1、0ICS 31.080.20 K 46 备案号： 40655 2013 中华人民共和国机械行业标准JB/T 8950.12013代替 JB/T 8950.1 1999普通晶闸管 第 1 部分：螺栓形器件 Phase control thyristorsPart 1: Stud devices 2013-04-25 发布 2013-09-01 实施中华人民共和国工业和信息化部发布JB/T 8950.12013 I 目 次 前言 .II 1 范围 . 1 2 规范性引 用文件 . 1 3 型号和尺 寸 . 1 3.1 型号 . 1 3.2 图形符号和端（子）识别 . 1 3.3 尺寸 . 2 4
2、额定值和 特性 . 3 4.1 参数的级数 . 3 4.2 额定值 . 3 4.3 特性值 . 3 4.4 特性曲线（不作为检验要求） . 4 5 检验规则 . 4 5.1 逐批检验（A 组检验） . 4 5.2 周期检验（B 组和C 组检验） . 5 5.3 鉴定试验（D 组试验） . 6 6 质量评定 类别 . 7 7 标志、包 装、贮存和订货单 . 7 7.1 标志 . 7 7.2 包装 . 7 7.3 贮存 . 8 7.4 订货单 . 8 附录A （规范性附录）抽样表 . 9 A.1 AQL抽样表 . 9 A.2 追加抽样表 . 9 附录B （规范性附录）密封细检漏可接受的泄漏率 .
3、10 图 1 晶闸管 的图形符号和端（子）识别标志 . 1 图 2 晶闸管 的尺寸 . 2 表 1 晶闸管 的尺寸 . 2 表 2 通态电 流临界上升率（d i/dt）的级数 . 3 表 3 断态电 压临界上升率（d v/dt）的级数 . 3 表 4 最大额 定值 . 3 表 5 特性值 . 4 表 6 逐批（ A组）检验 . 4 表 7 周期（ B组）检验 . 5 表 8 周期（ C组）检验 . 5 表 9 鉴定（ D组）试验 . 6 表A.1 AQL抽样表 . 9 表A.2 追加抽样表 . 9 表B.1 密封 细检漏可接受的泄漏率 . 10 JB/T 8950.12013 II 前 言 J
4、B/T 8950普通晶闸管已经或计划发布以下部分： 第1 部分：螺栓形器件； 第2 部分：平板形器件； 第3 部分：塑料封装器件。 本部分为JB/T 8950 的第1 部分。 本部分按照GB/T 1.1 2009给出的规则起草。 本部分代替JB/T 8950.1 1999电流小于100A 普通晶闸管 ，与 JB/T 8950.11999 相比主要技术变化如下： 通态平均电流扩展为400 A ，对应的管壳型号相应调整； 修改了规范性引用文件（见第2 章，1999年版的第2 章）； 删除了断态/ 反向重复峰值电压的级数表（1999 年版的表 2）； 修改了通态电流临界上升率（d i/dt）的级数（
5、见表2 ，1999 年版的表 3）； 修改了断态电压临界上升率（d v/dt）的级数（见表3 ，1999 年版的表 4）； 修改了对额定值的规定（见表4 ，1999年版的表5 ）； 修改了对特性值的规定（见表 5，19 99年版的表6 ）； 修改了应在企业标准或产品使用说明书中给出的特性曲线种类（见4.4， 1999年版的4.4 ）； 删除了逐批检验（A 组）中的A2a 分组（1999 年版的表7 ）； 删除了周期检验（B 组）中的尺寸项目（1999 年版的表8 ）； 修改了周期检验（B 组）中，B5 分组密封检验的方法和合格判据（见表7 ，1999年版的表8 ）； 修改了周期检验（C 组）中
6、，Rjc项目的抽样方案和d i/dt项目的试验电流值（见表8 ， 1999年版的表9 ）； 质量评定类别单独作为一章（见第6 章，1999 年版的 6.1）； 修改了附录A （见附录A ，1999年版的附录A ）； 增加了附录B （见附录B ）。 本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会（SAC/TC413 ）归口。 本部分起草单位：湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有限公司、江苏捷捷微电子股份有限公司、浙江正邦电力电子有限公司、西安电力电子技术研究所。 本部分主要起草人：吴拥军、袁华、王成森、项卫光、郭永忠、徐志文、蔚红旗。 本部分所代替标
