1、中华人民共和国国家标准搪玻璃层的厚度测量电磁法Method for measuring the thickness of glass- )ined layer by electro - magnetic meter UDC 686.298.531 .717 .1 GB 7881一盯本标准规定了种用电磁性仪器的测量方法。适用于无损测量磁性基体上的搪玻璃层厚度。本标准参照采用ISO2064-1980 (金属和其他无机涂层一一有关厚度测定的定义和通则和1 S 0 2178一1982(磁性基体二的非磁性涂层一一厚度的测定一一磁性测定法而制订。1 定义本标准所号|剧的术语规定了以下定义z1. 1 有敢面
2、积一一-对产品的外观或适用性有明确要求的搪玻璃面为有效面积。1.2 测量点面积一一进行每次测量时探头所触及的有放表面面积为测量点面积。1. 3 参考面积一一在有效面.积中完成规定的各个测量点所触及的测量点面积之和。1. 4 局部厚度一一一在参考面积J:.测得的各测量点厚度的算术平均值，以万表示。1. 1 最大厚度一一在一件产品上再效面积内所有测量值中的最大值，以马ax表示。1. 6 最小厚度一一在一件产品二有效面积内所有测量值中的最小值，以马m表示。2 影响测量精度的因素2;1 捅破璃层厚度一一-测量的精度随着涂层厚度的变化而变化，这是由所用的方法和仪器而决定的。2.2 基体金属厚度一一一每种
3、仪器有一个探头，每个探头对基体金属都有它的临界厚度要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属厚度增加的影响。所以除非此值已由仪器制造厂作出了规定，否则应通过实验来测定这个临界值。2.3 基体金属的磁性质一一-厚度测量值受基体金属磁性质变化的影响。低碳钢的磁性质变化可以认为是轻微的。)2.4 边缘效应一一电磁式测厚仪对样品的表面轮廓的突变是敏感的，因此，太靠近边缘或拐角处的测试将是无效的，除非该仪器针对上述条件作了专门的校正。这种影响可能延伸到距边角20mm处。2.5 曲率一一测试受样品曲率的影响。曲率的影响与仪器的类型高相当大的关系，当曲率半径减小时?常常使此影响变得更为显著。2.6 杂散磁场
4、一一强的杂散磁场，诸如各种电气设备所产生的杂散磁场可严重干扰电磁式测厚仪的操作。2.7 探头压力一一施加于探头的压力的大小，对仪器的读数有影响。S 仪器的调整3. 1 每台仪器在使用前应预调整。使用适当厚度的标准板按照使用说明书规定进行调整。3.2 为减少测量误差，在一些情况下，必须将仪器的探头转动几个角度来对仪器进行调整。3.3 仪器的量程要选定在需测量的量程范围之内。3.4 一般情况下要选用大于临界厚度值的基体金属底板来进行仪器的调整。中华人民共和国化学工业部1987-07-01批准, 1987-10-01实施GB 7111-87 4 测量步费 1 每台仪器应根据仪器制造厂的说明书进行操作
5、并在现场进行调整，以保证仪器的准确性。测撇过程中要注意第2章所列的影响精度的诸因素。4.2 检查基体金属的厚度是否超过了临界厚度，如未姐过，则可在测试点下面垫与基休金属相同材质的金属板使其总厚度越过|瞅厚度，或改变调整仪器用的金属底板厚度使之与被枪脸样品的基休金属厚度相同，以减小测最误差。4. 8 被测样品有曲率时，要用与被测样品具有相同曲率的标准样进行校正以减少测量误差，4.4 测量过程中要经常校正仪器。5 测量精度测量精度取决于仪器的设计与校正及样品的形状。这种方法的测量精度，在正常情况下可达士10%以内。6 检验报告检脸报告应记录样品的名称、规格、编号。各测点的测量用度值。最后要计算出该
6、检验样品的局部厚度的算术平均值、最大厚度值、最小厚度值及该样品的局部厚度标准偏差(S)0 示例:测量点厚度IX1，儿，xh.xno最大厚度值:Xma 最小膳度值:Xmin 局部厚度平均值:X局部厚度标准偏差:S (X, -X)2 3立GB 7111 -87 附录A搪玻璃设备的测量部位及测最点数补充件在本附录中给出了必须测辑的部位及测量点数的最低限。但在现陈测量中应作更多的测最部位与测量点，从而使统计值更有代表意义。A.l 测最部位A.1.1 幡体a. 法兰困角R，b. 上接坏，C. 下接玉不zd. 环雄;e. 不料口。A.l.2 罐最a. 法兰瞄角R，b. 底座3定艇，C. 搅拌接孔Fd. 翻度计接孔se. 任意接孔。A.l.3 搅拌器队端部，b. 焊接部sC. 翼下郎，d. 直臂。A. 1.4 温度计套智a. 端船，b; 焊接部，C. 直筒。A.2 测量点数A.2.1罐体、罐盏当公称直径D1200mm时，每部位测量五点。另外在有效面积内，再任意测最四点。A.2.2 搅拌器、温度计套管当长度!J(戒L)1620mm时，每部位测量四点。附加说明i本标准由全国揣玻璃设备标准化技术委员会归口。本标准由化工部化工机械研究院负责起草。本标准主要起草人吴玉卿。
