1、中FL 5980 SJ 50033/112 96 、l、l口口理、Scmiconductor optoelectronic dcvices Detail specification for type GD3251 Y photodiodes 佳，眉, 1996-08-30发布1997-01-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件GD3251Y型光电二极管详细规范SJ 50033/112 - 96 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for typc GD3251 Y ph
2、otodiodes 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了GD3251Y型光电二极管(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类1. 3. 1 器件等级本规范所提供的器件保证等级按GJB33(半导体分立器件总规范的规定，从低到高分为普军级(GP)和特军级(GT)两级。2 引用文件GB 11499 - 89 半导体分立器件文字符号GJB 33 - 85 半导体分立器件总规范GJB 128 - 86 半导体分立器件试验方法GJB 597 - 88 微电路总规范SJ 2354 - 83 PIN、雪崩光电二极管测试方法SJ/Z 9014.2 -87半
3、导体器件分立器件和集成电路第5部分光电子器件3 要求3. 1 详细要求各条要求应符合GJB33和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸器件的设计、结构和外形尺寸应符合GJB33和本规范的规定，芯片结掏为PIN，也可按合同的要求提供不同于图1规定的外形尺寸(见6.2条)。中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1397-01-01实一1一SJ 50033/112 96 mm D D .t: 一4? 图1外形尺寸3.2. 1 器件芯片材料芯片材料为硅。3.2.2 引出端排列管脚1、42、53、6接线正极负极空脚3.2.3 封装形式全密封金属管壳平面玻璃窗口。3.2.4 引线长度可按合同
4、的要求(见6.2条)提供引线长度不同于图1规定的器件。3.3 引线材料及涂层引线材料为可伐合金，引线涂层应镀金。也可按合同要求(见6.2条)选择涂层。3.4 最大额定值和主要光电特性3.4. 1 最大额定T amb T 况gTsld I , VR Ptot mA V mW -45-85 - 55-100 260 10 25 20 一2一SJ 50033/112 96 注:1)最长焊接时间不超过55.至管壳的最短距离5mm。3.4.2 主要光电特性(T.mb= 25C) 特性符号条件电流1 R(D) Ee=O. VR= 15V 高下的电流IR(D) Ee=O. VR = 15V. T arnb=
5、 85t 灵敏度S Ee=5W/mm2 VR=15V = 0.90m 峰值响应长p Ee=5W/mm2 VR= 15V 光应波长范围L -H Ee=5W/mm2 VR=15V 最短和最低长下的灵敏度至少应为峰值响应波长灵敏度的1/10噪等效功率NEP Ee=5W/mm2 VR=15V = 0.90m f= 1kHz f:, f= 1Hz 上升时tr E.= 1mW/mm2 VR=15V = 0.90m 下降时间tf RL=50n 总电容C.o V R = 15V. f= lMHz 寸反向击穿电压VR IR = 100件光敏元直径de 3.5 标志器件的标志符合GJB33的规定。4 质量保证规定
6、4. 1 抽样和检验抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。极限值单位最小最大0.10 A 30.0 A 0.45 A/W 0.92 0.95 问n0 .40 1. 10 问n4XI0-13 WHz-t/2 15 11s 20 ns 40 pF 60 V 6(标口1自14. 1. 1 表2Al分组进行检验和试验的器件可以用于A2分组的检验和试验，A2分组进行检验和试验的器件可以用于A3.A4和A7分组的检验和试验;通过A组各分组检验和试验的器件，可以作为检验和试验抽样的母体，鉴定试验总样品量(指通过A组检验批的数量)至少应样数的1.5倍，抽样表可以采用GJB597中的小数量抽样表。4. 1.
7、2 表3Bl分组、B4分组的检验和试验可以采用光电特性不符合3.4.2条要求的器件。4. 1.3 按表4Cl分组进行检验的器件可以用于表4C2分组的检验和试验。4.2 筛选(仅对GT级)GT级器件应按GJB33和本规范表1中规定的步骤和条件进行百分之百的筛选试验，并按GJB33的有关规定处理。3一SJ 50033/112 96 4.3 鉴定检验鉴定检验应符合GJB33和本规范表2、表3和表4的规定。4.4 质量一致性检验质量一致性检验应包括A组、B组和C组中规定的检验和试验。4.5 检验和试验方法检验和试验方法应按表2、表3、表4和表5的规定进行。4.6 检验数据如果合同中已作规定(见6.2条
8、)，制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。表1筛选的步骤和条件(仅对GT级)极限检验和试验符号方法条件单位最小最大+ 1.内部目检GJB 128, 2074 (封帽前)2. ia温寿命GJB 128, 1032 T啕=100C t =72h (不工作)3.热冲击GJB 128, 1051 除最高温度100C，循环次(温度循环)数10次外，其余按试验条件A4.恒定加速度GJB 128, 2006 不工作，加速度98000m/豆，Y1方向5.密封GJB 128, 1071 试验条件H，器件最大泄a.细率为50mpacm3 / s b.粗检试验条件C，氟泊温度100C 6.中间光电参数测试暗
