1、中国黠天工业总公司航天工业行业棕准半导体集成电路QJ 3044 98 模数转换器和数模转换器测试方法I 范围I. I 主题内容本标准规定了半导体集成电路数模转换器（以下部称器，件，缩写DAC）和模数转换器（以下简称器件，缩写ADC）电参数的精试方法。I. 2 适用范围本标准适用于研棋生产单位和使用单位对半导体集成电路中提速DAC和ADC电参数的商试。2 引用文件GB 3431. 1-82 半导体集成电路文字符号电参数文字辛辛号GB 3431. 2 86半导体集成电路文字符号引出端功能符号GB 343弘一82半导体集成电路TTL电路那试方法的基本原理GB 3441-82 半导体集或电路ECL电路
2、测试方法的基本原理GB 3834 83 半导体集成电路10S电路测试的基本原理GB 9178-88 集成电路术语QJ 2614 94 高速A/D转换器动态特性割试方法3 定义本规高采用前术语和符号按GB9178,GB 3431. 1和GB3431. 2的理定和特号。4 一般要求4.1 对酒i试的要求4. I. I 若无特殊说明，攒试黠间，环境温度或参考点的温度铺离规定值的范围应符合被捕器件详细规菌的规定。4. I. 2 测试崩离，避免外界干扰对栩试精度的影llf号。到试设备引起的栩试误差应符合被测器件详细规菌的规定。4. I. 3 现自试期碍，被割器件应按器件详细规范的规定连接辅助电路。中国酷
3、天工且总公司199802 06挂准1998 08 01实施QJ 304垂984. I. 4 被翻器件与那试系统连接或新开时，不应超过器件前摄限使用条件。4. I. 5 若有特殊要求时，在按器件详细模范规定的颇序接通电嚣。4.2 对到武故器仪袤的要求4. 2. I 对数字电压表及标准直流电凉的要求如下：a.对DAC（或ADC）器件进行静态翻试时，既使层的数字电压表和标准直淀电攘的位数在不低于表1的规定p表I数字电压表DAC 1、位数待沸ADC位数标准直流电源一般视i过精密湖边3 3 3 4 3 4 6 3 4 7 4 5 8 4 5 9 4 5 10 5 6 11 5 6 12 5 6 13 5
4、 6 14 6 7 15 6 7 16 6 7 17 7 8 18 7 8 注，l)DAC和AC览的位数是二进制位数。b.对DAC（或ADC）进行静态栩试时，既使用的数字电压表和标准直流电摄的精度应比被捕器件的精度高一个数量级zc.对DAC（或ADC）进行静态滞试时，所使用的数字电压表和标准直流电掘应定期进行严格的检定和技准。4.2.2 对示波器鸪要求如下：a.对DAC（或ADC）进行测试时，所使用的示波器的Y轴灵敏度应高于待测DAC（或ADC）的LSB，其踉冲建立时泻应比输出数字信号的上升及下器时间至少快10倍；b.剖量DAC（或ADC）屑的示波器应定期进行精密的捡定和校准。2 QJ 304
5、垂984.2.3 对使展的其它直流电流表的误差要求如下：a.电参数指示用的电流表的误差不超过土1.5%; b.工作点指示用的电流表的误差不超过土2.5%0 4.2.4 对电掘的要求如下：a.割试中新嚣的主流电摞，其纹波系数不超过土0.5%;b.测试中所用的恒淀摞和稳E源前电流、电黠指定有更精密的要求外，在给定值的范围内的误差并不超过土2%。4.2.5 对信号源的要求如下：a.测试嚣的信号源的高低电乎应符合梧应系列逻辑电路的详细规范对信号高1f电平的要求；b.测试用的信号源的频率除捂定有更精密的要求外，其颜率稳定性应优于土1%。详细要求5.1 DAC的静态特性测试5.1.1 DAC静态功能5.