7、准的历次版本发布情况为： JB 1144 1971、JB 1144 1975 、 JB/T 8950.11999。 JB/T 8950.12013 1 普通晶闸管 第 1 部分：螺栓形器件 1 范围 JB/T 8950 的本部分规定了管壳额定通态平均电流 5 A400 A 、阻断特性对称的螺栓形反向阻断三极普通晶闸管（以下简称晶闸管）的型号和尺寸、额定值、特性、检验规则、质量评定类别、标志、包装、贮存和订货单。 本部分适用于对称晶闸管。不对称晶闸管也可参照使用。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，
8、其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 4937 1995 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 15291 半导体器件 第 6 部分 晶闸管 JB/T 2423 电力半导体器件 型号编制方法 JB/T 4277 电力半导体器件包装 JB/T 7626 2013 反向阻断三极晶闸管测试方法 3 型号和尺寸 3.1 型号 按 JB/T 2423 规定，晶闸管的型号应符合如下规定： K P 阻断电压的级数（断态/ 反向重复峰值电压的 1/100） 通态平均电流值单位为安（A ） 器件系列为普通型 器件门类为晶闸管 示例：100 A 、1 200 V 晶闸管的型号为 KP100-1
9、2。 3.2 图形符号和端（子）识别 晶闸管的图形符号如图 1 所示。 端（子）识别标志如图 1 所示，或用颜色识别：红色标识阴极端子，如阳极端子和门极端子也用色标时，则分别使用蓝色（或黑色）和黄色（或白色）。 A阳极端（子）；K 阴极端（子）；G 门极端（子）。 图 1 晶闸管的图形符号和端（子）识别标志 （数字）（数字）JB/T 8950.12013 2 3.3 尺寸 晶闸管的尺寸应符合图 2 和表 1 的规定。 c）KL16A 、KL20A 、KL24A 、KL30A 图 2 晶闸管的尺寸 表 1 晶闸管的尺寸 单位为毫米 尺 寸 管壳型号 d1d2d3D h J L KL06 M6 3
10、3 KL08 M8 3.24.4 1.2 20 111 39 KL10 M10 26 111 55 KL12 M12 M8 3.24.3 31 131 64 KL16A M161.5 M8 3.25.0 37 131 80 KL20A M201.5 M10 35 42 161 83 KL24A M241.5 M10 35 48 191 110 KL30A M302.0 M12 35 58 321 130 由制造厂商给出a）KL06、KL08 b）KL10、KL12 JB/T 8950.12013 3 4 额定值和特性 4.1 参数的级数 4.1.1 阻断电压的级数为断态重复峰值电压（VDRM）
11、和反向重复峰值电压（VRRM）两者中的较低值单位为伏（V ）的 1/100（参见 3.1）。 4.1.2 通态电流临界上升率（d i/dt）的级数应符合表 2 的规定。 表 2 通态电流临界上升率 （d i/dt） 的级数 单位为安每微秒 di/dt 25 50 100 150 200 级数 A B C D E 4.1.3 断态电压临界上升率（d v/dt）的级数应符合表 3 的规定。 表 3 断态电压临界上升率 （d v/dt）的级数 单位为伏每微秒 dv/dt 25 50 100 200 500 800 1 000 级数 A B C D E F G 4.2 额定值 最大额定值（极限值）应符
12、合表 4 的规定，并适用于整个工作温度范围。 表 4 最大额定值 器件 型号 管壳温度 Tc 浪涌 电流 ITSM A I2t A2s 断态 重复 峰值 电压 VDRMV 反向 重复 峰值 电压 VRRMV 断态不重复峰值电压VDSMV 反向不重复峰值电压VRSMV 工作结温Tj贮存温度Tstg 通态电流临界上升率di/dtA/s门极 反向 峰值 电压 VRGM V 门极 峰值 功率 PGMW 门极 平均 功率 PG(AV)W 紧固力矩M Nm质量mg KP5 64 20 5 KP10 130 85 5 KP20 200 200 5 KP30 380 720 5 KP50 640 2.0103
