1、中FL 5962 飞.口国电丁SJ 50597/17 94 、Semiconductor integrated circuits Det:il specification for types 、JT54LS28, JT54LSJ7, JT54LS38, JT54LS40 LS. TfL Buffers 1994-09-30发布1994-12-01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS28，JT54LS37、JT54LS38、JT54LS40型LS TTL缓冲器详细规范Semiconductor integrated circuits Detai
2、l specification for types JT54LS28, JT54LS37, JT54LS38, JT54LS40 LS-TTL Buffers 1 范围1. 1 主题内容臼50597/1794 本规范规定了半导体集成电路JT54LS28.JT54LS37, JT54LS38, JT54LS40型LS-TTL缓冲器(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1 .3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总规范第3.6.2条的规定。1. 3. 1. 1 器件型号器件型号
3、如下:器件型号JT54 LS28 JT54LS37 1. 3. 1. 2 器件等级器件名称器件型号四2输入或非门JT54LS38 四2与非门JT54LS40 四2一4件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式封装形式按GB7092(半导体集成电路外形尺寸的规定。封装形式如下:中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布器件名称入与非门(OC)入与非门1994-12-01 一1一SJ 50597/17 94 类型外形代号C 0P3(陶瓷无引线片式体封装)D D16S3(陶瓷双列封装)F F16X2(陶瓷扁平封装)H H16X2( 瓷熔封扁
4、平封装)J 116臼(陶瓷熔封双列封装)1. 4 大额定值 绝对定值如下:数值项目符号最最大电电压Vcc -0.5 7.0 入电压V , . -1.5 7.0 贮存温度Ts -65 150 功耗1)Po 70 引线焊接温度(108) Th 300 结2) TJ 175 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(Ios )时所增加的功耗。2)除按GJB548(微电子器件试验方法和程序方法5004老化1. 5 推荐工作条件件外，不推荐工作条件如下:数值项自符号最最大电电压Vcc 4.5 5.5 入高电平电压VH 2.0 入低电平电压VL 0.7 出高电平电流I佣-1.2 出低电平电流IOL 12 工作
5、环境温度TA -55 125 2 引用文件GB 3431. 1 - 82 半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB 3431. 2 - 86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 3439 - 82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB 4590 -84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728. 12 - 85 电气图用图形符号二进制逻辑单元GB/T 7092 - 93 半导体集成电路外形尺寸一2一单位V v mW 。单位V V V mA mA SJ 50597/17 94 微电子器件试验方法和程序电路总规范电子产品防静电放电控制大纲要求各项要求应按GJB597和本规范的
6、规定。本规范规定的B1级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质求不同于B级器件。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸按GJB579和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列:逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB4728.12 的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号1) Hl 2A /自1鸟一B_ 4A 48 一致性检验的某些项目和、逻辑图(1/4)A 1 I (C型)_3.) l Y 1、2Y A 1 引出端排列(D型)GJB 548 - 88 GJB 597 - 88 GJB 1649 - 93 3 3.1 VE丁C4Y MF-V L
