1、ICS 19040K 04 囝雷中华人民共和国国家标准GBT 242321-2008IEC 60068-213：1983代替GBT 242321 1991电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压Environmental testing for electric and electronic products-Part 2：Test methods-Test M：Low air pressure(IEC 60068213：1983，Basic environmental testing proceduresPart 2：Test M：Low air pressure，IDT)200
2、8-12-30发布 200910-01实施宰瞀徽紫瓣警糌瞥霎发布中国国家标准化管理委员会“”。GBT 242321-2008IEC 60068213：1983目 次前言1导言2一般说明。3试验设备4严酷等级41气压。42试验持续时间5预处理6初始检测。7条件试验18恢复9最后检测110相关规范应给的资料附录NA(资料性附录) GBT 2423标准的组成部分刖 置GBT 242321-2008IEC 60068213 1 1983GBT 242321是GBT 2423标准的第21部分，GBT 2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用IEC 60068213：1983(第1版)基本环
3、境试验规程第2部分：试验试验M：低气压(英文版)，技术内容上与IEC 60068213：1983相同，编写格式上做了下列编辑性修改：为与新版IEC 60068的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子产品环境试验”；“本标准”一词改为“本部分”；删除了IEC标准的前言和序，增加了本部分的前言；增加了资料性附录“GBT 2423标准的组成部分”(见附录NA)；在规范性引用文件中，引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并增加了在正文中引用到的标准；对41中的表格增加了表格编号和表题，并将注1和注2的位置调整至表格当中。本部分替代GBT 2423211991(电工电子产品基本
4、环境试验规程试验M：低气压试验方法。本部分与GBT 242321-1991相比主要变化如下：为与IEC原文编写格式一致，将GBT 242321 1991的章条顺序，按照IEC 600682 13：1 983的结构形式进行了调整。本部分的附录NA为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SACTC 8)提出并归口。本部分起草单位：广州电器科学研究院、广州威凯检测技术研究所、重庆银河试验仪器有限公司。本部分主要起草人：钟志刚、刘功桂、王华斌。本部分所代替的历次标准版本发布情况为：GBT 242321 1981、GBT 242321 1991。1导言GBT 24232
5、 1-2008IEC 60068213：1983电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压11范围本部分适用于室温条件下的低气压试验。本试验的目的是用于确定元件、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性。注：在高温和低气压综合或低温和低气压综合环境下贮存、运输或使用的产品，这种综合环境对于施加于产品上的应力或失效机理的影响是十分重要的，应按下列标准进行试验：GBT 242325 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZAM：低温低气压综合试验GBT 2423 26 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZBM：高温低气压综合试验12规范性引用文件下列文件中的条款通
6、过GBT 2423标准的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 2421电工电子产品环境试验 第1部分：总则(GBT 2421 1999，IEC 600681：1988，IDT)GBT 242325 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验zAM：低温低气压综合试验(GBT 242325 2008，IEC 60068240：1 983，IDT)GBT 242326电工电子产品环境试验第2部分：
7、试验方法试验ZBM：高温低气压综合试验(GBT 242326 2008，IEC 60068241：1983，IDT)ISO 2533标准大气2一般说明将试验样品放人试验箱(室)，然后将箱(室)内气压降低到相关规范规定的值，并保持规定持续时间的试验。3试验设备试验箱(室)应具有能保持本部分第4章所规定的低气压条件的能力。在恢复气压至正常时，应注意避免发生由于辅助设备、装置及导人不清洁的空气而使箱内空气发生污染的情况。当对散热试验样品进行试验时，相关规范可根据GBT 242326的要求对试验箱(室)进行适当的规定。4严酷等级相关规范应当规定气压和试验持续时间的严酷等级，其值应从41和42的规定中优
8、先选择。】GBT 242321-2008IEC 60068-2-13：198341气压在试验箱(室)中应能保持表1中的气压，其容差为5或土01 kPa(取较大值)，在严酷等级为84 kPa时的容差为土2 kPa。表1气压试验严酷等级气压 近似海拔高度mkPa mbar (见ISO 2533)l 10 31 2002 20 26 6004 40 221008 80 17 60015 150 13 60025 250 10 40040 400 7 20055 550 4 85070 700 3 00084 840 (见注1、注2)注1：从86 kPa-106 kPa的标准大气条件，覆盖了海拔1 0
9、00 m以下的高度。注2：84 kPa的严酷等级适用于要求在标准大气条件的下限值对样品进行的试验。42试验持续时间相关规范应优先选用下列试验持续时间之一：5 min；30 min：2 h：4 h：16 h。5预处理可根据相关规范的要求进行预处理。6初始检测应按相关规范要求对样品进行视检及电气与机械性能检测。7条件试验71试验箱(室)内的温度应在规定的试验标准大气条件温度范围内。当不要求样品在运行状态下进行试验时，样品应在不包装、不通电、“准备使用”状态，按其正常位置(除非另有规定)放人试验箱(室)内。72将试验箱(室)内的气压降低到符合规定严酷等级的值，如有需要，相关规范可规定气压变化速度不大
10、于10 kPamin。73当要求样品在运行状态下进行试验时，样品应通电或加电气负载，应检查确定试验样品是否能满足相关规范规定的功能。试验样品可按规定的持续时间保持在运行状态，或是按相关规范的要求断开2GBT 242321-2008IEC 60068-2-13：1983电源。若相关规范要求中间检测时，则应进行中间检测。对散热试验样品，相关规范可要求在降低气压以前或以后对试验样品通电足够长的时问，使其达到热稳定，并进行功能试验和(或)检测。74气压应保持规定的持续时间。75使气压恢复到常压，若相关规范有要求时，气压变化的速度应不超过10 kPamin。8恢复若相关规范无其他规定，试验样品应保持在标
11、准大气条件下进行恢复，时间不少于1 h，但也不超过2 h。9最后检测应按相关规范的要求，对试验样品进行视检及电气与机械性能检测。10相关规范应给的资料相关规范应用本试验方法时，应尽量给出下列适用的细节：a)预处理(见第5章)；b)初始检测(见第6章)；c)条件试验时试验样品状态(见73)；d) 严酷等级：试验气压和持续时间(见第4章)；e) 对采用压力变化速度的限制(见72和或75)；f)条件试验期间热稳定、检测和(或)负载检查(见71或73)；g)恢复(见第8章)；h)最后检测(见第9章)。GBT 242321-2008IEC 600682-13：1983附录NA(资料性附录)GBT 242
12、3标准的组成部分除本部分外，GBT 2423标准的其他组成部分如下：GBT 242312008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温(IEC 6006822：2007，IDT)GBT 242322008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温(IEC 6006822：2007，IDT)GBT 24233 2006 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验(IEC 60068 2 78：2001，IDT)GBT 24234 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db交变湿热(12 h-12 h循环)(IEC 60068 230：2005，I
