GB T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法.pdf

上传人：孙刚文档编号：98809 上传时间：2019-07-08 格式：PDF 页数：23 大小：692.54KB

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资源描述

本方法适用于长方体和薄片锑化铟单晶样品的电阻率和霍耳系数的测量。本方法所采用的样品是从锑化铟单晶中切割制备的，在特定位置上施加电极接触，用直流方法测量样品的电阻率和霍耳系数，而后计算该样品的载流子浓度和载流子迁移率。本方法适用于电阻率1010cm的锑化铟单晶样品。

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