1、FL 5962 主tSJ 50597/56 2002 .电Semiconductor integrated circuits Detail specification for type JW920 PIN driver 2002-01-31发布2002-05-01实施中华人民共和国信息产业部批准1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 2 3 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 4 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 5 5.1 6 6.1 6.2 6.3 目户，I 范围. .,. . ,. . . . . . . . 1 主题内容. ,.,. 1 适用范围.,. ,. . .
2、. . ,. . . . . . 1 分类.,. . . . .山.1 绝对般大额定值推荐工作条件.2 引用文件. . . .2 要求.2 详细要求.2 设计、结构和外形尺寸.2 引线材料和镀涂.4 电特性.4 电测试要求.4 标志.山.5质量保证规定.6 抽样和检验.6 筛选. 鉴定检验. 8 质量一致性检验.8 检验方法.12 交货准备. 12 包装要求. 12 说明事项. 12 订货资料.12 缩写词、符号和定义. 13 替代性. 13 附录AJW920 电参数测试方法(参考件).14 中华人民共和国电子行业用标准半成电路JW920型PIN驱动器SJ 50597/56-2002 Semi
3、condudor Integrated drcuits Detail specificatlon ror type JW920 PIN driver 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了半导体集成电路JW920型PIN驱动器(以下简称器件的详细要求.1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购.1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类.1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597A (半导体集成电路总规范3.6.2规定.1. 3.1.1 器件型号器件型号如下z号一型-n-AY 件-N嚣一器件名称PlN驱动辑1. 3. 1. 2 器件等级器件等级应为OJB5
4、97A第3.4条规定的B级和BI级.1. 3. 1. 3 封装形式封装形式应按OB厅7092(半导体集成电路外形尺寸规定.封装形式如下z封装形式外形名称DI8S) (18号|线陶瓷双列封装)D 1. 4 绝对是大额定值绝对是大额定值如下:正电源电压:Vcc1=4 V-35 V. Vcc2=4 V-5.5 V 负电源电压:VEE=-5.5 V-2.7 V 始/IJ电流(每路):I()王三200mA 中华人民共和国信息产业部2002-01-31发布2002-05-01实施SJ 50597/56-2002 贮存温度:只.=-65 .C-150.C 纺沮:7;150.C寻i线耐焊接温度(10s):T.
5、运300.C功耗(50.C)，Po罢王1000mW(当TA50.C时，按10mW/.C降额使用.1. 5 推荐工作条件推荐工作条件如下z正电源电压，Vccl=5 V-30 V. Vc=4.5 V-5 V 负电源电压，VEE=-5 V-3 V 工作环绕温度，TA = -55 .C-125 .C 输出电流每路)，10运120mA. VL =0.8 V. Vm=2.0 V 工作频率;1运10kHz 1. 6 热特性热阻(结一环挠)，RrG-A)=100 .CIW 2 引用文件GB 343 1.2-86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB厅7092-93半导体集成电路外形尺寸GJB 548A-9
6、6 微电子器件试验方法和程序GJB 597A-96 半导体集成电路总规范SJrr 10734-96 半导体集成电路文字符号电参数文字符号3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB597A和本规范的规定.3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应按GJB597A和本规范的规定.3. 2. 1 引出踹排列引出端排列应符合图1的规定.引出端排列为俯视图。NC 2IN IIN GND VCC2 4IN 3卧NC NC 18 17 16 15 14 13 12 11 10 1234 S 6789 IOUT Dp VCCI 20UT VEE 30UT -0 40UT NC 1 引出端排列2 SJ
