1、道雪ICS 31. 120 L 47 和国国家标准主K-、中华人民GB/T 18910.1-2012 代替GB/T18910. 1-2002 液晶显示器件第1部分:总规范201306-01实施Liquid crystal display devices一Part 1 : Generic specification 2012-12-31发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会丸，dy町立/叫叭矿盟白白/叭闹回俨441y如加胡岛钮拥GB/T 18910.1-2012 自次前言.E1 范围2 规范性引用文件-3 术语和定义4 总则.4. 1 优先顺序.4.2 温度、湿度
2、和压力优选值.2 4.3标志.2 4.4 质量评定类别.2 4.5 筛选.3 4.6 操作.3 5 质量评定程序.3 5.1 总则.5.2 鉴定批准的资格.3 5.3 商业保密信息5.4 检验批的构成.35.5 结构相似器件.3 5.6 鉴定批准的授予.3 5.7 质量一致性检验.4 5.8 统计抽样程序.65.9 耐久性试验.7 5.10 规定失效率时的耐久性试验.7 6 试验和测试程序.8 6.1 电光测试的标准大气条件.8 6.2 物理检查.8 6.3 电光测试.8 6.4 环境试验.9 附录A(资料性附录)本部分与GB/T18910. 1-2002的主要区别.10 附录B(规范性附录)
3、批允许不合格品率CLTPD)抽样方案.12 附录c(资料性附录液晶显示屏外形图的示例.18 附录D(规范性附录液晶显示模块的取向.20 I GB/T 18910.1-2012 前GB/T 18910(液晶显示器件分为如下部分z第1部分z总规范z第1-1部分z术语和符号F一-第2部分z液晶显示模块分规范(GB/T18910. 2-2003 ,IEC 61747-2:1998 , IDT); 一一第2-1部分z元源矩阵单色液晶显示模块空白详细规范(GB/T18910.21-2007 , IEC 61747-2-1:1998 ,IDT); 一一第2-2部分z彩色矩阵液晶显示模块空白详细规范(GB/T
4、18910. 22-2008, IEC 61747-2-2: 2004 ,IDT) ; 第3部分z液晶显示屏分规范(GB/T18910.3-2008 ,IEC 61747-3: 1998 , IDT); 第3-1部分z液晶显示屏空白详细规范z一一第4部分z液晶显示模块和屏基本额定值和特性(GB/T18910. 4-2007, IEC 61747-4: 1998 ,IDT) ; 一一第4-1部分E彩色矩阵液晶显示模块基本额定值和特性(GB/T18910.41-2008 ,IEC 61747-4-1 :2004 ,IDT); 一一第5部分z环境、耐久性和机械试验方法(GB/T18910. 5-20
5、08 , IEC 61747-2:1998 ,IDT); 一一第6部分z液晶显示器件测试方法系列标准。本部分为GB/T18910的第1部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分代替GB/T18910.1-2002(液晶和固态显示器件第1部分z总规范。本部分与GB/T18910. 1-2002相比主要变化及其原因，在附录A中给出以供参考。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究院(CESD归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究院。本部分主要起草人z赵英。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z一-GB/T18910.2-2002。阳山GB/
6、T 18910.1-2012 范围液晶显示器件第1部分:总规范GB/T 18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序，并给出了电光特性测试方法的通用要求，给出了气候、机械和耐久性试验方法。本部分适用于液晶显示器件，包括液晶显示屏和液晶显示模块。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 4589. 1-2006 半导体器件第10部分z分立器件和集成电路总规范(lEC60747-10: 1991 ,IDT) GB/T 17