6、I. I. I 昌的在规定的割试条件及直流工作状态下，检随DAC将输入数字码转换为模拟输出量的能力。5. I. I. 2 现i试框EDAC静态功能的费试框图如图1所示。5 Vo RL DUT 数码发生器注，1)数字量接地端。2）模拟量接地端。3 因1现j过条件5. I. I. 3 QJ 3044-98 tl试期间，下野测试条件应符合器件详细规范的规定：a.环境温度zb.电摄电ffi;c.参考电ffi;d.输出端负载电盟：e.数字输入端逻辑电平。5. I. I. 4 酒过程序5. I. I. 4. 1 在规定的费试环境条件下，将被揭DAC接入揭试系统中。5. I. I. 4. 2 施加规定提电摄
7、电压和参考电压。5. I. I. 4. 3开关忌、S2断开。5. I. I. 4. 4 谓节输入码Dr，当丰窜入数码从全“。”变到全“1时用数字电压表现察输出是否得合器件详细规定的函数关系Ao=VREFDr（模拟量Ao可以是电压，也可以是电流）或用示波器检测既有模损输出波形是否正确。5. I. I. 5 注意事项遵守一般要求。5. I. 2 失调误差Eo5. I. 2. 1 目前在规定的回试条件下，割试模拟输出电压的实际起始值与理悲值之间的差道，以确定DAC的输出零点精度。5. I. 2. 2 那试在图Eo的割试框图如围1所示05. I. 2. 3迎。试制牛：赔试条件同5.1. 1. 3的现定
8、。5. I. 2. 4 那试程序5. I. 2. 4. 1 在规定的溅试环境温度下，将被揭DAC接入髓试系统中。5. I. 2. 4. 2 施加规定提电摄电压和参考电压。5. I. 2. 4. 3开关S1、S2新开。5. I. 2. 4. 4 在数字擒入端施加全匀乡码。5. I. 2. 4. 5在模拟输出端酒得电压Voo由下式计算求出Eo:或Eo102 ( %FSR) . ( 1) FSR Eo立(LSB) . (2) ISB 式中：VFSR理望、模拟电压范围pVLSB单位数码变化既对应的模报量的变化。4 5. 1. 3 增益误差EG5. 1. 3. 1 目前QJ 304垂98在规定的翻试条件
9、下将DAC的失调误差校正到零以后，测试实际模报输出满度值与理想、满度值之间的差毡，以确定DAC的满度输出佳的精度。5. 1. 3. 2 泪腻框图EG的测试框围如图1E哥示。5. 1. 3. 3泪i踹条件据试条件同5.1. 1. 3的规定。5. 1. 3. 4 测试程序5. 1. 3. 4. 1 在规定的湖试环境温度下，将被测DAC接入阔试系统中。5. 1. 3. 4. 2施加规定的电摄电压如参考电ff。5. 1. 3. 4. 3 在数字输出端施加全“。”码。5. 1. 3. 4. 4 开关S1闭合启立断开。将失调误差Eo调整为零。5. 1. 3. 4. 5在数字输入端施坦全“1”码。5. 1.
10、 3. 4. 6 在模报输出端楠得电压VF驭。由下式计算出EG:EG= V F飞VFSR10卢C%FSR). ( 3) v FSR 或EG=V VFSR (LSB). ( 4) Y LSR 5. 1. 3. 5 注意事项对于失调误差E。不可谓的DAC，在计算EG时应从Vm中减去失据误差Eoo5. 1. 4精度EA5. 1. 4. 1 韵在规定的iYltl试条件下，将DAC的失调误差和增益误差校准至零之后，满试实际转换挂曲线与理想转换特性曲线间的最大差值，以确定DAC在输出动态范噩内的最大偏差能否满足特性要求。5. 1. 4. 2 3睡眠框图EA的翻试框图如医1所示。5. 1. 4. 3 测试条
11、件商试条件同5.1. 1. 3的提定。5. 1. 4. 4 测试程序5. 1. 4. 4. 1 在规定的翻试环境温度下，将被阕DAC接人测试系统中。5. 1. 4. 4. 2 施加埋定的电摄电压租参考电压。5. 1. 4. 4. 3 开关S1闭合，S2断开，在数字输入端施加全“码，将失据Eo调整为零（前l绝对糯度时，此程序略）。5. 1.4.4 开关S2闭合在数字输入端施加全气”码，将增益误差EG调整为零（割绝对精度时，此程！芋略）。,. D QJ 3044-98 5. 1. 4. 4. 5 根据实际情况需要，选取适当组数的输入数码组合（见附录A参考件，在数字输入端施妇规定的逻辑电平，在模拟输
12、出端分别测得每一数码对应的电压。5. 1. 4. 4. 6 将5.1. 4. 4. 5测得前第一数属对应的电压与理嚣的每一数码对应的模拟输出电压相比较，取其偏差的绝对值最大者i6VA i阳。自下式计算求出EA:或5. 1. 5 线性误差ELI AV, I EA一丁102(%FSR).(5) FSR I /V I EA一丁？一空空(LSB) LSB 5. 1. 5. 1 目前在规定的割试条件下，测试实际转换特性曲线与最佳拟合直线的最大差值，以确定DAC转换点的实际模拟值与理想之差新能达到的最小极值。5. 1. 5. 2 测试在图EL的到试框图如00I既示。5. 1. 5. 3 预报条件商试条件同