7、 50597/56-2002 3.2.2 外形图外形尺寸应符合图2的规定.A c L el D 数值(mm)尺寸符号数值(mm)尺寸符号最小公称愚大最小公称是大A 5.10 el 7.62 AI 0.51 L 2.S4 5.00 c 0.20 0.46 z 2.54 e 2.54 D 23.00 bl 0.35 0.69 图2外形图3.2.3功功能框图应符合图3的规定.3 卧4。+ SJ 50597/56-2002 Vo白Vcc J 功率放大V . 图3(单路)3.2.4 封装形式3.3 3.4 3.5 封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定.冒|线材料和您涂引线材料和镀涂应按GJB597A
8、 电特性电特性应符合表1的规定.电测试要求3.5.6条的规定.v,. OUT lJP 器件的电测试要求应为表2所规定的有关分纽，各分组的电测试按表3的规定.表1JW920电特性条件极限值特性符号若无其它规定.Vcc,=30 V. Vcc2=5 V. VEE二5V. -55.CTA运125.C)最小最大输入低电平咆流IL VL=0.8 V 200 输入高电平电流IH VIH=2 V 20 VIH=5.5 V 40 输出高电平VOH VL=0.8 V 10二120mA 28 输出低电平VOL VIH=2 V 10=120 mA -3.3 输入低电平到输出高IpLH RL=24 n 电平传输延迟时间
9、输入高电平fJ输出低tpHL RL=24n. CL=IOOOpF.户5kHz 0.5 电平传输延迟时间输出短路电流/05+ 产1kHz. Rs=1 n.占空比3%400 los-产1kHz.也=1n.占空比3%400 的L=O.8V.空载10 Icc, VIH=-=2 V.雪载2 静态电源电流ICC2 VL=0.8 V或VIH=2V.空我7 VIH=2 V. 我35 IEE VL =0.8 V.空载20 4 单位A A V V s S mA mA mA mA 中间老炼前电测试中间老炼后电测试.终电测试A组试验要求C组终点电测试D组终点电测试项目位，1)该分组要求PDA计算-3.6 标志SJ 5
10、0597/56-2002 表2电测试要求T AI. A7、A9分AIIJ. A71). A91) 组见表3)A2、A3、A8、AIO、AIIAI. A2、A3.A7、A8a.A8b、A9、AIO、AIIA1. A7. A9和表811.极限AI. A7. A9 标志应按GJB597A 3.6的规定.表3JW920电测试测试方法条件极限值若无其它规定.Vccl=30 V. 分组符号附录AIil小最大VCC2=5 V. VEE5 V) IIL A3 VIL=0.8 V 20 VlH=2 V 20 l A4 VlH=5.5 V 40 VOH AI VIL =0.8 V. JO 120 mA 28 VO
11、L A2 VlH=2 V. 10=120 mA -3.3 AI los+ 产1kHz. Rs=1 n.占空比3%400 AIO TA=25 C los-产1kHz. Rs=1 n.占空比3%400 VIL =0.8 V.空载10 ICCI A8 VIH=2 V.空载2 IC C2 A6 VIH=Ov或VlH=2V.空载7 问日=2V.空载35 hE A7 VIL =0.8 V.空载20 A2 TA=125 C 所有参数、条件、极限值均同于AI分组.A3 TA55C 所有参数、条件、但限值均同于AI分组.A7 TA=25 C A9 通过判定D.，、lp电压值来判定电路的工作状态.A8a TA=1
12、25 C A9 通过判定鸟鸣、Dp电压值来判定电路的工作状态.A8b TA55 C A9 通过判定向峰、lp电压值来判定电路的工作状态.单位I1A A V V mA mA mA mA 5 SJ 50597/56-2002 绞袋3测试方法4在件极限值(若无其它规定，Vccl=30 V, 单位分组符号附录A最小最大Vc-5 V. VEE5 V) A9分组IpLH A5 RL=24 n CL-IOOO pF j可kHzs TA-25.C IpHL 0.5 AIO分组TA=125.C 所有参数、条件、极限值均同A9分组.AII分组TA55 .C 所有参数、条件、极限值均同A9分组.4 质量保证规定4.
