GB T 18904.1-2002 半导体器件 第12-1部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带 不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范.pdf

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资源描述

1、1 GB/T 18904.1 2002/IEC 60747-12-1: 1995 QC 720101 王11: ./、ICS 31. 260 L 52 华导 立目12-1 + 帘Semiconductor devices一Part 12-1 : Optoelectronic devices:-Blank detail specification for Iight emitting/infrared emitting diodes with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems 一CIEC 60747-12-1: 1995

2、 .IDT) 川岛四古2003-05-01实施发布中华人民共和国国家质量监督检验检班总局2002-12-04发布G/T 18904. 1-2002/IEC 60747-12-1: 1995 GB/T 18904的本部分等同采用国际标准IEC60747-12-1:1995(QC 720101),在T,阳或T.mb最大时C3分组(D) 引出端强度2rr. 1. 2 按规定电引出端弯曲尾纤弯曲aC4分组(D) 耐焊接热rr , 2. 2 按规定终点测试z按规定目检按AI分组, 按A2b分组V , 按A2b分组1, 按A2b分组8 检查或试验要求/极限值最小值最大值(见第1章第7J栏)X X X X

3、X X X 斗X X X X LSL USL USL G/T 18904. 1-2002/IEC 60747-12-1: 1995 C 组(续条件检查或试验引用标准检验或试验除非另有规定.T,时(或T.)25C要求/极限值GB/T 4937 (见总规范第4章最小值最大值C5分组d快速温度变化皿.1 试验NbIEC 60068-2-14 循环次数100终点测试z, 按A2b分组0.9IVD 1. llVD C6分组(仅对空封器件)冲击或振动11 .3或4按规定继之以恒定加速度11.5 按规定终点测试E密封田.7, 按A2b分组LSL V, 按A2b分组USL I, 按A2b分组USL C7分组(

4、D) 稳态湿热田.5A按规定或循环湿热田.4按规定终点测试ze 按A2b分组。.8IVDV , 按A2b分组1. 2US1. IR 按A2b分组2.0US1. C8分组电耐久性至少1000 h. T.mb 70 C r.之二lFmu(当适用时,间歇工作终点测试z, 按A2b分组0.8IVD V, 按A2b分组1. 21VD I, 按A2b分组2.0US1. C9分组(D) 高温贮存m .2 在最高贮存温度T.,g下至少1000h 终点测试tE 按A2b分组0.8IVD V, 按A2b分组1. 2US1. I, 按A2b分组2.0US1. 提供C3.C5.C6和C日的属性资料,在C8CRRL分组

5、分组前、后提供测试结果。a 用于带尾纤器件。b 适用时。c IVD指每个样品的初始值。d 用于带尾纤/光纤聚焦系统的器件.9 L一GB/T 18904.1-:2002月EC60747-12-1: 1995 9 10 10 D组-一鉴定批准试验当要求时,这些试验应在详细规范中规定,且仅用于鉴定批准。附加资料(不作为检验用)只有规范和器件应用需要时给出,例如:一一与极限值有关的温度降额曲线;一辐射功率随温度变化的曲线或系数;辐射功率随正向电流变化的曲线g峰值发射波长随温度变化的曲线或系数;辐射图g一一热阻(对于环挠额定或管壳额定器件); 一一-测量电路或补充方法的完整说明;一一详细外形图。注z对于

6、12.分组的检查要求/极限值E短路V,5XVFmaxom-TNFfh叶houhv凶同NOON-.叮。-H闰。华人民共国家标准半导体器件第12-1部分s光电子器件纤维光学系统或子系统用带/:不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范GB/T 18904.1-2002/IEC 60747-12-1 ,1995 国和中4峰中国标准出版社出版北京复兴门外三旦河北街16号邮政编码,1日045电话,68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售68517548 峰开本880X12301/16 印张1字数23干字2003年5月第一版2003年5月第一次印刷印数1一1500 * 网址版权专有侵权必究举报电话,(010)68533533书号,155066.1-19451 -2002 GB!T 18904

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