . ( 2 ) . ( 3 ) 3 GB/T 25758.4-2010 5.2 确定采用射线管轴线方向上的长度l和垂直于X射线管轴线方向的宽度w来确定焦点尺寸。所有尺寸中的较大值应作为焦点尺寸do如果尺寸l或w中的较大值超过射线管规范中给出的值dn，在使
13、用射线管之前可采用另一种更精确的焦点尺寸测量方法(示例见附录A)。如果需要鉴定焦点尺寸，测量结果须满足GB/T25758. 1规定的值，不确定度在士10%以内。4 GB/T 25758.4-2010 附录A(资料性附录)数据分析射线照相底片可用于更加精确的焦点尺寸测量。如果需要这种测量宜采取如下步骤:一一使用显微光密度计扫描胶片密度分布。依据公式(A.1)计算一阶导数:D = I D(x) - D(x - ds)J/ds I .( A.1 ) 式中zds一一显微光密度计的步长。一一利用公式(A.2) ，根据D曲线与10%线的交点(A，B)计算几何不清晰度吨，如图A.1所示:Ug =EF 一一一
14、利用公式(2)和公式(3)计算焦点尺寸的长度l和宽度。注1:这种方法只有在知道5和f的确切值时方可使用。注2:这种方法需要较高的信噪比。因此，采用GB!T19348. 1规定的C4或者更高等级的胶片系统，并且对于沿边缘投影方向的几次扫描需取平均值。注3:在计算射线管电压高于200kV的焦点尺寸时，圆柱直径宜大于等于100mm且满足f/d，5，胶片系统等级.( A.2 ) 宜至少为C4，0.20 (】气俨100% 一-一一一一_j_一一一一一一-一-一_.哇二一旦旦一-30 40 50 mm 长度x一一一一一一+图A.l密度分布的一阶导数5 OFON|叮.hNH因。华人民共和国家标准无损检测工业X射线系统焦点特性第4部分:边缘方法GB/T 25758.4-2010 国白* 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045 网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销唔印张O.75 字数11千字2011年6月第一次印刷开本880X12301/16 2011年6月第一版16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533定价电悔书号:155066. 1-42885 GB/T 25758.4-2010 打印日期:2011年7月19日F002
