1、ICS 1704030J 42 a目中华人民共和国国家标准GBT 22093-2008电子数显内径千分尺Internal micrometer with electronic digital display200806-25发布 200901一01实施宰瞀髁紫瓣警襻瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“”。刖 昌本标准的附录A、附录B均为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SACTC 132)归口。本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。本标准参加起草单位：成都工具研究所。本标准主要起草人：黄晓宾、张洪玲、姜志刚。GBT 22093-2008电
2、子数显内径千分尺GBT 22093-20081范围本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分辨力高于或等于0001 mm，量程小于或等于100 mm，测量范围上限至500 mm的电子数显内径千分尺。测量范围500 mm6 000 mm的电子数显内径千分尺参见附录B。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于
3、本标准。GBT 12162004外径千分尺GBT 180041999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表(eqv ISO 2862；1988)GBT 242332006 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验(IEC 60068 278：2001，IDT)GBT 2423222002 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化(IEC 60068214：1984，IDT)GB 4208 2008外壳防护等级(IP代码)GBT 17163几何量测量器具术语基本术语GBT 17164几何量测量器具术语产品术语GBT 1762622006电磁兼容试验和测
4、量技术静电放电抗扰度试验(IEC 6100042：2001，IDT)GBT 1762632006 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC 61000-4-3：2002，IDT)3术语和定义GBT 17163、GBT 17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。31电子数显千分尺数显装置electronic digital indicating devices for micrometer利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简称“电子数显装置”。32最大允许误差(MPE)maximum permissible error由技术
5、规范、规则等对电子数显内径千分尺规定的误差极限值。4型式与基本参数41型式电子数显内径千分尺的型式见图1、图2。图示仅供图解说明，不表示详细结构。GBT 22093-20082测量面 电子煎显装置 锁紧装置 微分筒 测量面A1型涮量面 长度接杆 电子教显装置 锁紧装霹 微分筒 测量面A2型A型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴澍量面 镪紧装置a)电子数显装置 微分筒 测力装置B型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移平行测量面 测头b)电子数显装置 测力装置C型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线
6、同轴，与测量面的位移垂直c)图1 电子数显2点内径千分尺的型式示意图GBT 22093-2008D型：电子数显3点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直a)E型：电子数显3点内径千分尺，溺檄螺杆轴线与测量面的位移同轴，与角度传感器的轴线垂直b)图2 电子数显3点内径千分尺的型式示意图42基本参数421 电子数显内径千分尺测微螺杆的螺距宜为05 mm或1 mm。422 A型、B型电子数显内径千分尺的量程宜为25 nlExl，测量范围的下限宜为5 mm或25 mm的整数倍。423 C型、D型、E型电子数显内径千分尺的财量范围的下限宜为整数。5要求51外观511 电子数显
