1、中华人民共和国国家标准复合金属覆层厚度的测定X荧光法Method for measuring thickness of coated layer on composite metal -The X-ray fluorescent method 1 主题内容与适用范围GB 11 2 5 0 . 2 -89 本标准规定了X荧光法测定复合材料覆层厚度的方法、使用的仪器、测量步骤、标准样品的制作以及测量曲线的绘制。本标准适用于X荧光法对复合带材覆层厚度的测定。方法精密度为5%。2 方法原理被测物质在放射摞的激发下，产生X荧光。荧光的能量是有特征性的，不同元素会产生不同的荧光，荧光的强度与该元素的含量有
2、关，该元素的含量越高，荧光强度就越强，以此来代表在一定范围内覆层物质的多少，从而反映出覆层的厚度。也可以选择性地测定底层物质的荧光。由于它穿过覆层时被吸收，覆层越厚，吸收越强烈，即测量到的底层物质的荧光就越弱，根据其减弱程度也定量的反映出覆层厚度。3 适用范围与应用举例3. 1 适用范围基体和覆层两种材料的原子序数都大于20，或两种材料中有一种原子序数大于20。3. 2 应用举例应用举例如下表。材料覆层厚度，m镀镰铁带的镀镰层030 覆铝铁带的覆铝层080 镀银铜板的镀银层。100铁极上涂敷的塑料层。404 仪器HYX-1型轻便X射线荧光仪。5 测量步骤5. 1 取大于测量窗口，直径为归0的平
3、面试样。5.2 固定试样，将被测带材按测试要求，平放在仪器测量窗口上进行测试。5.3 被测试样为低能物质时，利用Pu23s放射源。被测试样为高能物质时，利用Am21放射源。5. 4 当覆层与底层金属原子序数相近（如镀镰铁带的镀镰层，要加滤光片时，按仪器操作，各测一次，中华人民共和国机械电子工业部1989-03-24批准1990-01-01实施GB 11250. 2-89 取其差值，并由仪器直接显示测量读数值。5. 5 每次采样时间为20s，测量三次，取其算术平均值。5. 6 根据测量的平均值，查覆层厚度d与平均读数值n的关系曲线（见图1），取得被测覆层的厚度值。6标准样品的制作6. 1 由于X
4、荧光测定是相对比较测量，需要一套已知厚度的标准样品作比较，以便将该读数换算成厚度。标准样品的制作，应与被测样品的加工方法相同，以消除由于密度等因素带来的误差。6.2 对于镀镰铁带或覆铝铁带等复合金属，可用轧制好的几种经精密测定已知厚度的镰捕或铝筒等（厚度系列的选择，视工艺要求和被测试样的厚度而定）与铁片重叠（尽可能减少间隙，作为标准样品。6.3 对于电镀层，可选用精度为0.001 mm的量具先测定底层厚度，电镀后再测定厚度，然后算出覆层厚度，作为标准样品。7覆层厚度d与平均读数值n关系曲线的绘制在制得标准样品后，可以根据上述方法，分别测出各标准厚度的平均读数值”，然后绘制成覆层厚度d与平均读数值n的关系曲线。见图18精密度n u 。d (”m 图1覆层厚度d与X荧光强度n的关系的曲线I一覆层X荧光强度n与覆层厚度d的关系曲线，II一底层X荧光强度n与覆层厚度d的关系曲线本方法的精密度为土5%，其中测量误差不超过土2%，仪器系统误差为士3%。附加说明：本标准由745厂负责起草。