7、U飞J4 1 4日4A :IY 1 I 10 9 1且1ZO l!J 4 18 1 1) lG / 1 1 岛14!l I白1112131日?A 3A 14 I 1 :, 2 1 7. :生2Y 4A 3Y 38 8 4 s 6 1 飞飞-lA 111 ，、1.1. 2日Ni) 4国(13 口uto泪凹一3 一JT54LS28 图1-1SJ 50597/17 94 逻辑图(1/4)号逻&lky A 1i. 1 ?Y 4Y-ay-(-;., !. lA ;与A3日4A 4日l !l 2日:l A (C型)引出端排列(D型)Vcc 8 9 ;. f宁、a1/ 28 1飞kI I 13 12 E z
8、 3 4 s 日a 2 :l lY 2A 5 / 4Y :八IA uu I lY 3日J 1 10 ., 1, III :/.可G!;I) JT54 LS37 图1-2逻辑图(1/4)、kv一飞业、& ._ -EK: &.t 二一旦一一-旦旦-一豆豆t_ _ _ 4JI. lA lB A._ _ 2B 主A-315-逻辑符号 4_h _ _ 4一(C型)排列(D型)引出u u o:l . 2 国时vcc 4A 4Y 1日8 14 91011121: 20 l !l 18 1/ 16 15 3A Vcc ;再C1 ZO 19 1比11 2 斗4m 2D 2，丁t . lC B Hl 8 I I
9、1 0 1 1 1 2 1 ., 10 211 2A 问J 叫cro atH Y . 14 I 13 12 I 1 4 10 s 回6 。 1 . 2 111 !C 11 E、vJI唱。图1-4JTS4LS40 因1逻辑符号、逻辑图和引出端排列同D型封装。JT54LS37, JT54LS38 b. 注:F、H、j型封装的引出3.2.2 功能表功能表如下:JT54LS28 a. 出H H H Y L 输入L L H H B A H L L H 输入输出A B Y L L H H L L L H L H H L JTS4LS40 C. 入输出A B C D Y H H H H 其余入组合H H一高
10、电平3.2.3 电路图制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图由鉴定机构存档备查。一5 一L一低电平SJ 50597/17 94 3.2.4 封装形式封装形式应按本规范第1.3.1.3条的规定。3.3 引线材料和涂覆3.4 电特性电特性应符合表1的规定。特性符号出高电平电压VOH 出低电平电压VOL 位电压VK 输入高电平电流I lH 最大输入电压下的入1, 电流入低电平电流IL 输出短路电流2)Ios ICCH 电电流Iccl.一t出由低电平到高电平tp,.H 传输延迟时间出由高电平到低电平tpHL 延迟时间表1- 1 JT54LS28 电特性条件1)(若无其他规定.-55
11、TA岳王125t:) V cc = 4.5V. IOH = -1.2mA VL =0.7V Vcc =4.5V. IOL = 12mA Vll. =0.7V. VlH =2.0V Vcc =4.5V. IK = -18mA TA =25C Vcc =5.5V. V , =2.7V Vcc =5.5V. V , =7.0V V cc = 5.5V. V , = 0.4V Vcc =5.5V Vcc = 5.5V. V , =0.4V Vcc =5.5V. V , =4.5V Vcc =5.0V. CL =45pF土10%RL = 6670土5%Vcc =5.0V. CL = 45pF士10%RL
12、 = 6670土5%注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只短路一个输出啊。表1- 2 JT54LS37 电特性条件1)特性符号(若无其他规定.-55 T A125C) 出高电平电压VOH Vcc =4.5V. IOH = -1.2mA VL =0.7V. VH =2.0V 输出低电平电压VOL Vcc =4.5V. IOL = 12mA 飞rlH= 2.0V 输入钳位电压VK VCC =4.5V. IK = -18mA TA =25C 6一规范值单位最最大2.5 v 0.4 V -1.5 v 20 A 100 A - 0.4 mA -30 -130 mA 3.6 mA 13.8 31 ns