7、内径千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。512 电子数显内径千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。513电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。52材料测微螺杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造；测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料。53相互作用531测微螺杆和螺母之问在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不应出现卡滞和明显窜动。532 D型、E型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好，且移动自如，不应出现卡滞，沿测量面轴线方向不应有明显摆动。54锁紧装置A型电子数显内径千分尺应具有锁紧装置。
8、锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。锁紧前后，两测量面间距离变化应不大于2 pm。55测力装置B型、c型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置。通过测力装置作用到测量面的测量3GBT 22093-2008力应一致，测量力变化不应大于30，同一生产厂的同一规格千分尺的测量力差别不应大于50。56测量面561 电子数显内径千分尺测量面宜为球形或圆柱形表面，其半径应小于测量范围下限的i2。562测量面也可以是其他形状，以适合特殊测量任务的要求。563合金工具钢测量面的硬度不应小于760 HVl(或618 HRC)；不锈钢测量面的硬度不应小于575 HV(或53 HRC)。57测头和量爪c型、D型、
9、E型电子数显内径千分尺可以配备数个测头或量爪，通过更换测头或量爪扩大测量范围。58长度接杆58。1 A型电子数显内径千分尺可配备数个长度接杆以扩大测量范围。582长度接杆的基准面应一端为平面，另一端为球面。583长度接杆基准面的硬度不应小于760 HVI(或618 HRC)。584长度接杆基准尺寸的偏差不应大于js2(见GBT 18004-1999)。59深度接杆D型、E型电子数显内径千分尺宜配备深度接杆以扩大测量深度。接上深度接杆后需要重新校对。510校对装置5101 电子数显内径千分尺应提供校对环规或校对卡规。5102校对环规或校对卡规基准面的硬度不应小于760 HVl(或618 HRC)
10、。5103校对环规或校对卡规上的标注尺寸的不确定度和圆柱度或平行度不应大于表1的规定。表1 单位为毫米公称尺寸D 标注尺寸的不确定度 圆柱度或平行度1D10 士0001 3 o001lODSO 士0，00l 5 000150D100 土0001 5 000I 5100D200 士0002 0002200D300 士0002 5 o002 5511标尺如电子数显内径千分尺有标尺，其要求按GBT 12162004中59的规定。512电子数显装置5121功能键电子数显装置的功能键应灵活、可靠，标注的符号或图文应清晰且含义准确。5122数字显示屏电子数显装置的数字显示应清晰、完整，无闪跳现象。5123
11、角度传感器电子数显装置的角度传感器宜为二等分、四等分、五等分。5124分度误差电子数显装置的分度误差不应大于o002 mm。5125数值漂移电子数显装置的数值漂移不应大于其分辨力。5126电源电子数显装置的电源电压应为15 V或3 V。4GBT 22093-20085127通讯接口51271 电子数显装置宜设置通讯接口。51272电子数显装置的通讯接口宜为RS-232或USB。制造商应能够提供电子数显装置与其他设备之问的通讯电缆和通讯软件。5128 防护等级(IP)电子数显装置应具有防水、防尘能力，其防护等级不得低于IP40(见GB 4208-2008)。5129工作环境电子数显装置应能在环境
12、温度040、相对湿度不大于80的条件下，进行正常工作。51210抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力电子数显装置的抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GBT 1762622006、GBT 1762632006)。513最大允许误差5131 电子数显内径千分尺的最大允许误差应符合表2的规定。5132 A型电子数显内径千分尺组装任意一个长度接杆后的最大允许误差都应符合表2的规定。514重复性D型、E型电子数显内径千分尺的重复性不应大于表2的规定。表2测量范围 最大允许误差pm 重复性pmA型、E型 c型、D型 B型 D型、E型150 土4 土4 士5 450100 土5 土5 士6 4100
