1、GB/T 6519-2000 前之圣E习本标准是非等效采用美国材料与试验协会的ASTM594 d 997(航空及宇航用变形铝合合制品的超声波检测标准，对GB/T6519-1986二标准所述的超声波脉冲反射法检验可发现平行或大致平行被检件表面的冶金缺陷。国家质量技术监督局2000- 06-09批准2000-11-01实施C/T 6519 - 2000 4.3 本标准中越声波检验可用脉冲纵波液浸法或接触法。4.4 本标准所述的超声波检验应在产品的最终热处理后进行。4.5 从事超声波检验人员应经过技术业务培训，取得部级含部级以上专业考核委员会颁发的I级以上技术等级资格证书者.方有资格检验g取得E级以
2、上含E级技术等级资格证书籽，方有资格签发检验报告s取得E级技术等级资格证书者，有仲裁权。4.6 从非超声波俭验人员只能从事与自己技术等级资格证书相应的技术工作。4.7 现场的温度以不影响超声波探伤仪稳定性和可靠性为原则;被检件的温度在22C土15C范围内。4.8 被检件的俭验面i清洁、平整、光滑.无金属凸凹及影响检验的划伤、斑痕。凡不利于超声波束传入的被检表面都需清理干净。4.9 被检件的检验表面加Z粗糙度接触法对于A级梭验应等于或优于Ra3.2m;对rB级检验应等于战优于Ra6.3m;液浸法粗糙度应等于或优于Ra25m.4.10 检验场地不应设在强磁、震动、高频、电火花、高温、灰尘大、机械噪
3、声大、有腐蚀性气氛的环域中z场地应安全、光线适度，其场地面积以不影响超声波检验人员正确操作、评定为原则。5 对比试块的制备及要求5. 1 用途和种类5. 1. 1 对比试块用于调整检验系统灵敏度、测试范围及评定缺陷的大小和位置。5. 1. 2 调整检验系统灵敏度用的对比试块有二类:平表面对比试块相柱状对比试块。5.2 对比试块材料的要求5. 2. 1 对比试块材料与受检件的成分、组织声学特性应一致或相似。5.2.2 对比试块材料的内部纯净度利用入射角为0。的直射超声波，在规定的工作频率和灵敏度下进行扫查，不得有大于或等于比受检件材料允许的噪声低6dB的任何信号。5. 2. 3 7075-T6铝
4、合金制作的试块，一般可适用于大多数的变形铝合金的检验。5.3 对比试块的尺寸5. 3. 1 -般情况r.试块平底孔埋深应由被检件的上、r表面机械加工余量来确定。通常应有二块2第块平底孔的埋藏深度等于被险件上表面机械加工余量号第二块等于被检件的厚度。平底孔的钻孔深度等于下表面机械加工余量。接触法俭验时.在扣除上、下表面加工余量的金属声程内出现探头距离幅度曲线的极小值时，应增加一块对比试块.其平底孔埋藏深度与极小值的深度相等。5. 3. 2 平表面对比试块平底孔埋藏深度可参照表1，柱状对比试块平底孔埋藏深度可参照表2。对比试块加工示意图如图1、图2。表1mm 尺寸平底孔直径A 平底孔埋藏深度li
5、柱高r 误差士0.01士O.1 士O. (1)2.5 (8)30 (15)80 (1)17.5 (8)45.0 (1 5)95.0 最列I1.2 (2)5.0 (9)35 (16)90 (2)20.5 (9)50.0 (16) 1 05. 0 (3)7.5 (10)40 (1 7) 100 (3)22.5 (10)55.0 (17)1 15.0 (4 )1 0 (11)45 (18)110 (4)25.5 (11 )60. 0 (18)125.0 罩，内12 2.0 (5 )15 (12)50 (19)120 (5)30.0 (1 2)65.0 (19)130.0 (6)20 (13)60 (
6、6)35.0 (13)75.0 4列33. 2 (7) 25 (14 )70 (7)40.0 (14)85.0 l ,s 6519- 2000 GB/T 表2mm R士O.5 A士0.2B士0.2C D E F G H 100 50 100 150 12 40 40 325 50 90 45 90 135 12 40 40 325 50 75 37. 5 75 112.5 12 25 40 310 50 60 30 60 90 12 25 40 310 50 50 25 50 75 12 25 40 310 50 40 20 40 60 12 25 40 310 50 32. 5 16. 2