13、5 4 0.5 KP100 1.31038.5103A、B、C 5 8 2 KP200 2.5103321035 15 3 KP300 3.8103741035 15 3 KP400 由制造厂商给出5.0103 1.3105 3003 000 VDSM=VDRM+100，VRSM=VRRM+1004012540140B、C、D 5 15 3 由制造厂商给出，允差为10%由制造厂商给出4.3 特性值 特性值应符合表 5 的规定。表中除 VGD和 dv/dt 为下限值外，其他均为上限值。 JB/T 8950.12013 4 表 5 特性值 器件 型号 通态 峰值电压 VTMV 断态重复峰值电流ID
14、RMmA 反向重复 峰值电流 IRRMmA 维持电流IHmA 擎住电流ILmA门极 触发电流IGTmA 门极 触发电压VGTV 门极 不触发电压VGDV 断态电压 临界上升率 dv/dt V/s 结壳 热阻 Rjc/W 接触热阻Rcs/WKP5 5 60 50 2.5 3.0 KP10 1.6 KP20 5 80 80 2.5 1.0 KP30 2.0 10 150 80 2.5 0.2 A 0.7 KP50 10 150 2.5 0.4 KP100 2.2 20 200 200 3.5 0.2 B、C、D 、E 0.2 KP200 0.110 KP300 2.3 30 250 250 3.0
15、 0.3 0.074 KP400 2.4 40 350 由制造厂商给出300 3.5 0.3 D、E 、F 、G 0.050 由制造厂商给出4.4 特性曲线（不作为检验要求） 应在企业标准或产品使用说明书中给出下列特性曲线： a）管壳温度与通态平均电流的降额关系； b）通态伏安特性； c）门极触发范围（IT(AV)50 A 时给出）； d）瞬态热阻抗与时间的关系（IT(AV)50 A 时给出）； e）浪涌电流与周波数的关系和 I2t 特性（ IT(AV)200 A 时给出）； f）最大功耗与通态平均电流的关系（以波形和导通角为参变量）。 5 检验规则 5.1 逐批检验（A 组检验） 每批产品应
16、按表 6 检验。表 6 中的项目全部为非破坏性。 AQL 的具体抽样方案见表 A.1。如初次提交不合格，应加严一级重新提交再次检验，但只能重新提交一次。 表 6 逐批 （ A 组）检验 序号 分组 检验项目 检验方法 判据 AQL （）1 A1 外观 目检（在正常照明和正常视力条件下） 标志清晰，表面涂层、镀层无脱落和损伤 1.5 VTMJB/T 76262013 的 5.1：25，ITM=3IT(AV)符合表 5 的规定 2 A2b IRRM、IDRMJB/T 76262013 的 5.2：25和 Tjm，VRRM； JB/T 76262013 的 5.3：25和 Tjm，VDRM符合表 5
17、 的规定 1.0 IGT、VGTJB/T 76262013 的 5.6：25，VD=12 V 符合表 5 的规定 1.0 3 A3 IHJB/T 76262013 的 5.5：25，VD=12 V 符合表 5 的规定 1.0 4 A4 dv/dt JB/T 76262013 的 5.10：Tjm，VDM= 0.67VDRM，门极开路 符合表 5 的规定 1.5 JB/T 8950.12013 5 5.2 周期检验（B 组和 C 组检验） 正常生产的定型产品除每三个月进行一批易焊性试验（B4 ）外，还应按表 7 和表 8 每年至少进行一批 B 组和 C 组检验。其中，检验项目栏标有（D ）的是破
18、坏性试验。 A 组、 C1 和 C2 分组试验后的样品可用于其他项目检验， B3、 B4 分组试验可采用电特性不良的样品。 C 组中的 di/dt 项目仅对 IT(AV)50 A 时实施。 如初次检验不合格，应按表 A.2 追加抽样再次检验，但只能追加一次。 表 7 周期 （ B 组）检验 抽样方案 序号 分组 检验项目 检 验 方 法 合格判据 n Ac 1 B3 转矩（D ）（仅适用于硬引线器件） GB/T 49371995 的.1.4 （Ud ）：试验持续时间 10 s15 s 不损坏 18 61 2 B4 易焊性（仅适用于焊接端子器件） GB/T 49371995 的.2.1 （ Ta