13、 1 抽样和检验除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597A和本规范的规定.4.2 筛选在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选.表4筛选条件和要求(GJBS48A) 筛选项目B级器件BI级器件说明方法条件方法条件内部目检2010A 试验靠件日2010A 试验条件B封盖前稳定性烘培1008A 试验条件c1008A 试验条件C(不要求终点电(150.C. 24 h) (150.C.24h) 测试温度循环101 0A 试验条件C101 0A 试验条件C可用方法10llA试验条(10次循环)(10次循环)件A替代.恒定加速度2001A
14、 试验条件E2001A 试验条件DY1方向Y1方向目检引线断落、外壳破裂、封盖脱落为失效.-+-中间老炼前)本规范A1，A7 , A9分丰规范A1、A7、A9分组电测试组老炼1015A 试验矗件D.1015A 试验条件D.采用本规范图4电路12SOC. 160 h 125.C. 160 h 中间老炼后本规范A1，A7, A9分本规范AI，A7, A9分组电测试组和表S的A极限和表8的A极限6 SJ 50597/56-2002 续表4条件和要求(GJBS48A) 筛选项目B假槌件BI纽豁件说明方法条件方法条件允许的不合格晶S%，本规范AI.A7. 100/0，本规范AI.A7. A9 若老炼前未
15、进行中向电率(PDA)计算A9分组.当不合格晶分组.当不合格品率不扭过测试.则老炼后中间电测率不超过10%时，可重20%时，可重新提交老炼，试AI、A7.A9分组的失新提交老炼.但只允许但只允许一次效也应计入PDA.一次经终电测试本规范A2.A3. A8a、本规范A2.A3. A8a、A8b、本项筛选后.若引线涂镀A8b、AIO、AII分组AIO、AII分组改变或返工，则应再进行AI. A7. A9分组测试.密封1014A 1014 细检漏试验条件AI试验条件AI粗检漏试验条件CI试验条件CI鉴定或质量一致SOOSA 第3.S条S005A 第3.5条性检验的试验样品抽取外部目检2009A 按规
16、定2009A 按规定产1kHz. T1L电平I I 0.1F 0.1F 17 3 5 0.1F 100 100 -5 V 注z0.1F电容误差小于或等于10%( 680 pF电容误差小于或等于10%( 100 n电阻误差小于或等于!i%16 13 12 14 IW920 15 4 6 8 100 100 图4老炼及寿命试验电路7 SJ 50597/56-2002 17 16 13 12 15 IW920 3 14 5 1 k 。1k 18 Y 5Y -5Y 注z电阻误差小于或等于S%5 寿命试验电路4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597A的规定.所进行的检验应符合GJB548A方法5005A
17、和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4)的规定.4.4 质量-B:位检验质量一致性检验应按GJB597A的规定.所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4)的规定.4.4.1 A组检验A纽检验应按本规范表5的规定.电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定.各分组的测试可用一个样本进行.当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行.合格判定数(c)最大为2.表5A组检验LTPD 试验B级器件BI级辑件AI分组25.C下静态测试2 2 A2分组125.C下
18、静态测试3 3 A3分组-55.C下静态测试5 5 A7分组25.C下功能测试2 2 A8a分组125.C下功能测试3 3 s SJ 50597/56-2002 表5(续)LTPD 试验B级黯件B1级器件A8b分组-55.C下功能测试5 5 A9分组25C下开关测试2 2 A10分组125.C下开关测试3 3 All分组-55.C下开关测试5 5 4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定.81-85分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本.袋6B组检验条件和要求(GJB548A) 样品数项目B级嚣件B1级辑件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPDB1分组2 (0) 尺寸2016
19、 按规定2016 按规定B2分组4 (0) 耐溶剂性201SA 按规定2015A 按规定B3分组15 LTPD系对引线数而言，可焊性2003A 焊接温度2003A 焊接温度:被试器件数应不少于3245.C士5.C245.C士5.C个.B4分组1/(0) 内部目检和2014 按规定2014 技规定机械性能B5分组10 可在封盖前的内部目键合强度2011A 试验条件C2011A 试验条件C检筛选前或后任意抽越声焊或D或D取样品进行本分组试验.4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。9 SJ 50597/56-2002 表7C组检验条件和要求(GJB548A) 试验B级怨件BI级黯件LTP
20、D 说明方法条件方法条件CI分组5 稳态寿命1005A 试验条件D100M 试验条件D采用本规班图4电路.125.C. 1000 h 125.C. 1000 h (或采用本规范图5电(或150.C.184h) (成150吧.184 h) 路终点电测试本规范AI、A7.A9 本规范AI、A7.A9 分组和表S的A极限分组和表8的A极限C2分组15 温度循环IOIOA 试验条件C10lOA 试验条件C(10次循环(10次循环)恒定加速度200lA 试验条件E.200lA 试验条件D.YI方向YI方向密封101 4A 1014A 细检漏试验条件AI试验条件AI粗检漏试验靠件CI试验条件CI目检技方法
