1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5980 SJ 50033/136-97 半导体光电子器件GF116型红色发光二极管详细规范Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for red light emitting diode for type GF116 1997-06-17发布1997-1。”。1实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准华导体光电子器件GFl 16型红色发光二极管详细规范1 范阻1. 1 主题内容Semiconductor optoelectrioic devices D
2、etail specification for red light emitting diode for type GF116 时50033/136”“97本规？也规定了军用GF116型红色发光二极管（以下简称器件）的详细要求。1. 2 适用范围本规？也适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类1. 3. 1 器件的等级按GJB33-85（半导体分立器件总规戒的规定，提供的质量保证等级为普事级（GP）、特军级（GT）二级。2 51用文件GB 11499-89 半导体分立器件文字符号GJB 33-85 半导体分立器件总规泡GJB 128-86 半导体分立器件试验方法SJ 2355-83 半导体
3、发光器件测试方法GB/T 15651-95 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件3 要求3. 1 详细要求各条要求应按GJB33和本规范的规定。3.2 设计、结胸与外形尺寸器件的设计、结陶应按GJB33中3.5.1,3.5.3,3.5.4，和3.5.7条及本规范的规定。外形尺寸符合本规范罔1的规定。3. 2. 1 管芯材料管芯材料为磷化惊。中华人民共和国电子工业部19976-17发布1997-10-01实施“ 50033/13697 3.2.2 外形尺寸及引出端识别（见阁1)记最小标称最大A 11. 3 一12.2 A1 3.8 一4.2 b 0.45 一0.55 D 4.90 一
4、5.15 Di 2.90 一3.10 D2 3.80 3.98 D3 3.60 一3.80 m4 4.3 4.4 e 一2.29 一F 0.7 一0.9 Fi 0.35 一0.55 L 12 一一1. 5 3.2.3 封装形式金属屏蔽环氧树脂红色散射非空腔封装，见回lo3.2.4 号线民度D 崎咽晤甲血叩叫唰恤1.正极2.负极阁1可按合向的规定（见6.2条）提供引钱长度不同于本规戒图1规定的器件。3.3 号纯材料和引线镀涂引线材料为制基合金或缺基合金，引线镀银或镀金，也可按照合同规定（见6.2条）o3.4 最大额定值和主要光电特性3. 4. 1 最大额定值（见表1)表1FM IFPM I) V
5、R PM T amb T g唱E(mA) (mA) (V) (mW) （） （） 30 100 6 80 世4585叩45100注：1)脉冲宽度。.!ms，占空比1/lOo3.4.2 主要光电特性（见表2,Tamb需25）表2数值名称符号条件单位最小最大发光强度Iv IF= lOmA, 8=0 1. 5 med iE向电BlVF IF= lOmA 2.2 v 一2一名称峰债发射披怯光谱辅射带宽反向电流是卡强度角3.5 标志符号).p LU IR 8币SJ 50033门136叩97 续表2条IF= lOmA IF= lOmA VR=6V IF口lOmA数值件单位最小最大680 700 nm 10
6、0 n盯110 A 30 根据器件的特点，省略GJB33中关于器件上标志的规定，其余按GJB33的规定。4 质最保证规定4. 1 抽样和检验抽样和检跄应按GJB33和本规范的规定。4. 1. 1 表4人1分组进行检验和试验的器件可以用于A2、A3,A4分组的检验和试验，通过A组检验的器件，可以作为B组和C细检验和试验抽样的母体。4. 1. 2 在做C组检验中的寿命试验时，制造厂有权选择日经过340h的B组寿命试验的样品再进行660h的试验，以满足C组寿命试验lOOOh的要求。4. 1. 3 在做C组检验的温度循环试验时，制造广有权选择已经过B组10次循环的全部样品成部分样品再进行15次循环，以
7、满足C组25次循环的要求。4. 1. 4 表6Cl分组进行检验的器件，如果光电特性符合A2,A4分组的要求则可以用于C2分组的检验和试验。4.2 筛选（仅对GT级）筛选的步骤和条件应按GJB33和本规范表3的规定。表3筛选的步牒和条件（仅对GT级）GJB 128 极限值步骤检段和试验持占J:;!. 曲位1:i 法条件最小最大内部目栓2073 芯片完瞥（封装前）电报完整2 商温寿命1032 T,18 100，t = 24h 3 热冲击1051 除最高植度To:100 （温度循环）最低榄度T=-45 循环10iJ.:外，其余按试验条件人一一一一4 惶定加速度（不适用）5 密封（不埠用）6 高fnl