13、 31 ns 规范单位最最大2.5 v 0.4 V -1.5 V SJ 50597/17 94 续表1-2条件1)规范值特性符号单位(若无其他规定，-55T A125t ) 最最大入高电平电流1H Vcc =5.5V, V , =2.7V 20 A 最大输入电压下的入1, Vcc =5.5V, V , =7.0V 100 A 电流入低电平电流1L Vcc =5.5V, V , =0.4V -0.4 mA 输出短路电流2)1c陆Vcc =5.5V -30 -130 mA 斗.IH Vcc =5.5V, vl =0.4V 2 电源电流mA 1ccL Vcc =5.5V, V , =4.5V 12
14、输出由低电平到高电tpLH Vcc =5.0V, CL = 45pF :t 10% 31 ns 平传输延迟时间RL = 6670:t 5% 出由高电平到低电tpHL Vcc =5.0V, CL = 45pF士10%31 ns 平传延迟时RL =6670 :t 5% 注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只短路一个输出啊。表1- 3 JT54 LS38 电特性条件规范值特性符号单位 (若无其他规定，-55TA125t) 最最大输出止态电流10WFF) Vcc =4.5V, Vo =5.5V 250 A VIl =0.7V, VH =2.0V 输出低电平电压VOL Vcc =4.5V, 10L
15、= 12mA 0.4 V VIH =2.0V 入钳位电EVK Vcc =4.5V, 1K = -18mA 、，-1.5 V TA =25t 输入高电平电流11H Vcc = 5.5V, V , =2.7V 20 A 最大输入电压下的输入1, Vcc =5.5V, V , =7.0V 100 A 电流入低电平电流1L Vcc =5.5V, V , =O.4V - 0.4 mA 1ccH Vcc =5.5V, Vl =0.4V 2 电电流mA 1ccL Vcc =5.5V, V , =4.5V 12 出由低电平到高电tPLH Vcc =5.0V, CL = 45pF土10%42 ns 平传迟时间R
16、L = 6670土5%出由高电平到低电tpHL Vcc =5.0V, CL = 45pF土10%36 ns 平延迟时RL =6670土5%注:1)完整试条件列于表3。一7一SJ 50597/17 94 表1-4 JT54LS40 电特性特性符号条件1)范值单位(若无其他规定.-55 T A125t) 最最大输出高电平电压VOH Vcc=4.5V.loH=甲1.2mA2.5 v Vn. =0.7V. V1H =2.0V 输出低电平电压VOI. V cc = 4.5V. loL = 12mA 0 .4 V VIH = 2.0V 入钳位电压V1K V=4.5V. llK = -18mA -1.5 V
17、 TA =25t 输入高电平电流IIH Vcc =5.5V. v1 =2.7V 20 A 最大输入电压下的入11 VCC =5.5V 100 A 电流V1 =7.0V 输入低屯平电流llL VCC = 5.5V. v1 =0.4V - 0.4 mA 输出短路电流2)Ios VCC = 5.5V -30 -130 mA ICCH Vc汇=5.5V.v1 =0.4V 1 电源电流mA ICCL Vc汇=5.5V.v1 =4.5V 6 输出由低电平到高电tpLH VCC =5.0V. CL = 45pF :t 10% 31 ns 平传输延迟时间RL = 6670士5%一_.-I出由高电平到低电tpH
18、L VCC =5.0V. CL = 45pF土10%31 ns 平传延迟时间RL = 6670土5%注:1)完整的测试条件列于表3。2)每次只短路一个输出端。3.5 电试验要求器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。表2电分组(见表3)项目T B级件Bl 器件中间(老化前)电测试Al Al 中间(老化后)电测试All) All) 最终电测试A2.A3.A7.A9 A2. A3. A7. A9 A组试验要求Al, A2. A3. A7. A9. AI0. All Al, A2. A3. A7. A9 C组终点电测试Al, A2.A3 Al. A2. A3 C
19、组检验增加的分组不要求A10.All D组终点电测试 Al, A2. A3 Al. A2. A3 注:1 )该分组要求PDA计算(见本规范4.2条)。一8一臼50597/1794 -表3-1 JT54LS28 电测试条件范值引用标准分组符号单位(若无其他规定，TA =25t) GB 3439 最最大Al VOH 2.2条V=4.5V， V1L =0.7V, 2.5 V I佣=1. 2mA 寸VOL 2.5条Vcc =4.5V, VlH =2.0V, V1L =0.7V, 0.4 v IOL = 12mA V1K 2.1条v=4.5V，被测IIK = -18mA -1.5 V I( 2.11条V