19、）焊槽法：槽中焊料温度 2355，保持浸渍状态时间 2 s0.5 s 润湿良好 18 61 3 B5 温度变化（D ）继之密封 GB/T 4937 1995 的.1.1 （ Na）两箱法：40 /Tjm，循环 5 次，每循环高低温各暴露 1 h、转换时间 2 min3 min 粗检漏：氟油加压检漏法（ GB/T 4937 1995的.7.5 ）或无水乙醇加压检漏法；细检漏：氦质谱检漏法（GB/T 4937 1995 的.7.4 ） 试后测量： VTM1.1 USL IRRM2 USL IDRM2 USL 细检漏可接受的泄漏率见附录 B 13 61 CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关
20、属性数据，试验前后的 VTM、IRRM、IDRM值和试验结论 注 1：USL 为表 5 中对应的规范上限值。 注 2：抽样方案栏中，n、Ac 分别为样品量和接收数，方括号中的数字为 IT(AV)50 A 时的样品量。 表 8 周期 （ C 组）检验 抽样方案 序号 分组 检验项目 检 验 方 法 合格判据 n Ac1 C1 尺寸 检查图 2 的全部尺寸 符合 3.3 的规定 13 91 ILJB/T 76262013 的 5.4： 25， VD=12 V，门极电路无 R3，触发电流脉冲：tr0.5 s、持续时间100 s、重复率50 Hz ，10 V 、6 或 8 2 C2a IHJB/T 7
21、6262013 的 5.5：25，VD=12 V 符合表 5 的规定 18 11 1 3 C2c ITSMJB/T 76262013 的 7.3： Tjm， VRM=0.8VRRM，一个周波、浪涌 20 次 试后测量： VTM1.1 USL IRRM2 USL IDRM2 USL 13 61 4 C2d RjcJB/T 76262013 的 6.2 符合表 5 的规定 6 31 JB/T 8950.12013 6 表 8（续） 抽样方案 序号 分组 检验项目 检 验 方 法 合格判据 n Ac5 VGDJB/T 76262013 的 5.7：Tjm，负载电阻满足：ITSM限流电流IL符合表 4
22、 的规定 18 11 1 6 VRGMJB/T 76262013 的 7.9：Tjm，半正弦波形，重复率 50 Hz，试验持续时间 3 s 符合表 4 的规定 18 11 1 7 PGMJB/T 76262013 的 7.8：Tjm，重复率 50 Hz，门极脉冲：方波、底宽 400 s，试验持续时间 3 s，阳极、阴极间开路 符合表 4 的规定 18 11 1 8 PG(AV)JB/T 76262013 的 7.7： Tjm，试验持续时间 3 s，阳极、阴极间开路 符合表 4 的规定 18 11 1 9 di/dt JB/T 7626 2013 的 7.6： Tjm， VD=0.5VDRM，I
23、T(AV)300 A ：ITM2IT(AV)，IT(AV)300 A ：ITMIT(AV)，触发脉冲：tr0.5 s、IGM=(35)IGT、持续时间20 s、重复率 50 Hz，试验持续时间 60 s符合表 4 的规定； 试后测量：同 C2c 11 1 10 C4 耐焊接热（仅适用于焊接端子器件） GB/T 49371995 的.2.2 （Tb ）：焊接温度2605，浸润时间 10 s1 s ，恢复时间1 h18 61 11 C8 电耐久性（交流阻断） GB/T 15291 规定的方法：Tjm05，正弦波形，重复率 50 Hz，0.7 VDRM，0.7 VRRM，1 0003630+h 8
24、61 12 C9 高温贮存 GB/T 49371995 的.2 ： 14005， 1 0003630+h试后测量：同 C2c 8 61 CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的 VTM、IRRM、IDRM值和试验结论 注 1：USL 为表 5 中对应的规范上限值。 注 2：抽样方案栏中，n、Ac 分别为样品量和接收数，方括号中的数字为 IT(AV)50 A 时的样品量。 5.3 鉴定试验（D 组试验） 产品定型鉴定时，除 A 组、B 组、 C 组检验外，还应按表 9 进行 D 组试验。其中，检验项目栏标有（D ）的是破坏性试验。 表 9 鉴定 （ D 组）试验 抽样方