8、t反偏（不适用）- - 3 时50033/136-97 续表3GJB 128 极限值l.J.位步骤检验和试验符号方法条件最小最大7 中间光电参数测试正向电压SJ 2355.2 IF= lOmA VF 2.2 v 反向电流划2355.3VR=6V IR 10 1-1A 发光强度GB/T 15651 IF二lOmA,O=O 1. 5 med 8 电者炼1038 IF 30mA OE向偏置）t 96h 9 最后测试（老化后96h内完成:i:部参数测试）正向电压变化嚣的绝SJ 2355.2 IF=lOmA IAVFI 50 mV 对值发光强度变化量的她GB/T 15651 IF=lOmA,8=0 IM
9、vl 20% IVD med 对值10 密封（不适用）11 外观及机构检验2071 无气泪，无裂坟，外现无缺损，无明显锈蚀。4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB33和本规施表4、表5和表6的规定。4.4 质最一致性检验质最一致性检验应包括A组（见表的、B组（见表5）和C组（见衰的中规定的检验和试验，以及下面的规定。4. 4. 1 C组检验应在初始批时开始进行，然后在连续生产过程中每隔6个月进行次。4.4.2 如果合同中日作规定（见6.2条），制造厂应将质最一致性检验数据连同产品一起提4.5 检验和试验方法检验租试验方法按我4、表5、我6和表7的视定。表4A组检验条中数值检验或i式跄符号方法除非另
10、有规定：最小最大单位1，丁PD酬b25 Al分姐元气泡5 外观及机构GJB 128 无裂妓检验2071 外观光缺损一4一制50033/136叩97续表4条件数值检验或试验符号方法除非另有规定：单位LTPD T酬b坦25最小最大A2分组5 IE向电压Vp 白2355.2IF= lOmA 2.2 v 反向电流IR 白2355.31句：6V10 A 发光强度Iv GB/T 15651 Ip= lOmA，。o 1.5 med A3分组5 正向电压VF 町2355.2T amb叫452.7 v IF= lOmA 反向电流IR 副2355.3Tomb= 85 100 A VR:;:6V A4分组15 峰债
11、发射披快A户GB/T 15651 IF lOmA 680 700 nm 光谱辐射带宽LU GB/T 15651 IF lOmA 100 nm 半强度角。1/2SJ 2355. 5 IF= lOmA 30 表5B细检验GJB 128 检验成试验L丁PD方法条件BJ分组15 可焊性2026 B2分细10 热冲击1051 除高回T=100，低翻T叩45，（温度循环）循环次数10次外其余按试验条件A最后测试表7步黯1B3分组5 稳态工作寿命1027 IF= 30mA, t = 340h 最后测试表7步骤2B4分组（不适用）BS分组（不适用）巴6分组7 高温寿命1032 T啕100，t340h （不工作
12、）最后测试我7步骤2一5一时50033/13697表6C细检验GJB 128 检验或试验LTPD 方法条件Cl分组15 外形尺寸2066 按本规市图IC2分组10 热冲击1051 除南回T=100，低翻T叩45外（温度椭环）其余按试验条件A一l引出端强度2036 试验条件瓦综合眼皮温度1021 省略初始条件周期试验外观及机械2071 外观无缺掘，无明显锈蚀，环氧检验树脂无裂棋。最后测试表7t步醺lC3分组（不适用）C4分组（不适用）cs分组（不适用）C6分组稳态工作寿命1026 IF口30mA,t lOOOh A古10最后削试表7步骤2C7分组10 商温寿命1037 r.叼100，tlOOOh
13、 （不工作）最后测试表7如辄2表78组和C组的测试- 步骤检验方法条件：啊？单位正向电压划2355.2IF= lOmA v 反向电流划2355.3VR 6V A 发光强度GB/T 15651 I IF lOmA Iv med 。工o21 正向电压SJ 2355.2 IF= lOmA VF 2.5 v 反向电施SJ 2355. 3 VR=6V IR 20 A 发光强度G日丁15651IF= lOmA Iv 1. 2 med 。O。注：1）对本试验跑过A2分组极限值的精件不能向用户提供。一6一臼50033/136叩975 交货准备包装应符合GJB汩的要求。6 说明事项6. 1 预定用途可用于各种革
14、事仪器设备中的显示器，也可用于其它各种民用电子仪器设备中的显示器和指示器。6.2 订货文件内容a.本规琐的名称与编号；b.器件的型号和等级；c.数量；d.如果引线不是镀银或镀金，应规定镀层（见3.3条）；e.如果引线民度不同于阁1，应规定夺钱民度（见3.2.4条）；r.检验数据（见4.4.2条）；g.如果订货文件要求成提供器件的特性曲线。6.3 定义和符号本规施使用的定义和符号应按GJB33、GB丁15651、GB11499以及下列规定：0：光电探测器轴钱与器件机械轴之间的央角。IVD：单个器件的初始值。附加说明：本规施由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由伏春市半导体广负责起草。本规范主要起草人：陈兰、曹德广、石淑华。计划项目代号1日510080一？一