13、5.1. 1. 3的提定。5. 1. 5. 4 预报程序5. 1. 5. 4. 1 在规定的环境温度下，将被捕DAC接入测试系统中。5. 1. 5. 4. 2 施加规定的电摄电压和参考电压。5. 1. 5. 4. 3 开关S1、S2监号开，接本标准第5.1. 4. 4. 3的现定拥得每一数码对应的电压。5. 1. 5. 4. 4 根据第5.1. 5. 4. 3的数据，按适当的数字方法稳定最佳拟合直线。5. 1. 5. 4. 5 将第5.1. 5. 4. 3的数据与5.1. 5. 4. 4的数据相比较，取其偏差的绝对值最大者l6VLI吨。自下式计算求出EL:或i生VLIEL一丁王102(%FSR
14、) (7) FSR I /VL I EL一王（LSB).(8) ISB 5. 1. 6 微分线性误差E皿5. 1. 6. 1 目前在规定的割试条件下，确定相邻两输入数码对应模拟输出电压之差的实际值与理想、佳lVLSB间的最大差值。5. 1. 6. 2 预报在图Ei:正的摊试框图如图IE吁示5. 1. 6. 3 泪慌条件商试条件同5.1. 4. 3的规定。5. 1. 6. 4 测试程序6 QJ 3044-98 5. I. 6. 4. 1 按本标准5.1. 4. 4. 1至5.1. 4. 4. 5的规定将1得每一数码对应的模报输出电压。5. 1. 6. 4. 2 计算两梧邻数码文才应的模割输出电压
15、之差，并与理想垣lVLsB相比较，取其偏差的绝对值最大者lVjlmaxo 出下式计算求出Er乱ZI AV;! EoL一三(LSB). . . （的V LSB 5. 1. 7 失理误差温度系教m5. 1. 7. 1 昌的在规定割试条件下，并在规定的温度莲围内，阕量单位温度变化所言起失调误差的变化量，以衡量DAC的温度稳定性。5.1.7.2 测试框图ClEo的测试框图如嚣1所示。5. 1. 7. 3 测试条件榄试条件同5.1. 1. 3的规定。5. 1. 7. 4 酒过程序5. 1. 7. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.1. 2. 4的提定攒得Eo(T川%FSR)05.1.7.
16、4.2 在规定的环境温度（T2）下，按本标准5.1. 2. 4的规定测得Eo(T2式%FSR）。自下式计算出ClEo:Ent朽、En，啊、0m= U(TZJ U之川 104 (ppm FSR ） . (10) T2-T1 5. 1. 8 增益误差渥度系教皿5. 1. 8. 1 昌的在规定的阔试条件下，并在规定的温度革理内，测试单位握度变化资引起的增益误差的变化量，以衡量DAC的温度稳定性。5. 1. 8. 2 那试框图EG的割试框图如嚣1所示。5. 1. 8. 3 测试条件榄试条件同5.1. 1. 3的理定。5. 1. 8. 4 那试程序5. 1. 8. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，
17、按本标准5.1. 3. 4的提定溅得EG(T川%FSR)05. 1. 8. 4. 2在规定的环境温度（T2）下，按本标准5.1. 3. 4的理定挺得EG(T川%FSR）。由下式计算出ClEG:E口rT?、E口、4他 T飞l04(ppmFSR/C). (11) 5. 1. 9 精度渥度系数EA5. 1. 9. 1 昌的7 QJ 3044-98 在规定的测试条件下并在规定的温度高围内，糖量单位温度变化所引起精度的变化量，以衡量DAC的温度稳定性。5. 1. 9. 2 到揣在国屯的割法框图如001 E号示。5. 1. 9. 3泪i腻条件随试条件同5.1.1.3的规定。5. 1. 9. 4 泪揣程序5
18、. 1. 9. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.1. 4. 4的规定洒得EA(T川%FSR)o5. 1. 9. 4. 2在规定的环境渥度（T2）下，按本标准5.1. 4. 4的提定7-9ltl得EA(T川%FSR）。自下式计算出EA:地EA（子；二Tl)104(ppm FSR Fe). (12) 5. 1. 10 续性误差温度系数EA5. 1. 10. 1 目前在规定的测试条件下并在规定的温度范堕内，割试单位温度变化所言起续性误差的变化量，以衡量DAC的温度稳定性。5. 1. 10. 2 刮过框围他的割试框图如图IE斤示。5. 1. 10. 3 刮过条件i费1试条件同5.1.