7、573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分z总则(idtIEC 60747-1:1983) GB/T 18910. 5-2008 液晶和固态显示器件第5部分z环境、耐久性和机械试验方法。EC61747-5:1998,IDT) GB/T 18910.11-2012 液晶显示器件第1-1部分z术语和符号GB/T 18910.61-2012液晶显示器件第6-1部分z液晶显示器件测试方法光电参数IEC 60068(所有部分环境试验(Environmentaltesting) IEC 60410:1973 计数检查抽样方案和程序(Samplingplans and procedures for
8、 inspection by attributes) IEC 60747(所有部分)半导体器件分立器件(Semiconductordevices-Discrete devices) IEC 60748(所有部分半导体器件集成电路(Semiconductordevices-Integrated circuits) IEC 60749: 1996 半导体器件机械和气候试验方法(Semiconductordevices-Mechanical and climatic test methods) QC 001002: 1986 IECQ电子元器件质量评定体系的程序规则(Rulesof Procedur
9、e of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (lECQ) ISO 1101: 1983技术制图几何公差形状、位置和偏差公差总则、定义、符号和图样表示法(Technical drawings-Geometrical tolerancing-Tolerancing of form, orientation, location and run out-Generalities. definitions, symbols, indications on drawings) ISO 2859(所有部分计数检查抽样程序(
10、Samplingprocedures for inspection by attributes) 3 术语和定义GB/T 18910. 11-2012界定的术语和定义适用于本文件。4 总则4. 1 优先顺序如有争议，各种文件应按以下权限顺序执行z1 GB/T 18910.1-2012 a) 详细规范zb) 空白详细规范pc) 族规范(如有时); d) 分规范Fe) 总规范50 基础规范;g) IECQ程序规则zh) 需要参考的任何其他国际文件(例如IEC);i) 国家文件。相同的优先顺序适用于等效的国家文件。4.2 温度、湿度和压力优选值特性测试、试验和工作条件的温度、湿度和压力的优选值按GB
11、jT18910.52008的规定。4.3 标志4.3. 1 器件识别器件上的标志应能清晰可辨。4.3.2 器件可追溯性器件应有可追糊性代码，能够追溯到器件确切的生产批和检验批a4.3.3 包装包装上应有下列标志zd 器件的识别代码;b) 包装内器件的可追溯件代码;c) 包装内器件的数量;d) 如需要，其他注意的事项。以上标志可以按照惯例调整q注z其他增加的要求可以在有关详细规范中规定.4.4 质量评定类别本规范规定了三个质量评定类别。有识别代码和日期代码的同一检验批内的器件，按规定的质量类别进行检验。与同一检验分组对应的合格质量水平(AQL)或批允许不合格品率(LTPD)可依不同的质量类别而异
12、，并应符合详细规范的规定。对各类别的最低要求如下zI类该类器件符合E类或E类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每三个月对一批进行相互连接能力检验，应符合要求。每年进行一次B组和C组检验，均应符合要求(见5.7.2)。E类一一该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。E类一一该类的批需进行100%筛选，并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。分规范和空白详细规范应规定对以上各类的最低要求。详细规范可以包括在总规范、分规范或空白详细规范中没有的，包括筛选在内的补充要求。2 G/T 18910.1-2012 4.5 筛选筛选是对一批中所有器件进行的检验和
