GB T 18311.34-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分;检查和测量随机配接连接器的衰减.pdf

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资源描述

1、ICS 33. 180. 20 L 50 中华人民共和国国家标准GB/T 1831 1. 34-2003/IEC 61300-3-34: 2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分:检查和测随机配接连接器的衰减Fibre optic interconnecting devices and passive components Basic test and measuremdt procedures-2003-11-24发布Part 3-34: Examinations and measurements一Attenuation of random mated conne

2、ctors CIEC 61300-3-34:2001,IDT) 2004-08-01实施中华国家质人民共和国监督检验检痊总局发布. 目。GBjT 18311.34-2003jl配61300-3-34,2001百草FF司本部分为GBjT18311的第34部分,并隶属于GBjT18309. 1-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第1部分z总则和导则儿本部分等同采用IEC61300-3-34,2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分z检查和测量随机配接连接器的衰减)(英文版)。为便于使用,对于IEC61300-3-34,2001还作了下列编辑性修改=删

3、除IEC61300-3-34,2001的前言。纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序是系列国家标准,下面列出了这些国家标准的预计结构及其对应的IEC标准za) GBjT 18309.1-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第1部分总则和导则)(idtIEC 61300-1,1995)。、b) GBjT 18310(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2部分z试验一-GBjT18310.1-2002(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-1部分z试验振动(正弦)(IEC61300-2-1 ,1 995 , IDT) GBjT 18310.2-2001

4、(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-2部分z试验配接耐久性)(idtIEC 61300-2-2 ,1 995) GBjT 18310.3-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第2-3部分s试验静态剪切力)(idtIEC 61300-2-3 ,1 995) 一-GB/T18310.4-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分z试验光纤/光缆保持力)(idtIEC 61300-2-4 ,1 995) c) GB/T 18311(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3部分2检查和测量GB/T 1831 1. 1-2003(纤维光学

5、互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分z检查和测量外观检查)(IEC61300-3-1 ,1 995 , IDT) 一-GB/T1831 1. 2-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分z检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性)(idtIEC 61300-3-2 ,1995) GB!T 1831 1. 3-2001(纤维光学互连器件和元源器件基本试验和测量程序第3-3部分.检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)(idt IEC 61300-3-3 ,1 997) 一-GB/T1831 1. 4-2003(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4

6、部分z检查和测量衰减)(IEC 61300-3-4 , 2001 , IDT) . 本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所(CESD归口。本部分起草单位:上海传输线研究所。本部分主要起草人=樊鹤峰、汤钧、程万茂、马磊、怀向芳、王锐臻。I GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34.2001 1 范围纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分:检查和测量随机配接连接器的衰减本部分旨在规定测量随机配接的光连接器的衰减的统计分布和平均值所要求的程序.本部分术语衰减也可称为插入损耗。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T

7、18311的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GB!T 18309.1-2001 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分s总则和导则(lEC61300-1.1995 , IDT) GB/T 1831 1. 12003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查(lEC61300-3-1 ,l995 ,IDT) 3 概述3. 1 试验方法本程序规定了测量

8、随机配接的光纤连接器衰减的两种方法。这两种方法都提供了从一个批次中选取的一组跳线(如适用,包括适配器),用于光学系统时所期望平均性能的估计值。为了保证测量提供一个统计上没有误差的估计值,跳线和所有适配器必须随机抽取。方法1规定了基于使用10根跳线(20个光连接器)和10个适配器的测量程序。在这个方法中所有的插头按顺序被用作基准插头,并且所有剩下的插头相对于选择准插头进行测试。基于360次测量的结果见图3所示的试验矩阵。方法I旨在用于设计定型试验的一部分,可能包括一个或多个供货方。定型一旦通过,方法2取决于过程控制的维持。然而,有争议时,应以方法1作为基准测量方法。方法2规定了基于15根跳线的测

9、量程序。选择的5根跳线作为基准跳线,每根基准跳线的一个插头被指定为基准插头。剩下的10根跳线的所有插头都相对于5根基准插头进行测量,100次测量结果如图6所示的试验矩阵。考虑到对于用户或者生产成品的供货方,就每天的常规检测而言,方法l所要求的测量次数非常大。因而,基于以上的原因,方法2可以作为一种替代的选择。注:在本测量方法中,采用基准插头或基准跳线这些术语来定义那些从批器件中随机选取的器件,相对于这些器件来进行比较测量。这不意味着这些基准插头或基准跳线对应的光器件是经过特别选取或特制的a3.2 预防措施如下的测试条件应该得到满足。3.2. 1 应采取预防措施保证包层模不影响测量,可通过光纤涂