19、1.3的提定。5. 1. 10. 4 调j试程序5. 1. 10. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.1. 5.圣的规定割得EL从%FSR)05. 1. 10. 4. 2 在规定的环境握度下接本标准5.1. 5.兰的规定测得EL川%FSR）。自下式计算出EL:也E飞二Tl)104(ppmFSR/C) (13) 5. 1. 11 微分续性误差温度系数EDL5. 1. 11. 1 目前在规定的割试条件下，并在规定的温度范围内，测试单位渥度变化所引起微分续性瑛差变化量，以衡量DAC的温度稳定性。5. 1. 11. 2 测试框国铀的现！tl试框图如图1所示。5. 1. 11. 3 渭j
20、试条件f费1试条件同5.1.1.3的提定。5. 1. 11. 4 测试程序5. 1. 11. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.1. 6.圣的规定割得EDL(Tl)0 5. 1. 11. 4. 2 在规定的环境温度仔下，按本标准5.1. 6.兰的规定测得EDL(T2)0 8 QJ 3044-98 由下式计算出。EDL:EnrrT扩E陌fT1、飞7地DL=皿ZlTl)亨击1的ppmFSR/C) . (14) 5. I. 12 电酒电压灵敏度Ksvs5. I. 12. I 目前在境定的栩试条件下，栩试单位电摄电压变化，所引起模拟辑出电压的变化量，以衡量DAC的电压稳定性。5. I.
21、 12. 2测试在国Ksvs的拥试框图如图1所示。5. I. 12. 3 测试条件测试条件同5.1. 1. 3的规定。5. I. 12. 4潮试程序5. I. 12. 4. I 在规定的环境温度下，将被测DAC接入测试系统中。随加规定的电摄电压和参考电压。在数字输入端鹿加规定的逻辑电平（规定的数码），在模拟输出端摆得电压5. I. 12. 4. 2 5. I. 12. 4. 3 Yoo 5. I. 12. 4. 4 将电摄电压按现定变先L:,.V十。在模报输出端测得电压Voo 由下式计算求出Ksvs:(V o-Vo) 1 Ksvs= , 刀106(ppm FSR/V) (15) FSR L.:
22、!口(V o-Vo) 1 Ksvs= 0 .古？刘的姐姐V）“.(16) LSB L主审5. I. 12. 4. 5 按5.1. 12. 4的程序对其余组电据分别进行测试和计算Ksvso5. I. 13静态电漂电潦lo5. I. 13. I 目的输入全“。”码或“1”码时，在规定的鱼载下，随试经电漂端通过器件的电涯。5.1.13.2溃j试在图Io的梗tl试框图如图2所示。9 RL DUT GNDA 或GNDD 围2数码发生器QJ 3044-98 5. I. 13. 3 刮过条件f费1试条件同5.1. 1. 3的规定。5.1.13.4 剖试程序5. I. 13. 4. I 在规定的环境握度下，将
23、被割DAC接入现自试系统中。5. I. 13. 4. 2 施如规定的电摄电压和参考电压。5. I. 13. 4. 3 在数字输入端施加全“。”码。5. I. 13. 4. 4 在每个电据端（含参考电摞端）V+i；如得电捷loojo由下式计算求出全“。”码时的功起电窥loo:o=Llooi (mA) . (17) 5. I. 13. 4. 5在数字输入端施加全气”码。5. I. 13. 4. 6 在每个电源端（含参考电据端）V+A.Yltl得电流IDlio由下式计算求出全“1”码时的功在电流IDl:lDl=Llo1i(mA) . (18) 5. I. 13. 4. 7 比较岛和IDl，其较大者即
