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SJ T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则.pdf

上传人：王申宇 文档编号：75088 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：5 大小：147.99KB
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资源描述

本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。 本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前，应该制定适当的安全与保健措施，并确定本导则的范围。

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