13、DT)GBT 24235 1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击(idt IEC 60068227：1987)GBT 24236 1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Eb和导则：碰撞(idt IEC 60068229：1987)GBT 242371995 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法 试验Ec和导则：倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)(idt IEC 60068 2 3l：1982)GBT 242381995电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法试验Ed：自由跌落(idtIEC 60068232：1990)GBT 242310 2
14、008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦)(IEC 6006826：1995，IDT)GBT 242315 2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度(IEC 6006827：1986，IDT)GBT 2423162008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉(IEC 60068210：2005，IDT)GBT 242317 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾(IEc 60068 2-11：1981IDT)GBT 242318-2000电工电子产品环境试验钠溶液)(idt IEC 60
15、068 2 52：1996)GBT 242322 2002电工电子产品环境试验60068214：1984，IDT)GBT 242323 1995电工电子产品环境试验GBT 242324 1995 电工电子产品环境试验阳辐射(idt IEC 6006825：1975)GBT 242325 2008电工电子产品环境试验综合试验(IEC 50068 240：1976，IDT)GBT 242326 2008电工电子产品环境试验综合试验(IEC 60068241：1976，IDT)GBT 242327 2005 电工电子产品环境试验压湿热连续综合试验(IEC 600682 39：1976，IDT)4第2
16、部分：试验方法试验Kb：盐雾，交变(氯化第2部分：试验方法试验N：温度变化(IEC试验Q：密封第二部分：试验方法试验sa：模拟地面上的太第2部分：试验方法试验ZAM：低温低气压第2部分：试验方法试验ZBM：高温低气压第2部分：试验方法试验ZAMD：低温低气GBT 242321-2008IEC 600682-13：1983GBT 242328 2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验T：锡焊(IEc 60068-220：1979IDT)GBT 242330 1 999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则：在清洗剂中浸渍(idt IEC 60068245：1993)GB
17、T 24233l一198s 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GBT 242332 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ta：润湿称量法可焊性(IEC 60068254：2006，IDT)GBT 2423332005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Kca：高浓度二氧化硫试验GBT 242334 2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验zAD：温度湿度组合循环试验(IEC 600682-38：1974，IDT)GBT 242335 2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验zAFc：散热和非散热试验样品的低温振动(正弦)综合试验(IE
18、C 60068250：1983，IDT)GBT 242336200s 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZBFc：散热和非散热试验样品的高温振动(正弦)综合试验(IEC 60068 2 5l：1983，IDT)GBT 242337 2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验(IEC 60068268：1994，IDT)GBT 242338 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验R：水试验方法和导则(IEC 60068218：2000，IDT)GBT 242339 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ee：弹跳(IEC 600682-5
19、5：1987，IDT)GBT 242340 1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热(idt IEC 60068266：1994)GBT 24234l 1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GBT 242342 1995 电工电子产品环境试验低温低气压振动(正弦)综合试验方法GBT 242343 2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装(IEC 60068247：2005，IDT)GBT 242345 1997 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZABDM：气候顺序(idt IEC 60068
20、261：1991)GBT 2423471997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fg：声振(idtIEC 60068 2 65：1993)GBT 242348 2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ff：振动一时间历程法(IEC 60068257：1999，IDT)GBT 242349 1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fe：振动一正弦拍频法(idt IEC 60068259：1990)GBT 242350 1999 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验(idt IEC 60068267：1996)GBT 2
21、4235l 2000电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验(idt IEC 60068260：1995)GBT 2423522003电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验77：结构强度与撞击(IEC 60068227：1999，IDT)GBT 242353 2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Xb：由手的磨擦造成标记和印刷文字的磨损(IEC 60068 2 70：1995，IDT)5GBT 242321-2008IEC 60068213：1983GBT 2423542005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验xc：流体污染(IEC 6
22、0068274：1999，IDT)GBT 242355 2006 电工电子产品环境试验 第2部分：环境测试 试验Eh：锤击试验(IEC 60068275：1997，IDT)GBT 2423562006 电工电子产品环境试验(数字控制)和导则(IEC 60068264：1993，IDT)GBT 242357 z008 电工电子产品环境试验应谱合成(IEC 60068281：2003，IDT)GBT 242358 2008电工电子产品环境试验式(IEC 60068280：2005，IDT)GBT 2423101 2008电工电子产品环境试验GBT 2423102 2008电工电子产品环境试验低气压振动(正弦)综合6第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动第2 81部分：试验方法试验Ei：冲击冲击响第280部分：试验方法试验Fi：振动混合模第2部分：试验方法试验：倾斜和摇摆第2部分：试验方法试验：温度(低温、高温)