20、=5气5V，被lV( =7.0V, 100 A 其余入V(=OV。 1m 2.12条V=5.5V，被测入V(=2.7V, 20 严A入V(=OV。I1L 2.13条V= 5.5V，被测输V( =0.4V, -0.4 mA 其余入端V(= 5.5V。lc后2.21条V= 5.5V -30 -130 mA IH 2.26条V=5.5V， V( =0.4V, 3.6条mA 出开路。IccL 2.27条Vcc = 5.5V，输入端V(=4.5V, 13.8 出路。A2 TA = 125t , V(K不外，参数、条件、规范值均同Al分组。A3 TA = -55t，除V(K不外，参数、条件、规范同Al分组
21、。A7 V=5V，按功行。A9 tpLH 3.4条Vcc =5.0V, CL = 45pF :t 10% 24 RL = 667.(1土5%ns tpHL 3.5条见本2 24 一、AI0 tpl.H 3.4条TA = 125t 31 寸ns tpHL 3.5条测试条件同A9分组。31 Al1 TA = - 55t , 试条件、参数和规范值同AI0分组。9一SJ 50597/17 94 表3甲2JT54LS37 电测试引用标准条件规艳值分组符号单位GB 3439 (若无其定，TA =25t) 最最大Al VOH 2.2条Vcc =4.5V, V(L =0.7V, V(H =2.0V, 2.5
22、v IQH = 1.2mA VOL 2.5条V=4.5V， V(H =2.0V, 0.4 V IOL = 12mA V(K 2.1条Vcc =4.5V，被I(K = -18mA -1.5 v I( 2.11条V=5.5V，被V(=7.0V, 100 A 入端V(=OV。I(H 2.12条Vcc =5.5V，被V( = 2. 7V, 20 A 入端V(=OV。I(L 2.13条Vcc =5.5V，被入V( =0.4V, -0.4 mA 吁.其余入端V(= 5.5V。Ic陆2.21条Vcc = 5.5V -30 -130 mA ICCH 2.26条Vcc =5.5V，输入V( =0.4V 2 出端
23、开路。mA IL 2.27条Vcc = 5.5V, V( =4.5V 12 出端开路。A2 TA = 125t，除V(K不测外，参数、条件范均同Al分组。A3 TA = -55C，除V(K不测外，参数、条件、规范值均Al分组。A7 Vcc =5V，按功进行。A9 tpLH 3.4条V=5.0V， CL = 45pF土10%24 RL =6670土5%ns tPHL 3.5条见本规范图224 AI0 tpUI 3.4条T A = 125 C 31 ns tpHL 3.5条试条件同A9分组。31 斗A11 TA = -55C，测试条件、参数和规程同AIO分组。一10一SJ 50597/17 94
24、表3一3JT54LS38 电测试引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，TA =25C) GB 3439 最最大Al 。(OFF)2.22条VCC =4.5V, VIL =0.7V, VIH =2.0V, 250 A VO =5.5V VOL 2.5条Vcc =4.5V, VIH =2.0V, 0 .4 V IOL = 12mA VIK 2.1条V=4.5V，被测输IIK = -18mA 间.1.5V 11 2.11条V=5.5V， VI =7.0V, 100 人其VI=OV。IIH 2.12条VCC =5.5V，被VI =2.7V, 20 A 其余输入VI=OV。 IIL 2.13条V
25、CC = 5.5V，被测输VI =0.4V, -0.4 mA 其余输入VI = 5.5V。T ICCH 2.26条V= 5.5V，输VI =0.4V 2 出路。mA IccL 2.27条Vc汇=5. 5V, VI =4.5V 12 出端7f路。 A2 TA = 125C，除VIK不测外，参数、条件、范值均同A1分组。A3 TA = -55C，除VIK不外，参数、条件、规范均同Al分组。 A7 V=5V，按功能表进行。A9 tpLH 3.4条V=5.0V， CL = 45pF士10%32 RL = 6670士5%ns tpHL 3.5条28 见本规程图2AI0 tpLH 3.4条TA = 125
26、C 42 ns tPHL 3.5条试条件同A9分组。36 A11 TA = - 55 C. 试条件、参数和规范值同AIO分组。, 11一 SJ 50597/17 94 表3- 4 JT54LS40 电测试分组符号引用标准条件规范单位(若 TA =25t:) GB 3439 最最大A1 VOH 2.2条Vcc =4.5V. VIL =0.7V. VIH =2.0V. 2.5 v I佣=1. 2mA VOL 2.5条Vcc =4.5V. VIH =2.0V. 0.4 v IOL = 12mA VIK 2.1条V=4.5V.被IIK = -18mA -1.5 v II 2.11条Vcc =5.5V.
