GB T 2424.5-2006 电工电子产品环境试验温度试验箱性能确认.pdf

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资源描述

1、ICS 19. 040 K 04 中华人民共和国国家标准GB月2424.5-呻阳2006/IEC60068-3-5: 2001 电工电子产品环境试验温度试验箱性能确认Environmental tests for electric and electronic products Confirmation of the performance of temperature chambers CIEC 60068令5:2001, Environmental testing-Part 3-5: Supporting documentation and guidanceConfirmation of

2、the performance of temperature chambers, IDT) 2006翩12翩19段布2007心9心1实施中华人民共制国国家质量监督检验检班总局也世中国国家标撒化管理委员会战叩GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5:2001 因次前言.“.咽川川,山山山EI在5阁,2 规范性引用文件.3 术语和寇义.4 试验箱性能的测. . ,. . 3 5 标准翻度试验顺序.、6 评定标准7 性能测试报告应给出的信息.回回.5 GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5:2001 前言GB/T 2424包含以下部分g一GB/T2424.

3、1 2005 电工电子产品环境试验高温低温试验导则OEC60068-3-1: 1978, IDT) GB/T 2424. 2 2005 电工电子产品环境试验湿热试验导则(!EC60068 3 4,2001,IDT) GB/T 2424. 5 2006 电工电子产品环境试验温度试验箱性能确认(!EC60068 3 5,2001, IDT) 一一GB/T2424. 6-2006 电工电子产品环境试验温度湿度试验箱性能确认(!EC60068-3-6: 2001,IDT) GB/T 2424. 7-2006 电工电子产品环境试验试验A和B(带负载)用温度试验箱的测定(!EC 60068 3 7 : 2

4、001 , IDT) - GB/T 2424. 10一1993电工电子产品基本环境试验规程大气腐蚀加速试验的通用导则(eqv !EC 60355:1971) 一GB/T2424. 1 l一1982电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的二氧化硫试验导则GB/T 2424. 12 1982 电工电子产品基本环境试验规程接触点和连接件的硫化氢试验导则- GB/T 2424. 13-2002 电工电子产品环境试验第2部分试验方法温度变化试验导则(!EC 60068 2 33: 1971, IDT) GB/T 2424. 14一1995电工电子产品环境试验第2部分试验方法太阳辐射试验导则(idt

5、!EC 60068-2-9:1975) GB/T 2424. 15 1992 电工电子产品基本环境试验规程温度低气压综合试验导则(eqv !EC 600683-2,1976) -GB/T 2424. 17一1995电工电子产品环境试验锡焊试验导则GB/T 2424. 19 2005 电工电子产品环境试验模拟贮存影响的环境试验导则OEC60068 2-48: 1982, IDT) GB/T 2424. 20 1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验导则一GB/T2424. 21一1985电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验导则-GB/T 2424. 22-1986 电工电

6、子产品基本环境试验规程温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则(eqv!EC 60068 2 53: 1984) GB/T 2424. 23 1990 电工电子产品基本环境试验规程水试验导则GB/T 2424. 24 1995 电工电子产品环境试验温度低温、高温)低气压振动(正弦)综合试验导则一GB/T2424. 25 2000 电工电子产品环境试验第3部分:试验导则地震试验方法(idt !EC 60068-3-3: 1991) 本部分为GB/T2424的第5部分,等同采用了国际标准!EC60068 3 5 , 2001 (环境试验第3-5部分2支持文件和导则温度试验箱性能确认以英文版)。

7、考虑到我国实际情况,本部分对!EC60068-3-5做了以下编辑性修改z一一引用了采用国际标准的我国标准,并改变了排列顺序:皿GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-35,2001 JV 删除了!EC60068 3 5的前言和引言$增加了阴凉标准的前霄,对标准中的图表做了编辑性修改。本部分BFP阔叶$榕工业协会自跑出。本部分由广州电稽科学研究院负责起草本部分Iii阔叶I;电子产品环境技术你液化技术委员会SAC/TC8)归口本部分主要起草人g颜景莲、赖文光。本部分为首次发布。GB/T 2424.52006/IEC 60068-3-5, 2001 电工电子产晶环境试验温度诚验箱性能确

8、认1范mGB/T 2424的本部分提供了一种统一的可碍观的方法,用以确认温度试验箱在没有负载的情况下是资符合GB/T2423试验标准以及其他标准规定。本部分运ffl于用户进行常规的试验幸自傲能监测。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T2424的本部分的号用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包指勘误的内草草)lilt修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其簸新版本适用于本部分。GB/T 2421 电工电子产品环境试验第1部分g总则(GB/T 2421一1999,IEC 60068

9、I,1988, IDT) GB/T 2423(相关部分)电工电子产品环境试验第2部分:试验方法GB/T 2424. 6 咆工咆子产品环境试验湖度撞!It试骏箱怯能认可(GB/T 2424. 6-2006, IEC 60068-3 6, 2001, IDT) GB/T 2424. 7 电工电子产品环境试验试骏A和B(带负载)用温度试验箱测戴(GB/T2424. 7-2006,JEC 60068-3-7 :2001,JDT) GB/T 16839. 1热电偶第1部分s分成我(GB/T16839. 1一1997,JEC60584-1 :1995,!DT) GB/T 19022 测盘管理体系测量过程和

10、测量设备的姿求(GB/T19022 2003, ISO 10012, 2003,!DT) IEC 60751 工业销电阻敏感元件3 术惕和定义下列术语及lE义,滔用于本部分。3. 1 ii.JI试盼箱tempera tu阳t剧tchamber 封闭体或空间,其中某部分能达到GB/T2423有关部分规定的温度条件3 2 温度t量m值temperature setpolnt 通过试验精控制系统设定的期望温度3.3 实际11.度achievedtemperature 稳定后,试验箱工作空间内任一点的温度u3.4 温度稳定tempersature stabilization 工作空间内所有点的温度达到