7、32. 5 48.8 12 25 40 310 !O 25 12. 5 25 37. 5 10 25 40 310 40 20 10 20 30 8 25 25 280 40 12.5 6.2 !z. 5 18.8 5 25 25 280 25 V 届声波入射回2 O. 005 用3mm高钢宇打印顺序:句。材料牌号、平底孔E径、平底孔埋藏深匪出hD1撞成的毛刺应除占上下面的外地r.在磨圆RO.8mm【。川啊闺守。制与辑部螺0.025 0.025 的叶NdH节山weH卡-A士0.01B 0.025 b+:m 供捕孔片j)55士O.1 A 0.01 平表面对比试块加工示意图因1/ 寸G 旬U 的角
8、度为90士0.5，H处宽度的顶面粗糙度为Ra3.2m，A、B、C的偏差为士0.2mm; 所有的平底孔孔底表面粗糙度为Ra3.2m，所有的平底孔孔径偏差为:iO.02 mmo 图2纵波检验柱面对比试块GB/T 6519- 2000 5. 3. 3 特殊形状被梭件的对比试块，由供需双方议定。5. 3.4 若被检件上、下表丽加工余量很小或无加工余量时，其近表面缺陷的评定由供需双方议定。5. 3. 5 对比试块中平底孔的直径应等于被检牛验收等级中的回波指示当量直径。5. 3- 6 被检件声束入射丽的几何形状及表面粗糙度应与对比试块相同，有影响时，应加以修正。5.4 x、I比试块的检验5. 4. 1 对
9、比试块每5年应送检定机关检验一次，但使用部门每年成检查其超声响应并与原数据相比较。5.4.2 对比试块的检验方法与确认.由俭定部门检验与传递。6 检验接置及辅助材料6. 1 也肖波探伤仪A也脉冲反射式超Tff波探伤仪应投JB/T9214中要求测试性能指标，符合技术等级标准要求的才可投入使用。必要时，可由供需双厅议定共同使用的仪器型号、技术性能和测试方法。6.2探头6.2. 1 对于锻件、板材、型材最好采用非聚焦型纵波宜探头、双品组合探头。6. 2. 2 对于棒材最好采用线聚焦纵波直探头，延迟块为瓦状的双晶片组合探头。6.2.3 根据产品几何形状及质量的特点.对特殊部位可采用特殊用途的探头，其探
10、头形状、尺寸、技术性能及测试方法由供需双方议定。6.2.4 接触法检验所用探头换能器(或短形换能器长度)尺寸一般应在6-.25mm之间。6.2.5 在210MHz范围内的探头，其回波频率与标称值的相差应在土10%以内。6.2.6 对每个探头在使用前均应编号.并测定距离幅度曲线。方法是用一套相应的距离幅度对比试块，其平底孔直径为2.0mm，采用判定缺陷大小的灵敏度，测其埋藏深度不同的平底孔反射波高.记录并画出曲线。使用该探头检验时，歪少每8h验证一次，测定不少于3点.若有-次反射波商与原距离幅度曲线相差士10%以上时，应重新评定探头性能并校定检验系统。自1二次标定以后检验的全部被检件均需复查。6
11、. 3 稳压器在信号幅度为荧光屏满幅度50%的情况F.如果电压波动引起的幅度变化超过满刻度的土2.5%, 须加J稳压器。6.4 辅助装Fi辅助装自主要指满足液浸检验时使用的水槽、扫描装置、操纵器和跨桥、专用夹具以及接触扫描装ivt等机械及电气辅助部分.其性能应满足声学性能的要求。6. 5 桐合剂液浸法使用的桐合剂一般采用无气泡、清洁的室温水。如有必要，经批准，可在水中加入适量的防蚀剂相润湿剂。必须确认，所有添加剂与装搅和受俭件是日I相容的。接触法使用的精合剂应清洁，并能满足声学性能要求以及不腐蚀产品表面。7 检验条件及程序7. 1 选用的方法7. 1. 1 本标准规定的超声波检验可采用超声纵波
12、接触法和液浸法.以液浸法为好。如采用液浸法时.应注意使被检件的二次界面反射i皮出现在-次底波之后。7. 1. 2 被检面的选择应根据产品的变形特点，缺陷分布规律及使用要求，由供需双方议定。. 1. 3 检验频率在210MHz范围内。7.2 灵敏度调整 , GB/T 6519-2000 应以5.3. 1条所规定的对比试块反射波高最小的一块，将其平底孔反射波高调到荧光屏满刻度的80% .作为检验系统的灵敏度。7.3 扫查扫查应按详细的规程或说明图表进行。7. 3. 1 双品片探头、矩形晶片探头的扫查对于双品片探头.其隔声层的纵向取向应与缺陷可能延伸的方向平行。对于矩形晶片.莫晶片长轴方向与缺陷可能
13、延伸的方向平行。扫查时的移动方向均应与缺陷可能延伸的方向垂直。7. 3. 2 扫查速度在般情况F，扫在速度不得大于254mm/s。7. 3. 3 扫查问距扫查间距不应大于有效波束宽度的工分之一。7. 4 有效波束宽度的确定7. 4. 1 对于圆形晶片探头，在5.3. 1条所规定的第一块试块上获得平底孔的最大反射波高，然后调节仪器增益控制使反射波高为荧光屏满刻度的80%.沿平底孔直径方向两边移动探头.反射波高降至40%两点间的距离，即为设束有效宽度。7.4.2 对于双晶探头和矩形品片探头，在5.3. 1条所规定的第一块试块I二.获得平底孔的最大反射波高，然后调节增益控制，使反射波高为荧光屏满刻度