24、为loo5.2 DAC的苦态特性测试5. 2. I 建立时间也5. 2. I. I 目前DAC的数字辑入从全“。”突变1J勺气或从全“Y变1J全“。”）时，转换器的输出达到规定误差（误差带为土l/2LSB）既需要的时间，以衡量DAC的瞬态响应能力。5. 2. I. 2 测试在国ta f周试桂图如圄3B斤示。5. 2. I. 3泪i脱销辛i自1试条件同5.1. 1. 3的提定。5. 2. I. 4泪i踹程序5. 2. I. 4. I 在规定的翻试环境条件下，将被湖器件接入测试系统中。5. 2. I. 4. 2 施加规定的电摄电压和参考电罩。5. 2. I. 4. 3据节ER的幅度，使之等于待测数
25、模转换器输出的满度值。5. 2. I. 4. 4数模转换器的最低位输入竭分别与节点3”和节点“I”相连，在示波器上确定lLSB的动态范围。5. 2. I. 4. 5 将正向方波信号输入到数模转换器。其输出信号为Eo，负向方法信号加至选择器，其输出言号为ERoEo和一旦两信号叠加，在A点产生误差信号。当此误差信号的幅度小于lLSB时，在示波器上读出建立时间丸。5.3 ADC的静态特性酒l试5.3. I ADC静态功能5. 3. I. I 目前在起I，宗的理11过条件及直流工作技态下，测试Ar汇将输入模拟量转换成规定对应数字量辑出的能力。10 QJ 3044-98 _jl_ EA 。一立EEA 。
26、t. t, 医35. 3. 1. 2 漠i试框图ADC静态功能阅试在图如图4所示。11 QJ 3044-98 DUT 转换完成GNDA 国45. 3. I. 3 那试条件在测试期间，下列测试条件应得合器件详摇撞范的提定：a.环境温度zb.电摄电压pc.参考电压pd.模拟输入范围；e.数字输出端负载电流PL时钟频率pg.外接元件。5. 3. I. 4 现j试程ff5. 3. I. 4. I 在规定的棚试环境条件下，将被测ADC接入阕试系统中。5. 3. I. 4. 2 施加规定的电摄电压和参考电罩。5. 3. I. 4. 3开关岛、S2断开。5. 3. I. 4. 4 将器件详细堤莲厨规定的逻辑
27、控制信号接入待楠器件中。5. 3. I. 4. 5谓整AI，当AI从其模拟输入高蜜的最小量平覆地变到最大值时，用输出数码装置观察输出是否符合器件详细提范规定的函数关系Do=f(A1），或者用示波器检测所有数码输出波形是否正确。5.3.2 零点误差Ez5. 3. 2. I 昌的在规定捕试条件下，梗1试转换特挂曲线从零起的第一个变迁点的实际值与理摆值之差值，以确定ADC的零点精度。5. 3. 2. 2 那试框图Ez的测试框图如图4所示。5. 3. 2. 3 测试条件12 QJ 3044-98 i费1试条件同5.3.1. 3的提定。5. 3. 2. 4 到报程序5. 3. 2. 4. 1 在规定的翻
28、试环境条件下，将被栩ADC接人测试系统中。5. 3. 2. 4. 2施加规定的电摄电压如参考电ff。5. 3. 2. 4. 3 开关S1,S2断开。5. 3. 2. 4. 4 输入电压从零开始逐渐增大，使数字辑出端由0000变为0001，记录下输入电压VI 1 o 5. 3. 2. 4. 5逐渐减小输入电压，使数字输出端自0001变为0000.记下输入电压VI 2o 自下式计算求出Ez:=Cv 11十VI 2 主空主）1 102（电IFSR). (19) 2 2 v豆豆0 或Ez（） (LSB).(20) 中中VISB 5. 3. 3. 5 注意事项a.同5.3. 2. 5; b.对于零点不可
29、谓的ADC，计算EG时应从（VI1V 12)/2中减去零点误差Eoo5. 3. 4精度EA5. 3. 4.1 目前在规定的割试条件下，将零点误差和增益误差都校准至零之后，测试实际转换特性曲线与理摆曲线闰的最大差以确定ADC在输入动态范围内的最大偏差点也能否满是特性要求。6. 4. 2 3睡试框图E屯的割试框围如医4庚示。5. 3. 4. 3 顶时条件据试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 4. 4 泪揣程序5. 3. 4. 4. 1 在规定的湖试环境条件下，将被测ADC接入阔试系统中。5. 3. 4. 4. 2施加埋定的电摄电压相参考电E。5. 3. 4. 4. 3开关S1闭合、S2断