13、试验。当详细规范有要求时，应按分规范或空白详细规范的有关表中所给出的序列之一种，对提交批中的全部器件进行筛选，并剔除全部有缺陷的器件。只有当上述筛选的序列与公认的失效机理元关或有矛盾时，才采用未规定的其他筛选序列。当分规范或空白详细规范的有关表中给出的筛选程序的一部分构成了制造工序的一部分时，则不必重复这些过程。就本规范而言，老练定义为在规定的时间内对批中所有器件施加热应力和电应力，进行检验并剔除潜在的早期失效产品。4.6 操作按GB/T17573-1998第E篇的要求。对含有有毒有害物质的情况，应有警示作用的标识(例如:BeO)。5 质量评定程序5. 1 总则质量评定包括4.4中规定的为获得
14、鉴定批准的程序以及之后按详细规范规定的逐批(如要求时也包括筛选)以及周期的质量一致性检验。质量评定试验分为按4.4规定的逐批或周期进行的A组、B组和C组试验。在某些情况下也可以规定D组试验，例如为了进行鉴定批准。5.2 鉴定批准的资格只有当某个型号的器件满足QC001002: 1986中第11章规定时，才有资格进行鉴定批准。5.2. 1 初始制造阶段初始制造阶段在分规范或空白详细规范中规定。5.3 商业保密信息如果制造过程的某部分涉及商业机密时，则应加以适当地标注，而总检查员应当证明已经遵循了QC 001002: 1986中10.2.2的要求，使国家监督检查机构(NSl)满意。5.4 撞验批的
15、构成见QC001002: 1986中12.2的规定。5.5 结构相似器件见QC001002: 1986中的8.5.3的规定。有关分组的细节在相关的分规范或空白详细规范中规定。5.6 鉴定批准的授予见QC001002: 1986中的11.3.1.制造商可以按分规范或空白详细规范中给出的检验要求，选用QC001002: 1986中11.3. 1的方法a)或方法b)。样品可由适当的结构相似的器件组成。在某些情况下，鉴定批准要求有D组试验。作为详细规范中试验结束后进行的终点测试的所有变化量测试，应记录变化量数据。3 GB/T 18910.1-2012 鉴定报告应包括一份各组和各分组所进行的所有试验结果
16、的摘要，包括被试器件数和失效器件数。摘要由变化量和或计数数据给出。制造商应保留所有数据，以便NSI要求时提供。5. 7 质量一致性检验5.7. 1 通则质量一致性检验应由A组、B组、C组和当有规定时的D组检验和试验组成。对于B组和C组检验，其样品可由结构相似器件组成。周期检验的样品应从通过A组和B组检验的一批或几批中抽取。每个器件都应通过按详细规范要求的A组测试。5.7.2 组和分组的划分制定详细规范时要遵循以下准则。5.7.2.1 A组检瞌(逐批)本组规定了逐批进行的为评定器件主要特性的目检和测试。除非另有规定，不允许按结构相似分组。A组检验分为以下各分组zA1分组z本分组由6.2.1规定的
17、外部目检组成。A2分组z本分组由对器件主要特性的测试组成。A3和A4分组z可不要求这些分组，它们由对器件次要特性的测试组成。对每个器件类别的恰当要求应在有关的分规范或空白详细规范中规定。测试项目列入A3分组还是A4分组取决于需要在哪一个质量水平上进行这些测试。5.7.2.2 B组检验(逐批，1类除外，见4.4)本组规定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括正常情况下在一周内能够完成的或按有关的分规范或空白详细规范规定的机械、气候、电和光耐久性试验。5.7.2.3 C组检验(周期本组规定了周期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括适合于每间隔三个月(II类和皿类或间隔一年(1
18、类的或按有关分规范或空白详细规范规定的电和光测试，机械、气候和耐久性试验。5.7.2.4 B组和C组的划分为了能够便于比较从B组到C组的变化或在必要时见5.7.4)数据的代替，B组和C组中相应的试验列入具有相同编号的分组。划分如下zB1/C1分组z包括控制器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组z包括评定器件设计特征的电和光性能测试。B2b/C2b分组=包括在不同电压、电流、温度和光学条件下对器件在A组中已测试过的某些电和光特性进一步评定的测试。B2c/C2c分组z适用时，包括对器件额定值的验证。4 GB/T 18910.1-2012 B3/C3分组z包括对器件机械强度进行评定的试验。B4/C
