1、ICS 37.020 N 30 中华人民圭七J庐飞、不日白自国国家标准GB/T 12085.20-2011 光学和光学仪器环境试验方法第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气Optics and optical instruments-Environmental test methods一Part 20 : Humid atmosphere containing sulfur dioxide or hydrogen sulfide (ISO 9022-20: 1997 ,MOD) 2011-06-16发布2011-11-01实施发布 数码防伪/ 中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准
2、化管理委员会 目Ij1=1 GB/T 12085(光学和光学仪器环境试验方法分为以下21个部分:第1部分:术语、试验范围;一第2部分:低温、高温、湿热;第3部分:机械作用力;一第4部分:盐芬;第5部分:低温、低气压综合试验;第6部分:砂尘;第7部分:滴水、淋雨;-第8部分:高压、低压、浸没;第9部分:太阳辐射;第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验;第11部分:长霉;第12部分:污染;第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验;第14部分:露、霜、冰;第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验;第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验;第17部分:污染、太阳
3、辐射综合试验;第18部分:湿热、低内压综合试验;第19部分:温度周期与正弦振动、随机振动综合试验;第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气;第21部分:低压与大气温度、高温综合试验。GB/T 12085.20-2011 本部分修改采用ISO9022-20:1997(光学和光学仪器环境试验方法第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气。本部分与ISO9022-20: 1997的主要差异为:一一删除国际标准的序言和前言;一根据ISO9022-20第1章及我国标准用语习惯对标准范围作了重新编写;二国际标准本部分一词改为本部分;第2章中的规范性引用文件用现行国家标准替代;条件试验中悬置段加编号;附录及参考文
4、献中的IEC721-3-4用GB/T4798. 4-2007(电工电子产品应用环境条件第4部分:元气候防护场所间定使用替代。本部分的附录A为资料性附录。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本部分起草单位:上海理工大学、宁波永新光学股份有限公司、江南永新光学有限公司、南京东利来GB/T 12085.20-20门光电实业有限公司、宁波市教学仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、宁波舜字仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司、贵阳新天光电科技有限公司。本部分主要
5、起草人:冯琼辉、黄卫佳、曾丽珠、叶慧、李唏、杨广烈、王国瑞、徐利明、张景华、胡森虎、李弥高、肖f青、夏硕、胡清。E GB/T 12085.20-2011 光学和光学仪器环境试验方法第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气1 范围本部分规定了含二氧化硫、硫化氢的湿空气的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的
6、最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 12085. 1光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围(GB/T12085. 1 2010 , ISO 9022 1: 1994 , MOD ) 3 一般要求用于试验的二氧化硫和硫化氢应为化学纯气体，取自天然压缩气缸。附录A中描述了适宜的试验装置。试验过程中，试样不宜直接暴露于阳光下，测试箱或试样本身不能有凝露产生。因此，在放入试验箱之前，试样应加热到比事先设定的试验箱温度高2K或3K。如果多个试样同时试验，则试样之间或试样与试验箱壁不能相互接触。试样体积不能超过试验箱体积(暴露区)的50%。在试验开始后，试样应在