30、开，将零点误差Eo调整为零（那绝对梧度时，此程序略）05. 3. 4. 4. 4 开关S2闭合，将增益误差调整为零（回绝对精度时，此程序珞。5. 3. 4. 4. 5 调节输入电压J吏数字辖出端由第j码变为j-1码记下输入电压Vlo 5. 3. 4. 4. 6据节辖入电压，使数字输出端自第j-1码变为j码，记下输入电压V20 5. 3. 4. 4. 7据节辑人电压，使数字辑出端由第j码变为j十1码，记下输入电压V3o 5. 3. 4. 4. 8据节辑人电压，使数字辑出端由第j十1码变为j码，记下输入电压V4o 5. 3. 4. 4. 9 由下式计算求出第j码的偏差6Vi:v,+v2+v3十V4
31、A飞fi=气。爸VJ式中：Vi为理想AT汇第j码的标称值。 (23) 13 QJ 304垂985. 3. 4. 4.10 握握实际情况插需要，选取适当组数的输出数码组合（见附录B参考ftp.）。按本标准第5.3. 4. 4. 5至5.3. 4. 4. 9的规定，翻得选定的数码的铺差，取其结对值最大者l6V i吨。由下式计算求出zI I气VIEA飞主主1D2(%FSR) . (24) FSR 一l6V i主立即或EA一一(LSB) .(25) 5. 3. 4. 5 注意事项同5.3. 2. 50 5. 3. 5 线性误差EL5. 3. 5.1 昌的ISB 在规定的测试条件下割试实际转换特性曲线与
32、最佳拟合直线间的最大铺差以确定ADC转换点的实际模报值与理摆值之差所能达到的最小极值。5. 3. 5. 2 酒过框图EL的割试框国如雷4既示。5. 3. 5. 3 酒过条件测试条件同5.3. 1. 3的提定。5. 3. 5. 4 测试程序5. 3. 5. 4. 1 在规定的环境温度下，将被揭ADC接入樱试系统中。5. 3. 5. 4. 2 施加规定的电摄电压和参考电压。5. 3. 5. 4. 3开关岛、S2断开，接本标准5.3. 4. 4. 5至5.3. 4. 4. 8前规定，栩得第j码的实际码宽中心值飞，即：V1+V2V3v VJ= 4 . (26) 分别测试厨有码的实际码宽中J心值。5.
33、3. 5. 4. 4 根据5.3. 5. 4. 3前数据，按适当的数字方法确定最佳拟合直线，得到第j码的模报输入量VJO5. 3. 5. 4. 5 将5.3. 5. 4. 3的数据与5.3. 5. 4. 4条的数据相比较，取其偏差的绝对值最大者l6V i吨。自下式计算求出EL:或5. 3. 5. 5 注意事项国5.3. 2. 50 5. 3. 6 微分钱性误差EnL14 i生VIEL旦1D2(%FSR）.(27) FSR i八v1, EL气(LSB). (28) ISB QJ 304垂985. 3. 6. 1 目前在规定的测试条件下确定实际转换特性曲线的码宽与理想码宽lVLSB间的最大差垣05
34、. 3. 6. 2 测试框图Ei:正的测试框医如医4所示。5. 3. 6. 3泪i脱销辛f费1试条件同5.3.1. 3的规定。5. 3. 6. 4 测试程序5. 3. 6. 4. 1 按本标准5.3. 4. 4. 1至5.3. 4. 4. 8的埋定，测得第j码的实际码宽：V3V4 v土飞7Vi一一一一一一一. (29) 2 2 分别测试所有码的实际码宽。5. 3. 6. 4. 2将第5.3. 6. 4. 1条胡数据与理想码宽lVLSB梧比较，取其偏差的绝对值最大者l6V 问。自下式计算求出E皿Z或飞vI EDL一亏了一一三(LSB) . (30) 5. 3. 6. 5 注意事项同5.3. 2.
