1、、华FL 5962 共和SJ 52438/10-2001 2日A.ti:I比同乡民器iHybrid integrated circuits Detail specification for type HMSF-600 power filters 2001-12-27发布2002-01-01实施中华人民共和国信息产业部批准 l 中华人民共和国电子行业军用标准混合集成电路HMSF-600型电源滤波器详细规范SJ 52438/10-2001 Hybrid integrated circuits Detail specification for type HMSF-600 power fLlters
2、范围1. 1 主题内容本规范规定了混合集成电路HMSF-600型电源滤波器（以下简称电路）的详细要求该电路的质量保证等级为H级和HI级。1. 2 适用范围本规范适用于电路的研制、生产和采购1. 3 电路识别号CPIN)电路识别号按以下规定2J和A军用标志或认证标志（见1.3.I ) 1. 3. 1 军用标志HMSF-600 电路型号（见1.3.2)H 电路等级（见1.3.3)M c 封装形式引线镀覆（见1.3.4) （见1.3.5) 非认证产品采用军用标志“J”，认证产品采用认证标志也”1. 3. 2 电路型号电路型号如下zH MSF-600 1. 3. 3 电路质量等级标志品种代号电源滤波器
3、混合集成工艺电路质量等级应按GJB2438规定的H级和HI级。1. 3. 4 封装形式封装形式按GB厅15138的规定，为M09086Q型金属浅腔式双列封装1. 3. 5 号线镀覆引线材料和镀覆按GJB2438中3.5.8和3.6.2.5的规定，引线镀覆字母为c.中华人民共和国信息产业部2001-12-27发布2002-01-01实施I 1. 4 绝对最大额定值输入电压范围：16 40 V: 最大输出电流：720 mA: 贮存温度z-65150。C:引线耐焊接沮度（！Os):300。C:纺沮：150。Co1. 5 推荐工作条件输入电压范围：22 32 V: 输出电流范围。600mA; 工作温度
4、范回：55125C。2 引用文件SJ 52438/10-2001 GBrr 15138 94 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸GJB 151A-97 军用设备和分系统屯磁发射和敏感度要求GJB 152A 97 军用设备和分系统电磁发射手口敏感度测量GJB 548A-96 微电子器件试验方法和程序GJB 2438-95 混合集成电路总规范3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB2438和l本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸符合GJB2438中3.5和l本规范以下规定。3. 2. 1 封装形式封装形式符合本规范1.3.4及图1的规定。2 SJ 52438/10-20
5、01 9-;b !”A . l I 6e 一. 2 13 :4 . - 时 斗. 7 s 3e 3e 10 mm 图1封装外形尺寸3.2.2 引出揣排列引出端排列应按图2的规定3 一SJ 52438/10-2001 I 3 . 引出端序号符号功能引出端序号符号功自Ev,_ 叫。”输入负端6 V,+ 输出正端2 v, 输入负端7 GNDc 外亮地3 v,. 输入王瑞8 v,_ 输出负端4 V1+ 输入正端9 可，输出负端s V,+ 输入正端图2引出端扫lj 3.3 电特性电特性应符合表1规定表1电特性条件A组极限值特性符号（除另有规定外，SS。c.;,T，125吧，单位分组最小最大v,=28土O
6、.SV) 输入电压v, 满载. 2. 3 22 32 v 输出电流I. 。满载，v,=2232v . 2. 3 750 mA 输出电压跌落v, 600 mA . 2. 3 2.8 v 输入电流/, . 2. 3 750 mA 功Po 2. w 电容c 任意端到外壳6 600 pF 隔离电压V1so 直流条件下试验lmin不得有击穿和飞500 v 弧现象，T,=25。c10 100 kllz 15 100 500 kllz 20 损入损能I)L; TA=2S。c4 dB 500 kHz l MHz 25 l IO MHz 20 注z ）该参数由设计保证，仅在首次质量一致性检验及设计更改时测试3.
7、4 电试验要求电路的电试验要求应为表2所规定的有关分绍，各个分组的测试按本规范表l的规定进行4 L SJ 52438/10-2001 电试验要求表2组分求要验试Al 中间电测试老炼前Al I, A2, A3 终电测试（老炼后Al, A2. A3, A4 A组电测试Al. A4 C组终点电测试注I ）该分组计算PDA.合格证书应符合GJB2438中3.3.1的规定。标志标志应按GJB2438中3.6和本规范1.3的规定。制造厂合格制造厂应按GJB2438的02.3.10的规定。符合性证明符合性证明应按GJB2438的02.3.ll的规定。合格证书按本规范交货的每批电路应具有合格证书，3.5 3.
