收藏
下载资源 加入VIP,免费下载

SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf

上传人：吴艺期 文档编号：72974 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：5 大小：189.21KB
下载 相关 举报
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf_第1页
第1页 / 共5页
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf_第2页
第2页 / 共5页
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf_第3页
第3页 / 共5页
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf_第4页
第4页 / 共5页
SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则.pdf_第5页
第5页 / 共5页
亲，该文档总共5页，全部预览完了，如果喜欢就下载吧！
资源描述

本标准规定了半导体材料中杂质含量的红外吸收分析方法的术语、基本原理、仪器设备、样品制备、测量条件、测量步骤和测量结果的计算。本标准适用于在红外光谱区为透明的并在该区域产生杂质吸收带的任何半导体单晶材料红外分析方法。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置：首页 > 标准规范 > 行业标准 > SJ电子行业

copyright@ 2008-2019 麦多课文库（www.mydoc123.com）网站版权所有
备案/许可证编号：苏ICP备17064731号-1