27、被入端VI=7.0V. 100 A 其余输入端VI=OV。IIH 2.12条Vcc=5.5V. 入VI =2.7V. 20 A 其余入端V，=OV。IIL 2.13条VCC = 5.5V. 入端V，= 0.4V. -0.4 mA 其余输V , = 5.5Vo Ios 2.21条VCC = 5.5V -30 -130 mA ICCH 2.26条V= 5.5V. 入端VI=0.4V 1 出端开。mA , ICCL 2.27条VCC =5.5V. 入端VI=4.5V 6 A2 TA = 125t:. VIK不测外，参数、条件、规范同A1分组。+ A3 T. = -55t:.除VIK不测外，参数、条件
28、、规范值均A1分组。A7 V=5V.按功能表进行。A9 tpLH 3.4条Vcc =5.0V. CL = 45pF土10%24 RL =6670士5%ns tpHL 3.5条见本规程图224 A10 tpLH 3.4条TA = 125t: 31 ns tpHL 3.5条试条件向A9分组。31 A11 T. = - 55t:. 、参数和规币值A10分组。3.6 标志 标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件应为第9微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定4. 1 抽样和检除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的
29、规定。4.2 筛选 在鉴定和质量一致性检验之前，全件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进一12一 臼50597/1794 行筛选。若无其4 筛选程序定，表中采用的方法系指GJB548 条件和要求 自B级器件Bt 方法条件方法条件内自检2010 试险条件B2010 试验条件B定性烘熔1008 试验条件C1008 |试撞条件C(不要(度:150t: (温度:150t: 时间:24h)时间:24h), 环1010 试验条件C1010 试验条件C恒定加速度2001 试验条件瓦2001 试验条件D. Yt方向Yt方向中间(老化前)电测本规范Al分组本规范Al分组试老化1015 试验条件D10
30、15 试验条件D: 125t: : 125t: 时间:160h) 时间:160h) 中间(老化恬)电本艳Al分组本范Al分组试PDA计算5%.本市Al10%.本规范Al分组。当不合格分组。当不合格品率过20%品率不过20%时可重新提交老时可重新提交老化，但只允许次化，但只允许次最终电本规范A2、A3、本规范A2，A3、A7，A9分组A7、A9分组密封1014 试验条件:1014 试验条件:Al或A2Al A2 粗检Cl或Cl或外部自2009 按规定2009 |按规定鉴定最致性检试验样品的选5005 3.5条5005 3.5条取说明可用方法1011试跄条件A替代。试验后进行目栓，引线落、外亮破裂
31、为失效。由制造选择是否进行。|按:本规范图3线路或等。着老化中间电测试，老化后中间电测试Al分组检出的失效数也应计入PDA内。本项，若改变器件的引线i涂覆或返工，则应再进行Al和A7分组试验。 可在发货批进行。、一13一臼50597/1794 测试线路波形图t.:f 3V G1 |面1lDUTl型II日RL11.3V 1, 1 H闷土一厂工l略I, I 1, I布l丰CL歪Y I tpHL 图2试线路和波形图注:应具有下列特性gtw = 500ns; tr 骂王15ns;t, 6ns; fIMHzo 一14一;1 G G E J L_ 1 图3-1 18 E 2A 28 3A VCC 与R3
32、ll T54LS28 Vcc R3 &1 k GND 图3- 2 T54LS37 lY 2Y 3Y 量ER2 R2 R2 r.1 v VCC VCC VCC R3 G. . ._-.r1_1-丰，且41BE&，P鱼LlY R2 -B 2A I B k 2Y R2卜一-J3.J! L3Y L一ay一-tR2 GNO 图3- 3 T54 LS38 OV t VOL i PLH SJ 50597/17 94 Vcc G 图3- 4 JT54LS40 注:V=S.oV; Rl =270; R2 = lkO; R3 = 100。陈冲发生器特性要求:Vcc R2 V1H =2.0-S.5V; VII. =
33、 -O.S-O.SV; f = 100kHz;占空比q=50%。4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的脑尼。4.4 质量一致性检验一致性检验应按GJB597第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4.1 A组检卢A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允
34、许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。表5A组检验LTPD 试B级件Bt 器件Al分组25t:下静态测试2 2 A2分125t:下静态测试3 3 A3分组-sst下静态试5 5 A7分组2St:下功能测试2 2 A9分组2St下开关测试2 2 AI0分组125t:下开关试3 -All分组-5St:下开关试5 -4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。BI-B5分组哥用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。一15一 SJ 50597/17 94 表6B组且町若无其，表中采用的方法系GJB 548 条件和要求HIl (篝._1 试B级ft件81 明方法
35、|条件|方法|条件lLTPD 组组性分寸一分溶剧尺一回抗2016 I按2016 2/(0) 2015 I按规定 4/(0) 2015 83分组I 2022或|焊接 I 2022 I : 15 IL盯D系对引.可焊性1 2003 1245士5t:|或1245士5t:, 试件数应多于3个.B4分组内目检和机械2014 |按规定I 2014 I 1(0) 检查B5分组合强2011 试验条件cl2011 1试验条件C15 可在封装工序的内部目梭后，随机摘取样品进口t7J瞌嗣西或D或D仅在初始鉴定或产品重新设计时进行。组分A ny A句U B YJ G 敏灵电试放级组测电等分电静度回适用时15/(0)