35、 50 5. 3. 7 零点误差温度系数EZ5. 3. 7. 1 目前 LSB 在规定的割试条件下？并在规定的温度范理内，翻试单位温度变化所引起零点景差的变化量，以衡量ADC的握度稳定性。5. 3. 7. 2 测试框图EZ的测试框00如图4所示。5. 3. 7. 3 测试条件醋试条件同5.3.1. 3的提定。5. 3. 7. 4泪i踹程序5.3.7.4.1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.3. 2. 4的规定洒得EZ(Tn( %FSR) o 5.3.7.4.2 在规定的环境温度（T2）下，按本标准5.3. 2. 4的规定洒得EzcT2)( %FSR）。自下式求出电z:aEZ=Ez二Tl
36、)l04(ppmF理）.(31) 5. 3. 8 增益误差温度系数BG5. 3. 8. 1 目前在规定的模l试条件下？并在规定的温度范理内，翻量单位温度变化所引起的增益误差的变化量，以衡量ADC的温度稳定性。5. 3. 8. 2 试框图E巧的测试框图如围4所示。15 QJ 3044-98 5. 3. 8. 3泪i踹条件f费1试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 8. 4 测试程序5. 3. 8. 4. 1 在规定的环境渥度（T1）下，按本标准5.3. 3. 4的提定那得EG(Tl)( %FSR) 0 5. 3. 8. 4. 2 在规定的环境温度（T2）下，按本标准5.3. 3. 4的规
37、定混得Eo(T川%FSR）。自下式求出EG:5. 3. 8. 5 注意事项同5.3. 2. 50 E口户。、E口，、地可；T，1uI伊（ppmFSR/C). (32) 5. 3. 9 精度温度系教EA5. 3. 9. 1 目前在规定的割试条件下，并在规定的握度高围内，樱试单位温度变化所引起精度的变化量，以衡量ADC温度稳定性。5. 3. 9. 2 泪揣框图ClA的翻武框围如医4庚示。5. 3. 9. 3 测试条件醋试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 9. 4 泪脑程序5. 3. 9. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.3. 4. 4的规定洒得EA(T川%FSR)o5.
38、 3. 9. 4. 2 在堤定的环境温度（T2）下，按本标准5.3. 4. 4的规定洒得EA(T从%FSR）。自下式求出EA:句A=EA之二：Tl)104（时FSR. （划5. 3.10 续性误差温度系数E5. 3. 10. 1 E的在规定的费j试条件下，并在规定的瘟度范围内，测试单位温度变化所引起线性最差的变化量，以衡量ADC的握度稳定性。5. 3. 10. 2渭j试框围他的割试框图如图4所示。5. 3. 10. 3 2理j试条件榄试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 10. 4 刮过程ff5. 3. 10. 4. 1 在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.3. 5.圣的规定测得E
39、L从%FSR）。5. 3. 10. 4. 2 在规定的环境温度（T下，按本标准5.3. 5.圣的规定割得EL川%FSR）。自下式求出他：EL21EL(T1) 他L=子；Ti口气1铲（ppmFSR /C) . (34) 16 5. 3.11 微分线性误差温度系数皿5.3.11.1 目前QJ 3044-98 在规定的测试条件下并在规定的温度范雪内，割试单位温度变化历引起微分线性误差的变化量，以衡量ADC的握度稳定性。5. 3. 11. 2 测试在国U垣DL的、测试桂图如图4所示5. 3. 11. 3 剖试条件翻试条件同5.3.1. 3的理定。5.3.11.4 翻过程摩5. 3. 11. 4. 1
40、在规定的环境温度（T1）下，按本标准5.3. 6. 4的埋走到得EDU.Tl)0 5. 3. 11. 4. 2在规定的环境温度（T2）下，按本标准5.3. 6.圣的规定翻得EDL(T2)0 自下式求出他DL:E.-. /T9、E.-.(T1、v，一切比之T1J ；1伊（ppmFSR/ C）.（切5. 3. 12静态电嚣电流lo5. 3. 12. 1 目前输出全“。”码或全“1”码时，在埋定的负载条件下，拥试经电源端通过器件的电夜。5. 3. 12. 2调l镜框国Io的授tl试框图如005所示。医55.3.12.3 跚武条件f费1试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 12. 4 翻过程库