19、4分组z包括对器件可焊性进行评定的试验。B5/C5分组z包括对器件经受气候应力能力进行评定的试验。例如z温度的变化、密封等试验。B6/C6分组z包括对器件经受机械应力能力进行评定的试验。例如z振动、冲击。B7/C7分组=包括对器件经受长时间潮湿能力进行评定的试验。B8/C8分组z包括对器件在耐久性试验条件下失效特征进行评定的试验。B9/C9分组z包括对器件在极限贮存温度条件下的电和光性能进行评定的试验。B10/C10分组z包括对器件在气压变化时的性能进行评定的试验。Bll/Cll分组z包括标志耐久性试验。CRRL分组z选择并列出上述各分组中已做过的部分试验和或)测试，将其结果在放行批证明记录(
20、CRRL)中给出。这些分组可以不全部要求。5.7.2.5 D组检验本组规定了每隔12个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。5.7.3 检验要求应采用5.8中统计抽样程序。5.7.3. 1 批拒收判据不符合A组或B组质量一致性检验的批，不得接收。如果在质量一致性检验过程中，器件未能通过某个分组的一项试验将导致该批被拒收，质量一致性检验应立即终止，并将该批视作A组和B组的拒收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交，则应被认为是拒收批。5.7.3.2 重新提交的批在技术上可能的条件下，经过返工并重新提交质量一致性检验的失效批，应只包含原来批中的器件，并且每个检验组(A组和B组)只能重新提
21、交一次。重新提交的批应与新的各批分开，并应清楚地标识为重新提交的批。重新提交的批应随机地重新抽取样品，并对A组所有的检验进行检验。5.7.3.3 试验设备故障或操作人员失误情况下的程序如果确认器件失效是由于试验设备的故障或操作人员失误而导致的，则应将失效记入试验记录中(如果NSI同意可不记人CRRL中连同为什么确认不计作失效的一份完整的说明提交给NSI。总检查员应决定是否将同一检查批中替代器件补充到样品中。替代器件应经受失效器件在失效之前已经受过的同样的试验，还应经受失效器件按规定将要进行的试验。5.7.3.4 周期检验失效时的程序当B组失效时，则相应C组检验(见5.7.2.4)也同时无效。如
22、果周期检验失效不是由于设备故障或操作人员失误引起的，则执行QC001002: 1986中12.6，并作如下修改z一12.6.1第a项产暂停该结构相似组内的所有器件在本体系内放行。一-12.6.4第a项产在改正了制造错误之后，对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序。一一12.6.8:如果鉴定批准是按12.6.7撤消的，则可按NSI的意见采用一种简化程序(主要针对引起失效的那些特性的试验)恢复鉴定批准。5 GB/T 18910.1-2012 5.7.4 放宽检验的附加程序5.7.4.1 B组可采用一种特殊的放宽检验程序，允许制造商在最长三个月的间隔时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批
23、来代替逐批进行的B组的正常检验。当某一分组符合要求条件时，这种特殊程序即适用于该分组。采用这种程序的条件是连续十批通过B组检验。在放宽检验程序下，当某组样品不符合某分组检验时，该分组应恢复为B组的正常检验。5.7.4.2 C组当周期检验的间隔时间规定为三个月时，如果按三个月的间隔时间连续三次通过了周期检验，则试验周期可延长为六个月。在延长间隔时间程序下，当某个样品不符合某分组检验时，应恢复为正常的三个月间隔时间(也见5.7.3.的。5.7.5 IJ、批量抽样要求当批量很小时，可按照GB/T4589.1-2006中3.6.4或IEC60410: 1973中3.5的规定执行。5.7.6 放行批的证
24、明记录(CRRL)见QC001002: 1986中的第14章。5.7. 7 经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货在分规范或空白详细规范中标记(0)的试验被认为是破坏性的。经受过破坏性试验的器件，不得包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件，只要它们按A组要求重新检验且合格则可交货。5.7.8 延期交货在交货之前超过规定期限的器件，在整批或部分要交货时，应经受有关的分规范或空白详细规范规定的A组检验和B组的互连能力试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后，在以后的相同期限内可不再要求重新检验。5.7.9 交货的附加程序制造商可提供比指定的质量评定水平高的器件代替质量评定水平较低的器件。5.