9、电流1 R(D) SJ 2354.3 Ec=O, VR=15V 0.10 A 灵度S SJ 2354.6 Ee=5W/1mm2， VR= 15V 0.45 A/W = 0.90m 7.电老化GJB 128, 1038 T.mb = 85C 试验条件8VR=20V, t=96h 8.最后测试暗电流变化量L:,. R( Dl SJ 2354.3 Ee=O, VR= 15V lIVD或A 0.05A 以大者为准灵敏度变化量L:,. S SJ 2354.6 Ecz5W/mm2， VR=15V O.IIVD A/W = 0.90m 9.外观及机械检验GJB 128, 2071 打标志之后进行外观无缺陷，
10、涂层无蚀一4一SJ 50033/112-96 表2A组检验条件极限值检验和试验符号方法除非另有规定单位LTPD T amb =25C 最小最大A1分组7 外观和GJB 128, ;D1, ;D2，要A求应, 2071 符合图1外观无缺陷，涂层无锈蚀A2分组7 暗电流 R( D) 5J 2354.3 VR=15V, Ee=0 0.10 A 灵敏度S 5J 2354.6 = O. 90m， VR = 15V 0.45 NW Ee=5W/mm2 反向击穿电压VBR 5J 2354.2 R = 100件60 V A3分组20 高温试验T amb= 85C 暗电流 R(D) 5J2354.3 VR=15
11、V, Ec=0 30.0 A 低温试(不适用)斗A4分组20 峰值响应波长p 5J2354.7 Eez5W/mm2 0.92 0.95 严n光谱响应波长范VR = 15V L-H 5J2354.7 Ee=5W/mm2 1. 10 0.40 m 围VR=15V，最短和最沃波长下的灵敏度至少应为峰值响应波伏的1/10总电容Cto, 5J2354.5 VR = 15V, f= 1MHz 40 pF 十A7分组20 噪卢等效功率NEP 5J2354.9 = 0.90m，VR=15V 410-13 W. Hz -1/2 Ee=5W/mm2 f= 1kHz. L:. f= 1Hz 上升时间t , 5J23
12、54.8 VR= 15V 15 ns = 0.90m 下降时间tf 5J2354.8 Ee= 1mW/mm2 20 ns RL = 50.0 表3B组检验检验和试GJB128 抽样数(合格判定数)方法条件或LTPDB1分组6(0) 可焊性2026 T = 238-260C t = 5s 5一SJ 50033/112 96 续表3GJB128 抽样数(合格判定数)检验和或LTPD方法条件标志的耐久性1022 四分组6(0) 热冲击1051 除最高温度100C, 环次数10次外，其余(温环)按试验条件A1071 a.细件H，最大漏泄率为50mpa.cm3/sb.粗检试验条件C，氟泊混度100C最后
13、测试见本规范表5步1和2B3分组20 稳态工作寿命1027 T arnb= 85C, VR =20V, t = 340h 最后测试见本规范表5步3和40B4分组开帽内观检2075 目检标准按鉴定时的设汁。1(0) (设计检健合强度2037 试验条件A.最低键合强度20mN20(0) B5分组热阻(不适用)B6分组6(0) 高温寿命1032 T.国=100C t = 340h (不工作)最后测试见本规范表5步骤3和40表4C组检验GJB 128 检验和试验LTPD 方法条件C1分组20 外形尺寸2066 见本规范围1C2分组20 热冲击(玻璃应力)1056 试件A引出端强度2036 试验条件E密
14、封1071 a.细检试件H.最大漏泄率为50mpa.cm3 / s b.粗检漏试验条件C.氟泊温度100C综合温度/湿度周期试验1021 省略初始条件，除循环次数6次，辅用环应在头4次环中的任意2次循环进行外，其余按规定，外观及机械2071 外观无缺陷，涂层无锈蚀6一SJ 50033/112 96 续表4GJB 128 检验和试验LTPD 方法条件电后测试见本规范表5步1和2C3分组20 冲击2016 不工作，加速度:4900m/泛，0.5ms, Xl、Yl方向各冲击5次变振动2056 不工作，加速度:196m/s2, X1 , Yl方向各4次，t = 32min, f: 100 -2000日
15、z恒定加速度2006 不工作，加速度:98000m/ S2 , Y1方向c4分组盐气(不要求)C5分组低气压(不要求)C6分组20 稳态工作寿命1026 T fttnb = 85C, V R = 20V, t = 1000h 最后测试见本规范表5，步3和4表5B组和C组试验后光电特性测试极限值步检和试验方法条件单位最最大1 暗电流SJ2354.3 Ee= O. VR = 15V 0.10 A 2 灵敏度).=0.90m， Ee = 5W/mm2 0.40 A/W SJ2354.6 VR= 15V 3 暗电流1)SJ2354.3 Ee=0, VR=15V 0.20 A 4 灵敏度1)SJ2354
16、.6 ). = O. 90m， Ee = 5W/mm2 0.40 A/W VR = 15V -注:1 )对本试验超过A组极限值的器件不能向用户提供。5 交货准备包装、贮存和运输要求应符合GJB33的规定。6 说明事项6. 1 预定用途主要用于光电靶探测系统，也可用于其它光电探测和光电转换系统。6.2 订货文件内容7一合同或订单中应注明下列内容:a. 本规范名称和编号:b. 器件型号和等级;c. , 臼50033/11296 一d. 如果外形尺寸不同于图1，应规定引线长度(见3.2条); e. 如果引线不同于图1，应规定引线长度(见3.2.4条); f. 如果引线不是镀金，应规定涂层(见3.3条); g. 检验数据(见4.6条); h. 其它。6.3 术语、符号和定义本规范使用的术语和符号应符合GB11499、白/Z9014.2和本规范的下列规定。6.3. 1 符号a. IVD 单个器件的初始值;b. de 光敏元直径。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由电子工业部第四十四研究所负责起草。本规范主要起草人:王雨苏、唐诗才。计划项目代号:B41030。8一