41、5. 3. 12. 4. 1 在规定鸪环境温度下，将被测DAC接入掘试系统中。5. 3. 12. 4. 2 施加境定的电源电压和参考电压。17 QJ 3044-98 5. 3. 12. 4. 3调节输入电E，使输出端全为“。”码。5. 3. 12. 4.垂在每个电摞端（含参考电漂端）V+i；如得电流lDOjo出下式计算求出输出全吨”码时的静成电流lno:lno= Inoi(mA）.（36) 5. 3. 12. 4. 5 调节输入电压，使输出端为全“1”码。5. 3. 12. 4. 6在每个电摄端（含参考电摄端）V混得电流lDljo出下式计算求出输出全勺”码时的静态电流lno:Pm= lDu (
42、mA). . . . . . . (37) 5. 3. 12. 4. 7 比较loo和缸，其较大者即为lDo5. 3. 13 电漂电压灵敏度Ksvs5. 3.13. I 的在规定的测试条件下单位电摄电压变化既引起等效模拟输入电压的变化量，以衡量ADC的电压稳定性。5. 3. 13. 2 测试在国Ksvs的那试框图如图4所示。5. 3. 13. 3溃j试条件测试条件同5.3. 1. 3的规定。5. 3. 13. 4测试程序5. 3. 13. 4. I 按本标准第5.3. 4. 4. 1条至5.3. 4. 4. 8条的规定测得规定码的实际码宽中心值飞，哥：V1十V2V3vVs= , 4 . (38
43、) 5. 3. 13. 4. 2 将电摄电压接班定变化.按本标准5.3. 4. 4. 5条至5.3. 4. 4. 8前提定，翻得埋定码的实际码寞中心组Vgo 由下式计算求出Ksvs:(V1s Vs) 1 Ksvs毛l.百106(ppm FSR/V ). (39) F百R (Vs Vs) 1 Ksvs= 7 大言？旧的%LSB/V）.( 40) LSB L.口十5. 3. 13. 4. 3 按5.3.13.4.2的程序，对其余组电据分别进仔测试和计算Ksvs。5. 3. 15. 5 注意事项a.罔5.3. 2. 5; b.碍于零点，增益不可调的ADC，则在不据零或不调增益下割试。5. 3. 14
44、 失码MC5. 3. 14. I E的在提定的棋试条件下，模拟输入电压在满量程范围内变化时，确定辑出端是否有一个以上的对应数码不出现的现象。18 QJ 3044-98 5. 3. 14. 2 割试框图MC的樱试框圄如图4所示。5. 3. 14. 3 跚武条件翻试条件同5.3.1. 3的提定。5. 3. 14. 4 剖试程序5. 3. 14. 4. I 在规定的环境温度下，将被那ADC接入测试系统中。5. 3. 14. 4. 2 拖加规定的电源电压和参考电压。5. 3. 14. 4. 3 开关K1、L断开，输入电压在满量程范围内从最小开始逐渐变到最大，输出端1尾随不出现的数码。5. 3. 14.
45、 4. 4 输入电压自相反方向从最大逐渐变到最小在输出端观测不出现的数码。5. 3. 14. 5 注意事项同5.3.2.505.3. 15 ADC数字输出蜻静态参数5.3.15.1 目前在规定的割试条件下，输入端施加规定的模报输入量（电压或电流），确定输出为高、抵电平时的电压及对地的短路电流。5. 3. 15. 2 潭。镜框国到试条件及测试程序ADC数字辑出端静态参敦的那试框匾，测试条件及测试程序，根据采层的数字电路类型，分别按GB3439,GB 3441及GB3834的规定进行。5.4 ADC的动态特哇漂I试5. 4. 1 转换时间te5. 4. I. 1 目前在规定的翻试条件下，并在规定的撞入电平上，确定ADC完成一次从模拟量到数字量转换既需要的时碍。5. 4. I. 2 泪揣在图te的测试框图如图8所示。启动转换脉冲方泼发生器精密电压源二MSB 检测系统LSB _JL_ 对闵测量单元DUT 图619 QJ 3044-98 5. 4. I. 3 5意冲渡形医脏i中法形图旦国70AV J汀T 部钟一如而内时一币状也腥T1 手JLUl B/T2 4S “ 1” LSB(B/T四出行输出B/T, B/T3 k厂图75. 4. I. 4 泪腻条件商试期间，下列捕试条件应符合