25、8 统计抽样程序对A、B和C组检验，应采用AQL或LTPD抽样程序，详细规范应规定采用哪种程序。5.8.1 AQL抽样方案见IEC60410:1973的4.5.有三种类型的抽样方案，一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定AQL和代码字母时，则可采用任何一种。5.8.2 LTPD抽样方案见附录B。6 5.9 耐久性试验耐久性试验应在详细规范中规定。5. 10 规定失效率时的耐久性试验5. 10. 1 总则本部分所采用的失效率定义为以每1000h的百分数表示的LTPD.耐久性试验应按规定的程序进行。GB/T 18910.1-2012 器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验，
26、应认为是非破坏性的。5. 10.2 样晶的抽取耐久性试验的样品应从检验批中随机抽取(见附录白，对于1000h试验的样品量应由制造商从规定失效率栏见表B.D或实际批量栏(见表B.2)中选择。合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。5. 10.3 失效一个器件在任何规定的读出时间，未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值，则应认为是一个失效。而且在之后的任何读出时间也认为是失效的。如果一组样品已不能符合耐久性试验的要求，制造商可自行停止试验。5. 10.4 耐久性试验时间和样品量无论是否规定了失效率，初次耐久性试验时间应是1000 h.一旦一批通过了1000 h的耐久性试验，可以在详细规范
27、中规定耐久性试验时间减少到一定周期。5.10.5 发现的失效数超过合格判定数时采用的程序若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数，制造商应选择下列方案的一种zd 撤回整批zb) 按照5.10.5.1追加样品;c) 如果最初选择的试验时间小于1000 h.则按照5.10.5.2将试验时间延长至1000 h; d) 按照5.7.3.2筛选该批并重新提交。采用以上其中一个方案后，如果试验不合格，则执行5.7.3.4的程序。5. 10.5. 1 追加样晶对于每次提交，该方案只能采用一次。当选择该种方案时，新的总样品数(最初的加上追加的应由制造商从表B.1规定的失效率或表B.2实际批量栏中选取。应从原
28、批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相当。追加的样品应经受与最初样品相同的耐久性试验条件和时间。如果发现总的不合格品数最初的加上增加的不超过总样品对应的合格判定数，则该项试验合格，如果发现不合格品数超过了新的合格判定数，则判定该项试验不合格。5. 10.5.2 耐久性试验时间的延长如果采用的耐久性试验时间小于1000 h.而且在最初的样品中发现不合格品数超过了合格判定数，制造商可不追加样品而将整个最初样品的试验时间延长至1000 h.并依据表B.1和表B.2确定一GB/T 18910.1-2012 个新的合格判定数。新的合格判定数应与规定栏内
29、小于或等于试验样品量的最大抽样量相当。在最初读出时间失效的器件，在1000h读出时间应仍认为是失效的z如果发现的不合格品数超过这个合格判定数，则认为该项试验不合格。6 试验和测试程序6. 1 电光测试的标准大气条件除非另有规定，所有的电光测试应在IEC60749: 1996和GB/T18910. 61-2012中规定的大气环境条件下进行。环境温度:25 c士5C。相对湿度:45%75%。大气压力:86kPa106 kPa(860 mbar1 060 mbar). 制造商也可以在其他温度条件下测试，只要能使NSI确信在环撞温度为25c士1C、相对湿度在48%52%之间若相对湿度是重要的测试时器件
30、仍能符合详细规范的规定。6.2 物理检查6.2. 1 目栓除非另有规定，目检应在正常照明条件下和标准目视条件下进行。应检查F列各项的正确性za) 标志及清晰度sb) 引出端识别;c) 器件外观，依据GB;T18910.5-2008检查。6.2.2 尺寸应按规定的图纸检查尺寸。尺寸标注示倒参见附录Cc6.2.3 栋志酣久性这项试验的目前是检查在对器件处理和使用典型的清洗剂时标志的耐久性。6.2.3. 1 条件溶剂、磨擦条件和材料应在分规范或空白详细规范中规定。6.2.3.2 初始检查和最终检查试验样品要经过目检。6.3 电光测试6.3. 1 一曲条件和注意事项6.3. 1. 1 替代方法8 可以