14、的80%.沿双晶探头隔声层纵向取向或矩形品片长幅I!厅向相平行的方向，横过平底孔直径向两边移动探头.反射波高降至40%的两点间距离，即为波束的有效宽度。7.5 惋验在检验的过程中，应定期用于5.3. 1条所规定的试块检查检验系统的调整情况。若发现有异常现象，应重新评定探头性能并校定检验系统，自上次标定以后检验的全部被检件均需复查。8缺陷(J评定与验收8. 1 缺陷定位8. 1. 1 缺陷平面位挠的确定:将探头在被检件表面移动即可获得缺陷最大反射波高处的位院，从而确定缺陷的平面位宵。8. 1. 2 缺陷埋藏深度的评定:采用与对比试块比较进行评定，当元相应深度的对比试块时，可用与缺陷深度相邻的两块
15、对比试块用插入法比较评定g或利用工件的厚度，采用比例法进行比较评定。8.2 单个缺陷的评定8. 2. 1 当单个缺陷小于探头声束的面积时，将缺陷的反射波高与同声程对比试块平底孔的反射波高比较。当单个缺陷面积大于探头声束面积时，可采用6dB法进行评定。8.2.2 当缺陷的埋藏深度与所用对比试块中平底孔的埋藏深度不同时，采用插入法进行比较但不允许用外推法。8. 3 多个缺陷的评定多个缺陷指示中心间距即为缺陷之间面积的中心距离，可借助于缺陷的定位来判定。对F缺陷分布不在|司A水平面时，可用间接的方法(几何图形)进行计算确定。8.4 缺陷氏度的评定按5.:. 1条规定调整仪器灵敏度.在扫查过程中发现有
16、长条形缺陷时.应按以F方法评定其长度。8.4.1 将探头放在验收等级中长条形缺陷当量直径孔底埋藏深度等于缺陷埋藏深度的对比试块上，移动探头获得于1点子L的最大反射波高，然后调节仪器增益控制使波高为荧光屏满刻度的80%，沿平底孔直径方向同lll移动探头.记录反射波高降至40%的两点间的距离。8.4.2 将探头重新移到被检件上，保持8.4. 1条的调定而灵敏度不变，测出长条形缺陷两端点波j降G/T 6519- 2000 至荧光屏满刻度40%的两点间的距离。8.4.3 将8.4.2条测出的距离减去8.4. 1条测出的距离，即为缺陷的指示长度。8.5 底波衰减的评定按规定的灵敏度进行扫查时，如发现杂乱
17、信号或第一次底波有降低时，应停止检查，并用如下的方法测定底波的衰减差s8. 5. 1 在与被检件几何形状、尺寸、表团状态相同的正常产品上移动探头，使第次底波高度最大，调整仪器灵敏度使第一次底波高度为荧光屏满刻度的80%。8.5.2 将探头重新移到被检件有杂波或底波降低的位置，仔细检查入射面和底菌，确认底波不是几何形状、尺寸、表面状态诸因素引起的。8.5.3 比较两者的底波衰减.以百分比记录此数.8. 5. 4 验收时被检件的底波衰减不得太子正常材料的50%。若引起的衰减原因是出现的杂乱信号时.则应进行冶金分析，以确定其原因并决定验收与奋。8.6 在评定缺陷时，被验收件与对比试块各种状态引起较大
18、差异时，应加以修正。8.7 质量的分级与验收8.7.1 超声检验分AA、A、B三个等级。工程图纸中应注明所要求的等级。当一个零件须用多个等级时，在图纸上应划出区域并注明所要求的等级。8.7.2 棒材横波检验的验收要求应符合GJB1580一1993规定。8.7.3 AA、A、B级验收时，其允许的缺陷当量值应符合表3规定。表3缺陷当量单个缺陷个缺陷长条状缺陷类别当量平底每个缺陷当量指示中心缺陷任何部位反射指示孔直径平底孔直径间距当量平底孔直径长度级别mm 不大于mm大于、mm 大于mm 不小于mm 不大于AA 1. 2 0.8 0.8 12.7 A 2.0 1.2 25 1.2 25 B 3. 2 2. 0 2.0 1 )此直径为回波指示当量直径8.7.4 翅过规定的超声波质量等级的缺陷，只要在随后的机械加工中可被除去时.则是允许的。9 分析检验记录与报告检验记录般应包括2产品名称及规格、合金牌号、状态、批号、熔次号、产品件号、探伤仪型号、探头规格、检验频率、检验方法、精合剂、验收标准、对比试块号、检验结果、检验人、审核人和检验日期等。检验合格的产品填写在报告单上，经检验不合格的产品要有废品报告单，明显的标记，以防混料。检验的不合格品需定性的要结合剖伤分析，经权威机构认定后给予最后裁定。
