EJ T 1067-1998 X射线荧光分析用镅241源.pdf

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资源描述

1、ICS 27. 120. 30 F 51 备鑫号21951-1”8 E.J 中华人民共和国核行业标准EJ/T 1067-1998 X射线荧光分析用锢241源Americium-241 sources fluorescence analysis for X-ray lllll!lJ! ml 中国核工业总公司发布EJ/T 1067-1998 前言1989年颁布的GB11808在实施中发现尚不够完善,同时为了适应有关新发布或修订的国家标准、核行业标准以及标准调整之需要,在GB11808-89的基础上修订形成了本标准。本标准按照EJ/T804-93规定,重新编写了产品代号。为了保证源的使用安全与环境安

2、全,增加了源的表面污染和世漏水平两项技术要求,根据源的实际使用经验,增加了对源芯松动及外形尺寸要求,并规定了相应的检验方法。为适应生产过程中源活度、特定光子发射率的测量,修改了测量方法,在保证总不确定度不变的前提下,使之更易操作。鉴于本标准的使用范围较窄,将其调整为推荐性核行业标准。本标准从生效之日起,代替GB11808-89。本标准由全国核能标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:中国原子能科学研究院同位素研究所。本标准主要起草人:卢玉楷。中华人民共和国核行业标准X射线荧光分析用锯241源EJ/T 1067-1998 代替GB11808-89 1 范围Americium-241 sour

3、ces fluorescence analysis for X-ray 本标准规定了X射线荧光分析用锯241源的产品分类、技术要求、测试方法等。本标准适用于X射线荧光分析用锯241密封放射源(以下简称源。2 引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 4075-83 密封放射源分级GB 4076-83 密封放射源一般规定GB 11806-89 放射性物质安全运输规定GB 15849-1995 密封放射糠的泄漏检验方法GB/T 2828-81 逐批检查计数抽样程

4、序及抽样表(适用于连续批的检查)EJ/T 804-93 放射性同位素产品代号3 定义本标准采用下列定义。3.1 特定光子发射率specific photon emission rate 在指定方向每秒每球面度源发射的特定能量光子数(s1 sr-1)o 3.2 背透率backing emission rate 源工作面背面的光子发射率与源工作面光子发射率之比,以百分数表示。4 产品分类及源结构4. 1 产品分类按源外形分为两类za)圆柱源Fb)环状源。中国核工业总公司1998-03-25批准1”份制实施1 EJ/T 1067-1998 4.2 源结构圆柱源与环状源的结构分别示于图1及图2.鸽合金

5、活性陶瓷图1圆柱源结构示意图不锈钢图2环状源结构示意图4.2.1 圆柱源尺寸及代码圆柱源尺寸及代码见表I.表1圆柱源尺寸及代码不锈钢蒙乃尔合金镀窗或不锈钢窗/ ! 皱! 不锈钢活性陶瓷mo卫外径活性区直径高度尺寸代码10. 0 7.0 5.0 。10. 8 8.0 5.0 1 10. 0 7.0 6. 5 2 10. 8 7. 2 6.5 3 15. 0 10. 6 6. 5 4 4.2.2 环状源尺寸及代码环状摞尺寸及代码见表2.2 EJ/T 1067-1998 表2环状源尺寸及代码mm 外径内径活性区宽度高度尺寸代码38.0 22.5 4.0 6. 5 。4.3 产品代号依EJ/T804-

6、93之原则,产品代号用RSAM2412xxxxxx表示。RS为放射源代号zAM为元素代号;241为锯241质量数;2为Y摞的代码F第一个x是放射源形状代码,当为2时系圆柱、源,为7时系环状源:第二个x为源之几何尺寸代码F之后的三个xxx为摞名义活度代码,以37MBq的倍数值示出;最后一个x为源窗代码,1为镀窗,2为不锈钢窗。5技术要求s. 1 源结构要求s.1. 1 源结构应满足安全性能及光子发射率的要求。s.1. 2 源芯与源壳的配合不得出现松动现象。5.2 摞外形尺寸公差s. 2.1 圆柱源外径尺寸公差为可5mm。s. 2. 2 环状源内径尺寸公差为可5mm。5.3 源活度限值应符合GB4

7、075一83中3.2之规定。5.4 241Am原料中放射性杂质限值能量高于lOOkeV的Y杂质活度,不得大于总活度的0.1%。s.s 源表面污染限值表面污染应不大于185Bq。5.6 源泄漏水平限值泄漏水平应不大于200Bq。5.7 名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级源名义活度值、特定光子发射率应分别满足表3及表4的要求。安全性能分级等级应达到jGB/C 33222的要求e3 EJ /T 1067 -1998 表3圆柱源的名义活度值、特定光子发射率特定光子发射率产品代号名义活度值s 1 sr MBq(mCi) 17. 7keV 59. 5keV RSAM2412200012 37(1