36、(c)电测试Al分组4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。表7C组栓验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求样晶数/(接试B 件81 器件或说明. 方法条件方法条件LTPD Cl分组态寿命1005 试验条件D1005 试条件D5 采用本规范 或E或E图3的线温度:125t: 温度:125t: 时间:1000h 时间1000h终点电测试Al，A2，A3分A1 , A2, A3分组(见本规范组(见本规范表2和表3)表2和表3)一16一SJ 50597/17 94 续表7条件和要求样品数/(接收数)试B级糯牛B1级说明方法条牛方法条件LTPD C2分组 环101
37、0 试验条件C1010 试条件CIS 恒定加速度2001 试验条件E2001 试验条件D, Yl方向Y1方向密封1014 试验条件:1014 试验条件:细Al或A2Al或A2 , 粗Cl或Cl或目检按方法1010按方法1010的目检判的目检判据终点电试Al，A2.A3分Al. A2. A3分组(见本规范组(见本规范表2和表3)表2和表3)斗C3分组不要求AI0分组(见本125C下开关试规范表2和表3 3) c4分组不要求All分组(见本-5SC下开关测规范表2和表5 试3) 4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。D1、D2，D5，D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器
38、件为样本。表8D组检验若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的条件和要求祥品数/(接收数)试B 器件B1级件或说明方法条件方法条件LTPD Dl分组尺寸2016 按规定2016 按规定IS 02分组引线牢固性2004 试验条件Bz2004 试条件马(片式体采(片式体采用试验条件0)用试验条件0)IS 密封1014 试验条件:1014 试验条件:细Al或A2Al或A2Cl或Cl或一17一试验D3分组热冲击度循环抗潮湿密封细粗目检终点电试D4分组机击变频振动恒定加速度密封细粗目检终点电测试D5分组盐雾一18一SJ 50597/17 94 续表8条件和要求B级器件B.级器件方法|条件|方法|条
39、件1011 试件B1011 件A15次循环15 环1010 试件C1010 试验条件C100次环10 环11004 1片体不1004 片状载体不要求引线弯要求引线弯也应力的预曲应力的预处理处理1014 试验条件:1014 试验条件:A1或A2A1或A2Cl或C1或C2按方法1004和10)0的日和1010的目检判据检判IA1，A2，A3分A1.A2，A3分 组(见本规范组(见本规范表2和表3)表2和表3)2002 试验条件B2002 试条件A2007 试验条件A2007 试验条件A2001 试验条件E2001 试件DY.方向Y.方向1014 试验条件:1014 试验条件:Al或A2Al或A2C
40、l或C1或口按方法2002按方法2002和2007的目和2007的自检判据检判据I Al，础，A3分Al，础，A3分组(见本规范组(见本规范表2和表3)表2和表3)适用时1009 I试验条件A片式载体不要求引线弯曲应力的预处理且数/(接收数)或LTPD 15 15 15 说明|队件可按GB 4590第3.6条，时:56d Bt 器件可按1GB 4590第3.6条用于D3分组的样品可用在阳分组。SJ 50597/17 94 续表8条件和要求样品数/接收数)试验B级器件B1级器件或说明方法条件方法条件LTPD 密封1014 试验条件:Al或A2粗Cl或C2自检按方法1009的目检判据D6分组当试验
41、3个器件出内部水汽含量1018 100C时最大不要求3/(0) 现1个失放时，可加水汽含量为:或5/(1)试2个件并且不5000ppm 失效。若第次试验未通过时，可在鉴定机掏认可的另试室进行第二次试验，若第-次试验通过，则该批应被接收。D7分组寻|线涂覆2025 不适用于片式2025 不远用于片式15 LTPD系对寻i线数而i占附载体载体言。曲-圃Dttftf且封盖担111: 2024 仅适用于熔封2024 仅适用于熔封5/(0) 的外壳的外壳4.5 检验方法检验方法应按下列规定。4.5. 1 电压和电流所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。4.6 数据报告当订货合同
42、有规定时，应提供下列数据的副本:a. 质量一致性检验数据(见本规范4.4条); b. 老化期间的电参数分布数据(见本规范3.5条); C. 最终电测试数据(见本规范4.2条)。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定。19一SJ 50597/17 94 说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内脊:a. 完整的器件编号(见本规范1.3.1条); b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求:c. 南曼时，对合格证书的要求:d. 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求:e. 南要时，对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提告的要求:f. 对产品保证选择的要求:g. 南要时，对特殊载体、引线民度或引线形式的要求:h. 对认证标志的要求;时，其他要求。词、符号和定义本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用件。6.2 工业用器件替代军用附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口;本规范由北京人七八厂起草;本规范主要起草人:孙人杰;计划项目代号:B21032。AU 吨，加
