1、GB/T 6062-2002 前言本标准是根据国际标准ISO3274 , 996(产品几何量技术规范表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性对GB/T6062-1985进行修订的，在技术内容上与ISO3274等效，编写规则上与之等同。该标准的修订与ISO/TC 213产品几何技术(GPS)标准总体规划协调致，适用于表面结构实际轮廓的评定，并针对新-代触钉式仪器，扩大了使用面，满足了国内生产和进口仪器的验收，适应国际贸易、技术和经济交流以及采用国际标准飞速发展的需要。本标准主要规定了与仪器标准有关的定义:如轮廓、触针式仪器、触针式仪器的结构、仪器的计量特性等有关定义囚规定了有关仪器特性的标称值
2、:如针尖半径及角度、静态测量力、轮廓撞波器截止波长、触针半径及粗糙度截止波长率等重要技术内容。本标准增加了三个附录，附录A0.5m或Rz3m的表面，通常可以使用n针尖半径)5m.在测最结果中没有明显差别。椅快)当截止波长儿为8m和25严m时，因具有推荐针尖半径的触针机械滤波所致的衰减特性将位于定义的传输带之外几乎是必然的。既然如此，在触针半径或在形状上的微小变化对在测量轮廓t计算的参数值的影响将是可以忽略的。如果认为其他截止率是满足应用所必须的，则必须指定这个截止率。132 GB/T 6062-2002 附录A(提示的附录)符合GB/6062-1985的仪器A1 前言本标准相对于G/T6062
3、-1985在以下两方面作了重大变化。一传输特性;一导头的使用不再是本标准的部分。A2 使用2RC滤波器的模拟仪器当用2RC滤波器的仪器与在本标准正文中定义的理想仪器(理论准确)测量Ra，Rz等参数时，使用在G/T10610中指定的滤波器截止波长，所得参数值之间的差别通常是可以忽略的。从工业生产加工中次加工表面t测得的差值不大于表面上各测量值的自然分散度。A3 使用导头的仪器使用导头的仪器只能用于测量粗糙度参数。A3.1 导头半径如果使用导头，则它在测量方向上的半径应该不小于所用标称截止波长的50倍。如果使用两个同时工作的导头，它们的半径应该不小于标称截止波长的日倍。A 3. 2 导头压力通过导
4、头施加到被坦l表面上的力应该不大于0.5N 0 B1 介绍附录B(提示的附录)本标准改造的背景以前，人们知道仪器有个意义明确的基于模拟2RC滤波器或具有相同特性数字处理的滤波特性。然而，通常人们并不理解所有的使用仪器在测量短波的能力方面都是有限的。这些极限是由于以下部分或全部因素所致za)针尖半径(例如z2m，5m等限制j了针尖能进入谷底的程度，因此倒置了一定程度的滤波，b)触辛|的形状(例如z四棱锥形、圆锥形、球形)明显降低短波部分表面的还原度(例如z峰的变形); c)采样间隔将限制表面t的微细结构的程度(例如:o. 25m、o.5 Im等hd)采样方法(例如z按时间和水平位移、线性和非线性
5、)可以影响传输特性。这些因素可以使仪器在还原短波能力方面受到限制。这些限制很难确定，然而确实存在a它们的影响在某些情况下可以确定(例如:采样间隔)，而那些由触针引起的则不能确定(见阁Bl)。此外，这些因素中每一个的影响对于不同的表面和滤波器截止波长可能是不同的。这意味着这些因素的综合影响是个不确定的，因此产生一个不确定区域。既然不能清楚地确定这些限制.本标准提供可确定的下限，或短波截止波长儿的一套方法，使得不确定区域在测量区域之外。GB/T 6062-2002 100 由触针产生的事示称披最鼻限90 80 70 000 654 丑啦胆事酣睡30 20 10 。O. 1 m lm 10m 。1m
6、，lmm 10 mm 波长图B1高斯滤波器传输特性和2m触针的不确定标称传输特性B2 介绍传输带的主要目的通过使用在本标准的其余部分给出的原则，可以达到下列目的。a)能够进行表面对表面以及仪器对仪器之间的测量结果的比对。本标准的主要目的是能够比较相似的表面(表面对表面)或比较不同仪器的测量结果(仪器对仪器)。为此要求充分地详细说明确定测量结果所涉及的方法和变量。通过指定一个短的截止波长(，)并注意推荐的触针尺寸.就可能克服引起仪器之间或表面之间缺乏测量可比性的主要因素。b)提供个定义仪器工作范围的手段准确定义仪器的工作范围，将使用户能够根据被测零件所要求的功能选择仪器。这些建议在信号处理设备(
7、例如2高保真系统，示波器等等)中是典型的。采用这些建议使得在仪器的技术指标中和所做测量结果中(必需使用正确的触针能够有一个正确的无歧义的说明目B3 结论本标准正文中给出的这些规则，通过应用意义明确的数学方法(即使用高斯形的相位修正滤波器)提供了能够使表面特性更加标准化的合适手段，进而通过寻求对仪器传输特性上下限的控制，能够在仪器间和表面间进行更加准确的测量比较。3.1 GB/T 6062二囚02附录C(提示的附录)在产品几何技术规范体系中的关系Cl 关于本标准及其应用的信息本标准EE义了使用轮廓法的基准表面结构的测量仪器。因此，它促进了用于实际轮廓评定的街关表面结构的系列标准巾其他标准的应用。
8、本标准规定了影响轮廓评定的基准仪器的性能，提供了接触(触针式)仪器(轮廓计和轮廓记录仪技术规范的基本原则。C2 在产品几何技术规范体系中的位置本标准是卢项基础产品几何技术规范标准，它影响标准链中第5个环节，即在总的产品几何技术规范体系中的粗糙度、波纹度和原始轮廓部分，图示说明在表Cl.C3 有关的国家标准相关的国际标准是表Cl中指出的那些链。表Cl产品几何技术规范模式键环号1 2 3 4 o 6 产品文件表公差定义实际要素的工件偏差的测量器具校准要求要章的几何特性理论定义定义特性评定与公代码要求测量标准器和参数值或参数差极限比较l 尺寸2 距离卜卜二一一一3 l半径4 角度(以度为单位)5 与基准无关的线的形状6 与基惟有关的线的形状7 与某J静无关的面的形状8 与基准有关的面的形状9 方向10 位置11 圆跳动IZ 圭跳动13 基准轮廓14 粗糙度轮廓、J15 波纹度轮廓卜一一一16 原始轮廓v 17 表面缺陷18 楼边
