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YS T 581.18-2012 氟化铝化学分析方法和物理 性能测定方法 第18部分：X射线荧光光谱分析（压片）法测定元素含量.pdf

上传人：孙刚 文档编号：89767 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：6 大小：107.62KB
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资源描述

YS/T 581的本部分规定了 X射线荧光光谱分析(压片)法测定氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷(分别以F、Al、Na、SiO、FeO、SO、PO表示)等元素的方法、本部分适用于氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷等元素的测定、测定范围见表1、

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