8、 7 3.6 3.8 质呈保证规定4 抽样和检验抽样和检验程序应按GJB2438和l本规范的规定。筛选筛选应按GJB2438表10及以下规定。4. 2. 1 老炼试验老炼试验应按照GJB548A方法1015A及以下规定：试验条I为B:TA;l25。c，时间160h; 且按GJB548A万法l015A中农l015A一1的好效条IJ在抒：老炼试验框图见图3.RL=67 n 5、6+ + 3、428 v ) aLDC 4. 1 4.2 OUT f压也源8、91、2老炼与稳态寿命试验框图因3；左炼前、后的电圳式向按本规范农2的规定。质量一致性检验质趾一致性检验应按GJB2438中4.7阜l本规范的规定
9、。4. 3. 1 A组检验A ti!检验A.按GJB2438中4.7及以卡规定进行z4.2.2 4.3 ) 5 一一L SJ 52438/10-2001 a) 电测试应按本规范表2的规定zb）应删除GJB2438表Ila中的5、6、7、8、9、10和II分组4.3.2 B组检验B组检验技GJB2438中4.7的规定4.3.3 0组检验C组检验应按GJB2438中表Ile、4.7及以下规定进行4. 3. 3. 1 稳态寿命试验应按GJB548A方法IOOSA及以下规定进行za）试验条件为B:b) TA=25吧，时间1000h；或按GJB548A方法IOOSA中表IOOSA一l的等效条件选择：c）
10、稳态寿命试验框囹见图3.4.3.3.2 终点电测试应按本规范表1和表2的规定4.3.4 0组检验D组检验应按GJB2438中4.7的要求进行4.4 测试方法测试方法应参照本规范附录A进行5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应按GJB2438中5.1的规定6 说阴事项6. 1 预定用途符合本规范要求的混合集成电路供新设备设计和现有设备的后勤保障使用6.2订货文件内容合同等订货单的内容应符合GJB2438中6.2的规定6 , A1 输出电流IoA 1 . 1 测试框图测试框图见图Al.A1. 2 测试条件稳压电源SJ 52438/10-2001 附羡A电参数盟1试方法（参考件）主+ DUT 1、
11、28、9图Al电参蚊嚣lj试框图a）环境温度：-55。C、25。C、125。C:b）输入电压范围：2232V; c）负载条件zR1叫1n. Al.3 测试程序RL=47 0 在规定温度条件下，将电路接入测试系统输入电压的分别设置于22v、28v、32v，负载电阻R1设置于47n，在电路的第5引出端测量输出电流A2 输出电压跌落VodA2. 1 )!Ji式框图输出电压跌落的测试框图如图Al所示A2.2 测试条件a）环境温度：-55。C、25。C、125C: b) 电源条件：28士0.5V: c）输出电流z/0=600.mA. A2.3 测试程序在规定温度条件下，将电路接入测试系统输入电压民设置于
12、28v，调节负载，使输出电流Io为600mA，测量输出电压巧，按式（Al）计算输出电压跌落vodA3 输入电流AA3. 1 测试框图输入电流的测试框图如图Al所示A3.2 测试条件y叫Vi几. . . . . .“. (A I) a）环绕温度：-55。C、25。C、125。C:7 SJ 52438/10-2001 b) 电源条件：28士0.5V; c) 负载条件，RL=47 n. A3.3 测试程序在规定温度条件下，将屯路接入测试系统。输入电压v，设置于28v，负载屯阻RL设置子47n. 在电路的第3引出端测量输出电流A4 功耗A4. 1 测试框图功耗的测试框图如图Al所示。A4.2 测试条件
13、a）环挠沮度：25。C:b) 电源条件：280.5V: c) 负载条件zRL=47 !l. A4.3 测试程序在规定温度条件下，将电路接入测试系统。按A2及A3！tl f.J:电路的输出电压跌落Vod和输入电流h，功耗Po按式CA2）计算：A5 隔禽电压V1soA5. 1 测试框囹Po= V叫x1, . (A2) 隔离电压的测试框图如图A2所示。SI 7 OUT 市)f,击!i500V I (2、3、4、I。装置5、6、8、9)图A2隔离电压测试框图A5.2 测试条件a) 环境泪度：25。C:b) 电源条件zv, = 500 v; c) 施加电压时间：lmin. A5.3 测试程序在规定混皮条
14、件下，将电4t主入测试系统。将向！干击穿装置调到500v，依次在第7引山端lj各引出揣问加压不得有币.！!.x t弧现象。A6 电容CA6. 1 测试框图也容的测试框因如住A3所示。自A6.2 测试条件环绕温度z25。c.A6. 3 测试程序LCR 测试仪SJ 52438/10-2001 SI 图A37 OUT I (2、3、4、5、6、8、9)电容测试框图在规定温度条件下，将电路接入测试系统用LCR测试仪（或具有相当功能的测试仪器测量电路各引出踹外壳的电容A7 插入损耗L;A7. 1 测试框图插入损耗的测试框图如图A4所示A7.2 网络分析仪到i式条件a）环挠温度：25。c.b）源阻抗50 0; c）负载阻抗50 o. A7.3 丑tJi式程序3、41、2图A4+ 丘4RL=soon 8、9插入损耗tJi式框图在规定温度条件下，将电路接入测试系统用网络分析仪测量电路的插入损耗附加说明2本规范由信息产业部电子第四研究所归口本规范由信息产业部电子第四十三研究所负责起草。本规范主要起草人z冯玲玲、赵隆冬、雷剑计划项目代号z891013. 9 一.
