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SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法.pdf

上传人：王申宇 文档编号：72380 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：10 大小：406.27KB
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资源描述

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。

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