25、案 序号 分组 检验项目 检 验 方 法 合格判据 n Ac1 D2 热循环负载试验 JB/T 76262013 的第 8 章：加热电流值优先采用IT(AV)，结温范围：加热期间为0jm 20T（多只器件串联试验时为0jm 30T）、冷却期间40，加热时间 6 min，冷却时间 8 min，循环次数：焊接器件1 000 次、压接器件 5 000 次 试后测量：同C2c 8 61 JB/T 8950.12013 7 表 9（续） 抽样方案 序号 分组 检验项目 检 验 方 法 合格判据 n Ac2 D3 冲击（D ）或振动 GB/T 49371995 的.4 （Ea）：980 m/s2（100
26、g），持续 6 ms，半正弦波形，三个相互垂直轴的两个方向，每个方向 3 次，共 18 次 GB/T 49371995 的.3 （Fc ）：196 m/s2（20 g），100 Hz2 000 Hz ，每个轴向的扫频循环次数为 10 次试后测量：同C2c 8 61 CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的 VTM、IRRM、IDRM值和试验结论 注：抽样方案栏中，n、Ac 分别为样品量和接收数，方括号中的数字为 IT(AV)50 A 时的样品量。 D 组试验在逐批检验的基础上进行。 正常生产的定型产品应每三年至少进行一批 D 组试验。 如初次检验不合格，应按表 A.2
27、 追加抽样再次检验，但只能追加一次。 6 质量评定类别 适用本部分的产品的质量评定类别为类。其最低要求为：该类器件符合类或类鉴定批准要求。各批都符合 A 组检验要求。每三个月对一批进行易焊性检验，应符合要求。每年进行一批 B 组和 C 组检验，应符合要求。 注：参见 GB/T 4589.1 和 GB/T 12560。 7 标志、包装、贮存和订货单 7.1 标志 7.1.1 产品上的标志 产品上的标志包括： a）产品型号、规格； b）端子识别标志； c）制造厂商名称标识或商标； d）检验批识别代码（产品批号或序号）。 7.1.2 包装盒（袋）或所附说明书上的标志 包装盒（袋）或所附说明书上的标志
28、包括： a）产品型号和本部分编号； b）制造厂商名称和（或）商标； c）检验批识别代码（产品批号或序号）； d）防潮、防雨标志。 7.2 包装 产品包装应符合 JB/T 4277 的规定。 JB/T 8950.12013 8 7.3 贮存 产品应在温度4065、相对湿度小于 75%、无腐蚀性气体的环境中贮存。 7.4 订货单 订货单上应写明产品型号、执行标准编号、特殊的电性能要求（如有）、外形等内容。 JB/T 8950.12013 9 附 录 A （规范性附录） 抽样表 A.1 AQL 抽样表 表 A.1 AQL 抽样表 AQL 0.40 0.65 1.0 1.5 2.5 4.0 6.5 批
29、量 N 样本量 n Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re28 2 0 1 915 3 0 1 1625 5 0 1 2650 8 0 1 1 2 5190 13 0 1 1 2 2 3 91150 20 0 1 1 2 2 3 3 4 151280 32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 281500 50 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 5011 200 80 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 1112013 200 125 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 153 20110 000 200 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22箭头表示应使用指向的第一个抽样方案。若该抽样方案 nN，则应对 N 进行百分之百检验。 注 1：本表属检验水平（IL ）。 注 2：Ac 为接收数，Re 为拒收数。 A.2 追加抽样表 表 A.2 追加抽样表 样本量 n 接收数 Ac 初次样品量 n13 6 8 9 11 13 18 1 追加后的样品量 n25 9 12 13 16 18 25 2 追加数 n2n12 3 4 4 5 5 7