31、采用规定的方法或其他能给出等效结果的方法。但在有争议的情况下只能采用规定的方法。注1:等效指的是用这种方法所确定的特性值，当用规定的方法测试时也在规定的范围之内。注2:电光测试应按照IEC60747、IEC60748和GB/T18910. 61-2012的规定，当需要时或详细规范规定时应采用这些方法.注3:在IEC60747、IEC60748和IEC61747-6中未规定的电光测试方法，应在相应的规范或详细规范中规定。GB/T 18910.1-2012 6.3. 1. 2 测试精度详细规范列出的极限值是绝对的。在确定实际测试极限时，应考虑到测试误差。6.3.1.3 一殷注意事项通常应注意将测试
32、误差降到最小并避免损坏器件。在GB/T17573-1998中给出了最重要的注意事项。6.4 环境试验环境试验方法应按照IEC60068的规定s当需要或详细规范规定时应采用这些办法。依据GB/T18910. 5-2008的规定指明这些试验是破坏性的或非破坏性的。当要求强制性的试验顺序时，应在分规范或空白详细规范中规定。GB/T 18910. 5-2008中未作规定的试验方法，应在详细规范中规定。对于需要观察或施加与器件定位有关的外力的那些试验方法，其方位和施力的方向应按附录D的规定。9 GB/T 18910.1-2012 附录A(资料性附录本部分与GB/T18910. 1-2002的主要区别本部
33、分与GB/T18910.1-2002的主要区别及原因见表A.1。表A.1本部分与GB/T18910. 1-2002的主要区别GB/T 18910. 1-2002 本版不同之处原因元采标等同采用IEC61747-1:1998版IEC标准有了新的版本标准编号均取消并列的IEC标等同采用IEC61747-1:1998版，编本部分修改采用IEC标准，故取消并列的准号号为双编号IEC标准号IEC/TC 110平板显示器件技术委员会从标准名称为液晶显示器件.标准名称为液晶和固态显示器件2004年起将61747系列标准改为液晶显和Liquidcrystal display devices . 示器件HH，为
34、使该标准与今后制定的. 该系列标准一致，故其名称做了相应的修改前言部分预计结构有所补充和调整F补充了新版本与前版和IEC的主要区别1 范围中.给出了气候、机补充了适用范围根据GB/Tl.1的要求械和耐久性试验方法IEC 61747-5:1998改为已等同采用IEC标准制定为国家标准GB/T 18910.5-2008 删除以下标准zGB/T 2421-1999 GB/T 15651一1995GB/T 18910.2/1-2007 GB/T 18910.4-2007 SJ/T 11248-2001 2规范性引用文件中部分标准IEC 60027 由引用IEC标准改为相应的国家IEC 60050 标准
35、.IEC 60068/60068-2 本版标准文本中没有引用同时正文中引用时也做了相应修IEC 60191 改，不再特别说明IEC 60191-1:1966 IEC 60191-2 :1 966 IEC 60191-3 , 1974 IEC 60615 ISO 1000 ISO 8601: 1988 补充以下标准g在本版标准文本6.1、6.3.l. 1中引用GB/T 18910.61-2012 10 GB/T 18910.1-2012 表A.1(续)GB/T 18910. 1-2002 本版不同之处原因3 术语和定义定义了有关物理概念、基本术本部分的具体内容删除，在GB/T18910. 11
36、GB/T 18910. 11-2012界定的术话和关于参数和特性方面的术一2012(液晶显示器件第1-1部分术语和定义适用于本文件语共51个语和定义中规定本部分的内容删除，在GB/T18910. 11一4.2 单位、符号和名词术语2012(液晶显示器件第1-1部分术语和定义中规定.4.2之后的条款号均作了顺序向上调整5.7.8中.A组检验和B组5.6.7中.A组检验和B组互连性比可焊性适用的连接方式的互连能力试验。的可焊性试验。更多5.7.1 通则悬置段将悬置段作为通贝。并给出条款号，以下条款号均作顺序向下调整前版中5.10、5.11:删除5.10、5.11:考虑中元具体内容，删除6.2.3.