21、10lOA目检按方法10lOA自检判判据据终点电测试本规范AI.A7. A9 本规范ALA7. A9 分组和表8的A极限分组和表Z的A极限表8C组终点电测试(TA=25.C)极限值试验项目A极限值是最大VOL -3.3 V 士0.18V lCCI IO mA 土2mA2 mA 士0.4mA4.4.4 0组检验D组检验应按本规范表9的规定.01. 02. 05、06和07分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。10 SJ 50597/56-2002 表9D组检验条件和要求(GmS48Al 样品数项目B级器件81级黯件接收数)说明方法靠件方法条件或LTPO01分组IS 尺寸2016 按规定2
22、016 按规定02分组10 至少抽取3个嚣件.引线牢固性2004A 试验条件822004A 试验条件8203分组l 热冲击1011A 试验矗件8.1011A 试验条件A.IS次循环IS次循环温度循环101 0A 试验条件C101 0A 试验条件C(100次循环( 100次循环)耐湿1004A 技规定1004A 按规定目检技方法1010A和技方法1010A和1004A日检J据1004A目检判据密封1014A 1014A 细检漏试验条件A1试验条件A1粗检漏试验条件C1试验条件C1终点电测试本规范A1、A7、本规范A1.A7. A9分组A9分组+ 04分组1S 用于03分组的样品机械冲击2002A
23、 试验条件B2002A 试验条件B可用在04分组扫频振动2007 试验条件A2007 试验条件A恒定加速度2001A 试验条件E.2001A 试验条件O.Y1方向Y1方向密封1014A 1014A 细检漏试验条件A1试验条件A1粗检漏试验条件C1试验条件C1日检按方法2002A和技方法2002A和2007目检判据2007目检判据终点电测试本规范A1.A7. 本规范A1.A7. A9分组A9分组+ OS分组IS 81级可在订货合同盐雾1009A 试验条件A适用时上要求.目检按方法1009A目检判据密封1014A 细检漏试验条件A1相检漏试验条件C111 L 一一SJ 50597/56-2002
24、袋9(续)条件和要求(G1B548A) 样品数项目B银器件B1级器件(接收数)说明方法条件方法条件或LTPO06分组3/(O 当试验3个器件出现内部水汽含量1018 100 .C时最大水汽不要求或1个失效时，可加试2含量为，5000 ppm 51( 1) 个器件并且不失效.若第一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验，若试验通过，则该批被接收.07分组15 LTPO系对引线数而引线涂覆2025A 按规定2025A 按规定言.粘附强度4.5 检验方法检验方法应符合相应表格的规定.本规范给出的或GJB548A涉及的试验方法和试验线路均可使用，其它的试验线路应由鉴定机构批准.4.
25、5. 1 电压和电流所有给出的电压均以提件GND端为基准:给定的电流以流入器件引出端为正。4.5.2 老化和寿命试验冷却程序器件进行工作寿命或老炼试验后，应先将器件冷却至室温才能去除偏置，然后进行25.C下测量.5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB597A第5.1条的规定.6 说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内容:a b. c. d. 完整的器件编号(见1.3.1条).需要时.对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求.需要时对合格证书的要求.需要时对产品或工艺的更改通知采购单位的要求.e. 需要时，对失效分析(包括GJB548A方法5003要求的试验
26、条件)、纠正措施和结果提供报告的要求.12 f. 对产品保证选择的要求.g. h. 需要时，对特殊载体、引线长陕或引线形式的要求.对认证标志的要求.1. 包装和包装箱要求.j. 需要时的其他要求-6.2 缩写词、符号和定义SJ 50597/56-2002 本规范所使用的缩写词、符号和定义按GB3431.1、GB3431.2、GJB597A和本规范的规定.6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件.不允许用普通工业用器件替代军用器件.13 SJ 50597/56一2002附崇AJW920电参蚊测试方法(补充tAl 输出离电平电压VOHA1. 1 目的在规定的输入低电平下.测试电路的
27、输出高电平电压A1. 2 测试电路固VOH的测试电路图如图AI所示zV CCI J4口laa啼，。A唱31 82 10-120 mA 17 13 Vn. -0.8 V VEE 图AlVOH测试电路图A1. 3 测试条件a. Vccl=30 V, V.2=5 V，民E=-5 V, 10=-120 mA: b. Vo.=0.8 V: C. TA= 25.C、-55.C、125.C. A1. 4 测试程序a. 将被测器件置于TA=25.C、-55.C、125.C的环填中:b. 将被测器件按入测试系统:C. 接通电源:d. 使SI、S2分别接入相应迢迢，即SI接IIN、2川、31N、41N，但接IOU
28、T、20UT、30UT、40UT: e 分别从电压表上读出1VOH、2VOH、3VOH、4VOH的值-A2 输出低电平电压VOLA2. 1 日的在规定的输入高电平下.测试电路的输出低电平电压A2.2 测试电路图14 SJ 50597/56-2002 Y旺的测试电路A2所示zVCC1 Vco -za吨，。 43 1 lo-120 mA 3 16 17 13 VD!-2 V V军豆图A2VOL测试A2.3 测试条件a. Vccl=30 V. V，1=5 V. VEE- -5 V; b. V.田=2V. 10=120 mA; C. TA= 25 oc、-550C、1250C.A2.4 到试程序8.