10、覆层的作用将包层模消除。l GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34 ,2001 3.2.2 应采取措施确保测试中光纤位置在测量矶和P2期间保持固定,以避免由于弯曲损耗导致衰减变化。3.2.3 测试仪器的稳定性应不大于0.05dB或者所测衰减量的10%.两者中取较小者。应在整个测量期阅和工作温度范围内保持稳定性。不管是多模还是单模,所要求的测量分辨率应为0.01dBo 3.2.4 为了获得一致性的结果,在测试之前应清洁和检查所有的连接器和适配器,并按GB/T1831 1. 1 23进行外观检查。3.2.5 光纤内的光功率应保持在不发生非线性散射效应的电平。4 装置4

11、. 1 光源(S)光源由一个光发射器、连接装置和相连电子线路组成。除符合稳定性和功率电平要求外,光源应有以下的特性中心波长z按性能和产品标准中的详细规定:谱宽:经滤光的LED不大于150nm(半最大值全宽.FWHM);i曾宽zLD小于10nm(半最大值全宽.FWHM),对于多模光纤,应使用诸如LED的宽带光源;对于单模光纤.LED或LD都可以使用。注2一相干光源的模式干涉在多模光纤中会产生散斑图像。由于它们的特征时间长于检测器的分辨时间.这些散斑图像引起散斑或模式噪声以功率超伏的形式被观察到,因此在多模测试中采用相干光源可能达不到稳定的注入条件a所以,对于测量多模器件应避免采用包括OTDR的光

12、源在内的激光器,而使用LED或其他非相干光源。4.2 注入条件CE)除非另有规定,注入条件应符合GB/T18309. 12001附录B的规定,注入条件应确保消除所有包层模并且达到一种稳态模式分布。对于多模光纤,在相关规范要求有严格限制注入条件以达到稳态模式分布的场合,被试器件的注入条件应由表1给出。裴1严格限制的注入条件CPR/dB 光纤尺寸/m光斑尺寸/mNA 850 nm 1 300 nm 50 35 O. 15 13. 5 10.0 62.5 44 。1917. 5 14. 5 注1稿合功率比(CPR)值g士1dBo 注2.光斑尺寸和数值孔径的偏差应分别小于10%和5%。4.3 检测器(

13、D)检测器由-个光检测器、连接装置和相连电子线路组成。检测器的连接件是一个适用器,它能插入一个合适结构的连接器插头。检测器应检测到所有经连接器插头出射的光。2 除符合稳定性和分辨率要求外,检测器应有如下的特性z线性度=多模不大于土0.25dB( 5 dBm-60 dBm) , 单模不大于土O.1 dB(一5dBm-60 dBm)。注:在工作波长处,功率计的线性度应以23 dBm的功率电平为基准。GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34,2001 在测量P,和测量P,之间检测器的连接被断开情况下,测量的重复性应在0.05dB或所测衰减量的10%以内,取其中较小者,应采

14、用一个有大光敏面的检测器以达到这一要求。检测器的准确性应和测试要求相适应。在测量波长上光功率计的动态范围应能测量从被试器件出射的功率电平。5 程序5. 1 方法15. 1. 1 随机选取10根测试的跳线,按试验顺序标识被测插头,从1a到lOb(例如,la-1b,2a仙,3a-3b. . 10a-10切。5. 1. 2 随机选取10个适配器,按顺序地从13!lJ 10标识适配器。5. 1. 3 如图1所示,把跳线1a-1b接入测试系统,把插头1a作为基准插头,测量功率P,0 S E 插生1b 基准眺钱图1基准跳线测量一一方法1插头5. 1. 4 如图2所示,把被测跳线2a-2b和适配器I接人系统

15、并测量传输功率已。5. 1. 5 用公式(1)计算配对的连接器对1a/2a和适配器1的损耗值D P, 插入损耗=lOlg(去)J山L)(dB) .(1) 式中=A 光纤每千米的衰减值,单位为分贝每千米(dB/km); L 光纤的长度,单位为千米(km)。注:对于单模和多模跳线(50/125m和62.5/125m).当长度很短时,例如小于10m.乘积AXL可以忽略。5. 1. 6 把插入损耗填人图3所示的试验矩阵。5. 1. 7 采用适配器1反向连接跳线2a-2b并测量传输功率P2以得到配对1a/2b连接器对的插入损耗。s E 5. 1. 8 重复步骤5.1. 6。插头1b 基准跳线插头10 测