11、并维排在温度设定值的给jJ!容援内。GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5, 2001 3.5 3.6 3. 7 3.8 温11波动Iftemperature fluctuation 稳定后,在规定的时间间隔内、工作空间中任一点的最高与最低温度之差。工作空间working space 试尊贵靠自的部分,并能将规n.条件维f守在规定草草堂皇肉。规格郁积L2 000 放并非所有的试验箱郁是.ll.方的。混11梯11temperature gradient 回1工作闸我1Jl!尺寸脱离mmL/10 L/10 L/10 稳定后,在任意时问间隔内,工作空间内阁点之间温度平均值的最大

12、差值。温度变化熄率temperature rate of change Xm,/mm 50 10 0 150 ;工作发问咿心测得的目可个规址:据高度之间的转变速冻,以开尔文得分钟(K/min)为原佼。3.9 5坦阀混股羡阳mperaturevariation in space 稳定后,在任意时间问附内,工作空间中心与工作空间其他点的温度平均值之差。3. 10 温度极值temperatutre extrem四稳m后,工作乎在间内能达到的翻版最大和l最小柳u重傲。GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5:2001 温度工作费向中,b点跟外的温撞撞确良f见3.5) 工作穷阳中心点

13、的帽撞撞耐Jl(且3.6) 工作规例中巾点以外的姐直被础理(皿3.5) 4 试验箱性能的测量4. 1 试验区的环榄时间回2混.示例温度试验箱周阁的环境可能会影响试验箱内的条件。温度试验箱性能的确定应在标准大气条件下进行。应当考虑以下各项要求:周倒环城条件应当基本满足GB/T2421的规定;一一试验箱不成宽接暴露予阳光下p一一试验稍不应躲自署在电磁干扰环境中,试验箱底水平放寰$一试验箱应放置在不受机械拨动和简报干扰的地方。Jjz 考虑试验籍制造商对电力和对环境条件的建议。应记录不正常的条件。4. 2 温度测E统测1量系统测定结果的不确定f.r由系统的校准来确泼,叮溯源窒GB/T19022. 贷阀

14、割直腰撮见3.9) 植lll!梯Jl见且7)一般来说,传感器应当是电阪珊的(符合IEC6075)就是热电偶琐的(符合GB/T16839. I).传感器夜空气中的50%响应时间应在1040 s之闷。整个系统的响应时间应当小子40s, 夜200如u+200温度范周内,传感器视不确定度应当达到!EC60751的等级A。4. 3 温度试瞌箱的试验负载下边所有测景都是在交载的工作空间中进行的。如果试验稍不可能全穷,贝lj成予以记录制对于有负载(散热或不散热时的测量参兔IEC60751, 4.4 自II.It传榻的安装温度测量传感器位于试验箱每个角和工作空间中心(见图3.至少9个传感器人对于2000 L以

15、上的报度试验精.Jjz 在每个精目击中心的.IE前方安置传感糯见图4.至少15个传感器)。测ti:系统的布放不应当影响空我试验靠自的温度分布。应当能够记梁实际到这温度。对于确认且在测系统,E立刻.3I少每分钟记录一次数据。试骏靠自盹测传感器的数据记录装置量成男男独立于试验稍控制系统。GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5,2001 倒32 000 L以下挥积的温度试险箱内的空气温度佬E憾的布放仪.回42 000 L以上密积的ii魔试磁箱内的附加窍气温度传戴帽的布放位E4.5 温度性能测定4. 5. 1 实际滔腹、澳II激动、!:!闭漉肢量和激胶梯II在试验箱稳定之后,工作

16、空间的实际温度、温度波动度和温度梯度根据测量系统的测量结果(图3或图4)来确定,并应当考虑温度测:t系统的不确定度。4.5.2 温度变化遗率为了确定温度变化法理事,一一把试验箱调节到最低规定温度,使之稳定$一把试验箱调节31JJ般高规定混攘,挂在测混度自混It范周10%的混It点上升到0%淑度点的时间$俨便试验幸自稳定在艘高规定温度;一一将试验箱调节窒最低规定温度,监测温度由温度范围90%的温度点下降到10%温度点的时间,这就确定了升温和降温的温度变化速率,单位是开尔文每分钟(K/min)。5 标准I.Ill试隘顺序建议使用下列试验顺序取得认可混胶试骏箱性能儒要的数据。试验区的条件应符合本部分

17、4.1的要求。试验顺序如下2从环城条件开始,一一将试验箱调节到最高规定温度并使之稳定,GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5,2001 测量最高温度时的做能,一一将试验箱调节泵最低规定温度,版测温度变化速率,然后使之稳定,测量混度最低时的性能,将试验箱调节商规定温度,监测温度变化遗惠,一将试验精溯节到大气条件并使之稳定,一一测量大气条件下的性能。6 懈怠串串准JO% 0% 回5试E盘自升激罪”糠泪的ii脏变化罐罐时问如巢所有测试结身在均在GB/T2423有关部分规定的混围内,则认问该温度试验箱的性能。7 性能测试报告应给出的俯息一一试验区的大气条件s试验箱和工作空间的尺寸和容积$叫声蒋5j在规您的各阶段的源庶波动、I用温度变化和温度梯度,一一升温和降温的温度变化速率g一一温度极值,任何偏辈辈划过冲1世$试革命负载(如果有的话),一敖据获取系统的详情,测量不确定腔的评俏。

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