29、将被测器件置于TA=25 oC、-550C、1250C的环境中:b. 将被测器件接入C. 接通电源:d. 使SI、S2分别接入相应通道:e. 读出电压表数值1VOL、2VOL、3VoL、4VOL的值-A3 输出低电平电流IILA3. 1 目的在规京的输入低电平下，测试电路的输入低电平电流A3.2 测试电路图I且的扭H式电路图如图A3所示:VCC1 V口:2y且O.8V 3 16 17 13 12 15 -aaaT，。eJ I V . 图A3IIL测试电路图15 SJ 50597/56-2002 漂11式条件A3.3 8. b. A3.4 8. b. c. d. e 输出离电平电流11HA4 目
30、的在规定的输入高电平下，测试电路的输入高电平电流.测试电路图I旧的测试电路图如图A4所示tA4. 1 A4.2 几口VCC1 14 1 4 3 16 17 6 13 VIH2-2 V S2 Vcc,=30 V. Vcc,=5 V. VEC -5 V, VIL=O.8 V, c. h= 25.C、-55.C、125.C. 测试程序将被测器件置于TA=25吧.-55吨.125.C的环境中:将被测器件接入测试系统:接通电源:使S接入相应通道:读出电流表数值IIIL、2IIL、3IIL、411L的值.8 5 ，、1 句，& l -一-也Vn, -S.S V VEE 11H测试电路图A4测试条件VCCI
31、=30 V. V.，=5 V. VEE= -5 V, Vun=5.5 V. VllI2=2 V, TA= 25.C、-55.C、125.C.测试程序将被测器件置于TA=25吧.-55吧.125.C的环境中:将被测器件接入测试系统:接通电源:使SI接入相应通道.S2分别接通Vnn，VUi2i 读出电流表数值ll田、21m、31，田、41，旧的值.8. b. c. a c d. b. A4.3 A4 .4 e 16 SJ 50597/56-2002 A5 tPLH及tPHLA5. 1 目的输入规定的方法信号，测量输入低电平到输出高电平传输延迟时间和输入高电平到输出低电平传输延迟时间.测试电路图lp
32、u!及IPIIL的测试电路图如A5所示zA5. 2 VCC1 V= 3 16 17 14 1 4 RL u 13 6 8 5 eJ I 句，.1 VEE 注z电阻误差小于或等于S%.电容误差小于或等于5%.示波器显示披形zv. IPIJf 10 10 v、5仙也图A4tPLH和IpHLJIJ式电路图及波形A5.3 测试条件A5.4 Vccl=30 V. Vccl=5 V. VEE= -5 V. RL=24 n. CL=IOOO pF: 户5kHz: C. TA= 25 oc、-550C、1250C.测试程序将被测器件置于TA=25吧.-55吧.125吃的环境中:将被测器件接入测试系统:拨通电源
33、:使81.82分别接入相应迢迢的输入、输出端:a. b a b C. d 17 SJ 50597/56-2002 。.从示波器上分别读出相应迢迢的输入低电平到输出高电平传输延迟时间和输入高电平到输出低电平传输延迟时间.A6 静态电源电流1=A6. 1 目的空载情况下，输入规定电平时.测试Y电源的1=.A6.2 测试1CC2的测试电路图如图A6所示.VCC1 V. -0.8 V E 16 3 14 1 17 2 , 113 。寸叫5VUf-2 V 5 VEE A6 lcC2测试电路A6.3 8. Vcc1=30 V. V.1=5 V. VEE= -5 V, b. VIL0.8 V. vj田=2V
34、, C. TA= 25.C、-55.C、125.C.A6.4 测试程序4 6 E a. 将被测器件置于TA=25吧.-55吧.125.C的环境中:b 将被测器件接入测试系统:c 接通电源gd 使开关S置1或2触点，从电流表直接读出电流值lcc20A7 静态电源电流1ff.A7. 1 目的空载情况下，输入规定电平时，测试VEE电源的1EEA7.2 测试原理1EE的测试电路图如图A7所示.18 V口2SJ 50597/56-2002 V白IVc口V. -0.8 V 16 3 14 1 17 4 2 , 113 6 。寸V田-2Vs 5 回A7In测试电路图A7.3 测试条件a. V.1=30 V.