37、2中试验样品要经过目目检语句补充完整检附录A本部分与GB/T18910. 1-2002的相互参考索引此为资料性附录，且目前没有参考意义主要区别附录B批允许不合格品率(LTPD)附录D按文中引用顺序进行了调整。其他附录抽样方案编号作了相应调整附录C附录Bcells在此处是屏液晶显示屏外形图的示倒液晶显示盒外形图的示例附录C删除原图B.3因为该图所举示例已不是主流产品，不具有代表性，用表C.l也可以说明附录C和附录D对图、表进行了编编辑性修改，利于引用号，加图题、表题，并以文字引出11 GB/T 18910.1-2012 附录B规范性附录批允许不合格晶率(LTPD)抽样方案B.1 总则以下规定的程
38、序适用于所有质量一致性要求。B. 1. 1 样晶的抽取应从检验批中随机抽取样品。在连续生产的情况下，只要批符合批的构成要求，在生产期间制造商可自行按有规律的周期方式抽取样品。B. 1.2 失效一个样品在一个分组的一项或几项试验中失效，应记为一个失效。B.2 单批抽样方法质量一致性检验资料(样品量和发现的不合格品数)应在单一检验批中累积，以证明是否符合各分组的判据，B. 2.1 样晶量每个分组的样品量应根据表B.1或表B.2确定，同时应符合规定的LTPD。制造商可自行选择比需要量更大的样品量，但是，允许的失效数不得超过表B.1或表B.2中与所选样品量相应的合格判定数。在表B.2中，确定样品量用的
39、LTPD栏应是数量上最接近实际提交批量的那个批量栏，如果实际批量处于表中给出的两个批量之间，则制造商可自行采用相邻批量栏中的任一栏。在表B.2中，如果适用的批量栏中没有等于或小于规定的LTPD值的LTPD值，则应采用100%检验。在表B.2中，应采用数值最接近规定的LTPD值的适用批量栏中的LTPD值确定样品量。B.2.2 接收程序第一次抽样时，应选择一个合格判定数，然后根据规定的LTPD抽取相应数量的器件并对其进行试验(见5.10.2)。如果在第一次抽取的样品中发现的不合格品数小于或等于预选的合格判定数，则该批应被接收。如果发现的不合格品数超过了预选的合格判定数，则可选择追加样品使得总的样品
40、符合5.10.2.表B.1或表B.2适用于给定检验批的给定分组的第一次抽样，也适用于同一批和各批提交的分组的以后各次抽样。B.3 追加的样晶制造商可以增加一个追加量到最初样品上，但对于任何一个分组只能追加一次。追加的样品必须经受该分组的全部试验。应用由表B.1或表B.2所选定的一个新的合格判定数来确定总样品量最初的和追加的样品。GB/T 18910.1-2012 B.4 多重判据当一组样品有一个以上的合格判据时，分组中的全部样品应对应于分组中的所有判据。在表B.1中，合格判定数应与适用的LTPD栏中小于或等于所使用的样品量的最大样品量相对应。在表B.2中，合格判定数应与所使用的样品量对应的批量
41、栏中规定的LTPD值相对应。B.5 100%检验在制造商自愿时，允许对于不认为是破坏性的那些分组进行批的100%检验。如果发现该批的百分不合格品率超过了规定的LTPD值，则应认为该批通不过该分组的检验。在100%检验的那些批重新提交时也必须进行100%检验，并应按加严检验的LTPD要求。B.6 加严检验加严检验应按表B.1或表B.2中比规定的检验标准严一级的LTPD进行。13 。目4二-0-MO-M表B.1LTPD抽样方案保证不合格晶率等于所规定的LTPD的批量不会被接收的最小曼试样晶量(-次抽样)，置信度为90%￥ LTPD 50 30 20 15 10 7 5 3 2 1. 5 1 o.
42、7 0.5 o. 3 0.2 0.15 0.1 可接收数(c)最小样本盘对于寿命试验所要求的器件小时数应乘以1000) (r=c+1) 5 8 11 15 22 32 45 76 116 153 231 328 461 767 1 152 1 534 2303 。(1.03) (0.64) (0.46) (0.34) (0.23) (0.16) (0. 11) (0.07) (0.04) (0.03) (0.02) (0.02) (0.01) (0.007) (0.005) (0.003) (0.002) 8 13 18 25 38 55 77 129 195 258 390 555 778 1 296 1 946 2592 3891 1 (4.4) (2.7) (2.0) (1.4) (0.94) (0.65) (0.46) (0.28) (0. 18) (0. 14) (0.09) (0.06) (0.045) (0.027) (0.018) (0.013) (0.009) 11 18 25 34 52 75 105 176 266 354 533 759 1 065 1 773 2662 3 547 5323 2 (7.4) (4.5) (3.4) (2.24) (1. 6) (1. 1) (0.78) (0.47) (0.31) (0.23) (0. 15) (0.11