7、2h内达到要求的试验条件。在要求的暴露时间内，试验不可中断。当试验气体改变时，上次所用的试验气体应全部从测试箱中排尽。在测试箱中不可采用吸收二氧化硫和硫化氢的材料。4 条件试验4. 1 总则规定的暴露时间应从测试箱中达到所要求的试验条件开始。4.2 条件试验方法41:含二氧化硫(S02)的湿空气条件试验方法41含二氧化硫(S02)的湿空气按表10表1严酷等级01 02 试验气体中二氧化硫含量ICcm1m) 12 03 试验箱温度jC25士2相对湿度1%暴露时间/天21 56 4 工作状态a主要用于电功能安全检验。04 2030 7080 10 1或205 06 07 08 1015 35 :1
8、: 2 21 1 4 10 1 GB/T 12085.20-20门4.3 条件试验方法42:含硫化氢(H2日的湿空气条件试验方法42含硫化氢(HzS)的湿空气按表20表2严酷等级试验气体中硫化氢含盐/Ccm3/m3)试验箱温度;oc相对湿度/%暴露时间/天工作状态a主要用于电功能安全检验。5 试验程序5.1 总则01 02 03 O. 51 25土221 56 1 试验应按相关规定和GB/T12085. 1的要求进行。5.2 预处理04 05 06 07 08 1O15 46 35士27080 4 10 21 1 4 1或2如果相关规定中没有说明，则不需要进行如GB/T12085. 1规定的对
9、潜在腐蚀面的润滑。6 环境试验标记环境试验标记应符合GB/T12085. 1的有关规定。示例:光学仪器抗湿空气中的二氧化硫试验，条件试验方法41、严酷等级02、工作状态l的标记为:环境试验GB/T 12085-41-02-1 7 有关标准应包括的内容a) 环境试验标记;b) 试样数单;c) 预处理;d) 初始检测的内容和范国pe) 工作状态2工作用期的确定;f) 工作状态2中间检测的内容和范围;g) 恢复;h) 最后检测的内容和范围;评价判据;试验报告的内容和范围。2 09 10 GB/T 12085.20-2011 附录A(资料性附录)含二氧化碗和前化氢湿空气中的试验装置A.1 总则许多标准
10、都推荐只用代表性的试样来试验材料和涂层对含有二氧化硫和硫化氢的湿空气的抗腐蚀能力。同时，规定腐蚀性空气温度40OC，相对湿度100%，气体浓度(如二氧化硫)200 mg/m3 300 mg/旷。这一极端试验条件不适合于整台光学仪器或光学组件，也完全不可能在自然环境中遇到。该条件甚至和光学仪器或光学组件工作性能完全元关，而只是自然环境中被极度污染的空气。GB/T 4798. 4规定在释放化学物质的工业设施周围，被极度污染的空气中二氧化硫的最大含量不可超过40mg/m3(l5 cm3/m斗。如果用GB/T4798.4规定的以上所述值试验，增加试验条件的严酷性以得到必要的促进，则能达到条件试验方法4
11、1中与自然环境条件相近的试验条件严酷等级，与IEC68-2-42所规定的试验值完全保持一致。按IEC68-2-42对电子产品试验的实践经验很大程度上也适用于光学仪器。A.2 试验装置图A.1所示试验装置，推荐用于光学仪器与部件在含二氧化硫和硫化氢湿空气中的试验装置。试验箱中的空气每小时应更换2次1次。可用图A.1所示隔板或60r/min的排风扇使试验空气中二氧化硫和硫化氢浓度值保持稳定。当试验整台仪器时，与罔八.1相反，空气最好从暴露区顶部进入，从底部排出。与图A.1相反，也可在气候试验和11安装台不带自身空气调节系统的试验装置b通过连接试验装置的进风口内侧进行?昆杂试验气体的调节，并通过其将
12、调节过的气体从气候试验箱排出。这一试验装置的体积不应超过气候试验箱体积的30%0 3 GB/T 12085.20-20门4 1一一真空泵和冷凝器;2一一空气流盐计;3一空气清洗瓶或吸收剂;4 保温体;5 加热/冷却装置56 隔板;7 减压阀58 气源;9 配料泵;10-一空气调节区;11-腐蚀性气体喷嘴;12 清洁空气过滤器;13 暴露区。2 图A.1试验装置示意图G/T 12085.20-2011 参考文献lJ GB/T 4798.4 2007 电工电子产品应用环境条件第4部分:元气候防护场所同定使用2J IEC 68-2-42 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Kc:接触点和连接件
13、的二氧化硫试验方法5 -FONlONdONH阁。华人民共和国家标准光学和光学仪器环境试验方法第20部分:含二氧化碗、研化氢的湿空气GB/T 12085.20 国中2011 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045奇峰网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销4峰印张O.75 字数11千字2012年1月第一次印刷开本880X12301/16 2012年1月第一版16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533定价峰15号:155066. 1-43675 GB/T 12085.20-2011 打印日期:2012年2月3日F002A