13、150 土6 土6 土7 5150200 土7 土7 土8 5200250 土8 土8 土9 6250300 土9 士9 士10 6300350 士10 6350400 土11 7400450 土12 7450500 13 7注：测量范围跨越表2分档时，按测量范围的上限查表。例如：测量范围200mm300mm的A型最大允许误差为9 pm。6检验方法61测量面的硬度对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，可在该测量面上或距测量面1 mm处检定。对于镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检定。62电子数显装置621分度误差分度误差在1圈内沿测量方向均匀检25点。检验时，分别读出各受检点的电
14、子数显装置显示值与微分筒读数值之差，做出误差曲线，其最高点与最低点之差，即为电子数显装置的分度误差。对于没有5GBT 22093-2008微分筒的电子数显内径千分尺，可以将分度误差不大于20分的鼓轮固定在角度传感器的传动轴上，检验方法同上。注1：如果把电子数显内径千分尺的最大允许误差的检验点投影到角度传感器的同一等分上时有不少于4个独立点，此时最大允许误差的检验结果已包含了角度传感器的分度误差，允许不检验分度误差。注2：当电子数显装置的角度传感器为二等分或四等分，采用631中的尺寸系列检验最大允许误差时，允许不检验分度误差。当电子数显装置的角度传感器为五等分，采用512 mm、1024 mm、
15、1536 mm、215 ram、25 mm尺寸系列检验最大允许误差时，允许不检验分度误差。622数值漂移在任意位置下使测微螺杆固定，并保持1 h。观察电子数显装置显示数值的变化。63最大允许误差631 A型、B型电子数显内径千分尺可以用测长机、准确度为1级的量块与量块附件组成的内尺寸、卡规或环规检验。检验的尺寸宜为：L，L+25 mm，L+51 mm，L+77 mm，L+103 mm，L+129 mm，L+15 mm，L+176 mm，L+202 mm，L+228 mm，L+25 mm。L为内径千分尺测量范围的下限。632 C型、D型、E型电子数显内径千分尺用环规检验。检验环规的尺寸应包括测量
16、范围的上下限，并尽量在测量范围内和15的圆周内均匀分布。检验环规的精度按表1规定，数量不得少于表3的要求。表3量程ram 1 2 5 30 50 100检验环规数量 3 4 5 6 8 10633用量块和环规检验时在每个检验点连续测量3次(剔除粗大误差后)计算电子数显内径千分尺显示的平均值与标准器尺寸的差值，其中绝对值最大的差值为电子数显内径千分尺的示值误差。64重复性用环规检验D型、E型电子数显内径千分尺的重复性。在完全相同的测量条件下，重复测量5次(剔除粗大误差后)，其5次显示值间的最大差异即为电子数显内径千分尺的重复性。7试验方法71防水、防尘试验电子数显内径千分尺的防水、防尘试验应符合
17、GB 420872温度变化试验电子数显内径千分尺的温度变化试验应符合GBT 242373湿热试验2008的规定。222002的规定。电子数显内径千分尺的湿热试验应符合GBT 242332006的规定。74抗静电干扰试验电子数显内径千分尺的抗静电干扰试验应符合GBT 1762675抗电磁干扰试验电子数显内径千分尺的抗电磁干扰试验应符合GBT 176268标志与包装81 电子数显内径千分尺上至少应标志a)制造厂厂名或注册商标；b)测量范围；c)分辨力；d)产品序号；622006的规定。32006的规定。GBT 22093-2008e) 防护等级高于IP40时，宜标有防护等级标志。82校对环规或校对
18、卡规上应标有其实际尺寸。83 A型电子数显内径千分尺的长度接杆上应标有其标称尺寸。83 电子数显内径千分尺包装盒上至少应标志：a)制造厂厂名或注册商标；b)产品名称；c)测量范围。84 电子数显内径千分尺在包装前应经防锈处理并妥善包装，不得因包装不善而在运输过程中损坏产品。85电子数显内径千分尺经检验符合本标准要求的应附有产品合格证及使用说明书(A型电子数显内径千分尺的支撑参见附录A)，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期。GBT 22093-20088附录A(资料性附录)A型电子数显内径千分尺的支撑为了最大限度的减小A型电子数显内径千分尺的弯曲变形，应按图A1所示位置设置支撑
19、。图A1附录B(资料性附录)测量范围500 mm一6 000 mm的电子数显内径千分尺GBT 22093-2008测量范围500 mm6 000 miD的电子数显内径千分尺的最大允许误差和重复性应符合表B1的规定。距两端022 L处支撑与距两端200 mm处支撑的长度变化应符合表B1的规定。表B1最大允许误差“m 重复性“m 长度变化允许值测量范围ramA型 E型 E型 A型“m500-600 士14 士14 8600700 土15 15 8700-800 土16 士i6 98001 000 土18 士19 91 0001 200 21I 2001 400 241 4001 600 士271 6002 000 土32 士102 0002 500 土40 士152 5003 000 士50 士253 0004 000 土62 士404 0005 000 士75 士605 0006 000 士90 士80