16、试跳线适配器1插头2, 固2被测跳线测量一一方法1插头2b D P, 3 GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34 :2001 被测跳线基准配置1 1 z 2 3 3 4 4 5 5 6 6 7 7 8 8 9 9 a b a b a b a b a b a b a b a b a b 转接座1. 1 1b 转接座2. z 2b 转接座3. 3 3b 转接座4. 4 4b 转接座5. 5 5b 转接座6. 6 6b 转接座7. 7 7b 转接座8. 8 8b 转接座9. 9 9b 转接座10. 10 10b 平均值最大值标准偏差平均值最大值标准偏差 统计结果图3方法

17、1的试验矩阵5. 1. 9 保留插头1a和适配器I作为基准配置,用跳线3a-3b代替测试跳线2a-2bo5. 1. 10 测量传输功率P,。10 10 a b 5. 1. 11 重复步骤5.1. 9和5.1. 10直到剩下的测试跳线的所有插头都完成相对于基准插头1a的测试。5. 1. 12 一旦完成步骤5.1.11,反向连接基准跳线使插头1b成为基准插头。5. 1. 13 相对于基准插头1b和适配器1测量所有插头的插入损耗。5. 1. 14 一旦完成步骤5.1.13,替换基准插头和适配器使插头2a和适配器2成为基准插头。5. 1. 15 相对于基准插头2a和适配器2测量所有测试插头的插入损耗。

18、5. 1. 16 重复步骤5.1. 12把插头2b标识为基准插头。GB/T 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34:2001 5. 1. 17 继续这个过程直到所有的插头都按顺序地被用作基准插头,并用那些剩下的插头和适配器与其配接测试。5. 1. 18 把衰减结果填人如图3所示的试验矩阵中。5.2 方法25. 2. 1 随机选取15根跳线和5个适配器用于测试。5.2.2 在己选取的15根跳线中随机选取5根,标识每根跳线的一个插头(例如:1,2,3,4,5)作为基准插头。类似地从1至5标识适配器。最后按顺序从1ai1J 10b标识剩下的插头(例如:1a一1b,2a-2b,3a

19、-3b.10a-10b)。5.2.3 如图4所示,把插头1作为基准插头,测量功率P10基准跳线s E D P1 插头图4基准跳线测量一一方法25.2.4 把跳线1a一1b插入适配器1中,然后把它们接人如图5所示的测试系统中,测量传输功率P,0 S E 参考跳线摇头1 转接座1插头10 测试跳线固5被测跳线测量一一方法25.2.5 用公式(2)计算配接的连接器对1/1a的损耗值2摇头lb D P, 插入损耗=崎(去)J山L)(dB) .(2) 式中=A 光纤每千米的衰减值,单位为分贝每千米(dB/km); L 光纤的长度,单位为千米(km)。注对于单模和多模跳线(50/125m和62.5/125

20、m),当长度很短时,例如小于10m.乘积AXL可以忽略。5.2.6 反向连接跳线1a-1b并测量传输功率已,以获得配接连接器对1/1b的插入损耗。5.2.7 重复步骤5.2.4到5.2. 6直到所有其他跳线的插头都相对于基准插头1和适配器1进行了测试。5.2.8 完成步骤5.2. 7后,用基准插头2和适配器2代替基准插头和适配器,使它们成为基准插头。5.2.9 用上述过程,测量所有插头相对于基准插头2和适配器2的插入损耗。5. 2. 10 继续这个过程直到所有的基准插头和适配器都按顺序地被应用,并且所有的跳线都相对于它们进行了测试。5. 2. 11 把衰减结果填人图6所示的试验矩阵。5 G/T

21、 1831 1.34-2003/IEC 61300-3-34 ,21 基准配置测试摇头适配器1适配器Z适配器3适配器4适配器5平均值最大值标准偏差1. 1b 2. 2b 3. 3b 4. 4b 5. 5b 6. 6b 7. 7b 8. 8b 9自9b 10. 10b 平均值最大值标准偏差统计结果平均值最大值标准偏差L 圄6方法2的试验矩阵5.3 结果分析从方法l或方法2所得的摘要结果中得到的平均(中值)衰减值和最大衰减值应符合相关连接器性能规范规定的数值。6 规定的细节6 按适用情况,在相关规范中应规定下述细节2一一性能特性(允许的衰减量,统计偏差等); 一一注入条件;光源的波长,一一光纤每公里的衰减值,一一相对于本试验程序的差异。

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