35、陀CI=5V. VE -5 V: b. Vn. =0.8 V. VnF2.0 V.空载:C. TA= 25 .C、-55.C、125.C.A7.4 测试程序且将被测器件置于TA=25吧.-55吧.125.C的环境中:b. 将被测器件接入测试系统:C. 接通电源:d 使开关S置1或2触点，从电流表直接读出电流值IEEA8 静态电源电流ICClA8. 1 目的空载情况下，输入规定电平时，测量VCC1电源的ICCIA8.2 测试电路图Iccl的测试电路图如图A8所示zV(C2 V. =0.8 V 14 3 1 16 17 2 冒113 。y旧=2V VEE 图A8ICC1测试电路V . 的kcl19
36、 SJ 50597/56-2002 1.8.3 测试条件8. Vccl=30 V. vc1=5V. VEr-5V, b. V.且.=0.8V. V.田=2V, TA= 25.C、-55.C、125.C.1.8.4 到试程序8. 将被测器件置于TA=25吧.-55.C. 125.C的环境中gb. 将被测器件接入测试系统:。.接通电源zd. 使开关S置1或2触点，从电流表直接读出电流值Iccl1.9 和Dp功能1.9. 1 目的输入规定电压，测量D，;和)p功能-1.9.2 测试电路图D，;和马功能的测试电路图如图A9所示.V. =0.8 V .、. 2 。VCCJ Vc口3 14 I 16 17
37、 13 5 RL1 Vrn=2 V 1 I R口VEE 注:电阻误差小于或等于.5%图的DN和Dp功能测试电路图1.9.3 测试条件8. VCCI=30 V. Vccl=5 V.民缸=-5 V, b. RLI=10 kO. Ru=10 kO; c. Vrn=2 V. Vn.=OV， d. TA= 25.C、-55.C、125.C.1.9.4 测试程序a 将被测器件置于TA=25吧，-55吧.125.C的环域中;20 b. c. 将被测器件接入测试系统g接通电源:SJ 50597/56-2002 d. 将81开关分别置于Vrn和Vn.端，但同时分别接鸟，和Dp端，并观察其电压值A9.5 判定AI
38、0 若Vrn=2V. VopO. VONO表示检测功能正常.否则不正常.输出短路电流IosAI0.l 目的输入规定的脉冲信号，测试电路图量各通道的输出短路电流.AI0.2 los的测试电路图如G JL A10所示.VCC1 3 16 17 13 Vc口14 1 4 6 8 5 VEE 注2电阻误差小于或等于O/OAI0.3 8. b. c. 图AI0测试条件Y):30 V. VCC2: 5 V. VEE: -5 V, Rs:1 n, 产1kHz.占空比为3%，d. TA: 25 oC、-550C、125oCo 0 到试程序AI0.4 los 8. 将被测器件置于TA:25吧.-550C. 12
39、5吃的环境中:b. 将被测器件接入测试系统:c. 按通电源:Rs d. 开关81、82分别接相应的通道，从示波器读出VOHS和VOLSO21 SJ 50597/56-2002 AI0.5 计算22 os+= J:lHS I Rs 05-= VOl,s I Rs 附加说明g本规范自信息产业部电子第四研究所归口。本规范由信息产业部电子第二十四研究所负责起草.本规范主要起草人s蒲大勇、何乐.计划项目代号:B 91010. 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JW920型PIN驱动器详细规范SJ 50597/56-2002 事中国电子技术标准化研究所出版中国电于技术标准化研究所印刷中国电于技术标准化研究所发行电话，(010) 84029065 传真，(010) 64007日12地址z北京市安定门东大街1号邮编，100007 网址zww.cesi.aCECn 开本，880X 1230川印张z13字数48千字2002年4月第一版20口2年4月第一次印刷版权专有不得誉报电话:(010) 64007804