8、) 8 105 RSAM2412200032 111 (3) 2.5 10 RSAM2412200052 185(5) 4 106 RSAM2412200102 370(10) 8 101 RSAM2412200202 740(20) 1. 6 10 RSAM2412200302 1110(30) 2.4 10 RSAM2412211002 3700000) 5.3 107 RSAM2412220101 370(10) 1. 9 106 8.6 101 RSAM2412220301 1110(30) 7 10 2. 6 107 RSAM2412231001 3700(100) 1 10 6.7

9、 10 RSAM2412241001 3700(100) 1. 8 107 7. 8 107 表4环状摞名义活度值、特定光子发射率特定光子发射率产品代号名义活度值MBq(mCi) 17. 7keV RSAM2412700301 110(30) 9 106 RSA孔124127010013700000) 3 107 RSAM2412705001 18500(500) 6. 7 10 5.8 特定光子发射率值的总不确定度特定光子发射率测定值的总不确定度不得大于10%。5.9 背透率背透率不得影响X射线荧光分析元素的检测限。5.10 推荐安全使用期推荐使用期lOa。() 测试方法6. 1 摞芯与摞壳

10、配合检验S一 sr - 59. 5keV 2 10 6. 5 107 2.8 101 将源放入开有测量孔的屏蔽室中,源与屏蔽室紧密相配,测量孔直径与源活性区直径相同。模拟实际应用的振动至少3次,在测量条件不变的条件下,测量振动后的计数率。每次振动后的计数率与未振动时的Y计数率之差应不大于未振动时Y计数率的土5%.6.2 外形尺寸检验4 EJ/T 1067-1998 6. 2. 1 圆柱源用环规检验通过通规的源为合格环规的尺寸、制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求6.2.2 环状源用测量环状源内径的塞规检验能放入通规的源为合格。塞规尺寸的制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求。6.3特定光子发射率

11、的相对测量6. 3.1 测量装置采用带镀窗的薄Nal(Tl)闪烁探头或带镀窗的HpGe或Si(Li)半导体晶体为探测器的小立体角测量装置NaITD晶体厚度3Smm,直径不小于40mm;HpGe晶体厚度36mm,直径不小于30mm.a)探测器、光栏、摞在同一轴线上Fb)光栏可换,孔径能准确测量,其总不确定度小于o.3%; c) 9:与光栏的距离可调并可准确测量,其总不确定度小于0.3%1d )光栏直径、源与光栏距离的确定,以测量系统对源光子发射率死时间校正不超过士2%为宜ze)测量装置的圆柱室内半径不小于圆柱室壁厚的10倍。6. 3. 2 对标准源的要求6.3. 2.1 标准源的结掏和制备工艺应

12、与产品瞟相一致6. 3. 2. 2 标准源的光子发射率测量值(源工作面法线方向的特定光子发射率的总不确定度应不大于5%。6. 3.3对产品源要求产品源与标准源的特定光子发射率应尽量接近,相差不超过2倍。6.3.4测量方法在探测器、光栏、源同心轴线上,按照6.3. I中d的要求,调节好光栏孔径、源与光栏的距离,用标准源刻度小立体角测量装置,在完全相同的条件下,测量产品源。产品源特定光子发射率计算公式如下:I更主I量n篝町式中:I产品嚣的特定光子发射率,s-1 sr-1; n产一一测得的产品源特定光子计数率,s-1;n捧一一测得的标准源特定光子计数率,s-1;I一一标准源的特定光子发射率,s1 s

13、r-1. 特定光子发射率测定值的总不确定度应不大于10%.6. 4 i.1Am原料中放射性杂质测量使用经刻度的Si(Li)、HpGe半导体探测器或其它合适方法测定。5 EJ/T I“ 7-1998 6.5 源表面污染检验表面污染按GB4076-83规定检验。6.6 源泄漏检验世漏检验按GB15849-1995规定进行。6.7 背透率检验背透率检验参考6.3. 4进行。7 产品检验7.1 型式检验只有通过本条规定的检验方能正式生产。型式检验项目按5.1、5.2、5.4、5.5、5.6和5.7规定进行。7. 2 出广检验7. 2. 1 产品检验和证书按GB4076-83执行。7. 2. 2 批量产品出厂前,由生产单位质量检验部门按照GB/T2828-81进行抽样检验检验水平采用一般检查水平E。合格质量水平规定见表5o表5合格质量水平(AQL)检验项目AQL 表面污染水平0. 4 泄漏水平0.4 特定光子发射率偏差2. 5 源芯松动1 外形尺寸1 其它指标(表观等)2. 5 8 标志、包装、运输及贮存8. 1 产品标志应符合GB4076-83中第5章的规定。8.2 包装、运输按照GB11806-89执行。8.3贮存生产厂家应根据产品特性制定贮存规定,规定至少应包括下述内容a)贮存场所zb)贮存条件。6 ”aswe胃皂白

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