搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
DIN 29571-2-1992 Aerospace electrical subsystems identification of circuits equipments and cables《航空航天 电气子系统 电路、设备和电缆标识》.pdf
上传人:
周芸
文档编号:655728
上传时间:2018-12-24
格式:PDF
页数:9
大小:420.63KB
下载
相关
举报
第1页 / 共9页
第2页 / 共9页
第3页 / 共9页
第4页 / 共9页
第5页 / 共9页
点击查看更多>>
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
HB 5357-1990 航空航天无损检测人员的资格鉴定.pdf
GB T 14409-1993 航空航天管路识别标志.pdf
GB T 30206.2-2013 航空航天流体系统词汇 第2部分:流量相关的通用术语和定义.pdf
GB T 30206.3-2013 航空航天流体系统词汇 第3部分:温度相关的通用术语和定义.pdf
EN 2000-1991航空航天系列 质量保证 EN航空航天产品 制造厂商质量体系的批准.pdf
GB T 14409-1993 航空航天管路识别标志.pdf
GB 19079.26-2013 体育场所开放条件与技术要求 第26部分 航空航天模型场所.pdf
HG T 4125-2009 航空航天胶片聚酯片基.pdf
GB T 20633.3-2011 承载印制电路板用涂料(敷形涂料).第3部分:一般用(1级)、高可靠性用(2级)和航空航天用(3级)涂料.pdf
GB T 24741.2-2009 技术制图.紧固组合的简化表示法.第2部分 航空航天设备用铆钉.pdf
猜你喜欢
CNS 6119-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Continuous Operation Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–整流二极管连续动作试验》.pdf
CNS 6120-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(Continuous Operation Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–闸流体之连续动作试验》.pdf
CNS 6121-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(Continuous Applying Voltage Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性.pdf
CNS 6122-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(Continuous Applying Voltage Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–闸流体之连续通电试验》.pdf
CNS 6123-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Intermittent Appling Voltage Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置之环境检验法及耐.pdf
CNS 6124-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(Intermittent Applying Voltage Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–.pdf
CNS 6125-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(High Temperature for Applying Voltage Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置.pdf
CNS 6126-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (High Temperature for Applying Voltage Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验.pdf
CNS 6127-1986 General Rules for Reliability Assured Discrete Semiconductor Devices《可靠度保证单件半导体装置总则》.pdf
相关搜索
DIN2957121992AEROSPACEELECTRICALSUB
航空航天
电气
子系统
电路
当前位置:
首页
>
标准规范
>
国际标准
>
DIN
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告